NIRQuest+ 近赤外小型分光器
InGaAs リニアアレイを用いた近赤外測定用のマルチチャンネル分光器
目的の波長範囲に合わせ、3 種のモデルをご用意しております。食品、医薬品分析など様々なアプリケーションへ適用できます。
- 企業：ビー・エー・エス株式会社
- 価格：500万円 ~ 1000万円
分光器 - メーカー・企業45社の製品一覧とランキング
更新日： 集計期間:2025年08月20日～2025年09月16日
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分光器のメーカー・企業ランキング
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- サーモフィッシャーサイエンティフィック株式会社／Thermo Fisher Scientific K.K. 東京都/試験・分析・測定
- オプトシリウス株式会社 東京都/その他
- 一般財団法人材料科学技術振興財団 MST 東京都/試験・分析・測定
- 4 アズサイエンス株式会社 長野県/商社・卸売り 松本本社
- 5 MSHシステムズ株式会社 東京都/光学機器
分光器の製品ランキング
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- JPS-9030 光電子分光装置(XPS) アズサイエンス株式会社 松本本社
- 完全自動X線光電子分光装置『K-Alpha』 サーモフィッシャーサイエンティフィック株式会社／Thermo Fisher Scientific K.K.
- X線光電子分光装置『Nexsa』 サーモフィッシャーサイエンティフィック株式会社／Thermo Fisher Scientific K.K.
- 低価格！超小型近赤外分光器 FLAME-NIR+ オプトシリウス株式会社
- 5 【デモ機あり】小型マルチチャンネル分光器Ocean SR オプトシリウス株式会社
分光器の製品一覧
31～45 件を表示 ／ 全 226 件
表示件数
超高速分光スペクトル測定装置 分光器 DTSP-150
ローノイズでコンパクト！裏面入射型ペルチェ冷却FFT-CCD使用
分光器とは、光を虹(波長ごとの光)に分けて波長ごとの光の強さを測定するものです。薄膜などに光をあて、その反射光を分光することによって薄膜成分を計測します。応用例としては、各種ディスク上の膜厚の厚み管理、半導体用ウェハ上のレジスト膜・SiO、光学レンズのコーティング膜厚管理、各種フィルムの膜厚測定、ガラス基板上の配向膜・ITO膜のインライン計測、LEDの色計測などがあります。インライン用多チャンネルシステムも構築実績あります。 詳しくはお問い合わせください。
- 企業：ディスク・テック株式会社 本社
- 価格：応相談
低角度X線分光法『LAXS』
リアルタイムでの薄膜組成の情報を得ることが可能！プロセスモニタリングのための診断ツール
『Low Angle X-ray Spectroscopy(LAXS)』は、低角度X線分光法です。 PLD/PEDシステムに対してin-situにおけるリアルタイムでの プロセスモニタリングのための診断ツールを提供。 RHEEDの補完的ツールでリアルタイムでの薄膜組成の情報を 得ることができます。 【特長】 ■RHEEDの補完的ツールでリアルタイムでの 薄膜組成の情報を得ることが可能 ※詳しくはPDF資料をご覧いただくか、お気軽にお問い合わせ下さい。
- 企業：株式会社ハイテック・システムズ
- 価格：応相談
Spectrum 3NIR/MIR/FIR FTIR
トリプルレンジに対応！ビームスプリッタはXR-ビームスプリッタ、遠赤外GridのFTIRシステム
『Spectrum 3NIR/MIR/FIR FTIR』は、トリプルレンジに対応した 最高クラス性能のFTIRシステムです。 ビームスプリッタ（B/S）はXR-ビームスプリッタ、遠赤外Gridで、 2種類を同時に装着することが可能。最高分解能は、0.4cm-1（中赤外）の 製品仕様です。 この他にも、高性能近赤外分析用「Spectrum 3 NIR」や高度な遠赤外機能を 備えたフル機能の「Spectrum 3 MIR/FIR FTIR」などをラインアップしています。 【仕様】 ■光源 ・Downward-Looking光源 ・近赤外タングステンハロゲン光源 ■ビームスプリッタ（B/S） ・XR-ビームスプリッタ ・遠赤外Grid ※詳しくはPDF資料をご覧いただくか、お気軽にお問い合わせ下さい。
