測定 - メーカー・企業45社の製品一覧とランキング

更新日：2025年09月24日集計期間:2025年08月27日～2025年09月23日
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測定のメーカー・企業ランキング

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トラファグジャパン株式会社大阪府/試験・分析・測定
有限会社エムティプレシジョン東京都/光学機器
日本ビジネスロジスティクス（JBL）株式会社神奈川県/試験・分析・測定藤沢北事業所
4 株式会社HIRANUMA 茨城県/産業用電気機器
5 株式会社分析センター東京都/試験・分析・測定第一技術研究所

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測定の製品ランキング

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Trafag 圧力・温度測定製品総合カタログトラファグジャパン株式会社
ASTM F88 シール強度測定日本ビジネスロジスティクス（JBL）株式会社藤沢北事業所
洗剤等粘性液体のpHって測定できるの？株式会社分析センター第一技術研究所
4 ミクロ天秤・ウルトラミクロ天秤│重量法によるフィルター測定 RADWAG Japan（ラドワッグジャパン）
5 CVS分析装置『QUALILAB ELITE』　添加剤濃度測定株式会社サーマプレシジョン

測定の製品一覧

361～375 件を表示／全 728 件

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クロマティックコンフォーカル技術、厚さ測定向け非接触式測定

デリケートなワークを傷つけず、破壊検査なしで高品質なワークを生産可能。ワークや環境の変動に強い完全同期システムです。

クロマティックコンフォーカル測定技術を使用したセンサー及びコントローラー。お客様のワークや環境にあわせて各種ご提供します。世界の自動車・半導体・ガラス業界などで利用されています。＜利点＞ - 柔らかい素材や透明でない素材の測定に適した非接触技術（例. アルミロール、銅ロール、リチウムイオン電池セパレーター） - 5µmから層の厚さを測定可能 - インラインでの使用に適した広い測定範囲 - 高感度、高精度（実際のアプリケーションにおける総厚さの再現性範囲は1µm以内) - 測定フォークまたはゲージング機器一式の提供可能 - Quick-SPCソフトウェアオプションにより、統計処理とデータ転送が可能下記の課題をお持ちのお客様はぜひ、PDFダウンロードの上、ご相談ください。 - ワークや環境の変動 - 複数のセンサーを使用した同期 - 機械的位置合わせ（傾斜またはずれ） - 測定の詳細把握 - カスタマイズが必要な特別なアプリケーション ※詳しくはPDF資料をご覧いただくか、お気軽にお問い合わせ下さい。

企業：マーポス株式会社
価格：応相談

センサ

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トラッキングジェネレータを用いたアンテナゲイン測定

【アプリケーション事例】アンテナ測定を手元で且つ簡単に測定できるツール

トラッキングジェネレータ付ハンディスペアナを用いて簡単にアンテナゲイン特性を測定する事例をご紹介します。アンテナゲインを評価するには通常は校正された標準アンテナや電波暗室が必要ですが、MSA438TGと電波暗箱を用いることによりシンプルに評価することが可能です。測定手順は以下のようになります。【測定手順】 (1)テストされるアンテナを２組用意して、電波暗箱内に一定の距離を　とって設置 (2)スペアナの中心周波数とスパンを観測したい帯域に合わせて設定 (3)電波暗箱内でトラッキングジェネレータ出力とスペアナの信号入力を　直接接続してノーマライズをかける (4)トラッキングジェネレータの出力をアンテナ１に接続 (5)スペアナの信号入力をアンテナ２に接続 (6)測定を実行 ※詳しくはPDF資料をご覧いただくか、お気軽にお問い合わせ下さい。

