更新日： 集計期間:2025年06月04日～2025年07月01日
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超微小硬度測定を行った事例をご紹介！写真や図を用いて分かりやすく解説！
当資料では、長期の使用により破損したカニカンについて、断面から観察 及び元素分析、超微小硬度測定を行った事例をご紹介しています。 "超微小硬度計による硬度比較"をはじめ"破断部の面分析結果と超微小硬度 (低荷重)の関係"などを写真や図を用いて分かりやすく掲載。 ぜひ、ご一読ください。 【掲載内容】 ■破損したカニカンの観察 ■超微小硬度計による硬度比較 ■破断部の面分析結果と超微小硬度(低荷重)の関係 ※詳しくはPDF資料をご覧いただくか、お気軽にお問い合わせ下さい。
XPSを使用して簡易的に測定することが可能！酸化物系以外の半導体もお問合せください
アイテスでは、『XPSによるバンドギャップの簡易測定』を行っています。 半導体や絶縁物の中で、比較的バンドギャップが広い物質や薄膜の バンドギャップを、XPSを使用して簡易的に測定することが可能。 β-Ga2O3のバンドギャップをO1sのピークを使用して測定を行った際は、 O1sのピーク位置とバンドギャップによるエネルギー損失の端部との差より このβ-Ga2O3のバンドギャップは、約4.9eVと測定されました。 【特長】 ■XPSを使用して簡易的に測定できる ■バンドギャップの広いSiON等の薄膜の簡易測定も可能 ■酸化物系以外の半導体も対応 ※詳しくはPDF資料をご覧いただくか、お気軽にお問い合わせ下さい。
ボールジョイントのクラック率算出など、お客様のご要望に合わせた仕様で実施！
はんだ耐久性試験後の基板において、はんだ接合部にクラックが 発生した場合、クラックが許容基準内であるかを確認するため クラック率を算出します。 はんだ耐久性試験後の評価標準は、製品環境仕様に応じて評価項目や 判定基準などを個別に定めることができるため、お客様ごとに規格を お持ちの場合がほとんどです。 測定方法も部品の形状にあわせて様々ですが、ご依頼いただいた際は、 お客様のご要望に合わせた仕様で実施させて頂きます。 【サービス内容】 ■BGAのはんだ接合部 -ボールジョイントのクラック率算出 ■チップ抵抗器のはんだ接合部 -正方形・長方形の両端子のクラック率算出 ■コイル部品のはんだ接合部 -リボンリードやQFPリードのクラック率算出 ※詳しくはPDF資料をご覧いただくか、お気軽にお問い合わせ下さい。
非破壊のはんだクラック3次元測定手法！AI画像検査プラットフォームをご紹介
『Qualap/QrackDroid3D』は、はんだ接合部のクラックを非破壊で 3次元測定することができ、クラックの経時的な進展観察や寿命予測を 可能とするAI画像検査プラットフォームです。 Deep Learningの技術を用いることにより、 従来のソフトでは自動検出できなかったクラックを高精度に検出。 また、SBD、BGA実装、チップコンデンサ、チップ抵抗等、 様々な部品に対してもX線CTデータを用いて測定することができます。 【特長】 ■AIが非破壊でクラックを3次元測定 ■深層学習(Deep Learning)の技術を使用 ■クラックの3次元構造を可視化 ■クラックを定量評価 ※詳しくは関連リンクをご覧いただくか、お気軽にお問い合わせ下さい。
試料全体の変化を観察する技術や知見を集積！安全に駆動することが求められます
当社では、試料に生じる「反り」や「うねり」の様子を分析し、評価する 体制を、愛知県豊明市の"名古屋品質技術センター"と、大阪本社に整えました。 -60〜350℃の温度下において、μmスケールでの反り計測が可能な 「TDM COMPACT3」、常温で試料全体をスキャンし、3D画像として 表示する「VR-5000」を用いています。 ご要望の際はお気軽にお問い合わせください。 【TDM COMPACT3 仕様(一部)】 ■計測方式：プロジェクション・モアレ式 ■最大サンプルサイズ：515mm×370mm×115mm ■測定精度：±1.5μmもしくは測定値の2％(どちらか大きい方) ■反り(Z)分解能：1μm ■空間分解能(X,Y)：5～150μm(測定視野による) ※詳しくは関連リンクをご覧いただくか、お気軽にお問い合わせ下さい。
当社では動的接触角を測定することができ、より広範囲のはっ水性を知ることができます。
当社にある「自動接触角計」について紹介致します。 従来の接触角計では測定出来なかった、濡れ広がるときの接触角や、水滴が滑り落ちるときの滑落角までが測定可能になりました。 ふっ素樹脂コーティング膜の機能の一つとして、撥水性があります。 このような接触角計での測定結果を塗膜選定の判断基準の一つとして使用できます。 【従来と異なる主な測定機能】 1.液滴法(従来の接触角測定法)の経年変化 2.滑落法(水滴が滑り落ちるときの接触角測定法) ※詳しくはPDF資料をご覧いただくか、お気軽にお問い合わせ下さい。
LED表面温度測定
LEDチップ表面温度を接触式で高精度に測定することができます。 弊社開発の高速温度測定システムとカスタム熱電対の組合せにり、極小チップの表面温度を部位別に測定することができます。評価受託、システム販売、熱・応力シミュレーションを含めたソリューションサービスまで幅広いサービス提供を行なっております。
XPS：X線光電子分光法など
