電子部品・モジュールの製品一覧

  • 分類:電子部品・モジュール

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【重量物の取り扱いによる作業負担を軽減!】お客様の課題を解決した導入事例5選を収録!ワークに応じた無料相談、テストも受付中!

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  • その他搬送機械

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直径30mm程度から8インチ、高ライフタイム、1万オームを超えるような高抵抗も対応可能!薄化、チップ加工もアレンジいたします!

  • その他半導体
  • 加工受託
  • ウエハー

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波長1200~2200nm・帯域22GHzまで対応可能なフォトダイオード・フォトレシーバです。

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  • レーザ部品
  • アンプ
  • その他

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4,000cdの超高輝度ディスプレイで窓際からの訴求を最大限に発揮

  • 液晶ディスプレイ

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激しい温度変化・超高真空といった過酷な宇宙環境に対応可能なフォトダイオード・フォトレシーバです。

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  • レーザ部品
  • アンプ
  • その他

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大型部品に対応可能な深型はんだ槽。ハーネスの後加工やディップはんだ。

  • はんだ付け装置
  • ハーネス
  • ケーブル

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経済的で侵食に強い鋳鉄はんだツボ。ハーネスの後加工やディップはんだ。RoHS2対応/鉛フリー

  • はんだ付け装置
  • ハーネス
  • ケーブル

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温調可能な500W超ハイパワーの高ワットはんだこて。鉛フリーはんだ対応。RoHS2対応/静電対策

  • はんだ付け装置
  • ハーネス
  • ケーブル

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150Wの小型高出力ヒーターにより、圧倒的な熱回復力を実現。鉛フリーはんだ対応。RoHS2対応/静電対策

  • はんだ付け装置
  • ハーネス
  • ケーブル

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樹脂やカーボン素材等、有機系の分析に強い装置を揃えました。

  • ダイオード
  • 受託測定
  • 複合材料

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非破壊分析サービス 2018年4月より開始のお知らせ

2018年4月2日、MSTは最新型の加工・分析装置を導入し非破壊分析サービスを開始します。電子デバイス・医薬品・食品の製品開発・品質管理など幅広い分野を対象に分析サービスを提供します。 非破壊分析は、製品を破壊することなく内部の状態を可視化する技術です。 今回MSTでは最新型の加工・分析装置を導入し、非破壊分析の実施が可能となりました。受託による分析サービスをご提供いたします。

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真空加熱/昇温により発生したガスを温度毎にモニターできる質量分析法。水素や水も感度よく確認

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  • 受託解析
  • その他受託サービス
  • 基板設計・製造

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PL分析(フォトルミネッセンス法)を追加しました

取り扱い製品一覧に、PL分析(フォトルミネッセンス法)を追加しました。 PL分析は物質に光を照射し、励起された電子が基底状態に遷移する際に発生する光を観測する方法です。 詳しい情報はカタログをご覧ください。

TOC計は、試料中の全炭素量 、全有機体炭素量、無機体炭素量(IC:を評価することができる装置です

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  • 受託解析
  • その他受託サービス
  • 基板設計・製造

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C-SAMは、試料の内部にある剥離などの欠陥を非破壊で観察する手法です。

  • 打ち合わせ.jpg
  • セミナー.jpg
  • 受託解析
  • その他受託サービス
  • 基板設計・製造

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SiCデバイスの拡散層構造を可視化できます(拡散層構造の高感度評価)

  • 受託解析
  • トランジスタ

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シミュレーションによってアモルファス膜のミクロな構造解析が可能です

  • 受託解析
  • メモリ

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照射X線により発生する蛍光X線を検出し、エネルギーや分光結晶で分光することによって、元素分析や組成分析を行う手法です

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  • 受託解析
  • その他受託サービス
  • 基板設計・製造

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固体試料にイオンビームを照射し、ラザフォード散乱によって後方に散乱されてくるイオンのエネルギーおよび強度を測定する手法です

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  • セミナー.jpg
  • 受託解析
  • その他受託サービス
  • 基板設計・製造

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熱分解GC/MS法によりグラフェンの官能基の評価が可能

  • 受託解析
  • トランジスタ
  • 蓄電装置

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ディスクリートパッケージ内部の構造を非破壊で立体的に観察

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  • 受託解析
  • その他半導体

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デバイス特性に関わるトレンチ側壁の粗さを定量評価

  • 受託解析
  • その他半導体

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金属多結晶の結晶粒の大きさや分布に関する知見を得ることが可能です

  • 受託解析
  • メモリ

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複合解析により特定の有機成分の脱離について温度依存性評価が可能です

  • 受託解析
  • 2次電池・バッテリー
  • 液晶ディスプレイ

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電解液界面近傍の模式図や電解液中の溶媒和構造などを図を用いて詳しく掲載!

  • 負極との界面近傍におけるリチウム塩成分の分布2.png
  • 電解液中の溶媒和構造.png
  • 溶媒和構造.png
  • 負極の模式図.png
  • リチウムイオン電池

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ナノ材料に外力を加えた時の形状変化、歪みエネルギーの評価が可能

  • 初期構造.png
  • 歪みエネルギー.png
  • ab.png
  • 受託解析
  • その他
  • 2次電池・バッテリー

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TOF-SIMSで無機物の分子情報を深さ方向に捉えることが可能

  • img_C0264_2.jpg
  • img_C0264_3_HO-Si-O.jpg
  • img_C0264_4_O-Si-O-Si-O.jpg
  • img_C0264_5_Si-N-Si.jpg
  • img_C0264_6_Si-Si.jpg
  • 受託測定
  • トランジスタ
  • メモリ

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最表面だけでなく、30nmの深部まで ~表面と材料内部の化学状態を同一箇所・非破壊で定量評価!~

  • 2次電池・バッテリー

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デバイス内部の異常を非破壊で評価します

  • 受託解析
  • その他電子部品
  • トランジスタ

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負極の断面構造・表面形状、活物質断面の元素マッピング像など複合的にアプローチ!

  • 2次電池・バッテリー
  • 受託測定

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めっきなどの膜中・界面の不純物をTOF-SIMSで評価できます。

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  • ウエハー
  • 受託測定
  • その他半導体

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SEM-EDXによる形状観察及び簡易定量分析

  • img_C0736_2.jpg
  • 受託検査
  • ウエハー
  • その他半導体製造装置

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