受託検査の製品一覧

１００万回繰り返しても壊れない！確実動作と高耐久性・低価格のマットスイッチ。工作機械のオプションなどにも。納期ご相談ください。

センサ

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直径３０ｍｍ程度～8インチまで対応可能　高抵抗FZウエハ

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株式会社エナテック東京本社

直径３０ｍｍ程度から8インチ、高ライフタイム、１万オームを超えるような高抵抗も対応可能！薄化、チップ加工もアレンジいたします！

その他半導体
加工受託
ウエハー

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［SIM］走査イオン顕微鏡法

高分解能（加速電圧30kV：4nm）でのSIM像観察が可能

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受託測定
受託検査

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in situX線CTを用いた引張試験による金属材の構造変化観察

引張応力ごとの三次元構造変化を評価可能

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【分析事例】ウェハ上パーティクルの組成分析

SEM-EDXによる形状観察及び簡易定量分析

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ウエハー
その他半導体製造装置

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【分析事例】IGZO膜中H濃度評価

IGZO膜中Hについて、高感度で深さ方向分布の評価が可能

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【分析事例】IGZO膜の化学状態評価

XPS・UPSを用いた結合状態・電子状態評価

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【分析事例】スズ(錫、 Sn)表面の深さ方向状態評価

表面処理による改質層や変質層の評価が可能！

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【分析事例】異物発生の原因調査：チューブの分析

ウエハの汚染原因を推定することが可能です！

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飛行時間型質量分析装置

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【分析事例】IGZO膜へのTi拡散評価

SSDP-SIMSによる高濃度層の影響を避けた測定

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【分析事例】IGZO膜の局所結晶構造解析

電子回折で結晶性・配向性を連続的に評価

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【分析事例】SIMSによるダイヤモンド評価事例

不純物元素の定量評価及び膜厚評価が可能です

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質量分析装置

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【分析事例】リアルタイムPCR法による細菌数の評価

サンプル中の細菌について、単離・培養せず、DNAから分析します！

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リアルタイムPCR

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【分析事例】ナノCTによる電池部材の内部構造評価

空間分解能100nmにて試料内部の微細構造を三次元的に観察！

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X線検査装置

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大気非暴露下での処理

サンプル本来の状態を評価することが可能

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［SAXS］X線小角散乱法

・ナノスケールでの周期構造・配向性を評価可能

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【分析事例】被毛表面の成分評価