企業：マイクロニクス株式会社
価格：応相談

試験機器・装置

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周波数カウンタオプションでの技適試験周波数測定

【アプリケーション事例】精度よく周波数測定を行うことが可能

スペクトラムアナライザのオプションである周波数カウンタによって精度よく周波数測定を行うことができます。例えば、無線設備の技術基準適合(技適)の試験項目として「周波数の偏差」があります。その試験に使用する周波数計の条件として、測定確度は無線設備規則の許容偏差より10倍以上高い値が必要です。【製品紹介】 ■ハンディ型スペクトラムアナライザ「MSA300シリーズ」・超低価格/掃引方式のハンディ型スペクトラムアナライザ ■ハンディ型スペクトラムアナライザ「MSA400シリーズ」・超低価格/大型カラーディスプレイ・掃引方式のハンディ型スペクトラムアナライザ ※詳しくはPDF資料をご覧いただくか、お気軽にお問い合わせ下さい。【システム構成】 ■スペクトラムアナライザ [MSA300シリーズ、MSA400シリーズ]　×1 ■周波数カウンタ（工場オプション）　×1 ※詳しくはPDF資料をご覧いただくか、お気軽にお問い合わせ下さい。

企業：マイクロニクス株式会社
価格：応相談

その他電子計測器

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ETCレーンやITSスポットにおける電界強度測定

【アプリケーション事例】路側機の設置や保守に欠かせない「電界強度側測定器」

【製品紹介】 ■ハンディ型スペクトラムアナライザ MSA558E ■DSRC 通信ユニットME9115C （電界強度） ■ETC/ITSスポット電界強度測定 ME9200 ※詳しくはPDF資料をご覧いただくか、お気軽にお問い合わせ下さい。当社はDSRC通信機器の開発および生産、保守のための試験環境を提供していますが、今回、路側機の設置や保守に欠かせない「電界強度側測定器」をご紹介いたします。路側機は隣接したレーン同士で電波干渉が起らないよう、特定の方向へマイクロ波を放射する必要があります。通常、車載機が通過する領域、つまりアンテナ下付近、レーン中心に向けてマイクロ波を放射します。通信が行われるエリアにおいて電界強度を測定することで、意図した場所にマイクロ波が到来しているか容易に確認することができます。 ※詳しくはPDF資料をご覧いただくか、お気軽にお問い合わせ下さい。

企業：マイクロニクス株式会社
価格：応相談

その他電子計測器

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基準レベルオフセット機能による簡易電界強度測定

【アプリケーション事例】アンテナファクタをスペアナMSAシリーズの基準レベルオフセット機能で換算することで電界強度が直読可能。

スペクトラムアナライザ / シグナルアナライザにアンテナを接続して電界強度を測定する場合、デシベル（dB）での表記では、電界強度は測定した電圧に単純にアンテナファクタを足すことで換算できます。MSA500または400シリーズでの基準レベルオフセット機能を使用した電界強度測定方法を紹介します（入力インピーダンス50Ωでの測定）。【製品紹介】 ■ハンディ型シグナルアナライザ MSA500シリーズ ■ハンディ型スペクトラムアナライザ MSA400シリーズ ※詳しくはPDF資料をご覧いただくか、お気軽にお問い合わせ下さい。【システム構成】 ■ハンディ型シグナルアナライザ MSA500シリーズ ■ハンディ型スペクトラムアナライザ MSA400シリーズ ※詳しくはPDF資料をご覧いただくか、お気軽にお問い合わせ下さい。

企業：マイクロニクス株式会社
価格：応相談

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シグナルアナライザによるLED照明の伝導雑音の測定

【アプリケーション事例】ハンディ・リアルタイム・シグナルアナライザによりLED照明が発する伝導雑音を簡単に解析できます。

【製品紹介】 ■シグナルアナライザ MSA538 ※詳しくはPDF資料をご覧いただくか、お気軽にお問い合わせ下さい。 ●LED照明のACラインをLISNに接続してその出力をアップコンバータに接続します。 ●アップコンバータによりMSA538の周波数範囲下限を拡張して9kHzから測定することができます。 ●シグナルアナライザにより、周波数ドメインと時間ドメインの両方で信号を解析することができます。【システム構成】 ■シグナルアナライザ MSA538 ■LISN ■アップコンバータ ※詳しくはPDF資料をご覧いただくか、お気軽にお問い合わせ下さい。

企業：マイクロニクス株式会社
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スマートネットワーク無線システムのフィールド測定・保守対応

