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低コストで高解像性を持つ製品をご提供致します！
当製品は、自動モード離型機能搭載の実験用簡易UVナノインプリント装置 です。プレスしながらUV照射を行ないます。 モールドサイズは、25mm～40mmで、UV照度は0.5mW/cm2になっています。 また、オプションにてHP機能・脱気ユニットを選択頂けます。 当製品以外にも、用途によって選んでいただけるようラインアップも 多数ご用意しております。 【特長】 ■自動モード離型機能搭載 ■低コストで高解像性 ■プレス圧10MPa ※詳しくはカタログをご覧頂くか、お気軽にお問い合わせ下さい。
太陽電池評価装置
＜取扱商品＞ ■分光感度測定装置 弊社独自のリアルタイム光量モニター制御システムを採用しています。 モノクロ光の一部をモニターし、連続濃度可変NDフィルタを常時制御しており、 光源の変動の影響を全く受けない定評のある制御システムです。 （定エネルギー、定フォトン制御の場合） ■ソーラーシュミレータ ■太陽電池関連機器 ■装置メンテナンス用機器 ソーラシュミレータや分光感度測定装置の日本工業規格（JIS）に 準拠した性能評価が行える機器を提供しています。装置の保守には不可欠です。 ■太陽電池アクセサリ マニュアル測定〜自動測定へ。30年の経験から豊富な付属品を取り揃えています。 詳細は『ダウンロード』よりご確認ください
コンパクトでありながら、作業性を向上！電気計測･光学測定可能な装置をご紹介！
当社が取り扱う『半導体プローブ評価装置』をご紹介します。 「有機半導体・EL評価装置」は、高真空から大気圧雰囲気でコンタクト プローブさせた基板を加熱しながら、電気計測･光学測定をすることが可能。 他に、SiC等のパワーデバイスを対象とした「高真空高温プローブ装置」や 「環境制御評価試験装置」もございます。 【ラインアップ】 ■有機半導体・EL評価装置 ■高真空高温プローブ装置 ■環境制御評価試験装置 ※詳しくはPDF資料をご覧いただくか、お気軽にお問い合わせ下さい。
機能材料の性能評価、品質管理において重要な分析項目！不織布シートや膜材料の孔径、細孔分布の評価
不織布シートの最大孔径、細孔分布を、バブルポイント法を用いて 評価した例を紹介します。 試料を薬液に浸漬し空気圧を加えます。圧力を加え、シートに染み込んだ薬液の 表面張力に打ち勝ち、気泡の出現が生じたときの圧力をバブルポイントといいます。 最大孔径は、バブルポイントの圧力、薬液の表面張力を基に計算することが 可能です。 【計算式】 ■d＝Cy/P ・d：最大孔径 ・C：定数 ・y：薬液の表面張力 ・P：差圧 ※詳しくはPDF資料をご覧いただくか、お気軽にお問い合わせ下さい。
高温化による接合部の信頼性を、評価方法，対策，開発の面から考え提案！
近年、パワーエレクトロニクスの進展やLEDの多方面での利用に伴い、 半導体やモジュール内はもちろん、そのPKGや抵抗のはんだ付け部も 高温になってきています。 このため、接合部の高温耐久性や使用温度範囲拡大による疲労破壊などの 故障増加が懸念されています。 当資料では、はんだ付け部が高温になることで促進される破壊や高温で 発生する新たな信頼性問題とされる現象について概説しています。 ぜひ、ご一読ください。 【掲載内容】 ■はんだ付け部の信頼性 ■はんだクラック ■エレクトロマイグレーション ■エレクトロケミカルマイグレーション（イオンマイグレーション） ■金属間化合物層の成長によるはんだ接続性の低下 ※詳しくはPDF資料をご覧いただくか、お気軽にお問い合わせ下さい。
リフロー時のプリヒート時間を変更し、はんだ溶融性を確認！
