ICチップの製品一覧
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高い画像検知精度と演算処理能力を備えたAIカメラを採用。ニーズに応じたカスタム設計に対応可能
- 監視カメラ
微小部断面加工と分析、残留応力測定などイオンミリング、FE-SEM、EBSD等による各種事例をご紹介します。資料DL可です。
- 受託解析
- その他高分子材料
- その他金属材料
PEEK（ポリエーテルエーテルケトン）微細加工用グレード（帯電防止）を圧縮成形した切削加工用素材
- その他
- その他高分子材料
【株式会社エスアンドエフ】-第26回-JIMTOF2012に出展致しました。
ご来場者各位 株式会社エスアンドエフ 代表取締役 白岡 佳寿美 拝啓 貴社ますますご清祥のことお慶び申し上げます。 平素は格別のご高配を賜り、厚く御礼申し上げます。 さて、この度、平成24年11月1日から11月6日までの6日間、東京ビッグサイトに於いて開催されました「JIMTOF2012 第26回日本国際工作機械見本市」に際しましては、ご多忙中にも関わらずご来臨賜り、心より御礼申し上げます。おかげ様で、大盛会のうちに終了することができました。 なお、弊社取り扱い製品に対するお問い合わせおよび、カタログ送付のご要望など、ご質問ご意見がおありでしたら弊社までご連絡いただければ幸甚に存じます。 まずは、略儀ながら書中をもってお礼申し上げます。 敬具