高純度不活性ガス雰囲気下で試料前処理、搬送、測定を行うことで表面酸化、水分吸着を抑えた評価が可能です。 ■適用例 ・半導体電極材料 剥離面の評価等には二次汚染、酸化の影響を抑えて評価ができます。 ・有機EL材料 開封から不活性ガス雰囲気下で作業を行うことで、材料の劣化を防ぎます。 ・Li等電池材料 Li等N2雰囲気不可の場合はAr雰囲気で処理を行う等の対応も可能です。
DSCは、加熱することによって生じる熱量変化からサンプルの物性などを評価することができます
DSCは、加熱することによって生じる熱量変化からサンプルの物性などを評価することができます。 ・ 融点・結晶化温度・ガラス転移温度・キュリー点・比熱などを確認することができます。 ・ 結晶化度・純度・反応速度及び結晶化速度などの測定に応用が可能です。 ・ 氷点下から測定できるため、自由水・結合水の評価が可能です。
XRD：X線回折法
極点測定は特定の結晶面に着目し、試料に対して様々な方向からX線を入射させることで結晶方位の分布を評価する方法です。検出器を着目の結晶面の回折角度(2θ)に固定し、α(試料のあおり角度)とβ(試料の面内回転角)の2つのパラメータを変化させてあらゆる方向に傾いた結晶面を測定します。高い回折強度が観測される方向に結晶方位が集中していることを示します。また、測定結果は右下の図のような極図形で表します。
HPLC：高速液体クロマトグラフ法
GPC（Gel Permeation Chromatography：ゲル浸透クロマトグラフィー）はHPLCの分離モードの一つで、高分子化合物の分子量などを評価する手法です。 一度の分析で数平均分子量（Mn）、重量平均分子量（Mw）、分散度（Mw/Mn）を求めることができ、分布の様子を比較することも可能です。SEC（Size Exclusion Chromatography：サイズ排除クロマトグラフィー）とも呼ばれます。
物質の蛍光寿命を測定することにより発光過渡現象をよりダイナミックに把握できます
物質に光を照射し、励起された電子が基底状態に戻る際の過程の一つに発光（フォトルミネッセンス）があります。そのうち、パルスレーザーにより物質を瞬間的に励起し、発光の減衰時間を測定する手法が時間分解フォトルミネッセンスと呼ばれるものであり、得られたスペクトルを解析することにより、蛍光寿命を算出します。 物質の蛍光寿命を測定することにより発光過渡現象をよりダイナミックに把握できます。このため、蛍光寿命測定は有機EL材料などの有機材料、太陽電池、光触媒、生化学等の物性研究における有効な手段の一つです。本装置では、ピコ秒レーザーと分光器及びストリークカメラを組み合わせることにより、ナノ秒やマイクロ秒スケールの時間分解フォトルミネッセンス（ＰＬ）スペクトル測定、及び、蛍光寿命測定が可能です。
【無料プレゼント】迅速な分析が可能に！FT-IR測定についての技術資料
「ALPHA II」をグローブボックス内に設置することで、迅速な分析が 可能となります。 分析の操作性と効率が向上することはもちろん、試料をその場で分析 できるため、試料を大気暴露させるリスクから解放され信頼性と 精度の高いデータの取得が実現されます。 当資料では「ALPHA II」を用いた、グローブボックス内におけるFT-IR測定の 実験条件について詳しくご紹介しています。 【掲載内容】 ■実験条件 ■測定例 ■まとめ ※詳しくはPDF資料をご覧いただくか、お気軽にお問い合わせ下さい。
【無料プレゼント】「VERTEX FM」の特長と測定の実際をご紹介
赤外分光法は測定に用いる赤外線の波数範囲により、近赤外分光法、 (中)赤外分光法、遠赤外分光法の三つに大別できます。 それぞれのスペクトル領域がもつ特長を活かすことで、分析対象物に対する 理解をさらに深めることが可能となります。 当資料で紹介する「VERTEX FM」は、当社がもつ光学設計技術による新鋭の ビームスプリッタおよび検出器をベースとし、光学部品を交換することなく 一回の測定で近赤外域の一部から中赤外/遠赤外にわたる広域スペクトルの 取得を可能にする「VERTEXシリーズ FT-IR」の新たなオプションです。 ここではとくに“中～遠”広域赤外スペクトルの測定事例を交え、 「VERTEX FM」の特長と測定の実際を紹介します。 【掲載内容】 ■はじめに ■超広帯域ビームスプレッタ/超広帯域検出器 ■実測定例 ■まとめ ■参考文献 ※詳しくはPDF資料をご覧いただくか、お気軽にお問い合わせ下さい。
EMC・ノイズ対策でお困りですか？搬送可能な製品であれば、当社のサイトを利用し、お客様が自由に（サポート付）測定できます。
■ワイヤレス・無線技術のソフトウェア・ハードウェア構築に必要なのに ●自社のサイトが空かない…。 ●サイトはあるけど、試験設備がない…。 ●対応できるエンジニアがいない…。 ●試験をする時間が取れない…。 ●当社なら豊かな自然環境の中でご利用いただけます。 ●搬送可能製品であれば、当社のサイトで測定受託をいたします。 ●コストの関係で計測回数を減らさざるを得ない…。 ●開発スピードを減速したくない…。 ※まずは、当社に御相談ください。 【概要】 『EMC 3m法電波暗室』測定 ●日本建築学会環境準拠(AIJES-E0003-2017) ●妨害波電界強度測定 ●電源ポート伝導妨害波測定(雑音端子電圧測定)／通信ポート伝導妨害波測定 ●妨害電力測定 『EMC シールド性能測定』測定対象 ●大開口での実物大でのシールド性能測定(扉・窓等) ●各種素材のシールド性能測定(最大2400mm×2400mm)
