3Dプロフィロメーター技術資料 塗装表面の形態研究
「塗装表面の形態研究」のpdf資料です。詳細はダウンロードして御覧ください。
塗料の機能のうち表面保護と装飾性は、自動車、船舶、軍事、建設など様々な産業において重要な役割を果たしています。 耐食性、紫外線保護、耐摩耗性といった要求特性を達成するため、塗料の配合と構造は慎重に分析、改良、最適化される必 要があります。
- 企業:アイ・ティー・エス・ジャパン株式会社
- 価格:応相談
更新日: 集計期間:2026年08月12日~2026年09月08日
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塗料の機能のうち表面保護と装飾性は、自動車、船舶、軍事、建設など様々な産業において重要な役割を果たしています。 耐食性、紫外線保護、耐摩耗性といった要求特性を達成するため、塗料の配合と構造は慎重に分析、改良、最適化される必 要があります。
分散系材料の安定性を短時間で評価
沈降・沈殿、浮揚、凝集・合一、クリーミングなどの現象の評価に! 希釈や遠心分離を行うことなく、分散溶液の安定性を評価できます。 短時間で定量的な評価が可能で、最大6サンプルを同時に測定できます。
体積変化や泡の構造など、様々な計測パラメータを自動測定!
光学計測システムにより、泡量・液体量のモリタリングと泡の構造分析ができる泡の評価装置です。 計測容器にサンプルを投入し、攪拌ディスクを回転させ泡を生成させます。この時の泡体積・構造など、様々な泡の評価パラメーターの変化を評価できます。 簡単かつ自由度高く測定シーケンスを作成でき、自動的な測定が可能です。
マルチ光学測定評価装置
既存の色彩輝度測定装置は1枚しかパネルを装着出来ませんでしたが、 本装置はあらかじめ複数枚(最大10枚)のパネルを装着することにより、 無人で連続測定・評価を行う事が出来ます。 パネルの脱着・パネルの測定面の移動・視野角の変更等 全て多軸ロボットで行うことにより装置のコストダウンを図りました。 治具クランプをスライドさせることにより10インチまでのパネルに対応でき、 パネルサイズ・形状を選びません。 外装カバーにより暗室等の設備が不要、蛍光灯と換気ファンが付属しています。
カメラモジュールの画像性能の評価・改善
自動車業界やセキュリティ業界などでは、物体の自動認識におけるカメラモジ ュールの性能向上の需要は年々高まっています。本装置は、研究開発用と試 作用、量産用など所望の用途・測定内容によって、様々なご提案が可能です。
カメラモジュール製造における、アクティブアライメント、組立、評価の全工程を行う装置
本製品はカメラモジュール製造におけるアクティブアライメント(調整)、組立、画像性能(MTF、カラーテスト、センサーテスト)の評価までの全工程を行います。光学系およびセンサの高精度なアクティブアライメントは、高精度なカメラモジュールの製造においてますます重要になっています。
研究開発・試作、品質管理用途に最適な評価装置
研究開発部門用の評価装置として、様々な画像性能の測定ができ、様々な波長域で提供が可能です。(VIS,NIR,SWIR and LWIR) 自動MTF測定装置ImageMaster HRをベースとしており、既存装置をアップグレードすることも可能です。
中版カメラで使用するシャッター装置の品質の評価を行うための実験装置。
『カメラ機器評価装置』の受託実績をご紹介します。 当製品は、中版カメラで使用するシャッター装置の品質の評価を行うための 実験装置です。 タッチパネル付きLCDパネルを用いたユーザーインターフェースを 用いて、複合的なパターンのシャッター制御コマンドの発行を行ったり、 SDカードへの書込み機能を用いて、耐久試験中に測定された時間情報などを ログに記録できます。 【特長】 ■シャッター装置の耐久試験 ■SDカードへのログ出力処理 ※詳しくは、お気軽にお問い合わせ下さい。
有機デバイス作製・評価装置
●有機デバイス作製・評価装置 ・小スペース、コンパクト設計 ・蒸着セル最大5本取付可能 ・基盤サイズ1〜3インチと幅広く選択可能 ・コンタミを防ぐ2重シールド構造 ・基盤加熱ヒターコントロール機構標準装備 ・メンテナンス・クリーニングの簡単設計
ケミカルインジケータを正確に評価!CIER(高圧蒸気)を2000年に導入いたしました
当社では製品開発から製品の検査に至るまで、「CIER」を用いて 品質管理を行っており、確実な品質の製品提供を心掛けています。 「CIER」は、ケミカルインジケータのタイプ分けに必要な装置であり、 その仕様は国際規格(ISO18472)で定められています。 当社では、このCIER(高圧蒸気)を2000年に導入いたしました。 【CIERの特長】 ■ケミカルインジケータを正確に評価する装置 ■通常の滅菌器よりも短時間で給蒸と排蒸を行う ■各パラメータが通常の滅菌器より設定値に対して精度が高い性能を有している ※詳しくはPDF資料をご覧いただくか、お気軽にお問い合わせ下さい。
低コストで高解像性を持つ製品をご提供致します!
