分光器のメーカーや取扱い企業、製品情報、参考価格、ランキングをまとめています。
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分光器 - メーカー・企業78社の業務用製品ランキング | イプロスものづくり

更新日: 集計期間:2026年09月16日~2026年10月13日
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分光器のメーカー・企業ランキング

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  1. 一般財団法人材料科学技術振興財団 MST 東京都/試験・分析・測定
  2. サーモフィッシャーサイエンティフィック株式会社/Thermo Fisher Scientific K.K. 東京都/試験・分析・測定
  3. 株式会社テックアナリシス 大阪府/試験・分析・測定
  4. 4 オプトシリウス株式会社 東京都/その他
  5. 5 サンインスツルメント株式会社 本社 東京都/商社・卸売り

分光器の製品ランキング

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  1. 完全自動X線光電子分光装置『K-Alpha』 サーモフィッシャーサイエンティフィック株式会社/Thermo Fisher Scientific K.K.
  2. HORIBA Compact Raman 株式会社テックアナリシス
  3. X線光電子分光装置『Nexsa』 サーモフィッシャーサイエンティフィック株式会社/Thermo Fisher Scientific K.K.
  4. 4 [UPS]紫外光電子分光法 一般財団法人材料科学技術振興財団 MST
  5. 5 低価格!超小型近赤外分光器 FLAME-NIR+ オプトシリウス株式会社

分光器の製品一覧

31~60 件を表示 / 全 221 件

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環境制御 X線光電子分光装置 EnviroESCA

研究室で最大0.1気圧環境下のオペランド測定が可能

 EnviroESCAは試料を準大気圧(最大0.1気圧)環境下で測定し、従来のような超高真空環境を必要としません。液体・含水性試料はもちろん、揮発試料や激しく脱ガスする多孔質な試料でも、EnviroESCAの試料室に投入後、僅か数分後には測定を開始します。従来型XPSでは測定を諦めていた試料を分析できるだけでなく、雰囲気ガスや温度を自由に制御して新しい研究分野を開拓する強力な武器となります。現在急速に注目を集めている、デバイス動作環境下での測定、いわゆる“オペランド測定”も簡単に実現できます。超高真空環境を必要としないEnviroESCAであれば、短時間に多量の検査を必要とする生産ラインでの品質検査でも効率的に運用可能です。ロボット・オートローダーを使用して、無人で試料導入から測定までをバッチ処理することもできます。 X線光電子分光=超高真空環境下の既成概念を払拭するEnviroESCAは、新奇の研究開発を牽引し、さらにX線光電子分光法に医療・バイオ・ライフサイエンスなど全く新しい活用の場を提供する装置です。

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超高速分光スペクトル測定装置 分光器 DTSP-150

ローノイズでコンパクト!裏面入射型ペルチェ冷却FFT-CCD使用

分光器とは、光を虹(波長ごとの光)に分けて波長ごとの光の強さを測定するものです。薄膜などに光をあて、その反射光を分光することによって薄膜成分を計測します。応用例としては、各種ディスク上の膜厚の厚み管理、半導体用ウェハ上のレジスト膜・SiO、光学レンズのコーティング膜厚管理、各種フィルムの膜厚測定、ガラス基板上の配向膜・ITO膜のインライン計測、LEDの色計測などがあります。インライン用多チャンネルシステムも構築実績あります。 詳しくはお問い合わせください。

  • 分光分析装置
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低角度X線分光法『LAXS』

リアルタイムでの薄膜組成の情報を得ることが可能!プロセスモニタリングのための診断ツール

『Low Angle X-ray Spectroscopy(LAXS)』は、低角度X線分光法です。 PLD/PEDシステムに対してin-situにおけるリアルタイムでの プロセスモニタリングのための診断ツールを提供。 RHEEDの補完的ツールでリアルタイムでの薄膜組成の情報を 得ることができます。 【特長】 ■RHEEDの補完的ツールでリアルタイムでの  薄膜組成の情報を得ることが可能 ※詳しくはPDF資料をご覧いただくか、お気軽にお問い合わせ下さい。

