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ノイズ特性を可視化！ プリント基板ノイズ対策を容易にするシミュレータ新登場！
プリント基板解析用の電磁界シミュレータ『S-NAP PCB Suite(Ver.2)』は、電磁界解析と回路解析を融合。10層以上の実装状態の大規模プリント板を高速に解析します。部品端子に触れるだけでリアルタイムに波形やスペクトルを観測でき、信号に重畳するノイズ量の確認が簡単！ さらに「電圧」「電流密度分布」「ノイズの分布箇所」も容易に把握。基板全体を解析し、複雑なノイズの結合状態が分かり、ノイズ対策にかかる時間が大幅に短縮できます！ また、(株)システムデザイン研究所との技術連携で、操作技術から対策提案までの充実したサポートをご提供。他にも、マイクロ波用の回路・電磁界シミュレータ「S-NAP Microwave Suite」をご用意。マイクロ波回路やアンテナ、超高速ロジック回路の設計解析が可能です。
複雑な複素計算を、図表上で簡単に行うことができるようになります。
伝送線路を含め、高周波回路の色々な問題を数式を用いて解くことは、複素計算になりますのでかなり面倒になります。しかし、P. H. Smith の考案したスミスチャートを用いると、このような複雑な複素計算を、図表上で簡単に行うことができるようになります。計算尺では、積は対数をとると和に置き換えることができる性質を利用し、掛け算を中尺を動かすだけで簡単に行います。同じようにスミスチャートは、等角写像を利用し、高周波計算を簡単に行うことができる便利な道具の一つです。 【特徴】 ○負荷インピーダンスZrが線路インピーダンスZ0に等しくない場合、 入射波の一部は反射波となって電源側に戻ってくる ○反射波と入射波との間の干渉で、線路上には定在波が現れる ○反射波と入射波の比を電圧反射係数と呼び、 一般にΓ、またはΓｖで表わされる 詳しくはお問い合わせ、またはカタログをダウンロードしてください。
入力に対して出力が線の形、つまり直線で変化するものです。
線形素子とは、その名の通り、入力に対して出力が線の形、つまり直線で変化するものです。例えば、抵抗について考えれば、抵抗に流れる電流は、Ir=Vr/R=G･Vr になり、抵抗の両端の電圧に比例した１次関数になっています。このような入出力関係を持つ素子を線形素子と言います。 【ポイント】 ○キャパシタもIc=jωC･Vcになり、やはりVc の１次関数である ○非線形素子とは、出力特性が入力の１次関数でないものを言う 詳しくはお問い合わせ、またはカタログをダウンロードしてください。
線形等価回路を作成し、周辺素子を含めて線形解析を行う。
回路に大信号を入力する場合、回路に非線形素子が存在すると回路のSパラメータは小信号の場合と異なってくるのは周知の事実である。Sパラメータ解析においてアクティブデバイスの取り扱いは、一般にガンメルプーンモデルなどからバイアスポイントにおけるハイブリッドパイなどの線形等価回路を作成し、周辺素子を含めて線形解析を行う。バイアスポイントにおける線形等価回路はそのバイアス点が如何に歪んだ位置にあろうとも入出力関係は線形であり、出力に歪みを持たせることはない。大信号が入力される場合やバイアス点が高次の曲線部分に存在するばあいの回路特性を調べるためには、大信号を入力した状態でその基本波成分に対する入出力の割合からSパラメータを算出するのが最良である。 S･NAP-Proには直接大信号Sパラメータを求める機能はないが、ハーモニック･バランスを用いてこれを実現することは可能である。 【特徴】 ○Sパラメータ解析と同様にポートを設けた回路を作成する ○回路中各ポートの端子にはラベルを振る 詳しくはお問い合わせ、またはカタログをダウンロードしてください。
S･NAP-Pro による実測データの基準面の交換手法
