分光器のメーカーや取扱い企業、製品情報、参考価格、ランキングをまとめています。
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分光器 - メーカー・企業84社の製品一覧とランキング

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分光器のメーカー・企業ランキング

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  1. 一般財団法人材料科学技術振興財団 MST 東京都/試験・分析・測定
  2. サーモフィッシャーサイエンティフィック株式会社/Thermo Fisher Scientific K.K. 東京都/試験・分析・測定
  3. オプトシリウス株式会社 東京都/その他
  4. 4 株式会社光響 京都府/光学機器
  5. 5 サンインスツルメント株式会社 本社 東京都/商社・卸売り

分光器の製品ランキング

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  1. 完全自動X線光電子分光装置『K-Alpha』 サーモフィッシャーサイエンティフィック株式会社/Thermo Fisher Scientific K.K.
  2. 低価格!超小型近赤外分光器 FLAME-NIR+ オプトシリウス株式会社
  3. HORIBA Compact Raman 株式会社テックアナリシス
  4. 4 [TEM-EDX]エネルギー分散型X線分光法(TEM) 一般財団法人材料科学技術振興財団 MST
  5. 4 近赤外分光器 STDシリーズ 900~1700nm 株式会社ナノシード 本社

分光器の製品一覧

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環境制御 X線光電子分光装置 EnviroESCA

研究室で最大0.1気圧環境下のオペランド測定が可能

 EnviroESCAは試料を準大気圧(最大0.1気圧)環境下で測定し、従来のような超高真空環境を必要としません。液体・含水性試料はもちろん、揮発試料や激しく脱ガスする多孔質な試料でも、EnviroESCAの試料室に投入後、僅か数分後には測定を開始します。従来型XPSでは測定を諦めていた試料を分析できるだけでなく、雰囲気ガスや温度を自由に制御して新しい研究分野を開拓する強力な武器となります。現在急速に注目を集めている、デバイス動作環境下での測定、いわゆる“オペランド測定”も簡単に実現できます。超高真空環境を必要としないEnviroESCAであれば、短時間に多量の検査を必要とする生産ラインでの品質検査でも効率的に運用可能です。ロボット・オートローダーを使用して、無人で試料導入から測定までをバッチ処理することもできます。 X線光電子分光=超高真空環境下の既成概念を払拭するEnviroESCAは、新奇の研究開発を牽引し、さらにX線光電子分光法に医療・バイオ・ライフサイエンスなど全く新しい活用の場を提供する装置です。

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超高速分光スペクトル測定装置 分光器 DTSP-150

ローノイズでコンパクト!裏面入射型ペルチェ冷却FFT-CCD使用

分光器とは、光を虹(波長ごとの光)に分けて波長ごとの光の強さを測定するものです。薄膜などに光をあて、その反射光を分光することによって薄膜成分を計測します。応用例としては、各種ディスク上の膜厚の厚み管理、半導体用ウェハ上のレジスト膜・SiO、光学レンズのコーティング膜厚管理、各種フィルムの膜厚測定、ガラス基板上の配向膜・ITO膜のインライン計測、LEDの色計測などがあります。インライン用多チャンネルシステムも構築実績あります。 詳しくはお問い合わせください。

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低角度X線分光法『LAXS』

リアルタイムでの薄膜組成の情報を得ることが可能!プロセスモニタリングのための診断ツール

『Low Angle X-ray Spectroscopy(LAXS)』は、低角度X線分光法です。 PLD/PEDシステムに対してin-situにおけるリアルタイムでの プロセスモニタリングのための診断ツールを提供。 RHEEDの補完的ツールでリアルタイムでの薄膜組成の情報を 得ることができます。 【特長】 ■RHEEDの補完的ツールでリアルタイムでの  薄膜組成の情報を得ることが可能 ※詳しくはPDF資料をご覧いただくか、お気軽にお問い合わせ下さい。

