測定・分析の製品一覧

  • 分類:測定・分析

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【重量物の取り扱いによる作業負担を軽減!】お客様の課題を解決した導入事例5選を収録!ワークに応じた無料相談、テストも受付中!

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  • その他搬送機械

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室温から-13°Cの強冷風!ご使用環境によりコンボタイプかセパレートタイプを選択可能!

  • 冷却装置

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2024/4/10(水)~2024/4/12(金)名古屋 ものづくり ワールド 2024出展のご案内

三和式ベンチレーター株式会社は、ポートメッセなごやで開催される 2024ものつくりワールド(名古屋)に出店いたします。 弊社も大型冷風機、涼暖ビエントの展示をおこないます。 日時:2024/4/10~2024/4/12    開場:AM10:00~ 場所:名古屋ポートメッセ(第1展示会場) ※弊社ブース:19-1 お時間が御座いましたら、ご来場頂ければ幸いです。

CMPスラリーの等電点測定から分散性を評価

  • 各砥粒のpHタイトレーション結果.jpg
  • その他理化学機器
  • 分析機器・装置

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JASIS2026へ出展します

2026年9月2日(水)から4日(金)まで、幕張メッセで「JASIS 2026」が開催されます。 大塚電子ではゼータ電位・粒子径・分子量測定システム ELSZneo、光波動場三次元顕微鏡 MINUK等の弊社製品を展示します。 ぜひ弊社ブースにて実機をお近くでご覧ください。 皆様のご来場をお待ちしております。

研磨パッドの表面ゼータ電位測定

  • 各pHにおける研磨パッドの表面ゼータ電位測定結果.jpg
  • その他理化学機器
  • その他検査機器・装置

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20260724_平板状フィルム状サンプルのゼータ電位測定アプリケーションのご紹介.png

7/24,28開催 Webセミナー 平板状・フィルム状サンプルのゼータ電位測定・アプリケーションのご紹介

大塚電子のゼータ電位測定システム"ELSZシリーズ"では、溶液中のコロイド粒子のゼータ電位だけでなく、 平板状やフィルム状サンプルのゼータ電位も測定することが可能です。 この測定により、平板サンプルの表面改質状態や、液中粒子との吸着特性なども評価することが可能です。 本セミナーでは、そのアプリケーションについてご紹介します。 ※2025年9月放映のセミナーを講師の変更と一部内容を更新して配信いたします。

粒子径測定装置を用いた種類の異なるリポソームの粒子径評価

  • 各種リポソームの粒子径分布.jpg
  • 分析機器・装置
  • その他検査機器・装置

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JASIS2026へ出展します

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ゼータ電位・粒子径・分子量測定システムを用いたDDSナノ材料リポソームの評価

  • リポソームの粒子径分布.jpg
  • DDSナノ材料リポソームのゼータ電位評価.jpg
  • 分析機器・装置

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ゼータ電位・粒子径・分子量測定システムを用いたDDSナノ材料リポソームの等電点評価

  • 生理食塩水に分散させたリポソームのpHタイトレーション測定.jpg
  • 分析機器・装置

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JASIS2026へ出展します

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コロイド分散系における無機粒子のpHタイトレーションによる等電点の評価

  • 無機粒子のpH変化による等電点の評価.jpg
  • 分析機器・装置

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光干渉法を用いた顕微分光膜厚計(OPTM)の測定原理

  • 膜厚原理.jpg
  • 分析機器・装置

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傾斜モデルを用いた薄膜の構造解析

  • 傾斜モデルを用いた薄膜の構造解析.jpg
  • 分析機器・装置

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反射分光法と他の測定手法の比較

  • 測定方法の比較.jpg
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屈折率の波長分散性を考慮した厚膜解析

  • 屈折率の波長分散性を考慮した厚膜解析.jpg
  • 分析機器・装置

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反射分光膜厚計『OPTM』を用いた絶縁膜の膜厚測定

  • SiO2 SiNの膜厚測定.jpg
  • 分析機器・装置

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複数点同一解析を用いた nk 未知の極薄膜の測定

  • 複数点同一解析を用いた nk 未知の極薄膜の測定.jpg
  • 分析機器・装置

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薄膜から厚膜まで高精度に測定が可能な顕微分光膜厚計『OPTM』

  • 膜厚値違いによる反射率の変化.jpg
  • 分析機器・装置

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お客様のご要望に応じて、カスタマイズ設計・製作可能!

