科学・理化学機器の製品一覧
- 分類:科学・理化学機器
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UV照射器の必需品 ●放射照度·ピーク照度·積算光量の測定が可能 リアルタイム表示、3段階レンジ切替、オートパワーオフ機能
- ステンレス容器
デモ処理受付中!底の深い容器、数百μmクラスの流路、長尺チューブなどの親水化処理に!シャーレや医療用チューブ、マイクロ流路もOK
- プラズマ表面処理装置
ふっ化水素酸と反応性の高い金属シリコンの分解(溶融)において、ICPやICP/MSへ供する試料前処理!
- その他理化学機器
- 分析機器・装置
素材の開発・塗装・接着など多用途に対応可能な各種テスト機を用意 ※初回1週間 無償レンタルサービス実施中!
- プラズマ表面処理装置
酸添加等自動前処理装置DEENA2を用いて、ICPやICP/MSへ供する試料前処理!
- その他理化学機器
- 分析機器・装置
窒化炉及びガス供給設備導入に関わる設計、設置工事、処理条件設定、 官庁申請、導入後のメンテナンス、ガス供給をトータルサポート
- 工業炉
- ガス発生装置
半導体製造における超純水(UPW)システムの品質管理に最適。TOCおよびホウ素の微量濃度を高精度で連続監視する分析装置シリーズ
- 超純水製造装置
- 純水製造装置
- その他 水質分析
【新製品情報】超純水中ホウ素をリアルタイム監視!「Sievers Boron Ultra」オンラインUPWホウ素計を発売
セントラル科学株式会社は、超純水(UPW)中のホウ素をpptレベルでリアルタイムに監視可能な新製品「Sievers Boron Ultra オンラインUPWホウ素計」を発売しました。 本製品は、半導体製造におけるシリカ汚染の早期検出と、イオン交換樹脂の最適な管理を目的として開発され、ICP-MSに匹敵する高感度(0.010~100 ppb B)を実現。3分ごとの高速測定により、従来の分析手法よりも迅速なプロセス制御が可能です。 【主な特長】 ・pptレベルの超高感度検出(0.010~100 ppb B) ・ICP-MSに匹敵する精度で、シリカよりも早期にホウ素を検出 ・3分または6分の高速測定サイクル ・10.1インチのカラータッチスクリーンで直感的な操作性 ・IP45等級の防塵・防水性能を新たに取得 ・1流路/2流路モデルを選択可能 ・RoHS、CE、UKCA認証取得済み 【用途・導入メリット】 半導体・電子産業におけるUPWシステムの品質管理 イオン交換樹脂の再生・交換時期の最適化 シリカ汚染の早期検出による製品歩留まりの向上 ランニングコストの削減と設備寿命の延長