更新日： 集計期間:2026年06月10日～2026年07月07日
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食品の品質管理に！ハンディタイプの膜厚測定装置で、非破壊測定を実現。
食品業界の品質管理において、コーティングや包装材の膜厚測定は、製品の品質保持に不可欠です。特に、均一な膜厚は、食品の保存性や安全性を左右する重要な要素となります。しかし、従来の測定方法では、測定に時間がかかったり、サンプルを傷つけてしまう可能性がありました。SM-100 seriesは、持ち運び可能なハンディタイプで、最薄0.1μmまで検量線不要で膜厚測定が可能です。非破壊で測定できるため、食品サンプルを傷つける心配もありません。この製品は、食品の品質管理における膜厚測定の課題を解決し、より効率的で正確な品質管理をサポートします。 【活用シーン】 ・食品包装材の膜厚測定 ・コーティングされた食品の膜厚測定 ・品質管理部門での測定 【導入の効果】 ・非破壊測定によるサンプルの有効活用 ・測定時間の短縮 ・測定精度の向上
1ポイント1秒測定！材料の特性評価を加速する顕微分光膜厚計
材料科学分野では、新しい材料の開発や既存材料の性能評価において、膜厚や光学特性の正確な測定が不可欠です。特に、薄膜や多層膜の特性評価は、材料の機能性を理解し、製品の品質を向上させる上で重要な要素となります。従来の測定方法では、測定に時間がかかったり、測定精度に課題があったりすることがありました。顕微分光膜厚計 OPTM seriesは、1秒/pointの高速測定と高精度な光学定数解析により、材料の特性評価における課題を解決します。 【活用シーン】 ・各種フィルム、ウェーハ、光学材料などのコーティング膜の膜厚測定 ・多層膜の膜厚測定と光学定数解析 ・研究開発における材料の特性評価 【導入の効果】 ・高速測定による研究開発の効率化 ・高精度な測定による材料特性の正確な把握 ・非破壊・非接触測定による材料への影響軽減
持ち運び可能なハンディタイプの膜厚測定装置！絶縁膜の膜厚測定に
電子部品業界において、絶縁膜の品質管理は製品の信頼性を左右する重要な要素です。絶縁膜の膜厚測定は、製品の性能を維持し、不良品の発生を防ぐために不可欠です。しかし、従来の測定方法では、測定場所の制約や測定結果のばらつき、測定精度の問題といった課題がありました。SM-100 seriesは、これらの課題を解決し、絶縁膜の品質管理を効率化します。 【活用シーン】 ・電子部品製造における絶縁膜の膜厚測定 ・品質管理部門での膜厚測定 ・研究開発部門での膜厚評価 【導入の効果】 ・測定場所を選ばず、どこでも測定可能 ・測定結果のばらつきを抑制 ・高精度な膜厚測定を実現 ・非破壊測定によるサンプルの有効活用
【レンタルなら最短で当日発送】反射分光式膜厚計はSiO2膜やITO膜、AR膜など光を透過する膜の厚さ測定や透過率の解析にオススメ
反射分光式膜厚計は光干渉式膜厚計や光学式膜厚測定機などとも呼ばれ、透明薄膜表面の反射と裏面の反射による干渉を利用し非接触で膜厚を測定する手法です。 あすみ技研では、高額な装置を導入するのではなく、使い方にあった 利用をご提案し、失敗のない装置の選定をお客様にしていただくために 反射分光式膜厚計のレンタルをご提案します。 まとまった予算が無くても、抑えた金額ですぐご利用でき、 短期的な研究や装置故障の為、一時的なご利用も可能。 専用ソフトはインストール済みで、USBケーブル等の接続だけで すぐご利用できます。使い方など不明点は当社オペレーターが 電話で対応いたします。 【レンタルのメリット】 ■お試しで利用可能 ■購入する前に、操作性や機能をじっくり評価できる ■購入と異なり、煩雑な社内決済が比較的容易 ■固定資産税の納付や減価償却の事務処理が不要 ■校正の手間や附属PC ソフトの管理、アップデート、 OS 管理等手間が不要 ※詳しくはPDF資料をご覧いただくか、お気軽にお問い合わせ下さい。
お持ちの顕微鏡とドッキングも可能！顕微鏡膜測定と２D分光放射オプションとの組み合わせで詳細な面内の膜厚分布の測定も可能です。
『FF8』は、サンプルの反射率（干渉波形）を測定し、 膜厚演算方法の中のFFT（フ－リエ変換膜厚計）や、 カーブフィット膜厚計等によって 膜厚値の解析を行う非接触多ポイント膜厚測定が可能です。 膜厚測定の他にフィルム、硝子の厚さ、屈折率の測定も行うことができ、 オプションにより、多層膜・カーブフィット法・顕微鏡・マッピング測定・ 色測定・成分濃度解析も可能です。 オプションでは、顕微鏡膜測定や非透過サンプル膜厚測定も可能です。 顕微鏡膜測定では、カラーフィルターのRGBパターンや基板上の配線パターン等、 マクロでは測定が困難な微細領域の膜厚測定を行えるように、 顕微鏡を使用して測定スポットサイズを小さくし測定できるようにします。 非透過サンプル測定では、空気層の厚みを測定することで 非透過サンプルの厚みを測定、演算します。 通常、光の干渉を用いる測定方式では、 非透過サンプルの膜厚測定はできませんが、 本測定方式を用いることで測定が可能となります。 ※詳しくはPDF資料をご覧いただくか、お気軽にお問い合わせ下さい。