当社で行った「はんだ溶融性不良」の再現実験をご紹介いたします。 予想された不良原因はリフロー条件の不適で、リフロー時の プリヒート時間を変更し、はんだ溶融性を確認。 その結果、プリヒート時間の短縮により溶融性を改善できますが、 BGAでのボイドが増加。ボイドも割合が少なくはんだ溶融性が良好な プリヒート時間3minを提案しました。 【概要】 ■予想された不良原因：リフロー条件の不適(不良) ■不良再現実験：リフロー時のプリヒート時間を変更し、はんだ溶融性確認 ■結果 ・プリヒート時間の短縮により溶融性改善できるが、BGAでのボイド増加 ・ボイドも割合少なくはんだ溶融性が良好なプリヒート時間3minを提案 ※詳しくはPDF資料をご覧いただくか、お気軽にお問い合わせ下さい。
高性能評価設備の拡充により、様々な半導体材料の評価や高度化するニーズに対応！
株式会社クオルテックは、2025年1月、大阪府堺市津久野町に 「パワエレテクノセンター」を新規に設立します。 開設に向けて現在準備しており、2024年5月より改装工事を着工。 現在3か所に分散しているパワー半導体評価拠点を当センターに集約し、 効率化を図ると同時に、パワー半導体評価の更なる需要拡大に対応するため、 現行の1.5倍となるよう評価設備の増設を段階的に行います。 【当センターの取り組み】 ■パワー半導体評価技術の研究開発 ■パワー半導体評価の受託試験の増加に対応すべく、試験設備の拡充 ■ユーティリティの冗長化による安全・安心の試験業務システムの構築 ■先進セキュリティシステムによる顧客情報の機密管理 ※詳しくはPDF資料をご覧いただくか、お気軽にお問い合わせ下さい。
多数の有機ELデバイスの寿命及びIVL特性経時変化を測定評価する装置です。
LIFE & IVL経時変化測定装置「型式 ELS-100LV」は、多数の有機ELデバイスの寿命及びIVL特性経時変化を測定評価する装置です。 寿命評価測定とIVL測定の駆動を自動的に切り替えて測定を行います。 【特長】 ○発光素子の点灯状態の画像取得が可能 ○寿命測定 駆動電源：定電流／定電圧／定電流パルス 詳しくはお問い合わせ、またはカタログをダウンロードしてください。
複数の有機ＥＬ素子の点灯画像観察とＩＶＬ特性評価の基本システムです
多チャンネルIVL特性評価システム「型式 ELS-100V」は、多数の有機EL素子のIVL特性を自動的に測定評価する装置です。 測定状況はモニタにリアルタイムにグラフ化して表示されます。 【特長】 ○発光素子の点灯状態の画像取得が可能 ○駆動方式 →KEITHLAY2400での高精度な電流／電圧印加によるステップアップスイープ →電流値：1nA～(1A) →電圧値：1μV～(200V) 詳しくはお問い合わせ、またはカタログをダウンロードしてください。
フレキシブルデバイスに曲げ負荷を与えた時の、電気的/光学特性評価をします。
ELS-100FMは、フレキシブルデバイスに曲げ負荷を与えた時の、電気的特性と光学特性の評価が可能な装置です。 曲げ負荷駆動はロボシリンダーと専用コントローラ(ストロークと速度調整可能)、曲げ負荷はロボシリンダーの上下運動によって行います。 IV測定器は、ケースレーインスツルメンツ ソースメーター 2400。 分光放射輝度計は、コニカミノルタ CS-2000です。 【特徴】 ○電気的特性と光学特性の評価が可能 →フレキシブルデバイスに曲げ負荷を与えた時 ○曲げ負荷はロボシリンダーの上下運動で行なう ○測定項目 →曲げ回数―電流(mA)―電圧(V)―輝度(cd/m?)―スペクトル ※詳しくはお問い合わせ、またはカタログをダウンロードしてください。
総合化・集約化の時代に、ニーズ創出型企業を目指します。
株式会社西山製作所では研究開発・品質検査・品質管理・環境管理と様々な分野で活躍し続ける科学・物理・環境・医療機器を提供し続けています。 取扱製品としては、SOFC評価装置やガス雰囲気炉などに加湿されたガスを送るための装置「加湿器（バブラー）ユニット」、二桂化モリブデンヒーターと高品質なアルミナボード断熱材を使用した電気炉「雰囲気調整型高温電気炉 PART5」、高温にてセラミック材料の高抵抗を測定する装置「超高温絶縁特性評価装置（ガス雰囲気用）」、集電部分の改良にともない、集電効率を高める事が可能となった「SOFC型ボタン型セル耐久試験装置」、その他さまざまな機器をラインナップしています。 詳しくはお問い合わせ、またはカタログをご覧ください。
