検査機器・装置の製品一覧
- 分類：検査機器・装置
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【2019年1月16日～18日】第36回 エレクトロテスト ジャパン 出展のお知らせ
株式会社ヒューブレインは、2019年1月16日～18日に東京ビッグサイトで開催される 「インターネプコンジャパン」併催「エレクトロテストジャパン」に出展いたします。 【展示会概要】 エレクトロテストジャパンとは、外観・Ｘ線検査装置、テスタ、環境試験・信頼性試験装置、 各種分析装置などさまざまな検査・試験装置の主要メーカーが一堂に出展。 国内外の電子機器、半導体・電子部品、自動車・電装品メーカーとの商談の場として定着しています。 皆様のご来場をお待ちしております。 ※関連資料より、詳細を記載したPDFをダウンロードいただけます。
【2019年1月16日～18日】第36回 エレクトロテスト ジャパン 出展のお知らせ
株式会社ヒューブレインは、2019年1月16日～18日に東京ビッグサイトで開催される 「インターネプコンジャパン」併催「エレクトロテストジャパン」に出展いたします。 【展示会概要】 エレクトロテストジャパンとは、外観・Ｘ線検査装置、テスタ、環境試験・信頼性試験装置、 各種分析装置などさまざまな検査・試験装置の主要メーカーが一堂に出展。 国内外の電子機器、半導体・電子部品、自動車・電装品メーカーとの商談の場として定着しています。 皆様のご来場をお待ちしております。 ※関連資料より、詳細を記載したPDFをダウンロードいただけます。
高速部品移載機
本装置は、 ・小型の電子部品や高機能モジュール等を供給部から受取り、トレイなどに 整列収納後取り出す、高速移載機です。 ・16本のノズルをロータリー状に配置した高速、高精度移載ユニットにより 高品質な部品移載と高い生産性を実現します。
16本のノズルをロータリー状に配置した、高速・高精度移載ユニットにより、バラ状態の部品の高精度移載と高い生産性を実現！
- その他検査機器・装置
2023年1月25日～27日東京ビッグサイトで開催されます「インターネプコンジャパン」併設「エレクトロテストジャパン」に出展致します。
当社主力のウエハチップ外観検査装置をはじめ、オリジナル技術を駆使した、クラック検査装置や3D検査装置を出展致します。 【第37回 エレクトロテスト ジャパン】 https://www.nepconjapan.jp/tokyo/ja-jp/about/et.html 日時：2023年 1月 25日（水） ～ 27日（金）10:00～17:00 会場：東京ビックサイト 東2ホール ブース：16-48 ■出展装置（予定） ・ウエハチップ外観検査装置 ・クラック検査 ・3D検査 ・その他多数の装置を動画にてご覧いただけます
【メルマガ配信しました】画像分解能が選択可能！ウエハチップ外観検査装置(ダイシング後)/株式会社ヒューブレイン
多種多様な機能搭載！320万画素の3CMOSカラーエリアカメラで検査を実施。 『ウエハチップ外観検査装置(ダイシング後)』は、ウエハダイシング後の チップを外観検査する装置です。 検査精度に合わせた画像分解能が選択可能。(約0.8μm～2.0μm/pixel) また、オプションで、表裏同時検査・NGチップリジェクト機能・ NGチップマーキング機能・全数の排除ミス・マーキングミスチェック機能・ ID読込み及びマッピングデータ出力機能がございます。 【特長】 ■多機能画像検査ソフトHu-Dra ■外観検査とNGリジェクトを平行して行う2ステージ仕様も選択可能 ■処理能力 ・外観検査時間：分解能1.5μm時 約2分(2inch：チップサイズ約1mm) ・排除時間：3～6チップ/秒(チップサイズ、シートの種類により変動) ・マーキング時間：インカーの場合3～4チップ/秒
樹脂、プラスチックの原料検査に最適！ 独自開発の検査機構でペレットやパウダの練り込み異物および変色を検出！ ※9μmの検出が可能
- 外観検査装置
- 半導体検査/試験装置
わずかな長さの誤差を検出し、半／全自動で測定プロセスを実行するハイエンドな万能測長機。製造現場・測定室・校正ラボでの測定・校正に