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Spectrum 3NIR/MIR/FIR FTIR

トリプルレンジに対応!ビームスプリッタはXR-ビームスプリッタ、遠赤外GridのFTIRシステム

『Spectrum 3NIR/MIR/FIR FTIR』は、トリプルレンジに対応した 最高クラス性能のFTIRシステムです。 ビームスプリッタ(B/S)はXR-ビームスプリッタ、遠赤外Gridで、 2種類を同時に装着することが可能。最高分解能は、0.4cm-1(中赤外)の 製品仕様です。 この他にも、高性能近赤外分析用「Spectrum 3 NIR」や高度な遠赤外機能を 備えたフル機能の「Spectrum 3 MIR/FIR FTIR」などをラインアップしています。 【仕様】 ■光源 ・Downward-Looking光源 ・近赤外タングステンハロゲン光源 ■ビームスプリッタ(B/S) ・XR-ビームスプリッタ ・遠赤外Grid ※詳しくはPDF資料をご覧いただくか、お気軽にお問い合わせ下さい。

  • その他
  • 分析機器・装置
  • 分光分析装置
  • 分光器

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宇宙用IR分光器

CubeSat等超小型衛星用IR分光器

CubeSat等超小型衛星用リモートセンシングミッション機器として利用できるIR分光器。波長域は1000nm~1700nmで空間分解能が約6nm。(波長域は2400nmまで可能) なお、宇宙用以外にもUAV用として利用することができます。

  • カラーカメラ
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低エネルギー逆光電子分光装置『LEIPS』

有機半導体の損傷なし&高分解能!研究に耐える精度でLUMO準位測定ができる!

低エネルギー逆光電子分光装置『LEIPS』は、 有機半導体を損傷させることなく高精度なLUMO準位測定ができる低エネルギー逆光電子分光装置。 照射するエネルギーを分子の共有結合より低くすることで、試料の損傷を回避。 また光検出に高性能フィルターを採用し、分解能0.5eV以下を達成しました。 従来機「IPES」をベースに、これまで抱えていた課題を解決しています。 【特長】 ■高感度 ■高分解能0.5eV以下 ■有機半導体の開発や性能UPに貢献 ※詳しくはカタログダウンロード、もしくはお問い合わせください。

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WITec alpha300シリーズ

妥協のない速度、感度、解像度を実現したモジュール型共焦点ラマン顕微鏡システム!

『WITec alpha300シリーズ』は、FMや高分解能ラマン測定に対応 することが可能なモジュール型共焦点ラマン顕微鏡システムです。 レーザー波長をUVからNIRまで選択可能な「alpha300 R」や、 高品質で超精密な光学部品の「alpha300 access」などをご用意。 お客様の個々の要件に合わせて各システムを構成できるため 将来の研究課題に応じたフレキシビリティを提供します。 【ラインアップ(一部)】 ■alpha300 A ■alpha300 S ■alpha300 apyron ■alpha300 RA ■alpha300 RS ※詳しくはPDF資料をご覧いただくか、お気軽にお問い合わせ下さい。

  • その他顕微鏡・マイクロスコープ
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カソード ルミネッセンス 分光装置 SPARC

マイクロフォトニック構造研究用の高感度で複合機能を持つ高分解能角度分解型カソードルミネッセンスイメージング(CL)分光装置です。

SPARCの能力 SPARCはディープ・サブ波長の分解能でナノ・マイクロ構造のフォトニック研究に適した真に独特な分析手法です。 金属質(プラズモニック、Ag、Au、etc)、誘電体(SiO2、Si3N4、TiO2、etc)や半導体(Si、GaAs、CdTe、etc)のマイクロ・ナノフォトニック構造およびその関連材料の研究に有用です。

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  • その他半導体
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マイクロ波合成装置Monowave 400R +ラマン分光

