受託サービスの製品一覧

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サンプルプレゼント!260℃までOK!500回以上繰り返して使える高耐久性!

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最大1200℃まで耐熱。作業環境の安全を守る高性能な保温カバーを、オーダーメイドで製作いたします!

  • 配管カバー ベルト式 (3).jpeg
  • 断熱保温カバー (3).JPG
  • タンク.JPG
  • A.JPG
  • DSCN0459-1.jpg
  • 配管配線カバー.jpg
  • 参考製品 (2).jpeg
  • シリコン1 (2).jpeg
  • 1 (1).jpeg
  • ガラス

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SXESは、物質から発光される軟X線を用いて化学結合状態を評価する手法です。

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  • セミナー.jpg
  • 受託解析
  • その他受託サービス

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OrbitrTM質量分析計(HRMS)による、高分解能・高精度な分析が可能です。

  • アナライザー.png
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  • 受託測定

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マスアレイ法により、複数のSNP(一塩基多型)を同時に解析できます

  • img_b0295_2.jpg
  • img_b0295_3.jpg
  • img_b0295_4.jpg
  • 受託解析
  • 受託測定

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千歳営業所を拠点とし、北海道エリアのお客様へ更なるサービス向上を目指します。

  • 受託解析

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MST【千歳営業所】 OPEN!!

MSTとして北海道エリア初の千歳営業所を開所します。 千歳営業所を拠点とし、北海道エリアのお客様へ更なるサービス向上を目指します。 また東京本部(ラボ)との密接な連携で納得の品質・納期を実現します。 ご期待ください! 開所日:2024年4月11日(木) 住所:北海道千歳市柏台南1-3-1 千歳アルカディア・プラザ 160 号室       ※サンプルのご送付は、東京都世田谷区の本部宛てにお願いします。    本部住所:東京都世田谷区喜多見1-18-6 電話番号:090-4001-1578(担当:柳町)

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血液中のPFAS濃度を測定する検査サービスを、2024年6月より開始しました。

  • 18511900_2024_0607_164722修正済み.jpg
  • 18511900_2024_0607_165549.jpg
  • 受託検査
  • その他

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SEM装置に搭載されたFIBとTOF型質量分析器を用い、微小箇所の形状観察と元素イメージングを同時に行うことのできる手法です。

  • 受託測定

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真空中で細く絞られた 電子線を固体試料表面に照射し発生する特性X線を分析することで、元素の同定や定量値に関する知見を得られます

  • 受託測定

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物質に光を照射し、励起された電子が基底状態に戻る際に発生する光を観測する手法です。

  • 受託測定

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HAXPESは、XPS(X線光電子分光)の励起光に硬X線を用いた分析手法です。

  • 受託測定

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赤外分光法は、分子の振動による赤外線吸収を測定することで、分子構造の情報を得る手法です。

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赤外分光法は、分子の振動による赤外線吸収を測定することで、分子構造の情報を得る手法です。

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TG-DTAは、加熱によって生じる重量変化(TG)、吸熱・発熱の熱挙動(DTA)を同時に評価します。

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吸収電流像から配線の高抵抗・オープン箇所の特定ができます。

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ミクロンレベルの加工位置精度を持つウルトラショートパルスレーザーを使用して、低ダメージで速やかに試料を作製することができます。

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分子動力学計算からわかることとして、解析対象、得られる物性情報および解析事例を紹介します

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揮発性成分を分析対象とし て、固定相に対する気体の吸着性あるいは分配係数の差異等を利用して成分を分離する手法

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解析対象、得られる物性情報及び解析事例を紹介します。

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緑茶に含まれるカテキン類8成分を半定量した例を紹介します

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熱伝導性の情報から高分子の相分離構造を可視化することが可能です。

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IP法は、研磨法の一種でイオンビームを用いて加工する方法です

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やわらかいサンプルを冷却、硬化させ切削可能に

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HAADF-STEM:高角散乱環状暗視野走査透過顕微鏡法

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応用物理 2012年5月号執筆記事掲載のお知らせ

公益社団法人応用物理学会より発刊の月刊誌「応用物理」2012年5月号へ、MST一般財団法人材料科学技術振興財団が走査電子顕微鏡(SEM)について記事執筆を行いました。 ●雑誌概要 ・発行元:公益社団法人応用物理学会 ・掲載誌:2012年5月発行 応用物理 ・企画名:基礎講座 <ホップ・ステップ・ジャンプ>シリーズ「走査電子顕微鏡」 ●MST寄稿概要 ・執筆者: 一般財団法人材料科学技術振興財団 分析評価部TMG リーダー 米光恭子 ・執筆内容: 走査電子顕微鏡の研究開発への応用-解析事例、こんなことに使われる ぜひご覧ください。

機械研磨を行った後低加速Arイオンビームで仕上げ加工を行うことで厚さ50nm以下の透過電子顕微鏡用の薄膜試料を作製する加工法です

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雰囲気制御下での処理 クライオ加工 冷却 TEM: 透過電子顕微鏡法他

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雰囲気制御下での処理 クライオ加工 冷却 SEM: 走査電子顕微鏡法他

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