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デモ/分析受付中 エアゾル測定、高濃度噴霧のレーザ粒子径分布測定における多重散乱補正方法についての情報を掲載！
当ページでは、高濃度噴霧のレーザ粒子径分布測定における 多重散乱補正方法についての情報を掲載しております。 「第11回微粒化シンポジウム」（2002年12月）での学会発表を 要約したものです。（参考文献：第11回微粒化学会論文集 P174） 詳細内容は、関連リンクより閲覧いただけます。 【掲載内容】 ■概要 ■測定データ ■まとめ ※詳しくは関連リンクをご覧いただくか、お気軽にお問い合わせ下さい。
個々の塩粒子を識別！粒子の大きさ・表面積などを統計的に解析することが可能
カプセル内に含まれる粒子の大きさは薬の効果と密接な関係があるといわれ、 粒度分布を得ることが求められます。 3次元X線顕微鏡(X線CT)では、対象物内部のX線吸収率の違いを3次元で 可視化することにより、非破壊で内部物質の粒度分布を調べることが可能。 塩(塩化ナトリウム)を封入したカプセルの内部監察では、塩粒子を含む カプセルのX線CT像から個々の塩粒子を識別し、粒子の大きさ・表面積 などを統計的に解析することができます。 【事例】 ■塩(塩化ナトリウム)を封入したカプセルの内部観察 ※詳しくはPDF資料をご覧いただくか、お気軽にお問い合わせ下さい。
スペクトラムアナライザーでは捉えることができなかったノイズを観測可能
ＡＰＤ(振幅確率分布)は統計手法の一つであり、信号の時間波形からパワーレベルと時間頻度の関係を一つのグラフで示したものです。 この測定器は、無線通信で用いられる高い周波数において、帯域幅と時間におけるノイズの時間変動を測定して、ノイズの強さと確率の両方を算出します。 ●特長 -高次の高調波成分や、変調されたノイズを観測可能。 -観測定時間を正しく確保することで変調波やバースト波などを欠落のない測定が可能。 -デジタル無線通信の評価（BER：Bit Error Rate）と相関性の良い測定。 ■装置の特長 -APDによる電界・磁界分布測定 -測定エリアはシールドされており不要な外来ノイズをカット -電界・磁界同時センサーを搭載 -被測定物の高さ検出機能を備え凹凸のある物の測定が容易 -スペクトラムによる電界・磁界分布測定 -立体的な表示で解りやすい３次元表示ソフトウェア -ティーチングボックスにより測定範囲の位置合わせが容易 -独自の信号解析装置を使用
極小領域の膜厚測定が可能に！電子線照射時に発生する特性X線の強度から膜厚を算出
当社ではEPMAによる薄膜の膜厚分布測定を行っております。 薄膜の膜厚測定は主に蛍光X線法やX線反射率法で行われており、X線を入射源と しているためある程度の広い測定領域の平均的な膜厚しか測定できませんでした。 それに対して電子線を活用することにより、極小領域（約1μm2）の膜厚測定、 さらに膜厚分布（マッピング）が可能となりましたので、ご活用ください。 【特長】 ■測定原理：電子線照射時に発生する特性X線の強度から膜厚を算出 ■使用装置：EPMA ■面分解能：約1μm ■最大測定膜厚：約1μm ■最小マッピング領域：約80×80μm ※詳しくは関連リンクをご覧いただくか、お気軽にお問い合わせ下さい。
半導体に用いられるSiCにつけた圧痕周辺の応力分布の測定例！可視光レーザーで分析
当社では、応力分布測定＜顕微レーザーラマン分光分析＞を行っております。 残留応力は製品に変形や破壊などの様々な悪影響を及ぼします。 その測定方法はいくつかありますが、ラマン分光分析も有効な手段の一つです。 関連リンク先では、半導体に用いられるSiCにつけた圧痕周辺の応力分布の 測定例を、グラフや写真とともにご紹介しております。 【特長】 ■分析装置：RAMAN ■分析方法：可視光レーザー ■分析対象：ラマン活性物質（半導体、カーボン、高分子材等） ■面分解能：約1μm ※詳しくは関連リンクをご覧いただくか、お気軽にお問い合わせ下さい。