新発明! ラマン分光搭載 研究向 マイクロ波合成(有機合成・無機合成)で合成プロセスのインサイチュモニタリング

Monowave 400 Rは、アントンパール社のCora5001ラマン分光計と組み合わせることによって、化学反応中(インサイチュ)のラマン分光測定が可能です。中間体と短命の遷移状態を特定し、反応速度を調査し、反応の化学組成に関するリアルタイム情報を使用して反応条件を最適化します。非接触測定により、相互汚染や実験間の洗浄の必要性についての心配がなくなります。 1、リアルタイムのラマン分光により、新材料合成の可否が精製や分析を待たずに迅速に評価できる 2、反応プロセスをモニターできるため、中間体の生成など反応への理解が深まる 3、温度と反応プロセスへの理解が深まるため、マイクロ波の出力や温度条件などの合成の最適化が進む 4、終点を把握できるため、望まれない副生成物の発生を抑え、収率の向上が図れる 下記関連動画↓YouTube↓↓:名古屋工業大学 白井研究室の活用例をご覧ください

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エネルギー分散X線分光法(EDS)

特性X線を検出!微小領域や微小異物等の元素情報を得たいときに有効な分析手法

『エネルギー分散X線分光法(EDSまたはEDX)』は、電子顕微鏡(SEMやTEM)に 取り付けられた検出器で電子線照射により発生する特性X線を検出し、 試料や異物の元素情報を得る手法です。 物質に電子線を照射することにより発生する特性X線が検出器に入射すると、 特性X線のエネルギーに相当する数の電子-正孔対が生成。 この数(電流)を測定することで特性X線のエネルギーを知ることができ、 エネルギーは元素により異なるため、物質の元素情報を調べることが可能です。 【EDSによる分析(一部)】 ■金属間化合物の定性分析(点分析)  ・測定されたスペクトルの特性X線がどの元素の特性X線エネルギーに  対応するかを調べることで、元素の種類を調べることができる ■金属間化合物の半定量分析  ・各特性X線の強度(カウント数)を調べることで、含有元素の  濃度を算出することができる ※詳しくはPDF資料をご覧いただくか、お気軽にお問い合わせ下さい。

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[XPS]X線光電子分光法

試料表面(数nm程度の深さ)の元素の種類、存在量、化学結合状態評価に有効

XPSは、X線照射により放出される光電子の運動エネルギー分布を測定し、試料表面(数nm程度の深さ)に存在する元素の種類・存在量・化学結合状態に関する知見を得る手法です。化学結合状態に関する知見が得られるため、別名ESCA : Electron Spectroscopy for Chemical Analysis とも呼ばれています。 ・固体表面(約2~8nm)の元素の定性・定量が可能 ・化学結合状態分析が可能 ・非破壊で分析が可能 ・深さ方向分布(イオンスパッタを併用)の測定が可能 ・絶縁物の測定が可能 ・雰囲気制御下での測定が可能

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[Raman]ラマン分光法

試料の分子構造や結晶構造に関する情報を得る

Raman(ラマン分光法)は、入射光と分子との相互作用の結果、入射光の振動数が変化するという光散乱現象(ラマン効果)を利用し、分子中の構造についての情報を得る手法です。 ・試料の分子構造や結晶構造に関する情報を得ることが可能 ・レーザー光を用いることにより、FT-IRよりも微小領域の測定に対応可能(ビーム径約1μm)

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[UPS]紫外光電子分光法

試料表面の組成の定性・定量や仕事関数評価に

UPSは、紫外光照射により放出される電子の運動エネルギー分布を測定し、試料極表面(数nm程度以下)の価電子状態に関する知見を得る手法です。その一方で、高いエネルギー分解能を利用して各種金属材料の仕事関数評価にも用いられています。 XPS分析と併せて測定が可能なため、試料表面組成の定性・定量や結合状態と仕事関数値との相関を調べることが可能です。

