測定・分析の製品一覧

  • 分類:測定・分析

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【アールエスコンポーネンツ】計測器、工具、受動部品など豊富な産業用製品のご購入は今がチャンス!※セール対象品カタログを無料進呈中

  • s1.png
  • オシロスコープ

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洗浄可能な、タッチレス(非接触)構造のバルブフィーダー!異物混入リスクを低減しました

  • フィーダー

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1ポイント1秒測定&測定エリア最小3μm!高性能で使いやすい顕微分光膜厚計

  • 膜厚計

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分光放射強度の角度分布を測定し、配光特性(光度・色度など)を評価! 

  • IPROS9761633288204319171.png
  • 分光分析装置

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紫外域でも高精度な測定を実現!

  • 紫外放射照度測定システム2.png
  • その他電子計測器
  • その他計測・記録・測定器
  • 光源・照明

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LED単体から照明器具まで幅広い光源の全光束測定が可能

  • 積分半球の特長図.jpg
  • 全球1.jpg
  • 分析機器・装置

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IESNAのLM-79とLM-80に準拠した測定システム!分光全放射束測定の様々な要望に対応

  • 分光全放射束測定システム2.png
  • 分光全放射束測定システム3.png
  • 分光分析装置

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各種ウェーハの厚み測定や、各種研削・研磨・貼り合わせなどへのプロセスへの組み込みに! 

  • 1.png
  • 2.png
  • 3.png
  • 4.png
  • 膜厚計

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光ファイバーにより自由な測定系が可能 LED生産工程での光学特性を高速で評価

  • 高速LED光学特性モニター2.png
  • LED照明
  • 光源・照明
  • 光学測定器

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インラインフィルム評価システムは、光学式のため非接触・非破壊で反射率、色などの測定が可能

  • インラインMCPD_トラバース.jpg
  • 171003_MCPD-9800_2 のコピー.jpg
  • 分光分析装置

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光干渉法の採用により、非接触・非破壊膜厚で膜厚測定が可能

  • インラインMCPD_トラバース.jpg
  • 171003_MCPD-9800_2 のコピー.jpg
  • 分光分析装置

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半導体工場の膜厚ニーズに合わせたインテグレーションが可能!

  • ロードポート対応膜厚測定システム2.png
  • ロードポート対応膜厚測定システム3.png
  • 半導体検査/試験装置
  • 膜厚計

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インラインフィルム評価システムは、光学式のため非接触・非破壊で透過率、吸光度、色などの測定が可能

  • インラインMCPD_多点測定.jpg
  • 171003_MCPD-9800_2 のコピー.jpg
  • 分光分析装置

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光源や照明器具の配光特性を測定する装置です 

  • 分析機器・装置

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ラインスキャン方式の採用で「抜け」のない全面フィルム検査を実現!

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  • 2.png
  • 3.png
  • 膜厚計

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