更新日： 集計期間:2025年08月13日～2025年09月09日
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搬出も容易！泥土圧シールド工事における産業廃棄物発生量を削減します。
土砂分級システムは、0.075mm以上の粒子は分級回収され再利用が可能となり、0.075mm未満の粒子はフィルタープレスを用いて低含水率の脱水ケーキ(産業廃棄物)として回収されるので、産業廃棄物の量が削減できます。 土砂脱水篩で洗浄されたバインダ分は、循環水(洗浄水)と混ざりあい、泥水状となっています。この泥水に無機凝集剤を添加して貯泥槽で撹拌し、フィルタープレスにて脱水固化処理します。 【特徴】 ○泥土圧シールド工事における産業廃棄物発生量を削減 ○回収土砂の性状が常に安定し搬出も容易 ○0.075mm以上の粒子は振動篩にて一定の含水率にして回収 ○0.075mm未満の粒子はフィルタープレスにて脱水ケーキとして回収 詳しくはお問い合わせ、またはカタログをダウンロードしてください。
環境修復は確かな技術と経験で！脱水ケーキは産業廃棄物として適性に処分できます！
当装置は、洗浄・分級機器各種を用い、汚染対象物質を砂礫から洗い落し 粒径毎に分離し、再利用します。 脱水ケーキは、汚染土壌に付着した汚染物質が濃縮された状態で含有される ため産業廃棄物として適性に処分。 ご用命の際はお気軽にお問い合わせください。 【主要機器仕様の一例（一部）】 ■ベルトフィーダー：土壌を定量的に安定供給 ■ベルトコンベア：土壌を安定輸送 ■解泥装置 砂や礫の表面に付着した粘土分を洗い落し、粘土塊を水に付け込ませる ■一次処理装置：1～100mmの砂礫を分級・洗浄し回収 ※詳しくはPDF資料をご覧いただくか、お気軽にお問い合わせ下さい。
短時間で測定が可能！ふるい網サイズと測定時間をご紹介。
「ファインジェットシーブ」のふるい網サイズと測定時間をご紹介します。 テストに用いた原料はシリカ粉です。 短時間で測定が可能です。 【テスト概要】 ■テストに用いた原料：シリカ粉 ・+75μm：3.2％ ・45-75μm：29.8％ ・-25μm：29.2％ ■測定時間 ・75μm … 約1分 ・45μm … 約2分 ・25μm … 約3分 ※詳しくはPDF資料をご覧いただくか、お気軽にお問い合わせ下さい。
最大級の処理能力を誇る分級機！
超強力型分級機『KLシリーズ』は、原料の流れを自由に調整する事が できる分級機です。 網上の粗粒を自動排出する事が可能。 また、オプションの網張治具をご使用頂くことで、お客さまにて網の 張替えが行えます。 【特長】 ■2段3種分けまで対応可能 ■R型に対応 ■従来機より低騒音 ■網の交換メンテナンスが容易 ※詳しくはPDFをダウンロードして頂くか、お気軽にお問い合わせ下さい。
設計の知識と、それぞれ各メーカーの商品知識やノウハウが強みです
エフシステムズ株式会社の強みは、粉粒体分級に関することが スムーズに解決することです。 設計の知識と、それぞれ各メーカーの商品知識やノウハウがあり 特性や耐久性を考えつつも、無駄のない効率性を実現しています。 ふるい以外では、ローラーコンベヤ等の依頼が増えてきております。 ロボットアーム等の取り扱いもあるのでお気軽にご相談ください。 安全面、品質面、スピード効率面、価格面等を含め総合的な視点をもって 商品提案と設計を行うことができます。 ※詳しくは、お気軽にお問い合わせ下さい。
竪形分級機の定常流れ解析及び粒子軌跡解析！流体解析ソフトはFLUENTを使用しました
『竪形分級機』の定常流れ解析及び粒子軌跡解析を行い、 複雑流路の流れ場及び粒子分級性能を予測した事例をご紹介します。 種別は非圧縮性定常解析で、解析規模は格子数約2600万点。 解析ソフトFLUENTを使用して竪形分級機の粒子分級性能予測を行いました。 【概要】 ■解析対象：竪形分級機 ■解析ソフト：FLUENT ■解析種別：非圧縮性定常解析 ■解析規模：格子数約 2600 万点 ■解析目的：竪形分級機の粒子分級性能予測 ※詳しくはPDF資料をご覧いただくか、お気軽にお問い合わせ下さい。
電子部品材料・電池材料・砥粒等、高付加価値製品の粒度分布を自在にコントロール！
『アイクラシファイア』は、撹拌機のサタケから生まれた、新しい高精度 湿式分級装置です。 新開発ローターを採用し、微粒子の高精度分級(微粉成分・粗粉成分の両方)の 除去を可能としました。 電子部品材料、電池材料・砥粒をはじめとしたさまざまな高付加価値 製品原料の粒度分布を自在にコントロールできます。 【特長】 ■1台で微粉成分・粗粉成分を除去できる ■粒度分布を自在にコントロールできる ■サブミクロン～数10ミクロン(0.5～20μm程度)の微粒子が対象 ■密度の小さい機能性ポリマーから、密度の大きい金属・ 金属酸化物まで幅広く対応 ■原料タンク、ポンプ、制御盤等を含めた分級装置として提案 ※詳しくはPDFをダウンロードしていただくか、お気軽にお問い合わせください。