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Spectrum 3NIR/MIR/FIR FTIR

トリプルレンジに対応!ビームスプリッタはXR-ビームスプリッタ、遠赤外GridのFTIRシステム

『Spectrum 3NIR/MIR/FIR FTIR』は、トリプルレンジに対応した 最高クラス性能のFTIRシステムです。 ビームスプリッタ(B/S)はXR-ビームスプリッタ、遠赤外Gridで、 2種類を同時に装着することが可能。最高分解能は、0.4cm-1(中赤外)の 製品仕様です。 この他にも、高性能近赤外分析用「Spectrum 3 NIR」や高度な遠赤外機能を 備えたフル機能の「Spectrum 3 MIR/FIR FTIR」などをラインアップしています。 【仕様】 ■光源 ・Downward-Looking光源 ・近赤外タングステンハロゲン光源 ■ビームスプリッタ(B/S) ・XR-ビームスプリッタ ・遠赤外Grid ※詳しくはPDF資料をご覧いただくか、お気軽にお問い合わせ下さい。

  • その他
  • 分析機器・装置
  • 分光分析装置
  • 分光器

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宇宙用IR分光器

CubeSat等超小型衛星用IR分光器

CubeSat等超小型衛星用リモートセンシングミッション機器として利用できるIR分光器。波長域は1000nm~1700nmで空間分解能が約6nm。(波長域は2400nmまで可能) なお、宇宙用以外にもUAV用として利用することができます。

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低エネルギー逆光電子分光装置『LEIPS』

有機半導体の損傷なし&高分解能!研究に耐える精度でLUMO準位測定ができる!

低エネルギー逆光電子分光装置『LEIPS』は、 有機半導体を損傷させることなく高精度なLUMO準位測定ができる低エネルギー逆光電子分光装置。 照射するエネルギーを分子の共有結合より低くすることで、試料の損傷を回避。 また光検出に高性能フィルターを採用し、分解能0.5eV以下を達成しました。 従来機「IPES」をベースに、これまで抱えていた課題を解決しています。 【特長】 ■高感度 ■高分解能0.5eV以下 ■有機半導体の開発や性能UPに貢献 ※詳しくはカタログダウンロード、もしくはお問い合わせください。

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WITec alpha300シリーズ

妥協のない速度、感度、解像度を実現したモジュール型共焦点ラマン顕微鏡システム!

『WITec alpha300シリーズ』は、FMや高分解能ラマン測定に対応 することが可能なモジュール型共焦点ラマン顕微鏡システムです。 レーザー波長をUVからNIRまで選択可能な「alpha300 R」や、 高品質で超精密な光学部品の「alpha300 access」などをご用意。 お客様の個々の要件に合わせて各システムを構成できるため 将来の研究課題に応じたフレキシビリティを提供します。 【ラインアップ(一部)】 ■alpha300 A ■alpha300 S ■alpha300 apyron ■alpha300 RA ■alpha300 RS ※詳しくはPDF資料をご覧いただくか、お気軽にお問い合わせ下さい。

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カソード ルミネッセンス 分光装置 SPARC

マイクロフォトニック構造研究用の高感度で複合機能を持つ高分解能角度分解型カソードルミネッセンスイメージング(CL)分光装置です。

SPARCの能力 SPARCはディープ・サブ波長の分解能でナノ・マイクロ構造のフォトニック研究に適した真に独特な分析手法です。 金属質(プラズモニック、Ag、Au、etc)、誘電体(SiO2、Si3N4、TiO2、etc)や半導体(Si、GaAs、CdTe、etc)のマイクロ・ナノフォトニック構造およびその関連材料の研究に有用です。

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  • その他半導体
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マイクロ波合成装置Monowave 400R +ラマン分光

