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インライン透過率評価システム MCPD Series  

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MCPD Series

最終更新日:2026年09月08日

大塚電子株式会社
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インラインフィルム評価システムは、光学式のため非接触・非破壊で透過率、吸光度、色などの測定が可能

各種フィルム上コート膜などの透過率測定および吸光度、色などの測定が可能です。 仕様により膜厚測定も可能であり、測定可能膜厚範囲は 65nm~92μmと薄膜から厚膜まで対応しております。(屈折率1.5の場合) 測定原理は分光干渉方式のため、高い測定再現性を実現しつつ多層厚み測定にも対応しております。独自アルゴリズムの採用により高速でリアルタイムにモニタリングが可能なため、インラインフィルムモニターとして最適なシステムをご提案いたします。 【特長】 ■プロセス中の薄膜高速測定に最適 ■最短露光時間1ms~ ※仕様による ■リモート測定に対応 ■膜厚測定範囲65nm~92μm(SiO2換算) ※詳しくはPDFをダウンロードしていただくか、お気軽にお問い合わせください。

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インライン透過率評価システム MCPD Series  

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この製品に関するニュース(3)

【2026年12月9日(水)~11日(金)】「SEMICON Japan」出展のお知らせ

  • セミナー・イベント

当社は、東京ビッグサイトで開催される「SEMICON Japan」に出展いたします。 半導体製造プロセスからアプリケーションまでを網羅し、先進技術を体験できます。 大塚電子では、ラインスキャンのモックアップ、スマート膜厚計などを展示予定。 ぜひ当社ブースにて実機をお近くでご覧ください。 皆様のご来場をお待ちしております。

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【2026年9月30日(水)~10月2日(金)】「高機能フィルム開発・製造展」出展のお知らせ

  • セミナー・イベント

大塚電子株式会社は、幕張メッセにて開催される 「高機能フィルム開発・製造展」に出展いたします。 当社ブースでは新製品「光波動場三次元顕微鏡 MINUK」をはじめ、 「ラインスキャン膜厚計」などフィルム関連のインライン検査装置、 研究開発用膜厚計、リタデーション測定装置の実機展示をいたします。 今年は「透明体の傷や異物を可視化・定量化できる事例」や 「抜けのない全面フィルム検査事例」などラボ評価から生産管理まで使える 具体的な資料を取り揃えて、皆様のご来場をお待ちしております。

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JASIS2026へ出展します

  • セミナー・イベント

2026年9月2日(水)から4日(金)まで、幕張メッセで「JASIS 2026」が開催されます。 大塚電子ではゼータ電位・粒子径・分子量測定システム ELSZneo、光波動場三次元顕微鏡 MINUK等の弊社製品を展示します。 ぜひ弊社ブースにて実機をお近くでご覧ください。 皆様のご来場をお待ちしております。

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大塚電子は、独自の「光」技術を用いて、大塚電子にしか出来ない画期的な新製品を作り出しています。 創業以来積み上げてきた要素技術を融合させながら、医用機器、分析機器、分光計測機器という3つの事業を展開しています。 【医用機器】 親会社である大塚製薬をはじめ、試薬メーカーなどと連携した、臨床検査機器、医療機器の開発・生産を主体とする事業を展開。最新テクノロジーを集結し、人々の健康に貢献しています。 【分析機器】 新素材解析のコアテクノロジーである光散乱の技術を、ナノテクノロジー領域の物性測定に応用。粒子径、ゼータ電位、分子量の測定法を基準に、新素材、バイオサイエンス、高分子化学、さらには半導体や医薬分野などへの展開を図ります。 【分光計測機器】 分光計測技術の代名詞であるマルチチャンネル分光器と、長年にわたって培ってきた解析技術の蓄積による製品群を生み出しています。多様化するニーズに応えながら、幅広い分野へと拡大し続けています。

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