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【分析事例】カーボン膜の構造評価

構造特定・結晶性・sp3性の評価

カーボンを構成元素とする物質にはダイヤモンド、グラファイト、カーボンナノチューブ、グラフェンなどの結晶構造を持つものとダイヤモンドライクカーボン(DLC)のようにアモルファス構造のものがあります。ラマン分光法はこれらの物質の構造特定や結晶性、sp3性の評価などに有効です[1][2]。

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[TEM-EDX]エネルギー分散型X線分光法(TEM)

EDXは、分析対象領域に電子線照射した際に発生する特性X線の、エネルギーと発生回数を計測し、元素分析や組成分析を行う手法です。

EDXは、分析対象領域に電子線照射した際に発生する特性X線の、エネルギーと発生回数を計測し、元素分析や組成分析を行う手法です。EDS: Energy Dispersive X-ray Spectroscopyとも呼ばれます。 多くの場合、SEMまたはTEMに付属しており、本資料ではTEMに付属のEDXについて紹介します。 ・全元素範囲(B~U)の同時分析が可能(付属装置によりBeの検出も可) ・0.1nmφ~の細い電子線プローブで測定が可能 ・ドリフト補正機能を用いることで、面分析でサブnmの積層膜を分布像として識別可能 ・面分析では任意箇所のスペクトルの抽出や線分析の表示が可能

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【分析事例】化学修飾XPSによる水酸基の定量

高分子フィルムの水酸基評価

高分子フィルムの接着性や濡れ性といった特性を制御するにあたって、表面に存在する極性官能基(アルコール基)を定量的に評価することは非常に重要です。XPSは定量的な評価に最適ですが、ピーク位置が隣接している酸化状態(C-O-C)と水酸化状態(C-OH)を切り分けて定量することが困難です。 MSTではポリビニルアルコール(PVA)について化学修飾法を用いてアルコール基のみを選択的に反応させた後に、XPSにて定量することが可能です。PVA中のアルコール基を無水トリフルオロ酢酸(TFAA)によって化学修飾して評価した事例を紹介します。 測定法:XPS・化学修飾 製品分野:電子部品・日用品 分析目的:組成評価・同定・化学結合状態評価 詳しくは資料をダウンロード、またはお問い合わせください。

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AESの異物分析における注意点

AES:オージェ電子分光法

AES分析では、微小異物の最表面の元素組成評価を行うことが可能なため、微小領域における異物分析に有用です。しかし、電子線等のダメージの影響により異物が変化したり消失してしまう可能性があります。 特に、ハロゲン元素等を含む場合は、その影響を強く受けてしまうことがあり注意が必要です。SEM観察時やAES測定時に異物が消失してしまった事例として、Siウエハ上のNaCl粒子について、AES分析を行った結果を示します。

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【分析事例】XPSによるGaN膜の組成・結合状態評価

目的に合わせた測定条件で評価を行います

LEDやパワーデバイスに用いられるGaN膜について、XPSを用いて組成・結合状態を評価した例を紹介します。成膜条件や表面処理等により、組成や結合状態がどのように変わるのかを把握しておくことは、プロセス管理等に有効です。 評価の際は、目的に応じて使用するX線を適切に選択することが重要です。着目ごとの測定条件を併せてご紹介します。

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【分析事例】燃料電池PtRu触媒の雰囲気・温度制御下金属価数評価

ガス雰囲気・温度を制御した条件での化学状態評価が可能

カーボン担持PtRu(PtRu/C)触媒は燃料電池のアノード(燃料極)触媒として使用されています。低コスト化を目的にPt使用量の削減が求められており、盛んに研究開発が進められています。燃料電池駆動条件下の触媒の状態を評価するためには、試料のガス雰囲気・温度を制御したままその場観察をするin-situ XAFSが有効です。本資料では、in-situ XAFSを用いて実際に燃料電池として用いられるガス雰囲気・温度に制御した環境でPtRu/C触媒のPt、Ruについて価数評価を行った事例をご紹介します。