新発明! ラマン分光搭載 研究向 マイクロ波合成(有機合成・無機合成)で合成プロセスのインサイチュモニタリング

Monowave 400 Rは、アントンパール社のCora5001ラマン分光計と組み合わせることによって、化学反応中(インサイチュ)のラマン分光測定が可能です。中間体と短命の遷移状態を特定し、反応速度を調査し、反応の化学組成に関するリアルタイム情報を使用して反応条件を最適化します。非接触測定により、相互汚染や実験間の洗浄の必要性についての心配がなくなります。 1、リアルタイムのラマン分光により、新材料合成の可否が精製や分析を待たずに迅速に評価できる 2、反応プロセスをモニターできるため、中間体の生成など反応への理解が深まる 3、温度と反応プロセスへの理解が深まるため、マイクロ波の出力や温度条件などの合成の最適化が進む 4、終点を把握できるため、望まれない副生成物の発生を抑え、収率の向上が図れる 下記関連動画↓YouTube↓↓:名古屋工業大学 白井研究室の活用例をご覧ください

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エネルギー分散X線分光法(EDS)

特性X線を検出!微小領域や微小異物等の元素情報を得たいときに有効な分析手法

『エネルギー分散X線分光法(EDSまたはEDX)』は、電子顕微鏡(SEMやTEM)に 取り付けられた検出器で電子線照射により発生する特性X線を検出し、 試料や異物の元素情報を得る手法です。 物質に電子線を照射することにより発生する特性X線が検出器に入射すると、 特性X線のエネルギーに相当する数の電子-正孔対が生成。 この数(電流)を測定することで特性X線のエネルギーを知ることができ、 エネルギーは元素により異なるため、物質の元素情報を調べることが可能です。 【EDSによる分析(一部)】 ■金属間化合物の定性分析(点分析)  ・測定されたスペクトルの特性X線がどの元素の特性X線エネルギーに  対応するかを調べることで、元素の種類を調べることができる ■金属間化合物の半定量分析  ・各特性X線の強度(カウント数)を調べることで、含有元素の  濃度を算出することができる ※詳しくはPDF資料をご覧いただくか、お気軽にお問い合わせ下さい。

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[XPS]X線光電子分光法

試料表面(数nm程度の深さ)の元素の種類、存在量、化学結合状態評価に有効

XPSは、X線照射により放出される光電子の運動エネルギー分布を測定し、試料表面(数nm程度の深さ)に存在する元素の種類・存在量・化学結合状態に関する知見を得る手法です。化学結合状態に関する知見が得られるため、別名ESCA : Electron Spectroscopy for Chemical Analysis とも呼ばれています。 ・固体表面(約2~8nm)の元素の定性・定量が可能 ・化学結合状態分析が可能 ・非破壊で分析が可能 ・深さ方向分布(イオンスパッタを併用)の測定が可能 ・絶縁物の測定が可能 ・雰囲気制御下での測定が可能

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[Raman]ラマン分光法

試料の分子構造や結晶構造に関する情報を得る

Raman(ラマン分光法)は、入射光と分子との相互作用の結果、入射光の振動数が変化するという光散乱現象(ラマン効果)を利用し、分子中の構造についての情報を得る手法です。 ・試料の分子構造や結晶構造に関する情報を得ることが可能 ・レーザー光を用いることにより、FT-IRよりも微小領域の測定に対応可能(ビーム径約1μm)

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[UPS]紫外光電子分光法

試料表面の組成の定性・定量や仕事関数評価に

UPSは、紫外光照射により放出される電子の運動エネルギー分布を測定し、試料極表面(数nm程度以下)の価電子状態に関する知見を得る手法です。その一方で、高いエネルギー分解能を利用して各種金属材料の仕事関数評価にも用いられています。 XPS分析と併せて測定が可能なため、試料表面組成の定性・定量や結合状態と仕事関数値との相関を調べることが可能です。

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【分析事例】カーボン膜の構造評価

構造特定・結晶性・sp3性の評価

カーボンを構成元素とする物質にはダイヤモンド、グラファイト、カーボンナノチューブ、グラフェンなどの結晶構造を持つものとダイヤモンドライクカーボン(DLC)のようにアモルファス構造のものがあります。ラマン分光法はこれらの物質の構造特定や結晶性、sp3性の評価などに有効です[1][2]。

