更新日： 集計期間:2025年04月02日～2025年04月29日
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試験片の片端を固定し、反対側をノッチの付いている方向からハンマで打撃し、破壊させたときの衝撃値を評価する方法。
衝撃試験とは、物体に高速で負荷を加えたときの抵抗を測定する試験である。衝撃試験には、振子式のアイゾット衝撃試験、シャルピー衝撃試験、引張衝撃試験と落球式の落球(落錘)衝撃試験、デュポン衝撃試験、ダートインパクト試験がある。 アイゾッド衝撃試験、シャルピー衝撃試験は、通常、試験片にノッチ(切り欠き)を付けて試験を行う。ノッチを付けることにより応力が集中するため、ノッチ形状、ノッチ加工方法の影響を受ける。
高度な分析と”考察力”でお客様の問題解決！冷熱衝撃試験のご紹介
環境系信頼性試験の1つである「冷熱衝撃試験」は、熱ストレスによる劣化を加速させる試験です。 試験体に高温や低温の急激な温度勾配を繰り返し加え、製品・部材の信頼性、耐久性を評価します。 冷熱衝撃試験機には、冷・熱を何で試験体にさらすかによって、気槽型と液槽型の2つのタイプがあります。また、気槽型では試料を載せるカゴが冷⇔熱を移動するタイプと、試料カゴは固定でダンパー切替により冷⇔熱を切替えるタイプに分けられます。 どの装置タイプを選択するかは、JISなどの試験規格に対応した装置を選択する場合や、加えたい熱衝撃の程度、試料サイズ、個数、重量を満たす好適な装置を選定します。 【特長】 ■熱ストレスによる劣化を加速させる試験 ■製品・部材の信頼性、耐久性を評価 ■熱衝撃の程度、試料サイズ、個数、重量を満たす好適な装置を選定 ■試験条件が明確でない場合でも、経験ある技術者が条件設定をサポート ※詳しくはPDFをダウンロードして頂くか、お気軽にお問い合わせ下さい。
『IEC 60068-2-14』に準拠した試験の実施が可能！電子部品・装置が周辺温度にどれくらい耐性があるか検査を行います。
電子部品の製造工程において重要となる、温度・湿度などによる”環境変化”への耐性。 その検査工程においてこんなお悩みはございませんか。 ・設備がなく対応できない ・製品・部品の要求事項で評価試験を実施しなければいけない ・設備は保有しているが時間がなく外部委託をしたい アストムでは、高温と低温の温度差を繰り返し与えることにより、温度変化に対する耐性を短時間で評価することができます。 異なる素材からなる部品は、互いの膨張係数の違いから、 温度変化により応力がかかり、クラック（ヒビ）や破損してしまう可能性があります。 熱衝撃試験はこの温度変化を繰り返すことにより、 室内⇒屋外の移動など急激な温度差にさらされる製品の評価を行い、 品質の高い供給を行っています。 ※詳しくはPDF資料をご覧いただくか、お気軽にお問い合わせ下さい。
試験温度も極低温から高温までの広い範囲での衝撃試験に対応し、多数の実績あり
当社では、-269℃(4K)といった極めて低温でも試験可能な衝撃試験技術を 有しています。 一般に、金属材料の特性評価には、静的強度(引張、圧縮、曲げ)や疲労強度、 材料の硬さや、金属組織の確認などが一般的に行われますが、材料の粘り強さ、 あるいはもろさを評価する手法として規定されているのが衝撃試験です。 また当社では、材料の各規格に適合した試験片形状の選定、加工から、 試験温度も極低温(液体ヘリウム温度)から高温までの広い範囲での 衝撃試験に対応し、多数の実績を有しています。 【測定条件(抜粋)】 ■試験温度と温度調整 ・800℃～200℃：電気炉 ・200℃～常温：シリコンオイルとオイルバス ・0℃～-70℃：エタノールとドライアイス ・-70℃～-150℃：イソペンタンと液体窒素 ※詳しくはPDF資料をご覧いただくか、お気軽にお問い合わせ下さい。
電子部品、電子機器、その他製品が使用中または落下時等に受ける衝撃の影響や耐久性を評価します。
電子部品、電子機器、その他製品が使用中または落下時等に受ける衝撃の影響や耐久性を評価します。
紀州ラボにて4.5型、西宮浜ラボにて3.5型、3.0型、0.6型の試験装置を保有！
ラボテック・インターナショナル株式会社にて行う『振動・衝撃試験』 について、ご紹介いたします。 種々の規格に応じてサイン波掃引、ランダム振動、衝撃、バンプ、共振探査、 耐久試験が可能。 試験品重量に応じて、4.5型、3.5型、3.0型、0.6型の4種類の試験装置を ご用意しております。各種振動試験取付具もご用意しております。 【適用規格】 ■正弦波振動試験：IEC 60068-2-6/JIS C 60068-2-6 ■衝撃試験：IEC 60068-2-27/JIS C 60068-2-27 ■広帯域ランダム振動試験：IEC 60068-2-64/JIS C 60068-2-64 ■包装貨物振動試験：ISO 13355/JIS Z 0232 ※詳しくはPDF資料をご覧いただくか、お気軽にお問い合わせ下さい。
電子部品やデバイスなどが高温/低温に繰り返しさらされることに対する耐久性を評価します
試料への電圧印加、槽内温度プロファイル、指定サイクルにおける抜取り評価なども実施可能です。