- 企業：PerkinElmer Japan合同会社
- 価格：応相談
宇宙用IR分光器
CubeSat等超小型衛星用IR分光器
CubeSat等超小型衛星用リモートセンシングミッション機器として利用できるIR分光器。波長域は1000nm～1700nmで空間分解能が約6nm。（波長域は2400nmまで可能） なお、宇宙用以外にもUAV用として利用することができます。
- 企業：合同会社先端技術研究所 本社
- 価格：応相談
低エネルギー逆光電子分光装置『LEIPS』
有機半導体の損傷なし＆高分解能！研究に耐える精度でLUMO準位測定ができる！
低エネルギー逆光電子分光装置『LEIPS』は、 有機半導体を損傷させることなく高精度なLUMO準位測定ができる低エネルギー逆光電子分光装置。 照射するエネルギーを分子の共有結合より低くすることで、試料の損傷を回避。 また光検出に高性能フィルターを採用し、分解能0.5eV以下を達成しました。 従来機「IPES」をベースに、これまで抱えていた課題を解決しています。 【特長】 ■高感度 ■高分解能0.5eV以下 ■有機半導体の開発や性能UPに貢献 ※詳しくはカタログダウンロード、もしくはお問い合わせください。
- 企業：株式会社エイエルエステクノロジー
- 価格：応相談
WITec alpha300シリーズ
妥協のない速度、感度、解像度を実現したモジュール型共焦点ラマン顕微鏡システム！
『WITec alpha300シリーズ』は、FMや高分解能ラマン測定に対応 することが可能なモジュール型共焦点ラマン顕微鏡システムです。 レーザー波長をUVからNIRまで選択可能な｢alpha300 R｣や、 高品質で超精密な光学部品の｢alpha300 access｣などをご用意。 お客様の個々の要件に合わせて各システムを構成できるため 将来の研究課題に応じたフレキシビリティを提供します。 【ラインアップ(一部)】 ■alpha300 A ■alpha300 S ■alpha300 apyron ■alpha300 RA ■alpha300 RS ※詳しくはPDF資料をご覧いただくか、お気軽にお問い合わせ下さい。
- 企業：オックスフォード・インストゥルメンツ株式会社
- 価格：応相談
カソード ルミネッセンス 分光装置 SPARC
マイクロフォトニック構造研究用の高感度で複合機能を持つ高分解能角度分解型カソードルミネッセンスイメージング(CL)分光装置です。
SPARCの能力 SPARCはディープ・サブ波長の分解能でナノ・マイクロ構造のフォトニック研究に適した真に独特な分析手法です。 金属質（プラズモニック、Ag、Au、etc）、誘電体（SiO2、Si3N4、TiO2、etc）や半導体（Si、GaAs、CdTe、etc）のマイクロ・ナノフォトニック構造およびその関連材料の研究に有用です。
- 企業：エルミネット株式会社
- 価格：1000万円 ~ 5000万円
マイクロ波合成装置Monowave 400R ＋ラマン分光
新発明！ ラマン分光搭載 研究向 マイクロ波合成（有機合成・無機合成）で合成プロセスのインサイチュモニタリング
Monowave 400 Rは、アントンパール社のCora5001ラマン分光計と組み合わせることによって、化学反応中（インサイチュ）のラマン分光測定が可能です。中間体と短命の遷移状態を特定し、反応速度を調査し、反応の化学組成に関するリアルタイム情報を使用して反応条件を最適化します。非接触測定により、相互汚染や実験間の洗浄の必要性についての心配がなくなります。 １、リアルタイムのラマン分光により、新材料合成の可否が精製や分析を待たずに迅速に評価できる ２、反応プロセスをモニターできるため、中間体の生成など反応への理解が深まる ３、温度と反応プロセスへの理解が深まるため、マイクロ波の出力や温度条件などの合成の最適化が進む ４、終点を把握できるため、望まれない副生成物の発生を抑え、収率の向上が図れる
- 企業：株式会社アントンパール・ジャパン
