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サンプルプレゼント!260℃までOK!500回以上繰り返して使える高耐久性!

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最大1200℃まで耐熱。作業環境の安全を守る高性能な保温カバーを、オーダーメイドで製作いたします!

  • 配管カバー ベルト式 (3).jpeg
  • 断熱保温カバー (3).JPG
  • タンク.JPG
  • A.JPG
  • DSCN0459-1.jpg
  • 配管配線カバー.jpg
  • 参考製品 (2).jpeg
  • シリコン1 (2).jpeg
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  • ガラス

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GCIB(Arクラスター)を用いることで劣化層の膜厚を評価することが可能

  • 受託解析

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技術情報「環境中微量金属元素分析(B0231)」を公開

MSTホームページにて、下記分析事例1件を公開しました。 ・環境中微量金属元素分析(B0231) 詳細はMSTホームページをご覧ください。 http://www.mst.or.jp/

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技術情報「こんにゃく中のグルコシルセラミド定量分析」1件を公開

MSTホームページにて、下記分析事例1件を公開しました。 ・こんにゃく中のグルコシルセラミド定量分析 詳細はMSTホームページをご覧ください。 http://www.mst.or.jp/

高分解能測定と波形解析を利用してc-Siとa-Siの状態別定量が可能

  • 受託解析

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デバイス内部の異常を非破壊で評価します

  • 受託解析
  • その他電子部品
  • トランジスタ

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負極の断面構造・表面形状、活物質断面の元素マッピング像など複合的にアプローチ!

  • 2次電池・バッテリー
  • 受託測定

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非破壊でペロブスカイト太陽電池の発光特性評価や劣化解析が可能です。

  • img_C0730_2.jpg
  • img_C0730_3.jpg
  • 受託測定

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完全オーダーメイド!お客様が収集された大切なデータから、ニーズに合わせた価値ある情報を導き出します。

  • 図2.PNG
  • 図3.PNG
  • 図4.PNG
  • 受託測定
  • 受託解析
  • 画像処理ソフト

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めっきなどの膜中・界面の不純物をTOF-SIMSで評価できます。

  • img_c0638_2.jpg
  • ウエハー
  • 受託測定
  • その他半導体

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SEM-EDXによる形状観察及び簡易定量分析

  • img_C0736_2.jpg
  • 受託検査
  • ウエハー
  • その他半導体製造装置

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IGZO膜中Hについて、高感度で深さ方向分布の評価が可能

  • 受託解析
  • 受託検査

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技術情報「洗濯用洗剤に含まれる蛍光染料の分析(C0488)」ほか2件を公開

MSTホームページにて、下記分析事例2件を公開しました。 ・洗濯用洗剤に含まれる蛍光染料の分析(C0488)」を追加 ・GPCによる分子量分布測定(B0239) 詳細はMSTホームページをご覧ください。 http://www.mst.or.jp/

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技術情報「有機EL(OLED)の材料構造評価」ほか2件を公開

MSTホームページにて、下記分析事例2件を公開しました。 ・有機EL(OLED)の材料構造評価 ・炭素材料のラマンマッピング 詳細はMSTホームページをご覧ください。 http://www.mst.or.jp/

TDSにより有機膜からの脱ガス成分評価、温度依存性評価が可能です

  • 受託解析

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技術情報「TOF-SIMSによる粉体粒子表面の分布評価」ほか3件を公開

MSTホームページにて、下記分析事例3件を公開しました。 ・TOF-SIMSによる粉体粒子表面の分布評価 ・TDSによる有機膜の熱処理温度依存性評価 ・TDSによるレジスト膜の脱ガス評価 詳細はMSTホームページをご覧ください。 http://www.mst.or.jp/

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技術情報「XPSによる歯科インプラントの評価」ほか2件を公開

MSTホームページにて、下記分析事例3件を公開しました。 ・XPSによる歯科インプラントの評価 ・XPSによるプラスチック容器ガスバリア膜の評価 詳細はMSTホームページをご覧ください。 http://www.mst.or.jp/

SiCデバイスの拡散層のp/n極性とキャリア濃度分布を評価できます

  • 受託解析
  • その他電子部品

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定性・半定量分析にて一度に多くの金属元素情報を取得することも可能!

  • 受託解析

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着目のガス雰囲気・温度条件下での測定が可能!触媒等、特殊な環境での状態評価が必要な場合に好適

  • 受託解析

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