荷重調節機能付とチューブセル用の発電評価装置をご紹介！
『SOFC発電評価装置』製品カタログは、主に科学分析機器、環境試験機、 医療関連機器、OEM開発、特注開発機器、自動化機器の製造・販売を行っている 株式会社西山製作所の製品カタログです。 『SOFC発電評価装置』の荷重調節機能付とチューブセル用の詳細な仕様を 掲載しています。 【掲載製品】 ■荷重調節機能付『SOFC発電評価装置』 ■チューブセル用『SOFC発電評価装置』 ※詳しくはカタログをご覧頂くか、お気軽にお問い合わせ下さい。
同一箇所における抵抗分布と結晶粒・結晶粒界評価
SSRMでは局所抵抗に関する知見を、EBSDでは結晶粒・粒界に関する知見を得ることができます。 EBSD測定と同一箇所でSSRM 測定を行うことで、結晶粒界部を含んだ領域の局所抵抗を測定しましたので紹介いたします。
サンプルを冷却しセパレータの形状をより正確に評価
電池の主要構成材料であるセパレータは、この材料の多孔性・形状等が電池の特性・安全性を左右します。現在主流のポリエチレン(PE)、ポリプロピレン(PP)、あるいはその複合材料等高分子系材料は軟化点が低くPEでは125℃程度、PPでは155℃程度となります。軟化点の低いPP製のセパレータ構造観察において、試料の冷却を行って変質を抑えて評価した事例をご紹介します。
球体形状試料の評価事例
AES分析ではSEM観察機能が付随していることから、試料表面の特定箇所を測定することが可能です。 またサブμｍの微小領域での測定が可能なため、基板等の平坦試料だけではなく、球体形状や湾曲形状の試料でも、曲率の影響を受けにくく、平坦試料と同様に特定箇所を狙って測定することができます。 以下は表面形状が異なる半田ボール表面の酸化膜厚を評価した事例です。
高分解能測定と波形解析を利用してc-Siとa-Siの状態別定量が可能
半導体の製造工程において表面改質を目的としたイオン照射を行うことがあります。その中で、単結晶 Si表面に不活性元素のイオンを照射することで構造の損傷が生じ、アモルファス層が形成されることが 知られています。 高分解能なXPSスペクトルではc(単結晶)-Siとa(アモルファス)-Siが異なったピーク形状で検出されること を利用して、この損傷由来のa-Siをc-Siと分離して定量評価した事例をご紹介します。
![[AFM-MA・DMA]機械特性評価(弾性率・動的粘弾性率)](https://image.mono.ipros.com/public/product/image/0ec/2001512502/IPROS15276089049362651398.jpg?w=280&h=280)
AFM-MA、AFM-DMAは硬さに関して知見を得ることが可能な分析です。
AFMの計測技術であるフォースカーブに対して各計算モデルからフィッティングを行い、弾性および粘弾性データを取得します。 ? DMA試験機およびナノインデンターと整合性のあるデータを微小領域で測定可能 ? 10KPa から100Gpa と様々な硬さの材料に適用可能 ? 弾性体モデル（DMT、Hertz、JKR）および粘弾性体モデルによるフィッティングが可能 ? 上記モデルによる弾性率、粘弾性率マッピングが可能 ? 各分析点における周波数依存性(0.1～20kHz) を評価可能 ? 温度変化（室温～250℃）による測定が可能
先端材料や新規分野での真空プレス装置の可能性を追求します！