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【分析事例】二酸化ケイ素の構造解析

非晶質(ガラス)二酸化ケイ素(SiO2)のラマン散乱分光法による構造解析

二酸化ケイ素(SiO2)は半導体における絶縁膜・FPDの基板材料・光学材料・医療機器から装身具に至るまで幅広く用いられていますが、非晶質であるガラスとして構造解析を行うことは非常に困難です。ガラス中でSiO2が環状に結合することに着目し、ラマン測定を行いました。(図1) 単結晶石英ではガラス状態のスペクトルとは著しく異なり、長距離秩序によるフォノンバンドが観測されます。(図2、 図3)

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[TEM-EDX]エネルギー分散型X線分光法(TEM)

EDXは、分析対象領域に電子線照射した際に発生する特性X線の、エネルギーと発生回数を計測し、元素分析や組成分析を行う手法です。

EDXは、分析対象領域に電子線照射した際に発生する特性X線の、エネルギーと発生回数を計測し、元素分析や組成分析を行う手法です。EDS: Energy Dispersive X-ray Spectroscopyとも呼ばれます。 多くの場合、SEMまたはTEMに付属しており、本資料ではTEMに付属のEDXについて紹介します。 ・全元素範囲(B~U)の同時分析が可能(付属装置によりBeの検出も可) ・0.1nmφ~の細い電子線プローブで測定が可能 ・ドリフト補正機能を用いることで、面分析でサブnmの積層膜を分布像として識別可能 ・面分析では任意箇所のスペクトルの抽出や線分析の表示が可能

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AESの異物分析における注意点

AES:オージェ電子分光法

AES分析では、微小異物の最表面の元素組成評価を行うことが可能なため、微小領域における異物分析に有用です。しかし、電子線等のダメージの影響により異物が変化したり消失してしまう可能性があります。 特に、ハロゲン元素等を含む場合は、その影響を強く受けてしまうことがあり注意が必要です。SEM観察時やAES測定時に異物が消失してしまった事例として、Siウエハ上のNaCl粒子について、AES分析を行った結果を示します。

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【分析事例】XPSによるGaN膜の組成・結合状態評価

目的に合わせた測定条件で評価を行います

LEDやパワーデバイスに用いられるGaN膜について、XPSを用いて組成・結合状態を評価した例を紹介します。成膜条件や表面処理等により、組成や結合状態がどのように変わるのかを把握しておくことは、プロセス管理等に有効です。 評価の際は、目的に応じて使用するX線を適切に選択することが重要です。着目ごとの測定条件を併せてご紹介します。

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【分析事例】炭素材料のラマンマッピング

試料面内における炭素の結晶状態分布を評価可能です

工業部品や医薬器具など幅広く使用されている炭素材料は構造・結晶性によって異なる性質を持つため、その状態を評価することが重要です。 本資料では、高感度・高空間分解能のRaman(ラマン分光法)を用いた評価事例をご紹介します。炭素材料であるグラファイトの結晶状態分布を、マッピングにより可視化しました。欠陥量の多い・少ないを視覚的に捉えることができています。

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【分析事例】X線吸収・発光分光によるバンド構造評価

材料の価電子帯・伝導帯・ギャップ内準位の詳細な情報が得られます

材料の様々な特性を制御するにあたって価電子帯・伝導帯・ギャップ内準位といったバンド構造の把握は極めて重要な評価項目となっていますが、それらを直接的かつ詳細に評価する分析手法は限られています。放射光を用いたX線吸収分光(XAS)とX線発光分光(XES)の同時測定からはバンド構造の全容が把握できると共に、それらを構成する元素・軌道の帰属といった詳細な情報も得ることが可能です。 本資料では測定例としてGaN基板のXAS・XESスペクトルをご紹介します。

