1ポイント1秒測定!電子部品の品質管理を加速
電子部品業界の品質管理において、コーティング膜の正確な膜厚測定は、製品の性能と信頼性を確保するために不可欠です。特に、多層膜や微小領域の膜厚測定は、製品の小型化・高性能化に伴い、ますます重要になっています。不適切な膜厚測定は、製品の不良や性能劣化につながる可能性があります。顕微分光膜厚計 OPTM seriesは、高精度な膜厚測定と光学定数解析により、電子部品の品質管理における課題を解決します。 【活用シーン】 * 各種フィルムやウェーハ、光学材料などのコーティング膜の膜厚測定 * 多層膜の膜厚測定 * 微小領域の膜厚測定 【導入の効果】 * 非破壊・非接触での膜厚測定により、製品へのダメージを最小限に抑えます。 * 1秒/pointの高速測定により、検査工程の効率化を実現します。 * 光学定数解析により、膜質の評価を詳細に行うことができます。
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基本情報
【特長】 * 膜厚測定に必要な機能をヘッド部に集約 * 顕微分光で高精度な絶対反射率測定(多層膜厚、光学定数) * 1ポイント1秒以内の高速測定 * 顕微下で広い測定波長範囲を実現する光学系(紫外~近赤外) * エリアセンサーによる安全機構 【当社の強み】 大塚電子は、独自の「光」技術を用いて、お客様の課題解決に貢献します。創業以来培ってきた要素技術を融合させ、お客様のニーズに応じた製品を提供しています。科学機器、光学機器、工業計測機器の開発・製造・販売を通じて、お客様の品質管理をサポートします。
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大塚電子は、独自の「光」技術を用いて、大塚電子にしか出来ない画期的な新製品を作り出しています。 創業以来積み上げてきた要素技術を融合させながら、医用機器、分析機器、分光計測機器という3つの事業を展開しています。 【医用機器】 親会社である大塚製薬をはじめ、試薬メーカーなどと連携した、臨床検査機器、医療機器の開発・生産を主体とする事業を展開。最新テクノロジーを集結し、人々の健康に貢献しています。 【分析機器】 新素材解析のコアテクノロジーである光散乱の技術を、ナノテクノロジー領域の物性測定に応用。粒子径、ゼータ電位、分子量の測定法を基準に、新素材、バイオサイエンス、高分子化学、さらには半導体や医薬分野などへの展開を図ります。 【分光計測機器】 分光計測技術の代名詞であるマルチチャンネル分光器と、長年にわたって培ってきた解析技術の蓄積による製品群を生み出しています。多様化するニーズに応えながら、幅広い分野へと拡大し続けています。