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【分析事例】炭素材料のラマンマッピング

試料面内における炭素の結晶状態分布を評価可能です

工業部品や医薬器具など幅広く使用されている炭素材料は構造・結晶性によって異なる性質を持つため、その状態を評価することが重要です。 本資料では、高感度・高空間分解能のRaman(ラマン分光法)を用いた評価事例をご紹介します。炭素材料であるグラファイトの結晶状態分布を、マッピングにより可視化しました。欠陥量の多い・少ないを視覚的に捉えることができています。

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【分析事例】TDSによるレジスト膜の脱ガス評価

TDSにより有機膜からの脱ガス成分評価、温度依存性評価が可能です

TDSは高真空中(1E-7 Pa)で試料を昇温し、試料から脱離するガスを質量分析計を用いて調査する手法です。真空装置であるため有機物の多量の脱離を嫌いますが、試料量を調整することによりTDSで評価が可能です。 レジスト膜についてTDS分析を実施した例を以下に示します。有機物、水、H2S、SO2などレジスト膜起因の脱ガスが検出されました。また成分により、脱離の温度が異なることが分かりました。

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【分析事例】ラマンによる有機多層膜のDマッピング

表面からの測定で、深さ方向の成分分布を確認可能です

ラマン分析では、表面からの測定で深さ方向の成分分布が確認できます。光を透過し易い物質に有効で、断面加工やイオンスパッタエッチングを併用せず非破壊での評価が可能です。 本資料では、有機多層膜の各層について、ラマン3Dマッピングで評価した例を示します。結果より、有機多層膜は四層で構成されていることが分かりました。また、ライブラリデータとの照合により、各層の成分が同定できました。

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【分析事例】角度分解XPS(ARXPS)による極薄膜組成分布評価

基板上の極薄膜についてデプスプロファイルを評価可能です

角度分解XPS(ARXPS)はX線照射によって放出される光電子を取出角ごとに検出し、それぞれ検出深さの異なるスペクトルを用いてサンプル表面極近傍のデプスプロファイルを評価する手法です。従来のArイオンスパッタを用いた方法と比較すると、深さ方向分解能が向上し、かつ選択スパッタやミキシングによる組成変化が無いといったメリットがあり、基板上の極薄膜(数nm程度)のデプスプロファイル評価に有効です。 本資料ではSi基板上のSiN膜について、膜中の組成分布評価を行った事例をご紹介します。

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【分析事例】XPSによるSn表面の状態評価

価数別(2価、4価)の割合を算出することが可能です

スズメッキ、はんだ等、Sn(錫)は多くの電子部品に使用されています。 Sn表面のXPS分析では、通常評価に用いる3d軌道による定量・状態分析と併せ、4d軌道を用いることで酸化数(2価Sn2+(SnO)、4価Sn4+(SnO2))を分離し、割合を算出することが可能です。また、価電子帯をみることで低価数状態(2価Sn2+(SnO))が極僅かな場合でも敏感に検知することができます。 本資料では、はんだ表面について各軌道を用いてSnの評価を行った例を紹介します。

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【分析事例】ARXPSによる極薄膜の組成分布評価

基板上の極薄膜についてデプスプロファイルを評価可能!

弊団では、ARXPS(角度分解XPS)による極薄膜の組成分布評価を 承っております。 X線照射によって放出される光電子を取出角ごとに検出し、 それぞれ検出深さの異なるスペクトルを用いて サンプル表面極近傍のデプスプロファイルを評価。 従来のArイオンスパッタを用いた方法と比較すると、 深さ方向分解能が向上し、かつ選択スパッタやミキシングによる 組成変化が無いといったメリットがあり、基板上の極薄膜(数nm程度)の デプスプロファイル評価に有効です。 【測定法・加工法】 ■[XPS]X線光電子分光法 ※詳しくはPDFをダウンロードしていただくか、お気軽にお問い合わせください。

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【分析事例】ラマンマッピングによる炭素材料の結晶性評価

非破壊で材料・結晶性の面内分布を可視化可能です!