伝送線路の特性などを実測する場合、測定データ中にネットワークアナライザの校正基準面と被測定物との接続部におけるコネクタや同軸線路といった不要な要素が混入する場合がある。ネットワークアナライザの校正基準面として被測定物端で校正を行うことができれば最適であるが、校正治具の都合上現実的には難しい場合が多い。測定時に不要な要素の除去が困難な場合、正確な被測定物のデータを得るためには、後処理にて不要な要素を除去する必要がある。この不要な要素は多くの場合コネクタや同軸線路といった場合が多く、これらのデータが既知であるとすれば、計測後S･NAP-Pro を用いてこれらの要素を除去することが可能である。 【特徴】 ○データが既知であるならば、 容易に不要な要素を測定データから差し引くことができる ○単位長さあたりの減衰量は長さが短い場合‘０’で差し支えない 詳しくはお問い合わせ、またはカタログをダウンロードしてください。
透明素材(ガラス、樹脂、ゴム)の光学設計を承ります！設計だけでもお任せください
当社では、『光学設計受託』を行っております。 「照明用ランプキャップ」の開発から「ASA COLOR LED」、 「ASA COLOR LENS」と長年にわかり照明分野で 培ってきた経験と実績で、お客様の困り事を解決。 レンズの光学設計だけでなく、取り付けに関する形状の設計も承ります。 【主な設計実績(一部)】 ■形状 ・非球面レンズ ・フライアイレンズ ・フレネルレンズ ・シリンドリカルレンズ ・自由曲面レンズ ※詳しくはPDF資料をご覧いただくか、お気軽にお問い合わせ下さい。
高性能・高品質な計測を支える JTAGバウンダリスキャンテスト！
LTE測定器の検査に、「JTAGバウンダリスキャンテスト」を導入したお客様をご紹介します。 当製品を導入することにより、Ｘ線検査では検出することができないハンダ不良やパターン不良を通電試験で確実に見つけることが可能になりました。 また、大規模なFPGAとDDRメモリを組み合わせたシステムは、ファンクションテストでは不良箇所を特定できず、製造ラインへのフィードバックが困難でしたが、当製品を採用して、製造品質を改善することができました。 【事例】 ■アンリツ株式会社 ・情報通信の分野で事業を展開し、計測ソリューションをグローバル に提供 ■課題 ・ファンクションテストでは不良箇所を特定できず、製造ラインへの フィードバックが困難 ※詳しくはカタログをご覧頂くか、お気軽にお問い合わせ下さい。
BGA搭載基板の不良箇所をピンレベルで特定して製造品質を向上！
BGA搭載基板の故障解析のため、「JTAGバウンダリスキャンテスト」を採用したお客様をご紹介します。 当製品導入後は、BGAパッケージを多数搭載した高密度なプリント配線板に対しても、十分な品質確保ができます。 【事例】 ■サクサテクノ株式会社 生産技術部 ・ビジネスホンやICカードリーダ関連製品を中心とした製造 ■課題 ・BGAが多数搭載されテストピンを十分に立てることができない ・ファンクションテストでは不良原因を十分に特定できなかった ・X線検査ではBGAオープン故障が判断できない ※詳しくはカタログをご覧頂くか、お気軽にお問い合わせ下さい。
開発初期の信頼性を向上させたJTAGバウンダリスキャンテスト！
自社開発製品の生産ラインに「JTAGバウンダリスキャンテスト」を採用したお客様の事例をご紹介します。 JTAG対応デバイスのパッケージがBGAの場合とDSP(CPU) + RAM + ROMの形態の基板は、基本的な配線チェックをJTAGテストで確認してからファームウェア担当者に提供。 これにより、基板や部品の実装不良による無駄な開発時間を費やすことがなく、開発効率を上げることができています。 【事例】 ■ティアック株式会社 音響機器事業部 ・音響機器の開発・販売 ■開発効率を上げるために試作品からJTAGテストを実施 ※詳しくはカタログをご覧頂くか、お気軽にお問い合わせ下さい。
BGA不具合箇所の統計データを製造にフィードバック！