様々なご要望にお答えできる測定技術とノウハウを兼ね備えています。
粒度分布測定は、レーザー回折・散乱法、高透過式遠心沈降法、音波法（乾式分級）、振動式（乾式・湿式分級）があります。単発的に発生する測定や、品質管理として断続的に行なう測定などに、便利にご利用いただけます。必要なとき、必要なデータが迅速かつ正確に得られます。 セイシン企業粉体測定センターでは皆様のご要望にお答えできる測定技術とノウハウを兼ね備えています。粉体に関する事なら日本で一番の知識と経験があると自負しております。詳しくはカタログをダウンロードしてください。
比表面積・細孔分布測定のことならお任せください！
比表面積測定は、空気浸透法（JIS 5201準拠）と気体吸着法（BET1点法 BET多点法）があり、細孔分布測定は、気体吸着法（BET多点法）と水銀圧入法（細孔容積同時測定）があります。例えば、空気浸透法は容積が既にわかっているセル中に粉体を充填し、空気量及び圧力差を一定としてその透過時間を測定し、標準セメントとの比較により比表面積を求めます。 詳しくはカタログをダウンロードしてください。
HPLC：高速液体クロマトグラフ法
GPC（Gel Permeation Chromatography：ゲル浸透クロマトグラフィー）はHPLCの分離モードの一つで、高分子化合物の分子量などを評価する手法です。 一度の分析で数平均分子量（Mn）、重量平均分子量（Mw）、分散度（Mw/Mn）を求めることができ、分布の様子を比較することも可能です。SEC（Size Exclusion Chromatography：サイズ排除クロマトグラフィー）とも呼ばれます。
ワイヤレス＆フレキシブル。スポーツ・医療・自動車etc.様々な分野で可能性を発揮 【動画あり】
株式会社オーギャでは、スポーツや介護など幅広い分野で可能性を発揮する 『面圧分布計測インソール』の開発を行っています。 足裏の荷重分布を”リアルタイムで計測可能”なインソールセンサをご紹介します。 シートの厚さ3.0mmの薄型設計。 ワイヤレスで使いやすく、リアルタイム性に優れた検出スピードが特長です。 本センサはお手持ちの靴に挿入して、歩行や運動時の足裏の荷重分布を”動的”に 記録することができる計測装置です。 非常にコンパクトで軽量なので、装着しても違和感なく計測できます。 フットワーク改善やインソール形状のカスタマイズなどをはじめ、さまざまなシー ンでご利用いただけます。 【特長】 ■静電容量検出型センサシート ■シートの厚さ3.0mmの薄型設計 ■リアルタイム性に優れた検出スピード ■使いやすいワイヤレスタイプ ■運動靴やスキー靴に入れて体重移動の測定評価にも活用できます ※詳しくは関連カタログ（PDF）をダウンロードして頂くか、お気軽にお問い合わせください。
トルエン系、シクロヘキサン系、高温系など各種溶媒系での測定が可能！
株式会社ロンビックにて行う「SEC(GPC、APC)分析」について、 ご紹介いたします。 THF系(テトラヒドロフラン)、HFIP系(ヘキサフルオロイソプロパノール)、 DMF系(N､N-ジメチルホルムアミド)など各種溶媒系での測定が可能。 成形品異常の原因例としては、原料乾燥不足や成形条件異常における、 分子量低下による成形品強度不足などがあげられます。 【測定可能例】 ■THF系(テトラヒドロフラン) ■HFIP系(ヘキサフルオロイソプロパノール) ■NMP系(1-メチル-2-ピロリドン) ■シクロヘキサン系 ■クロロホルム系 ■DMF系(N､N-ジメチルホルムアミド) ※詳しくはPDFをダウンロードしていただくか、お気軽にお問い合わせください。
