フライングプローブ×マルチプローブで実現する、治具不要のJTAGテスト体験
NEPCON JAPAN 2026（東京ビッグサイト）で展示した、タカヤのフライングプローブテスタによる治具レスJTAGバウンダリスキャンテストのデモ映像です。 本デモでは、オプションのマルチプローブシステムを活用し、JTAG信号への安定したアクセスとスムーズなテスト実行を実現しています。 展示会ブースで実際に動作していたデモをそのまま収録しており、プロービング動作やバウンダリスキャン実行の流れをご覧いただけます。
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企業情報
1894年創業の織物業、高屋織物から発展し、1966年に電子機器部が創設されトランジスタ・ラジオの組立を開始。 現在は、電子機器関連の受託生産事業(EMS)の他、インサーキットテスタ(プリント基板検査装置)、 RFID（IC情報のタグから近距離の無線通信によって情報交換を可能にする技術）関連機器などの製造・販売、 ITコンサルティング・システムソリューションなど、各種エレクトロニクス事業を国内外で積極的に展開しています。 繊維と電子を両輪とし、社会の発展に貢献する企業グループとして進化を続けてまいります。
![第2回[関西]ネプコン ジャパン 出展のご案内](https://image.mono.ipros.com/public/product/image/2001625049/IPROS18195940819675086537.jpg?w=280&h=280)
