反射防止膜の膜厚測定に！ハンディタイプの膜厚計
光学部品業界では、製品の性能を左右する反射防止膜の正確な膜厚測定が求められます。特に、光の透過率や反射率を精密に制御する必要がある場合、膜厚のわずかな差異が製品の品質に大きな影響を与える可能性があります。測定結果のバラつきや測定精度の低さは、歩留まりの低下や不良品の増加につながりかねません。SM-100 seriesは、持ち運び可能なハンディタイプで、最薄0.1μmまで検量線不要で膜厚測定が可能です。光学部品の製造プロセスにおける膜厚測定の課題を解決します。 【活用シーン】 ・反射防止膜の膜厚測定 ・光学フィルターの膜厚測定 ・レンズコーティングの膜厚測定 【導入の効果】 ・測定結果の信頼性向上 ・歩留まりの改善 ・品質管理の効率化
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基本情報
【特長】 ・1.1kgと軽量、持ち運びも簡単 ・最薄0.1μmまで検量線不要 ・基材(ガラス・プラスチック)を選ばない ・形状のあるサンプルも非破壊で測定可能 【当社の強み】 大塚電子は、独自の｢光｣技術を用いて、お客様の課題解決に貢献します。創業以来培ってきた技術を活かし、高品質な製品を提供しています。
価格帯
納期
用途／実績例
【測定対象】 ■光学用フィルム ■包装用フィルム ■産業資材用フィルム ■ハードコート ■防曇コート ■防水防湿コート ■反射防止膜 ■離型剤コート ■接着層 ■半導体（薄膜） ※詳しくはPDFをダウンロードしていただくか、お気軽にお問い合わせください。
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企業情報
大塚電子は、独自の｢光｣技術を用いて、大塚電子にしか出来ない画期的な新製品を作り出しています。 創業以来積み上げてきた要素技術を融合させながら、医用機器、分析機器、分光計測機器という3つの事業を展開しています。 【医用機器】 親会社である大塚製薬をはじめ、試薬メーカーなどと連携した、臨床検査機器、医療機器の開発・生産を主体とする事業を展開。最新テクノロジーを集結し、人々の健康に貢献しています。 【分析機器】 新素材解析のコアテクノロジーである光散乱の技術を、ナノテクノロジー領域の物性測定に応用。粒子径、ゼータ電位、分子量の測定法を基準に、新素材、バイオサイエンス、高分子化学、さらには半導体や医薬分野などへの展開を図ります。 【分光計測機器】 分光計測技術の代名詞であるマルチチャンネル分光器と、長年にわたって培ってきた解析技術の蓄積による製品群を生み出しています。多様化するニーズに応えながら、幅広い分野へと拡大し続けています。