当製品は、自動モード離型機能搭載の実験用簡易UVナノインプリント装置 です。プレスしながらUV照射を行ないます。 モールドサイズは、25mm~40mmで、UV照度は0.5mW/cm2になっています。 また、オプションにてHP機能・脱気ユニットを選択頂けます。 当製品以外にも、用途によって選んでいただけるようラインアップも 多数ご用意しております。 【特長】 ■自動モード離型機能搭載 ■低コストで高解像性 ■プレス圧10MPa ※詳しくはカタログをご覧頂くか、お気軽にお問い合わせ下さい。
太陽電池評価装置
<取扱商品> ■分光感度測定装置 弊社独自のリアルタイム光量モニター制御システムを採用しています。 モノクロ光の一部をモニターし、連続濃度可変NDフィルタを常時制御しており、 光源の変動の影響を全く受けない定評のある制御システムです。 (定エネルギー、定フォトン制御の場合) ■ソーラーシュミレータ ■太陽電池関連機器 ■装置メンテナンス用機器 ソーラシュミレータや分光感度測定装置の日本工業規格(JIS)に 準拠した性能評価が行える機器を提供しています。装置の保守には不可欠です。 ■太陽電池アクセサリ マニュアル測定〜自動測定へ。30年の経験から豊富な付属品を取り揃えています。 詳細は『ダウンロード』よりご確認ください
コンパクトでありながら、作業性を向上!電気計測・光学測定可能な装置をご紹介!
当社が取り扱う『半導体プローブ評価装置』をご紹介します。 「有機半導体・EL評価装置」は、高真空から大気圧雰囲気でコンタクト プローブさせた基板を加熱しながら、電気計測・光学測定をすることが可能。 他に、SiC等のパワーデバイスを対象とした「高真空高温プローブ装置」や 「環境制御評価試験装置」もございます。 【ラインアップ】 ■有機半導体・EL評価装置 ■高真空高温プローブ装置 ■環境制御評価試験装置 ※詳しくはPDF資料をご覧いただくか、お気軽にお問い合わせ下さい。
機能材料の性能評価、品質管理において重要な分析項目!不織布シートや膜材料の孔径、細孔分布の評価
不織布シートの最大孔径、細孔分布を、バブルポイント法を用いて 評価した例を紹介します。 試料を薬液に浸漬し空気圧を加えます。圧力を加え、シートに染み込んだ薬液の 表面張力に打ち勝ち、気泡の出現が生じたときの圧力をバブルポイントといいます。 最大孔径は、バブルポイントの圧力、薬液の表面張力を基に計算することが 可能です。 【計算式】 ■d=Cy/P ・d:最大孔径 ・C:定数 ・y:薬液の表面張力 ・P:差圧 ※詳しくはPDF資料をご覧いただくか、お気軽にお問い合わせ下さい。
高温化による接合部の信頼性を、評価方法,対策,開発の面から考え提案!