弊団では、ラマンマッピングによる炭素材料の結晶性評価を承っております。 炭素材料は構造・結晶性によって異なる性質を有しており、工業部品や 医療器具など様々な用途で使用。材料開発の指標として、材料の特性と 結晶性を紐づけることは有効です。 本資料では、部品表面に塗布された炭素材料であるダイヤモンド粒子の 面内分布(ピーク強度)および各ダイヤモンド粒子の結晶性(半値幅)を ラマンマッピングにて評価した事例をご紹介いたします。ダイヤモンドは 1330cm-1に鋭いピークが感度良く観測され、ラマンでの評価が有効です。 【測定法・加工法】 ■[Raman]ラマン分光法 ※詳しくはPDFをダウンロードしていただくか、お気軽にお問い合わせください。

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【分析事例】銅フタロシアニンのラマンスペクトル帰属

実測とシミュレーションの組み合わせにより、詳細なピーク帰属が可能です!

弊団では、量子化学計算による銅フタロシアニンのラマンスペクトル帰属 を行っております。 実測と量子化学計算によるシミュレーション結果との比較から スペクトル帰属を行うことで、振動モードの解析が可能です。 ここでは有機薄膜トランジスタ等への活用も期待される「銅フタロシアニン」 の解析事例を紹介します。 【測定法・加工法】 ■[Raman]ラマン分光法 ■計算科学・AI・データ解析 ※詳しくはPDFをダウンロードしていただくか、お気軽にお問い合わせください。

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小型ラマン分光システム『EnSpectr R532』レンタル

持ち運び可能なコンパクトな形状と様々な分野での利用が可能!レンタル品のご紹介

株式会社レックスでは、非破壊検査機をレンタルしております。 『EnSpectr R532』は、ラボ機器の性能を兼ね備えた ポータブル高精度ラマン分光システムです。 対象物のスペクトルをリアルタイム表示。データベースと取得した スペクトルを比較し、短時間で物質の正体を同定します。 直感的なユーザーインターフェースを介して高精度なラマン分析が可能です。 【特長】 ■3パターンのスペクトルデータの可視化 ■対象物にあわせた4つのアタッチメント ■持ち運び可能な省スペース設計 ■様々な用途に使用可能 ※詳しくは外部リンクページをご覧いただくか、お気軽にお問い合わせ下さい。

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ハンドヘルドラマンBRAVO

原材料確認に最適な、ドイツ製高性能ハンドヘルドラマン

卓越したパフォーマンスと洗練されたデザイン、直観的な操作性のグラフィカル・ユーザーインターフェースを搭載した大型タッチスクリーン。 BRAVOは、様々な原材料の受け入れ検査や品質管理を効率化する、高性能ハンドヘルドラマンです。

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共焦点顕微レーザーラマン『SENTERRA II』

【技術資料進呈中】高感度性能と高波数精度を両立!コンパクトかつ堅牢な分散型顕微ラマンシステム

『SENTERRA II』は、品質管理等のルーチン分析から先端の研究分野まで対応する ブルカーならではの高性能システムです。 一般的なラマン顕微鏡では、分光器が顕微鏡と分離されたシステムがほとんどで、 性能を維持するために多くの時間を割く必要があります。 当製品は励起レーザー、分光器、顕微鏡が一体となったコンパクトかつ堅牢な 統合システムで、その効率的な光学設計により、高い性能と安定性を達成しています。 また、迅速に結果が得られるようにスムーズかつ的確にオペレーターをサポート。 試料の可視観察からスペクトル品位の確認、測定領域の設定まで、データ測定の 手順をステップごとにガイドします。 【特長】 ■高度に自動化された各種機能と効率的な操作性 ■コンパクト&堅牢設計 ■効率性と柔軟性 ※詳しくはPDF資料をご覧いただくか、お気軽にお問い合わせ下さい。

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