【アプリケーション事例】スマートネットワーク無線システム（920MHz帯・2.4GHz帯）のフィールド測定・保守・障害対応に最適

●コンセントレーター設置の際、設置場所の電波環境を測定・調査する必要があります。電界強度の測定にはスペクトラムアナライザを用います。柱上のアクセスポイントの占有帯域幅や送信電力レベルなどの測定にも便利です。 ●通信品質の悪化原因を突き止めるとき、妨害となる他の電波・ノイズを調査する必要があります。不定期に発生する妨害電波は、リアルタイム・スペクトラムアナライザを用いると、より効率的に捕捉することができます。 ●当社のハンディ型シグナルアナライザ（リアルタイム・スペクトラムアナライザ）MSA500シリーズは、小型・軽量・バッテリ駆動により、建造物密集地や高所などの様々なフィールドでの測定ができます。電界強度測定のみの場合は、スペクトラムアナライザ MSA400シリーズもあります。 ●タイムドメイン解析や電界強度測定などの様々な測定機能により、フィールドでの保守・障害の早期解決に役立ちます。【製品紹介】 ■シグナルアナライザ MSA538 ■ポータブルアンテナ ■ログペリオディックアンテナ ※詳しくはPDF資料をご覧いただくか、お気軽にお問い合わせ下さい。

企業：マイクロニクス株式会社
価格：応相談

その他電子計測器

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NDIR方式のCO2濃度測定

対象ガスや計測部に影響を及ぼさない、NDIR方式のCO2濃度測定

当資料では、NDIR方式のCO2濃度測定についてご紹介しています。 CO2の濃度を測る方法はいくつかありますが、大半は化学変化を利用するため対象或いはセンサ自体の変化を引き起こしてしまいます。「NDIR(非分散赤外吸光分析)」を用いる計測では、対象ガスにも計測部にも変化を及ぼすことがありません。また光の吸光度を計測しているため非常に高速なのでリアルタイム性があり、モニタリングに向いています。【掲載内容】 ■CO2濃度を測定する必要 ■NDIRガス計測 ■CO2濃度モニタリングモジュール ■CO2濃度測定向け各種部品　他 ※詳しくはPDF資料をご覧いただくか、お気軽にお問い合わせ下さい。

企業：株式会社アイ・アール・システム
価格：応相談

その他光学部品
その他
その他計測・記録・測定器

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電気光学効果電界プローブ過酷な環境でのEMF測定！

水中、オイル中での利用可能な光プローブ・光電界センサ

eoProbeは、電気光学技術（ボッケルス効果）に基づいた光電界センサで一軸を測定します。この超広帯域センサは、過酷な条件下で、ほとんどすべての場所および環境（空気、液体、気体、真空）で正確な測定を可能にします。 Kapteosシステムは、このボッケルス効果を利用した電気光学プローブeoProbeとハイエンドコンバータeoSenseにより革新的な電界測定を実現しました。その測定性能は、数MV / mを超え、40 Hz〜100 + GHzの超高帯域幅や、水中などの非常に過酷な環境で最も高度な機能を提供します。＜電場ベクトルの包括的測定＞電気光学技術に基づいたボッケルス効果によりベクトル電界の3つの成分と位相を測定することができます。また縦方向,横方向タイプの2種類のプローブにより、eoSensorコンバータと使用することで3軸のベクトルを正確に識別・測定することができます。＜非侵襲的測定＞金属部品を使用しないセンサの能動部品は基本的にクリスタルです。測定信号は光ファイバーリンク内のレーザーによって送信されます。MRIシステム内の動物組織、果物または野菜の内側の電界測定も可能です。

企業：ウェーブクレスト株式会社
価格：応相談

光学測定器
EMC試験
プローブ

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受託観察・分析サービス｜JTL

問題解決力で最適な観察・分析方法をご提案致します。

断面研磨、表面・断面観察、非破壊検査、元素分析、化学分析をサービスの中心として、解析目的に合った各種の観察・分析方法をご提案いたします。 ■解析目的に合った観察・分析方法をご提案試料の材質・状態、解析の目的など各種の条件によって、観察・分析の方法にも選択肢が数多く存在します。その選択肢の中からより適切な方法をご提案いたします。 ■短納期・低価格のご対応観察・分析のアウトソーシングサービスに求められるのは品質はもちろんのこと、スピードと価格も重要であると考えます。業界の標準的な納期・価格に対して、JTLでは更なる短納期化・低価格化を実現しました。