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【分析事例】ラマンによる有機多層膜のDマッピング

表面からの測定で、深さ方向の成分分布を確認可能です

ラマン分析では、表面からの測定で深さ方向の成分分布が確認できます。光を透過し易い物質に有効で、断面加工やイオンスパッタエッチングを併用せず非破壊での評価が可能です。 本資料では、有機多層膜の各層について、ラマン3Dマッピングで評価した例を示します。結果より、有機多層膜は四層で構成されていることが分かりました。また、ライブラリデータとの照合により、各層の成分が同定できました。

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[SXES]軟X線発光分光法

SXESは、物質から発光される軟X線を用いて化学結合状態を評価する手法です。

・試料中の特定元素(特にB,C,N,O等の軽元素)に着目した化学結合状態の評価が可能 ・スペクトル形状は価電子帯における着目元素の部分状態密度を反映 ・X線吸収スペクトル(XAS)との同時測定によってバンド構造の評価も可能 ・バルクの情報が得られるため、表面近傍数nmの影響を受けにくい ・絶縁物に対しても帯電の影響を受けずに評価が可能 ・検出下限が低く(<1atomic%)、微量成分であっても評価が可能

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【分析事例】STD-NMRによる生体分子間相互作用の解析

低分子-タンパク質間相互作用の有無・強弱を分析

飽和移動差(STD : Saturation Transfer Difference) NMRは、タンパク質と相互作用を示す低分子化合物を識別するNMRの分析法の一種で、薬剤のスクリーニング等に大きな威力を発揮します。本資料では、実際にSTD-NMR測定を用いて複数の化合物群より特定のタンパク質と相互作用を示す化合物を同定した事例を紹介します。 測定法:核磁気共鳴分光法(NMR) 製品分野:バイオテクノロジ・医薬品・化粧品・食品 分析目的:スクリーニング、ドラッグデザイン、相互作用評価 詳しくは資料をダウンロード、またはお問い合わせください。

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【分析事例】ラマンマッピングによる炭素材料の結晶性評価

非破壊で材料・結晶性の面内分布を可視化可能です!

弊団では、ラマンマッピングによる炭素材料の結晶性評価を承っております。 炭素材料は構造・結晶性によって異なる性質を有しており、工業部品や 医療器具など様々な用途で使用。材料開発の指標として、材料の特性と 結晶性を紐づけることは有効です。 本資料では、部品表面に塗布された炭素材料であるダイヤモンド粒子の 面内分布(ピーク強度)および各ダイヤモンド粒子の結晶性(半値幅)を ラマンマッピングにて評価した事例をご紹介いたします。ダイヤモンドは 1330cm-1に鋭いピークが感度良く観測され、ラマンでの評価が有効です。 【測定法・加工法】 ■[Raman]ラマン分光法 ※詳しくはPDFをダウンロードしていただくか、お気軽にお問い合わせください。

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【分析事例】二次電池正極の結合状態評価

バインダー・被膜から活物質まで、サンプル本来の状態のまま評価可能!

弊団では、二次電池正極の結合状態評価を行っております。 表面状態を分析する手法の一つであるXPSは、検出深さが浅い(~10nm) こと から、バインダーや導電助剤等の評価に好適。 HAXPESは硬X線(Ga線)励起で検出深さが深いため、バインダー等に埋もれた 活物質の情報をダメージレスに得ることが出来ます。 【測定法・加工法】 ■[XPS]X線光電子分光法 ■[HAXPES]硬X線光電子分光法 ■雰囲気制御下での処理 ※詳しくはPDFをダウンロードしていただくか、お気軽にお問い合わせください。

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小型ラマン分光システム『EnSpectr R532』レンタル