  • 半導体検査/試験装置
  • その他検査機器・装置

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反射対物レンズが実現する透明基板の高精度測定

  • 反射対物レンズが実現する透明基板の高精度測定.jpg
  • 分析機器・装置

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傾斜モデルを用いたITOの構造解析

  • 傾斜モデルを用いたITOの構造解析-1.jpg
  • 傾斜モデルを用いたITOの構造解析-2.jpg
  • 膜厚計
  • その他検査機器・装置
  • 光学測定器

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nmオーダーの透明な異物・欠陥の評価が可能!フォーカス不要で高速測定 目視では見えないフィルム表面を可視化・定量化

  • 光学顕微鏡

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広ダイナミックレンジ!高速・高再現性、軽量・コンパクトが特長的 

  • 1.png
  • 分光分析装置

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ラインスキャン方式の採用で「抜け」のない全面フィルム検査を実現!

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  • 膜厚計

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光源や照明器具の配光特性を測定する装置です 

  • 分析機器・装置

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インラインフィルム評価システムは、光学式のため非接触・非破壊で透過率、吸光度、色などの測定が可能

  • インラインMCPD_多点測定.jpg
  • 171003_MCPD-9800_2 のコピー.jpg
  • 分光分析装置

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半導体工場の膜厚ニーズに合わせたインテグレーションが可能!

  • ロードポート対応膜厚測定システム2.png
  • ロードポート対応膜厚測定システム3.png
  • 半導体検査/試験装置
  • 膜厚計

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光干渉法の採用により、非接触・非破壊膜厚で膜厚測定が可能

  • インラインMCPD_トラバース.jpg
  • 171003_MCPD-9800_2 のコピー.jpg
  • 分光分析装置

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インラインフィルム評価システムは、光学式のため非接触・非破壊で反射率、色などの測定が可能

  • インラインMCPD_トラバース.jpg
  • 171003_MCPD-9800_2 のコピー.jpg
  • 分光分析装置

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光ファイバーにより自由な測定系が可能 LED生産工程での光学特性を高速で評価

  • 高速LED光学特性モニター2.png
  • LED照明
  • 光源・照明
  • 光学測定器

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各種ウェーハの厚み測定や、各種研削・研磨・貼り合わせなどへのプロセスへの組み込みに! 

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  • 膜厚計

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IESNAのLM-79とLM-80に準拠した測定システム!分光全放射束測定の様々な要望に対応

  • 分光全放射束測定システム2.png
  • 分光全放射束測定システム3.png
  • 分光分析装置

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LED単体から照明器具まで幅広い光源の全光束測定が可能

  • 積分半球の特長図.jpg
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  • 分析機器・装置

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紫外域でも高精度な測定を実現!

  • 紫外放射照度測定システム2.png
  • その他電子計測器
  • その他計測・記録・測定器
  • 光源・照明

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分光放射強度の角度分布を測定し、配光特性(光度・色度など)を評価! 