企業：JAPAN TESTING LABORATORIES株式会社
価格：応相談

マイクロスコープ
受託測定
分析機器・装置

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X線残留応力測定機による受託サービス｜JTL

残留応力測定機により試料表層の残留応力を非破壊で測定します。

X線残留応力測定機を用いて、多結晶体材料の表層部の応力測定を実施致します。 X線回折の原理を利用した応力測定は製品の材料開発・品質評価に至るまで、幅広く利用されています。本設備での測定は、非破壊・微小部・高精度・短時間での残留応力測定が実施可能です。 Rigaku製 AutoMATE ●X線管球：Cr管球 ●2θ測定範囲：98～168° ●入斜コリメータ：φ150、300、500μｍ　φ1、2、4mm ●検出器：PSPC検出器 ●CCD付ズーム顕微鏡：×20～135 ●ステージ制御：マッピング・ティーチング機能付 ●自動XYZ軸可動範囲：XY100mm×Z40mm ●最大試料スペース：φ320×t215mm ●最大試料重量：20kg（マッピング・ティーチング時は10kg） ●解析ソフト：残留オーステナイト定量計算　残留オーステナイトマッピング表示　応力マッピング表示

企業：JAPAN TESTING LABORATORIES株式会社
価格：応相談

受託測定
試験機器・装置
応力解析

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画像測定機による受託サービス｜JTL

画像撮影による非接触二次元測定・輪郭形状測定を、小型部品から大型製品まで様々なサイズの評価が可能です。

画像測定機では、三次元測定機などでは測定することができない小さな製品や、細かい形状の二次元的な測定が可能です。スキャニング形状測定・二次元CAD照合・形状評価（ベストフィット）により、通常の幾何寸法測定では評価できない二次元的な輪郭形状の測定・評価を行うことが可能です。また、三次元測定機に特殊な画像測定プローブ（クイックビジョンプローブ）を取り付けることで、一般の画像測定機では対応できない大型サイズ測定品の非接触式二次元画像測定を可能にしました。三次元測定機や二次元測定機、測定工具（スモールツール）とともに用いることで、様々なサイズ・材質・形状の測定のご対応が可能です。

企業：JAPAN TESTING LABORATORIES株式会社
価格：応相談

公共試験/研究所
受託測定
その他受託サービス

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画像測定サービス｜JTL

微小な部品や薄膜製品などの非接触二次元測定・評価を実施します。

本サービスでは、画像測定機と画像測定プローブを利用した非接触による二次元測定を実施致します。画像測定機（NEXIV）ではレーザーを用いて、非接触での高さ測定、輪郭形状（倣い）測定、プログラム自動測定、多点測定等の寸法測定・各種評価を行うことが可能です。画像測定プローブ（QVP）では三次元測定機のプローブヘッドに装着することで、大型サイズの印刷物やフィルム状の製品等、通常の画像測定機では測定不可能な測定品の非接触二次元画像測定を実施致します。

企業：JAPAN TESTING LABORATORIES株式会社
価格：応相談

受託測定
その他受託サービス
その他計測・記録・測定器

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動的測定＋レオメーター『D-RPA 3000』

事前のサンプル加工が不要！不良品・歩留まりを改善し加工プロセスの効率を向上

『D-RPA 3000』はエラストマー及びゴムコンパウンドの加硫前/中/後の粘弾性を測定する、動的なゴムプロセス分析装置です。 2チャンネルの圧縮エアーを使用した冷却機構が標準装備され、上側ダイ・下側ダイを独立したエアーで冷却。それによりサンプル温度の高速制御が可能になり、通常エアーまたは事前冷却された圧縮エアー等選択して使用できます。【特長】 ■マイナス40℃液体冷却チラー(オプション) ■自社開発のクローズ・ループデジタルドライブ ■キャビティ圧力制御システム ■開発サイクルの短納期化・単純化 ■バッチリリースの短納期化 ※詳しくはPDF資料をご覧いただくか、お気軽にお問い合わせ下さい。