セムテックエンジニアリングの分級技術は粒径分布に 表示されない粗粒子を 個数レベルで除去します
■ 製品粒子中の粗粒子混入率を PPM （1/1,000,000）から ⇒ PPB （1/1,000,000,000）に製品品質の保証レベルを上げる ■ この粒子は 液晶パネルのスペーサや液晶パネルの高密度回路 接続用 異方性導電膜 （ACF）に採用されています ■ 分級精度を確認のためサンプルを準備 この粒子は真球度も良く 粒径バラツキも極端に少なかったため 粗粒子を微量添加 次に カットラインがΦ５μｍのスーパーマイクロシーブ（篩・フィルター） を使用 分級した時の画像をFPIA-3000で解析したときの資料です ■ 受 託 セムテックエンジニアリングは受託分級に対応しています （有償） 1 受託分級 湿式分級装置 S-100W-D 溶剤‥蒸留水 2 FPIA-3000による 粒子の画像解析
重力空気分級機の世界市場：湿式分級機、乾式分級機、骨材、セメント、肥料、工業用鉱物
本調査レポート（Global Gravitational Air Classifier Market）は、重力空気分級機のグローバル市場の現状と今後5年間の展望について調査・分析しました。世界の重力空気分級機市場概要、主要企業の動向（売上、販売価格、市場シェア）、セグメント別市場規模、主要地域別市場規模、流通チャネル分析などの情報を収録しています。 重力空気分級機市場の種類別（By Type）のセグメントは、湿式分級機、乾式分級機を対象にしており、用途別（By Application）のセグメントは、骨材、セメント、肥料、工業用鉱物を対象にしています。地域別セグメントは、北米、アメリカ、ヨーロッパ、アジア太平洋、日本、中国、インド、韓国、東南アジア、南米、中東、アフリカなどに区分して、重力空気分級機の市場規模を算出しました。 主要企業の重力空気分級機市場シェア、製品・事業概要、販売実績なども掲載しています。
粒径分布に検出されない粗粒子を個数レベルで除去 目詰まりせずに高速で分級 処理能力向上
■ 粗粒子混在の主な原因 ・ 分級装置から同一材料の粗粒子や結合粒子の混入 ・ 分級装置周辺から別材料の粗粒子が混入 ・ 製造工程の不特定場所から粗粒子・ダスト類が混入 ■ 独創技術開発 1 スーパーマイクロシーブ 2 独創原理の分級構造 3 微粒子分級ノウハウ ■ 写真 右 超音波槽 この部分にスーパーマイクロシーブを搭載 写真 左 デシケータ この部分に分級済粒子が回収される 超音波槽 分級前の粒子をFPIA-3000 で画像解析 デシケータ 分級後の粒子をFPIA-3000 で画像解析
高信頼性篩 ≪スーパーマイクロシーブ≫ 搭載 目詰まりしない 究極の分級装置 （詳細 非開示）
■ 特徴 1 高信頼性 『篩』 ≪スーパーマイクロシーブ≫ 開発 頑強な篩を搭載 篩の穴径は自由に設計が可能 ■ 特徴 2 独創構造の分級原理を開発 高精度・高速分級 製品粒子 回収率 ９５％以上 少量分級も可能 ■ 特徴 3 独創的な分級ノウハウを確立 （詳細 非開示） 粗粒子を 『個数レベル』 で完全除去 特 記 ■ 少量の受託分級に対応しています （有償） 分級装置 湿式分級装置 S-100W-D 溶剤‥蒸留水 但し 溶剤を使った受託は安全上 お受けしていません
セムテックエンジニアリングの 『分級技術』は粒径分布 で表示しない微量の粗粒子を 『個数レベル』 で除去
■ 未分級粒子に混在している粗粒子は粒径分布では表示されません 微量の粗粒子も S-100W-Dでは 『完全に除去』 しています ■ この技術には 独創技術 スーパーマイクロシーブ 独創技術 独創原理の湿式分級装置 分級技術 微粒子分級のノウハウ これらの技術が分級に使われています ■ 左下 『分級前』 製品に混在していた微量の粗粒子は分級により 完全に除去されています 製品の信頼性は飛躍的に改善 ■ 右下 『分級後』 篩の上には粒径分布で表示されなかった微量の 粗大粒子や変形粒子・結合粒子‥等は 篩上に『個数レベル』で 完全に捕捉されています
湿式分級装置 S-100W-Dによる 分級精度を確認 分級後 篩上に補足したオン品粒子径を画像解析
■ 粒径分布で表示しない微量の 【隠れ粗粒子】 の把握は粒子製造で 極めて重要ある ■ 【隠れ粗粒子】 は下記の様な場所からの混入が想定される ・ 分級装置から同一材料の粗粒子・結合粒子‥等の混入 ・ 分級装置周辺からの別材料粗粒子が混入 工程管理 ・ 製造工程の不特定場所場所からダスト等‥の混入 ■ Φ５μｍスーパーマイクロシーブ取付け 分級後のオン品を解析 個数レベルで粗粒子は確実に補足されている 高精度分級をしてない場合 添付資料上段のような粗粒子が製品に 混在してる可能性が考えられる 最大粗粒子は φ10.8μｍ