当社では、真空プレス成形による開発品/試作品のサンプル作成、 成形条件の確立など、プレス装置を必要とする（試してみたい）お客様の ご要望にお応えするべく試験評価用プレス装置を取り揃えております。 まずはお気軽にお問い合わせください。 【ラインアップ】 ■3段真空プレス装置（750×750） ■単段真空プレス機（300×300） ■単段真空プレス機（500×500） 他 ※詳しくはPDFをダウンロードして頂くか、お気軽にお問い合わせください。
評価技術や熱流体解析など、ハードとソフト両面でお応えしています。
超高圧（35MPa）における吸脱着性能評価装置は、新素材（ナノチューブ、フラーレン、メタン）の機能性向上を探求するシステムとして開発いたしました。
次世代の開発用途である“エネルギー貯蔵用材料”として
弊社で販売しております水素吸蔵放出特性評価装置の標準物質として、炭素系物質の共同研究を行ない、実験室段階での標準物質を開発いたしました。（共同特許出願中）
特許取得：第３９７５４５０号 潤滑膜の評価装置 名古屋大学 共同特許
本装置は、前名古屋大学 大学院 工学研究科 マイクロ・ナノシステム工学専攻 三矢保永教授（現名古屋産業科学研究所 上席研究員）と当社の共同開発により製品化したものです。
単分子膜の存在形態や、配列構造に依存した摩擦特性の測定ができます
当製品は、ナノ潤滑膜の凝着特性(メニスカス)と摩擦特性が超軽荷重で 測定できる評価装置です。 凝着力と摩擦力ともに、高分解能(分解能5μN)で測定。 MEMS部品用の潤滑剤の凝着力・摩擦力測定のほか、生体関節潤滑液・ 蛋白質潤滑液と人口関節用軟骨材の摩擦特性の測定や、吸着／摩耗状態の 評価などに応用することができます。 【特長】 ■特許取得：第3975450号 潤滑膜の評価装置 名古屋大学 共同特許 ■ナノ潤滑膜の凝着特性(メニスカス)と摩擦特性が超軽荷重で測定可能 ■単分子膜の存在形態や、配列構造に依存した摩擦特性の測定が可能 ■凝着力と摩擦力ともに、高分解能(分解能5μN)で測定 ※詳しくはPDF資料をご覧いただくか、お気軽にお問い合わせください。
多角アルミナ粒子1.2µmを使用した試験結果を詳しく解説
大変軟らかいSiウエハ上の硬く薄いDLC膜の強さを、基材に影響されずに 評価することができた事例をご紹介します。 結果、超薄膜のエロージョン率は0.002µm/gで3つの試験部位と 深さ方向共に強さはほぼ一定であることなどが判明しました。 【事例概要】 ■目的 ・硬質超薄膜の強さ特定 ・超薄膜の膜厚の特定 ・軟質基材上の硬質膜の計測可能能力の探索 ■評価 ・膜厚は部位によって差があり、光干渉色と一致していることが判明 ・界面部の強さの変化を可視化 など ※詳しくはPDF資料をご覧いただくか、お気軽にお問い合わせ下さい。
対象者の摂食率が過小である原因を適切に認識
現在、ある対象者の摂食嚥下機能を評価するための摂食嚥下機能評価装置が知られている。これに対し、摂食行動が正常であっても、対象者が意味記憶機能に障害を有すると、摂食率が低下しやすい場合がある。しかし、既存の摂食嚥下機能評価装置では、対象者の意味記憶機能に関する情報が出力されないため、対象者の摂食率が過小である原因を認識できないという課題がある。本発明によって、対象者の摂食率が過小である原因を適切に認識することができる摂食嚥下機能評価装置を提供することが可能になった。本発明の摂食嚥下機能評価装置は、摂食行動情報取得部と、正誤情報取得部と、摂食行動評価情報出力部と、意味記憶評価情報出力部と、を備えることを特徴とする。本発明では、摂食嚥下機能の評価をコンピューターに実行させ、対象者の意味記憶課題に対する回答の正誤情報を取得し、対象者の意味記憶機能が正常であるかどうかの情報を出力する。これによって、対象者の摂食率が過小である原因を適切に認識することができる。
数GHzのマイクロ波を用いたガスタービン火力用セラミック遮熱コーティングの劣化評価
