その他計測器の製品一覧
- 分類：その他計測器
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電池の基本概念から、利用目的・実現方法による分類までを体系化。複雑な電池選定の第一歩を、初心者目線で分かりやすくまとめました
- 電池・バッテリー
- 技術書・参考書
- 技術書・参考書
熱電対コネクター！熱電対や補償導線のまぎらわしい接続を容易にした熱電対コネクターは、熱電対と同材質の金属を使用することにより環境
- 温湿度関連測定器
- その他計測・記録・測定器
- その他電子部品
測温データをPCで簡単管理！放射の影響を取り除き、高精度な測温が可能
- データロガー
- その他計測・記録・測定器
- その他温湿度測定器
プロフェッショナルタイプのアルコールチェッカー「フーゴ プロ」から「測る・見る」に機能を絞ったBluetooth Type登場
- その他計測・記録・測定器
- その他電子計測器
単一粒子レベルでの解析を実現する革新的なソリューション Nano FCM Flare & Auto20 新登場
- その他理化学機器
- 分析機器・装置
- パーティクルカウンター
【ワークショップ開催】「EV・LNPと遺伝子導入の新技術2025 見て、触れて、聴くワークショップ」
招待講演やフォトポレーション遺伝子導入装置を開発したメーカーの担当者が来日し、 直接ご説明をいただける貴重な機会です。 実機も用意をしておりますので、皆様のご参加を心よりお待ちしております。 講演内容 １．富士フイルム富山化学株式会社 富山研究開発センター CMC研究部 柿田浩輔 様 脂質ナノ粒子（LNP）の製剤開発／プロセス開発から特性解析まで ～富士フイルム富山化学のCDMOサービスについて～ ２．東京医科大学 医学総合研究所 分子細胞治療研究部門 講師 吉岡祐亮 様 EV計測技術とその必要性について ３．Trince（Belgium）共同設立者 (CSO/CTO)、Ghent大学 教授 Kevin Braeckmans 様 穏やかな細胞トランスフェクション 最近の進歩から Trince の革新的な LumiPore プラットフォームまで ４．メイワフォーシス株式会社 ランチョンセミナー 製品案内（NanoFCM フローナノアナライザー、 ACOERELA 脂質膜蛍光ラベリングキット）
JIMTOF 2024 出展のご案内
弊社は11月5日（火）より11月10日（日）までの6日間、東京ビッグサイトにて開催される「JIMTOF 2024」に出展いたします。（ブース番号：E7107,東7ホール） 本展示会では、「e-モビリティ時代の検査／計測機器」をコンセプトとし、工作機械業界向け最新アプリケーションおよびEVにおける検査／計測という2つのゾーンにカテゴライズし最新技術をご紹介いたします。 展示予定製品： ・研削盤用シングルケーブル・マシンネットワークシステム ・マシン、工具、およびプロセスモニタリングシステム ・CCDカメラ搭載非接触工具測定装置 ・NVHギア解析装置 ・電気モーター機能テストシステム ・研削盤用シングルケーブル・マシンネットワークシステム ・工作機械用工具およびプロセスモニタリングシステム ・高精度機上計測装置 ・フレキシブル非接触式測定器 ・ダイカスト金型表面温度モニタリングシステム 他 弊社ブースにてお目にかかれますことを、心よりお待ち申し上げております。
今回は『ものづくりワールド東京』に当社出展のご案内
2025 年7 月9 日～11 日幕張メッセにおいて開催される「ものづくりワールド東京 計測・検査・センサ展」に出展いたします。 【名 称】ものづくりワールド東京 https://mono.imsys.jp/r/1803516?m=82997&c=18046390 【会 期】2025 年7 月9 日（水）～11 日（金）10:00～17:00 【会 場】幕張メッセ（千葉市美浜区） 【弊社ブース】７ホール 小間番号：45-65 【出展内容】 ● 試験・計測・解析技術 （１） 空気砲による衝突試験 （２） 革新的AI×CAE システム （３） 高精度シミュレーション技術による設計の最適化と効率化 （４） 応力・ひずみの出張計測 （５） 非破壊表面観察による金属材料の状態診断 （6） 気体の評価に関する受託試験 ● 新型ミストリーナー 展示会入場『事前登録』 https://mono.imsys.jp/r/1803515?m=82997&c=18046390 当社製品カテゴリー https://mono.imsys.jp/r/1803523?m=82997&c=18046390
