これまでの膜厚計のお悩みをこれ1台で解決。1ポイント1秒測定&測定エリア最小3μm!高性能でとにかく使いやすい顕微分光膜厚計
顕微分光を用いた微小領域での絶対反射率測定により、高精度な膜厚・光学定数解析が可能な装置です。 各種フィルムやウェーハ、光学材料などのコーティング膜の厚みや多層膜を非破壊・非接触で測定できます。 測定時間は1秒/pointの高速測定が可能で初めての方でも簡単に光学定数の解析ができるソフトウェアを搭載しています。 【これまでの膜厚計のお悩み】 ■接触式/非接触式どちらでも測定が難しい素材がある ■操作や解析に経験が必要 ■今までよりも高範囲・高精度な測定を求められるようになった ■測定用途に合わせて様々な機器が必要になる ※そんな膜厚計のお悩みを「OPTMシリーズ」1台で完全解決します! 【特長】 ■膜厚測定に必要な機能をヘッド部に集約! ■顕微分光で高精度な絶対反射率測定(多層膜厚、光学定数) ■1ポイント1秒以内の高速測定 ■顕微下で広い測定波長範囲を実現する光学系(紫外~近赤外) ■エリアセンサーによる安全機構 など ※詳しくはPDF資料をご覧いただくか、お気軽にお問い合わせ下さい。
この製品へのお問い合わせ
基本情報
【これまでの膜厚計のお悩み】 ■接触式/非接触式どちらでも測定が難しい素材がある ■操作や解析に経験が必要 ■今までよりも高範囲・高精度な測定を求められるようになった ■測定用途に合わせて様々な機器が必要になる ※そんな膜厚計のお悩みを「OPTMシリーズ」1台で完全解決します! 【特長】 ■膜厚測定に必要な機能をヘッド部に集約! ■顕微分光で高精度な絶対反射率測定(多層膜厚、光学定数) ■1ポイント1秒以内の高速測定 ■顕微下で広い測定波長範囲を実現する光学系(紫外~近赤外) ■エリアセンサーによる安全機構 など ※詳しくはPDF資料をご覧いただくか、お気軽にお問い合わせ下さい。
価格帯
納期
用途/実績例
※詳しくはPDF資料をご覧いただくか、お気軽にお問い合わせ下さい。
詳細情報
-
OPTM series 試料の形状・部位に応じて容易に測定シーケンスをカスタマイズ可能
-
OPTM series 構成図
カタログ(1)
カタログをまとめてダウンロード企業情報
大塚電子は、独自の「光」技術を用いて、大塚電子にしか出来ない画期的な新製品を作り出しています。 創業以来積み上げてきた要素技術を融合させながら、医用機器、分析機器、分光計測機器という3つの事業を展開しています。 【医用機器】 親会社である大塚製薬をはじめ、試薬メーカーなどと連携した、臨床検査機器、医療機器の開発・生産を主体とする事業を展開。最新テクノロジーを集結し、人々の健康に貢献しています。 【分析機器】 新素材解析のコアテクノロジーである光散乱の技術を、ナノテクノロジー領域の物性測定に応用。粒子径、ゼータ電位、分子量の測定法を基準に、新素材、バイオサイエンス、高分子化学、さらには半導体や医薬分野などへの展開を図ります。 【分光計測機器】 分光計測技術の代名詞であるマルチチャンネル分光器と、長年にわたって培ってきた解析技術の蓄積による製品群を生み出しています。多様化するニーズに応えながら、幅広い分野へと拡大し続けています。