- その他検査機器・装置
導入実績多数、人気の『ゲージ検査機』をご紹介します！
MahrのPrecimarシリーズ 『自動ダイヤルゲージ検査機』 『ブロックゲージ検査機』をご存知ですか？ リーズナブルに省人・効率化出来る人気の装置で、 年度末予算の消化など、 毎年この時期からのお問合せが多くなっております。 ダイヤルゲージ検査は全/半自動で！ 目視の負担とミスを軽減、検査時間を短縮。 ■『ICM 100 IP』 ダイヤルゲージ類の国際規格に基づいた測定を 全自動で短時間かつ高精度に行います。 ◇手動・目視検査比60％*の時短を実現（*当社テスト） ◇測定範囲最大100mm、各種メーカーのゲージに対応 ☆デジタル・てこ式（テストインジケータ）もＯＫ ■『ICM 100』 ◇電動測定スピンドルにより位置決め前の工程を自動化 ◇アナログ・デジタルダイヤルゲージの他 プローブや2点ボアゲージも測定可能 直観的操作で迅速にブロックゲージをテスト！ ■『826 PC』 ◇測定範囲：0.5～170mm →長さ170mmまでのブロックゲージのテストに （それ以上の測定範囲が不要な方に好評） 是非一度ご検討下さい。
マール『測定デモ・ルーム』 の御案内：測定課題を一緒に解決します
マール『測定デモ・ルーム』 の御案内ページを作成致しました。 マール・ジャパン『測定デモ・ルーム』には日々、全国各地から様々な業界のお客様が御来社下さり、弊社専任担当者と一緒に多様なアプリケーションをお試し頂いております。 気になる弊社製品がございましたら是非、 マール『測定デモ・ルーム』御案内ページより、お気軽にお問い合わせ下さい！ ●現在ご使用の測定機では解決できない課題がある ●測定結果が一定しない ●望ましい数値が出ない ●全数検査を行いたいが今の測定時間では難しい ●複雑な形状のワークの測定 ●光学式／接触式どちらも試したい ●買い替えで他の測定機も試してみたい 該当ページにて、デモ機ラインナップなどご確認頂けます！
ナノフォーカスX線CTシステム『XVA-160αII"Z"』でUスマートウォッチを斜めCT撮影をした事例です。
- X線検査装置
CTスキャンデータを3Dデータ化し、遺物の分析を加速。
- データ変換ソフト
- 3Ｄプリンタ
- その他検査機器・装置
CTスキャンデータを3Dデータに変換し、地質調査を効率化。
- データ変換ソフト
- 3Ｄプリンタ
- その他検査機器・装置
CTスキャンデータを3Dデータに変換。設計効率を向上させます。
- データ変換ソフト
- 3Ｄプリンタ
- その他検査機器・装置
CTスキャンデータを3Dデータ化し、品質検査を効率化。
- データ変換ソフト
- 3Ｄプリンタ
- その他検査機器・装置
Unlock… Everything 直感的に使えるインターフェースを通じて、業界最高水準の性能を提供します
- その他検査機器・装置
- 画像処理機器
- 探傷試験
新開発のＸ線管が搭載可能になった《 FF35 CT Semi 》をご紹介いたします！
- X線検査装置
SEMICON Japan 2025 に出展いたします【 W1969 】
2025年12月17日（水）～ 19日（金）の期間で東京ビッグサイトにて開催される、 「SEMICON Japan 2025」に出展いたします！ 会場では新開発160 kVナノフォーカスX線管搭載の工業用X線CT《 FF35 CT Semi 》をご紹介いたします。 来場登録はこちらから → https://semi.eventos.tokyo/web/portal/609/event/14407/users/mypage/badge ぜひ弊社ブース【 W1969 】にお越しください。皆様のご来場を心よりお待ちしております。 ―――― SEMICON Japan 2025 開催概要 ―――― ■ 会 期： 2025年12月17日（水）～ 19日（金） ■ 場 所： 東京ビッグサイト ■ ブース： 西ホール W1969 ■ 来場登録：https://semi.eventos.tokyo/web/portal/609/event/14407/users/mypage/badge ―――――――――――――――――――――――
