微少電流・高抵抗測定、部分放電試験のための環境
【アプリケーション事例】微少電流・高抵抗測定、部分放電試験のためのシールド環境
微少電流・高抵抗測定、部分放電試験のための環境について、当社では 様々なフィクスチャサイズに対応できるシールドボックスをご用意しています。 高抵抗測定は2次電池や半導体で用いる電気絶縁材料、コンデンサやプリント 基板などの電子部品、また各種合成樹脂やゴム材料など幅広い分野において、 研究開発から製造、品質検査まで実施されます。 高電圧印加時の半導体素子のリーク電流などを、高感度・高精度に測定するには、 誘導ノイズや静電結合、誤差電流を最小にするための配慮（EUTから測定器までを 完全にシールドする）が必要です。 【対象アプリケーション】 ■材料化学 ・バイオマテリアル、セラミック、エラストマー、薄膜、誘電材料、 電気化学、強誘電体、グラフェン、金属、有機材料 他 ■デバイス／電子コンポーネント ・キャパシタ、抵抗、ダイオード、センサなどのトランジスタ、 光電子部品、太陽電池セル 他 ■電子/非電子システム ・イオン・ビーム、電子ビーム 他 ※詳しくはPDF資料をご覧いただくか、お気軽にお問い合わせ下さい。
- 企業：マイクロニクス株式会社
- 価格：応相談