- 価格：500万円 ~ 1000万円
エネルギー分散X線分光法(EDS)
特性X線を検出！微小領域や微小異物等の元素情報を得たいときに有効な分析手法
『エネルギー分散X線分光法(EDSまたはEDX)』は、電子顕微鏡(SEMやTEM)に 取り付けられた検出器で電子線照射により発生する特性X線を検出し、 試料や異物の元素情報を得る手法です。 物質に電子線を照射することにより発生する特性X線が検出器に入射すると、 特性X線のエネルギーに相当する数の電子-正孔対が生成。 この数(電流)を測定することで特性X線のエネルギーを知ることができ、 エネルギーは元素により異なるため、物質の元素情報を調べることが可能です。 【EDSによる分析(一部)】 ■金属間化合物の定性分析(点分析) ・測定されたスペクトルの特性X線がどの元素の特性X線エネルギーに 対応するかを調べることで、元素の種類を調べることができる ■金属間化合物の半定量分析 ・各特性X線の強度(カウント数)を調べることで、含有元素の 濃度を算出することができる ※詳しくはPDF資料をご覧いただくか、お気軽にお問い合わせ下さい。
- 企業：株式会社アイテス
- 価格：応相談
［XPS］X線光電子分光法
試料表面（数nm程度の深さ）の元素の種類、存在量、化学結合状態評価に有効
XPSは、Ｘ線照射により放出される光電子の運動エネルギー分布を測定し、試料表面（数nm程度の深さ）に存在する元素の種類・存在量・化学結合状態に関する知見を得る手法です。化学結合状態に関する知見が得られるため、別名ESCA : Electron Spectroscopy for Chemical Analysis とも呼ばれています。 ・固体表面（約2～8nm）の元素の定性・定量が可能 ・化学結合状態分析が可能 ・非破壊で分析が可能 ・深さ方向分布（イオンスパッタを併用）の測定が可能 ・絶縁物の測定が可能 ・雰囲気制御下での測定が可能
- 企業：一般財団法人材料科学技術振興財団 MST
- 価格：応相談
［Raman］ラマン分光法
試料の分子構造や結晶構造に関する情報を得る
Raman（ラマン分光法）は、入射光と分子との相互作用の結果、入射光の振動数が変化するという光散乱現象（ラマン効果）を利用し、分子中の構造についての情報を得る手法です。 ・試料の分子構造や結晶構造に関する情報を得ることが可能 ・レーザー光を用いることにより、FT-IRよりも微小領域の測定に対応可能（ビーム径約1μｍ）
- 企業：一般財団法人材料科学技術振興財団 MST
- 価格：応相談
［UPS］紫外光電子分光法
試料表面の組成の定性・定量や仕事関数評価に
UPSは、紫外光照射により放出される電子の運動エネルギー分布を測定し、試料極表面（数nm程度以下）の価電子状態に関する知見を得る手法です。その一方で、高いエネルギー分解能を利用して各種金属材料の仕事関数評価にも用いられています。 XPS分析と併せて測定が可能なため、試料表面組成の定性・定量や結合状態と仕事関数値との相関を調べることが可能です。
- 企業：一般財団法人材料科学技術振興財団 MST
- 価格：応相談
【分析事例】カーボン膜の構造評価
構造特定・結晶性・sp3性の評価
カーボンを構成元素とする物質にはダイヤモンド、グラファイト、カーボンナノチューブ、グラフェンなどの結晶構造を持つものとダイヤモンドライクカーボン（DLC）のようにアモルファス構造のものがあります。ラマン分光法はこれらの物質の構造特定や結晶性、sp3性の評価などに有効です[1][2]。
- 企業：一般財団法人材料科学技術振興財団 MST
- 価格：応相談
【分析事例】二酸化ケイ素の構造解析
非晶質（ガラス）二酸化ケイ素（SiO2）のラマン散乱分光法による構造解析
二酸化ケイ素（SiO2）は半導体における絶縁膜・FPDの基板材料・光学材料・医療機器から装身具に至るまで幅広く用いられていますが、非晶質であるガラスとして構造解析を行うことは非常に困難です。ガラス中でSiO2が環状に結合することに着目し、ラマン測定を行いました。（図1） 単結晶石英ではガラス状態のスペクトルとは著しく異なり、長距離秩序によるフォノンバンドが観測されます。（図2、 図3）
- 企業：一般財団法人材料科学技術振興財団 MST
- 価格：応相談