  • IPROS9761633288204319171.png
  • 分光分析装置

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希薄系から濃厚系まで、医薬品製剤の粒子径・ゼータ電位を測定

  • その他計測・記録・測定器

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JASIS2026へ出展します

2026年9月2日(水)から4日(金)まで、幕張メッセで「JASIS 2026」が開催されます。 大塚電子ではゼータ電位・粒子径・分子量測定システム ELSZneo、光波動場三次元顕微鏡 MINUK等の弊社製品を展示します。 ぜひ弊社ブースにて実機をお近くでご覧ください。 皆様のご来場をお待ちしております。

1ポイント1秒測定&測定エリア最小3μm!高性能で使いやすい顕微分光膜厚計

  • 膜厚計

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使いやすさにこだわった粒径・粒度分布測定装置

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20260724_平板状フィルム状サンプルのゼータ電位測定アプリケーションのご紹介.png

7/24,28開催 Webセミナー 平板状・フィルム状サンプルのゼータ電位測定・アプリケーションのご紹介

大塚電子のゼータ電位測定システム"ELSZシリーズ"では、溶液中のコロイド粒子のゼータ電位だけでなく、 平板状やフィルム状サンプルのゼータ電位も測定することが可能です。 この測定により、平板サンプルの表面改質状態や、液中粒子との吸着特性なども評価することが可能です。 本セミナーでは、そのアプリケーションについてご紹介します。 ※2025年9月放映のセミナーを講師の変更と一部内容を更新して配信いたします。

動的光散乱法により超微粒子および希薄溶液中の微粒子測定に最適

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20260716_第37回散乱研究会アーカイブ配信案内状1.pdf.png

7/16配信 第37回散乱研究会(アーカイブ配信)

2025年11月に開催し、多くの方にご参加いただきました「第37回 散乱研究会」につきまして、​この度アーカイブ配信を行う運びとなりました。​ 本配信では、これから光散乱を学ぶ方にも分かりやすい「電気泳動光散乱法」の基礎講座をはじめ、​企業や大学の先生方による、基礎研究から産業応用に至るまで幅広い光散乱法の活用事例や最新の​ご研究に関する講演をご視聴いただけます。​ また、当日行われた講師陣との活発な「光散乱Q&A」の様子も放映いたします。基礎から最前線の​知見まで幅広く触れていただける内容となっております。​ 当日ご参加いただけなかった方はもちろん、内容を改めて振り返りたい方にも大変貴重な機会かと​存じます。​

約1.1kgの持ち運べる膜厚計。最薄0.1μmから最大100μmまで、検量線不要で操作簡単 <デモ機を無料貸し出し中>

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希薄系から濃厚系の高精度な粒子径・粒子径分布・ゼータ電位測定 さらに固体表面、分子量の評価まで

  • その他計測・記録・測定器

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20260804_大塚電子Webセミナー【実演セミナー】.png

8/4開催 Webセミナー ELSZneoで学ぶゼータ電位・粒子径測定の原理から実演まで

ELSZneoおよびオプションのpHタイトレータを使用し、粒子径・ゼータ電位測定の基礎のご説明と実演をご紹介します。 前半では、動的光散乱法(DLS)による粒子径測定、および電気泳動光散乱法(ELS)によるゼータ電位測定の原理を、平板試料の測定原理も含めて解説します。 後半では、高い分解能で近接した分布を捉える多角度DLS測定、散乱強度から粒子濃度を求める粒子濃度測定、およびゼータ電位測定を実演します。さらに、pHタイトレータによるタイトレーショングラフの作成・等電点評価、フラットな基板表面の平板ゼータ電位測定についても、測定条件の設定から結果表示までの一連の流れを実演を交えてわかりやすくご説明します。

高分子の構造変化をリアルタイムに評価

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2026年9月2日(水)から4日(金)まで、幕張メッセで「JASIS 2026」が開催されます。 大塚電子ではゼータ電位・粒子径・分子量測定システム ELSZneo、光波動場三次元顕微鏡 MINUK等の弊社製品を展示します。 ぜひ弊社ブースにて実機をお近くでご覧ください。 皆様のご来場をお待ちしております。

全30事例!バイオ・医薬品・バイオマテリアル分野のアプリケーションデータを掲載した資料を進呈中

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