測定・分析の製品一覧
- 分類：測定・分析
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1260nmから1650nmの広い波長域にて、低挿入損失、低背面反射を可能にする高速自動偏光制御とスクランブリングを実現。
- その他計測・記録・測定器
光コネクタ端面3D測定干渉計は、ファイバフェルール、パッチコード、ピッグテール、ベアファイバの検査用に設計された干渉計です。
- 光学測定器
フォトニック集積回路向けマルチチャンネル・ソース測定機器。XPOW は複数の電圧/電流の印加と電圧/電流の測定が可能です。
- 電気計器・電位計(メータ)
豊富なラインアップをご用意。小型高速変調CWレーザー、Q-スイッチレーザー、モードロックレーザーの強度・パルス波形の測定に最適。
- 光学測定器
光学部品のテストや特性評価用光スペクトラムアナライザ。SMSR OSNR スペクトル幅を解析。Oバンド、Cバンド、Lバンド対応。
- その他計測・記録・測定器
高速高い信頼性を実現した光スイッチ。テスト工程を効率化させます。スイッチ構成、ファイバの種類、コネクタ等、幅広くカスタマイズ可能
- その他計測・記録・測定器
汎用性の高いリアルタイム・テラヘルツ・イメージング・システムで、高解像度アプリケーションに好適。
- その他検査機器・装置
【※デモ機有】HydraHarp400は TCSPC 。ピコ秒イベントタイマーを 短い時間幅（1ps）を複数チャンネルで実現
- レーザー顕微鏡
KSI社製の超音波顕微鏡 「V シリーズ」 超高速スキャンが半導体分野・電子部品・セラミック材料等において、威力を発揮します！
- その他顕微鏡・マイクロスコープ
高性能TCSPCモジュールを搭載。ピコ秒分解能で測定。定常状態・時間分解の分光計測が可能。多彩な互換励起光源に対応。
- 光学測定器
Lytid社のTeraCascade2000は最大光出力7mWの高出力QCLレーザー。イメージングに最適で最大6周波数搭載可能。
- その他計測・記録・測定器
LaserNestシリーズは高安定高性能CWレーザーです。375nm～1550nmで30以上の波長より選択可能。顕微鏡用に好適。
- レーザー顕微鏡
390～2400nmの波長全域で、高輝度の回折限界光を出力。波長可変レーザーシステムの構築にも対応
- レーザー顕微鏡
BrixXLABはPDT、PIT、PDD等の実験研究用レーザー。波長 375nm～ 1550nm で最大4チャンネル搭載可能。
- 分析機器・装置
NIREOS社のGEMINIは2つのレプリカ間の時間遅延を制御した入力光で、類まれない精度と再現性を提供する究極の干渉計です。
- その他計測・記録・測定器
MultiHarp 150はマルチチャンネルイベントタイマーかつ時間相関単一光子計数機器（TCSPCモジュール）です。
- その他検査機器・装置
365nm～660nmの波長、及び白色光のLEDモジュール。LEDチップのTEC温度制御による高い波長および出力安定性。
- レーザー顕微鏡
【※ デモ機あり、サンプル測定可能】 高精度 ±0.1 μm、12μm から 80mmの広い範囲が測定可能な膜厚計（厚さ計）
- 膜厚計
単一光子検出共焦点蛍光顕微鏡。最高のデータ品質と使い易さ兼ね備え、自動測定時間を短縮を実現。実験室へ簡単にインストール可能。
- レーザー顕微鏡
3DでサブテラヘルツNDT 非破壊検査 センシング・イメージングが可能な簡易検査ツールです。
- その他検査機器・装置
発振波長1900-2100 nm より指定可能。MHｚレベルの狭線幅 平均出力100mW/1W、高安定性、幅広い用途で使用可能
- 距離関連測定器
高性能TCSPCモジュール搭載の高性能Fluorescence Microscopeシステム
- その他顕微鏡・マイクロスコープ
FMCW（ 周波数変調連続波 ）レーダートランシーバーはサブTHzデバイスです。非接触・非破壊検査、3Dイメージングに好適です。
- その他検査機器・装置
最大6波長、市場で最高クラスの最大1W高出力LED光源。LEDチップの温度制御と高安定性電流源で高安定性＆高再現性の出力を保証。
- レーザー顕微鏡
最大5波長のDPSS / LDレーザーモジュール（375～808 nm）をコンパクトな筐体で一つに。1波長あたり最大2500mW
- レーザー顕微鏡
ピコ秒＆CWの両発振が可能な一体型ダイオードレーザー。375～2090 nmの範囲で波長をラインナップ。最大CW出力500mW。
- レーザー顕微鏡