SEMICON JAPAN 2025 出展のご案内
弊社は2025年12月17日(水)より東京ビッグサイトで開催される 「SEMICON Japan 2025」 に出展いたします。（ブース番号：E4727） 本展示会では、日々進化を遂げる半導体製造プロセスの信頼性、半導体性能の向上に寄与する半導体産業専用アプリケーション及び非接触式測定器をご紹介します。 是非ブースへお立ち寄りの上、ご覧頂きたくご案内申し上げます。 ＜主な展示製品＞ ・ダイシング工程向けビジュアルブレード検査システム ブレードの高速位置決め、加工中のブレードのチッピング検出と摩耗検出が可能 ・非接触式高精度薄膜測定装置（インターフェロメトリ技術） 1μm未満の極薄ウエハまで、インライン制御、最終検査、ラボ試験装置として利用可能 ・非接触式高精度表面形状測定装置（クロマティックコンフォーカル技術） 様々な素材や反射面など、あらゆるタイプの表面素材に対し高い分解能で測定 ・加工中ウェーハ厚さ制御向け接触／非接触式厚さ測定ゲージ（インターフェロメトリ技術） ドライ/ウェット環境で、機械加工中のウェーハ厚さを精密に制御する接触型および非接触型ソリューション
2000シリーズのサポート期限 及び オーバーホール、部品購入の推奨に関して
2000シリーズ（RPA2000, MDR2000, MV2000等）が、発売されてから30年以上経過しております。その為、特に、コロナから、部品の安定供給が年々難しい状況になってきております。数年後には、部品にも依りますが、部品の供給が困難になる可能性が御座います。現在、弊社では下記をご提案しております。 １） 装置のオーバーホール ： 試験機の駆動部、制御部等のみ新しい部品に交換 ２） 下記部品の購入 ： 早い時期に、入手困難になる可能性の部品
MECT 2025 出展のご案内
弊社は2025年10月22日（水）より10月25日（土）までの4日間、ポートメッセなごやで開催される「MECT 2025」 へ出展いたします。（第3展示場 ブース番号：3D49） 本展示会では、「変化に応じて拡張する測定技術」をコンセプトとし、産業計測およびプロセス制御における品質管理、工具診断、工作機械アプリケーション向けの最先端ソリューションを発表します。 展示製品： ・工具計測用非接触レーザーシステム ML3G（新製品） ・工具表面摩耗検査機能付きCCDカメラ搭載非接触工具測定装置 VTS（新製品） ・研削盤向けソリューション: OTX （STバランサーヘッド+BLUシリーズ）（新製品） ・工作機械用マシン、工具およびプロセスモニタリングシステム ARTIS ・NVHギア解析装置 NVG-EAR 他 なお、本展示会の入場には事前登録いただきますと無料で入場可能です。下記リンク先よりご登録を済ませ、入場証を印刷の上会場へご持参ください。 弊社ブースにてお目にかかれますことを、心よりお待ち申し上げております。
JIMTOF 2024 出展のご案内
弊社は11月5日（火）より11月10日（日）までの6日間、東京ビッグサイトにて開催される「JIMTOF 2024」に出展いたします。（ブース番号：E7107,東7ホール） 本展示会では、「e-モビリティ時代の検査／計測機器」をコンセプトとし、工作機械業界向け最新アプリケーションおよびEVにおける検査／計測という2つのゾーンにカテゴライズし最新技術をご紹介いたします。 展示予定製品： ・研削盤用シングルケーブル・マシンネットワークシステム ・マシン、工具、およびプロセスモニタリングシステム ・CCDカメラ搭載非接触工具測定装置 ・NVHギア解析装置 ・電気モーター機能テストシステム ・研削盤用シングルケーブル・マシンネットワークシステム ・工作機械用工具およびプロセスモニタリングシステム ・高精度機上計測装置 ・フレキシブル非接触式測定器 ・ダイカスト金型表面温度モニタリングシステム 他 弊社ブースにてお目にかかれますことを、心よりお待ち申し上げております。