持ち運び可能なコンパクトな形状と様々な分野での利用が可能!レンタル品のご紹介

株式会社レックスでは、非破壊検査機をレンタルしております。 『EnSpectr R532』は、ラボ機器の性能を兼ね備えた ポータブル高精度ラマン分光システムです。 対象物のスペクトルをリアルタイム表示。データベースと取得した スペクトルを比較し、短時間で物質の正体を同定します。 直感的なユーザーインターフェースを介して高精度なラマン分析が可能です。 【特長】 ■3パターンのスペクトルデータの可視化 ■対象物にあわせた4つのアタッチメント ■持ち運び可能な省スペース設計 ■様々な用途に使用可能 ※詳しくは外部リンクページをご覧いただくか、お気軽にお問い合わせ下さい。

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ハンドヘルドラマンBRAVO

原材料確認に最適な、ドイツ製高性能ハンドヘルドラマン

卓越したパフォーマンスと洗練されたデザイン、直観的な操作性のグラフィカル・ユーザーインターフェースを搭載した大型タッチスクリーン。 BRAVOは、様々な原材料の受け入れ検査や品質管理を効率化する、高性能ハンドヘルドラマンです。

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共焦点顕微レーザーラマン『SENTERRA II』

【技術資料進呈中】高感度性能と高波数精度を両立!コンパクトかつ堅牢な分散型顕微ラマンシステム

『SENTERRA II』は、品質管理等のルーチン分析から先端の研究分野まで対応する ブルカーならではの高性能システムです。 一般的なラマン顕微鏡では、分光器が顕微鏡と分離されたシステムがほとんどで、 性能を維持するために多くの時間を割く必要があります。 当製品は励起レーザー、分光器、顕微鏡が一体となったコンパクトかつ堅牢な 統合システムで、その効率的な光学設計により、高い性能と安定性を達成しています。 また、迅速に結果が得られるようにスムーズかつ的確にオペレーターをサポート。 試料の可視観察からスペクトル品位の確認、測定領域の設定まで、データ測定の 手順をステップごとにガイドします。 【特長】 ■高度に自動化された各種機能と効率的な操作性 ■コンパクト&堅牢設計 ■効率性と柔軟性 ※詳しくはPDF資料をご覧いただくか、お気軽にお問い合わせ下さい。

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【技術資料】共焦点顕微ラマン分光システムによる複合材料の深さ分析

顕微ラマン分光法の基礎知識などを掲載!資料無料プレゼント中!

当資料は、共焦点顕微ラマン分光システム「SENTERRA II」による 複合材料の深さ分析について掲載している技術資料です。 顕微ラマン分光法の基礎知識をはじめ、2つのアプリケーション例を元に 共焦点顕微ラマン分光システムを用いた深さ分析の有用性について ご紹介しています。 【掲載内容】 ■はじめに  ・顕微ラマン分光法  ・一般的な光学顕微鏡と共焦点顕微鏡の光学系違い ■共焦点光学系 ■顕微ラマン分光システム SENTERRA II ■アプリケーション例  ・注射器内のゲルの中の異物に関する定性分析  ・多層構造を有するラミネートフィルムの分析 ■まとめ ※詳しくはPDF資料をご覧いただくか、お気軽にお問い合わせ下さい。

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【技術資料】高空間分解ATRマッピング測定(LUMOS II)

【JASIS2021出展】LUMOS II - 光の回折限界に迫る! 高空間分解ATRマッピング測定

マイクロメートルスケールの厚みをもつ複数の層で構成される積層材料の分析は、重要な分析テーマの 1 つであり、その影響力は大きな広がりを見せています。 このテーマでは、互いに相補的な関係にある顕微赤外分光法と顕微ラマン分光法が最も効果的な分析手法であり、積層材料の分析はもとより、生物医学や製薬、材料科学など幅広い分野に応用されています。 この資料では、  ▶ 顕微分光法を積層材料の分析に適用する際に    重要となる空間分解能について  ▶ 最新の顕微 FT-IR システムを用いた    ATR マッピング測定に関する報告 などを、わかりやすく解説しています。 ※詳しくはPDF資料をご覧いただくか、お気軽にお問い合わせ下さい。 ◆JASIS2021出展◆ 展示会情報については、下記の基本情報をご確認ください

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