光学測定器の製品一覧
- 分類：光学測定器
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【重量物の取り扱いによる作業負担を軽減！】お客様の課題を解決した導入事例5選を収録！ワークに応じた無料相談、テストも受付中！
- その他搬送機械
狭い作業スペースや、市販のスパナレンチやモンキレンチでも配管作業可能！締込みキズを最小限に抑える利便性の高いねじ継手。
- 管継手
- 配管材
- バルブ
SPIE BiOS Expo ＆ Photonics West 2025’に出展致します！
開催期間：１月25日から1月30日 展示会場：サンフランシスコ モスコーニセンター SPIE BiOS Expo：1月25～26日 弊社ブースN.O 8337 Photonics West：1月28～30日 弊社ブースN.O 3337 展示会場でのデモ、商談ご希望の方の【事前ご予約】賜ります。 電話、メール、お問い合わせより、ご連絡お待ちしております。 HP：https://www.ayasecorporation.co.jp （お問い合わせページからも受け付けております） ■海外営業担当(日本)：安治(あんじ) info@ayasecorporation.com Tel.045-532-9501 ■AYASE America,Inc Sales : Rolf Kojima info@ayaseamerica.com +Tel: +1-925-464-7221 Main
SPIE BiOS Expo ＆ Photonics West 2025’に出展致します！
開催期間：１月25日から1月30日 展示会場：サンフランシスコ モスコーニセンター SPIE BiOS Expo：1月25～26日 弊社ブースN.O 8337 Photonics West：1月28～30日 弊社ブースN.O 3337 展示会場でのデモ、商談ご希望の方の【事前ご予約】賜ります。 電話、メール、お問い合わせより、ご連絡お待ちしております。 HP：https://www.ayasecorporation.co.jp （お問い合わせページからも受け付けております） ■海外営業担当(日本)：安治(あんじ) info@ayasecorporation.com Tel.045-532-9501 ■AYASE America,Inc Sales : Rolf Kojima info@ayaseamerica.com +Tel: +1-925-464-7221 Main
フイルム等の反射率測定などにLMxシリーズ
カスタム製作前提の機種ですが 光源、輝度計、電動ステージ、ソフトウェアを組み合わせて対象物に合わせた反射率・透過率測定器をご提供します。 詳しくは製品ページやカタログページをご覧ください。
EM500-LGTは、過酷な環境下での環境光強度検出用に設計されています。
- その他電子計測器
- 光学測定器
- その他環境分析機器
国産でセキュアなPF2-AEにYellow Scan社製LiDARを搭載した測量特化モデル
- 光学測定器
サンプリング計測・FPS計測の二次元計測解析(輝度・輝度&色度・近赤外)
- その他計測・記録・測定器
- 光学測定器
- 画像解析ソフト
PENTAX トータルステーション P-100シリーズ ノンプリ6oom 高速測距「速くて正確」「高コストパフォーマンス」
- 光学測定器
まだ従来の色域評価をしますか？ APHRODI／アフロディ ディスプレイの色域評価システム（Gamut Rings評価） GR-55
今回は元ソニーのエンジニアが講師を務める無料Webセミナー まだ従来の色域評価をしますか？【新製品ディスプレイの色域評価システム GR-55】ご紹介WEBセミナー の案内を致します。 -無料で評価ソフトウェア貸出中(先着様1社) ディスプレイの色再現域を測る手段として、ガマットリングス法なる方法がNHKの 正岡博士から提唱され実用化されました。 これは従来では表現できない明度を含めた３次元色域を２次元で可視化できる全く新しい画期的な手法です。 国際機関であるIEC、ICDM、CIEにて国際標準化されました。 本講演ではガマットリングス法の基本原理と本製品GR-55のご説明、 また従来から使われてきているxy色度図、ｘｙY色空間、更にL*a*b*色空間への即時変換についてもご紹介する予定です。 この技術により、ディスプレイの色度評価が正確に、簡単に、わかりやすく出来き、今後のディスプレイの設計開発や部材/素材に 関わる皆様方の一つのツールになるでしょう。 本セミナーは大変お得な情報が満載です。
SEMICON JAPAN 2025 出展のご案内
弊社は2025年12月17日(水)より東京ビッグサイトで開催される 「SEMICON Japan 2025」 に出展いたします。（ブース番号：E4727） 本展示会では、日々進化を遂げる半導体製造プロセスの信頼性、半導体性能の向上に寄与する半導体産業専用アプリケーション及び非接触式測定器をご紹介します。 是非ブースへお立ち寄りの上、ご覧頂きたくご案内申し上げます。 ＜主な展示製品＞ ・ダイシング工程向けビジュアルブレード検査システム ブレードの高速位置決め、加工中のブレードのチッピング検出と摩耗検出が可能 ・非接触式高精度薄膜測定装置（インターフェロメトリ技術） 1μm未満の極薄ウエハまで、インライン制御、最終検査、ラボ試験装置として利用可能 ・非接触式高精度表面形状測定装置（クロマティックコンフォーカル技術） 様々な素材や反射面など、あらゆるタイプの表面素材に対し高い分解能で測定 ・加工中ウェーハ厚さ制御向け接触／非接触式厚さ測定ゲージ（インターフェロメトリ技術） ドライ/ウェット環境で、機械加工中のウェーハ厚さを精密に制御する接触型および非接触型ソリューション