BGA実装基板の不良箇所の特定を「JTAGバウンダリスキャンテスト」で実現したお客様の事例をご紹介します。 当製品を利用することで、BGAの実装不良が発生した箇所をピンレベルで特定することが出来るようになりました。 実装不良が発生しているピンに対して、顕微鏡による断面解析を実施した結果、ハンダ付け部分が高温下に長時間さらされた事が実装不良を発生させた原因だったことが判明。 また、ハンダレベラーの温度管理を見直すことにより基板の実装品質を改善する事が出来ました。 【事例】 ■株式会社沖電気コミュニケーションシステムズ ・メカトロニクスおよびエレクトロニクスの設計・生産受託サービス ■JTAGテストを採用してBGA実装の品質保証 ※詳しくはカタログをご覧頂くか、お気軽にお問い合わせ下さい。
品質の改善、テスト範囲の向上につながったJTAGテストの事例集です。
JTAGバウンダリスキャンは、BGA搭載基板の実装テストも簡単に実施できるテスト手法です。 様々なメリットがありますので、事例から、ヒントが得られると思っています。 【事例】 ・アズビル太信様：JTAGテストで未検査領域を減らしお客様へ安心をご提供！ ・アンリツ様：高性能・高品質な計測を支えるJTAGテストテスト！ ・沖電気コミュニケーションシステムズ様：JTAGテストによるBGAの実装保証を実現 ・コニカミノルタ電子：高密度実装における一貫した先進の検査体制を確立 ・サクサテクノ様：BGAの基板の不良箇所をピンレベルで特定して製造品質を向上 ・TEAC様：開発初期の信頼性を向上させてJTAGテスト ※事例紹介のご許可をいただいた当時の会社名となっております。
太陽電池セルテスター。光源、I-Vテスタ、搬送系をご提供！
JISC8913/IEC60904-1も結晶系Si太陽電池セル出力測定方法に準拠して測定を行い、被測定セルの良否判定、ランク分けを行う太陽電池セルテスター
モニタセル（温調機能付き）や非接触式放射温度計などを標準構成した太陽電池セルテスター
『DKSCTシリーズ』は、結晶系太陽電池セルの出力特性測定装置です。 R＆D及び量産ライン内の対応可能。 結晶系セルの出力測定方法「IEC60904-1/JIS C 8913規格」、 太陽光ソーラーシミュレータ「IEC60904-9/JIS C 8912規格」に準拠しています。 標準機能として自動量産生産モードをはじめ、マニュアル測定モードや、 自動照度構成機能などを搭載しております。 【特長】 ■結晶系セルの出力測定方法「IEC60904-1/JIS C 8913規格」準拠 ■太陽光ソーラーシミュレータ「IEC60904-9/JIS C 8912規格」準拠 ■結晶系太陽電池セルの出力特性測定装置 ■R&D及び量産ライン内の対応可 ※詳しくはPDF資料をご覧いただくか、お気軽にお問い合わせ下さい。
標準機能としてマニュアル測定モードや照度自動構成機能などを搭載しました
『DKSMTシリーズ』は、結晶系太陽電池モジュールの出力特性測定装置です。 R＆D及び量産ライン内の対応可能。 太陽光ソーラーシミュレータ「IEC60904-9/JIS C 8912規格」、 結晶系モジュールの出力測定方法「IEC60891/JIS C 8914」に準拠しています。 クラスAAA ソーラーシュミレータをはじめ、モニタセル（温調機能付き）や 温度測定ユニットなどを標準構成しております。 【特長】 ■結晶系モジュールの出力測定方法「IEC60891/JIS C 8914」準拠 ■太陽光ソーラーシミュレータ「IEC60904-9/JIS C 8912規格」準拠 ■結晶系太陽電池モジュールの出力特性測定装置 ■R&D及び量産ライン内の対応可 ※詳しくはPDF資料をご覧いただくか、お気軽にお問い合わせ下さい。
試験工程をスマートに！
『MDAC-5A』は、高圧受配電盤、その他機器の調整、検査、試験用電源に最適です。 単相電源から三相の電圧・電流を発生させる試験用三相交流発生装置です。 【特長】 ・試験工程の時間短縮を実現 ・電流・電圧・周波数・位相を独立して設定可能 ・操作性に優れ、取扱いが非常に簡単 ・コンパクト、軽量化22kgを実現 ※無料貸し出しも可能です。 ※詳しくはカタログをご覧頂くか、お気軽にお問い合わせ下さい。