本発明はマイクロ波を用い、耐熱性金属材料における熱遮蔽コーティングの経年劣化を非接触非破壊で評価する方法である。ガスタービン火力発電用のセラミックコーティング部材に対し、経年劣化に伴い生成する熱成長酸化物（TGO)の生成・成長を評価し、剥離強度を間接的に評価する。ガスタービン部品用セラミックスコーティングには、YSZ（トップコート）が用いられ、基材（Ni基超合金）との耐剥離性を高める目的で間にMCrAlY合金層（ボンドコート）が挿入されている。本部材は劣化に伴いボンドコート上にTGOが生成することが知られており、TGOを評価することにより部材の寿命評価か可能となる。
ナノフルイドの液滴内流動とナノ粒子堆積のパターンを判定可能な数理モデルを構築した
ナノ粒子が高濃度に分散したナノフルイド（ナノ粒子／溶媒混合系）や高分子ナノコンポジット材料（ナノ粒子／高分子混合系）など，近年革新的機能を有するナノ材料が盛んに研究されており，その応用分野は導電性ナノインク，太陽電池，センサーなど多岐に渡る。一方、インクジェット技術はシンプルな装置構成、材料の組み合わせに対する高い自由度、オンデマンド生産による低環境負荷、スケーラブルといった特徴を有するため、当該技術を電子回路やデバイスの製造に応用したプリンテッドエレクトロニクス技術に関心が寄せられるようになってきている。この技術は、印刷技術を応用し、微細パターンの形成を行うものである。 本発明は、インクジェットノズルより吐出され基板に付着したナノフルイド液滴にあらわれる特徴的なパターンの定量的評価を可能にするものである。液滴のふるまいを支配する数理モデルを構築することで、ナノフルイド液滴内の流動パターン、ひいては基板に堆積するナノ粒子パターンを設計することが可能となった。加えて、ナノフルイド液滴の計測技術の開発にも成功している(参照:T24-030)。
任意の速度とタイミングで『歩行者ダミー』の飛び出しを制御
自動車の走行に合わせて歩行者ダミー人形を走行軌道上に飛び出させることで、自動車に装備されるAEB（自動ブレーキ）の性能を評価する装置です。 各機器（台車移動機構、レーザー測定部、操作部）を分割して持ち運び可能で、設置も簡単です。
研究用の評価装置から量産用の検査システムまで。フローチャート方式でプログラムが見やすく操作も簡単！
『車載用バッテリー充放電評価装置』は、車載用バッテリー、家庭用蓄電池など、 大容量電池の充放電評価による耐久試験、効率試験、振動試験、安全性試験ができる装置です。 【特徴】 ■数多くのバッテリー充放電評価で培った高いノウハウと実績で、様々なタイプの評価方法に対応 ‐ パック充放電評価 - セル・モジュール充放電評価 - 小型充放電評価 - 量産用検査システムにも対応 ■BMUとの連動動作が可能で、CAN通信により、BMUの状態監視やフラグ制御を充放電制御と連動させることが可能。 ■視認性・操作性に優れたプログラミングツールをご提案 ‐ お客様のご要望に合わせたカスタマイズが基本 - プログラム、試験状態、試験結果の視える化 - 加振機など、外部装置との同期制御が可能 ※詳しくはPDFをダウンロードいただくか、お気軽にお問い合わせください。
ステータ偏芯およびロータ偏芯させた状態での出力誤差を0.01°の高分解能で測定可能
『RI-1000』は、レゾルバの特性を評価する装置で、インピーダンス等の 電気特性を偏芯させた状態で測定することができます。 偏芯は、ステータおよびロータに対して水平方向への偏芯、軸芯傾き、 スラスト方向オフセットに対応しています。 また、ステータ偏芯及びロータ偏芯させた状態での出力角度誤差を 0.01°の高分解能で測定が可能です。 【特長】 ■出力角度誤差を0.01°の高分解能で測定が可能 ■電気特性試験と偏芯特性試験を同時に行うことができる ■最高12,000rpmでの角度誤差測定が可能 ■次世代のレゾルバ評価に好適 ※詳しくはPDF資料をご覧いただくか、お気軽にお問い合わせ下さい。