近年、パワーエレクトロニクスの進展やLEDの多方面での利用に伴い、 半導体やモジュール内はもちろん、そのPKGや抵抗のはんだ付け部も 高温になってきています。 このため、接合部の高温耐久性や使用温度範囲拡大による疲労破壊などの 故障増加が懸念されています。 当資料では、はんだ付け部が高温になることで促進される破壊や高温で 発生する新たな信頼性問題とされる現象について概説しています。 ぜひ、ご一読ください。 【掲載内容】 ■はんだ付け部の信頼性 ■はんだクラック ■エレクトロマイグレーション ■エレクトロケミカルマイグレーション(イオンマイグレーション) ■金属間化合物層の成長によるはんだ接続性の低下 ※詳しくはPDF資料をご覧いただくか、お気軽にお問い合わせ下さい。
リフロー時のプリヒート時間を変更し、はんだ溶融性を確認!
当社で行った「はんだ溶融性不良」の再現実験をご紹介いたします。 予想された不良原因はリフロー条件の不適で、リフロー時の プリヒート時間を変更し、はんだ溶融性を確認。 その結果、プリヒート時間の短縮により溶融性を改善できますが、 BGAでのボイドが増加。ボイドも割合が少なくはんだ溶融性が良好な プリヒート時間3minを提案しました。 【概要】 ■予想された不良原因:リフロー条件の不適(不良) ■不良再現実験:リフロー時のプリヒート時間を変更し、はんだ溶融性確認 ■結果 ・プリヒート時間の短縮により溶融性改善できるが、BGAでのボイド増加 ・ボイドも割合少なくはんだ溶融性が良好なプリヒート時間3minを提案 ※詳しくはPDF資料をご覧いただくか、お気軽にお問い合わせ下さい。
高性能評価設備の拡充により、様々な半導体材料の評価や高度化するニーズに対応!
株式会社クオルテックは、2025年1月、大阪府堺市津久野町に 「パワエレテクノセンター」を新規に設立します。 開設に向けて現在準備しており、2024年5月より改装工事を着工。 現在3か所に分散しているパワー半導体評価拠点を当センターに集約し、 効率化を図ると同時に、パワー半導体評価の更なる需要拡大に対応するため、 現行の1.5倍となるよう評価設備の増設を段階的に行います。 【当センターの取り組み】 ■パワー半導体評価技術の研究開発 ■パワー半導体評価の受託試験の増加に対応すべく、試験設備の拡充 ■ユーティリティの冗長化による安全・安心の試験業務システムの構築 ■先進セキュリティシステムによる顧客情報の機密管理 ※詳しくはPDF資料をご覧いただくか、お気軽にお問い合わせ下さい。
多数の有機ELデバイスの寿命及びIVL特性経時変化を測定評価する装置です。
LIFE & IVL経時変化測定装置「型式 ELS-100LV」は、多数の有機ELデバイスの寿命及びIVL特性経時変化を測定評価する装置です。 寿命評価測定とIVL測定の駆動を自動的に切り替えて測定を行います。 【特長】 ○発光素子の点灯状態の画像取得が可能 ○寿命測定 駆動電源:定電流/定電圧/定電流パルス 詳しくはお問い合わせ、またはカタログをダウンロードしてください。
複数の有機EL素子の点灯画像観察とIVL特性評価の基本システムです
多チャンネルIVL特性評価システム「型式 ELS-100V」は、多数の有機EL素子のIVL特性を自動的に測定評価する装置です。 測定状況はモニタにリアルタイムにグラフ化して表示されます。 【特長】 ○発光素子の点灯状態の画像取得が可能 ○駆動方式 →KEITHLAY2400での高精度な電流/電圧印加によるステップアップスイープ →電流値:1nA~(1A) →電圧値:1μV~(200V) 詳しくはお問い合わせ、またはカタログをダウンロードしてください。
フレキシブルデバイスに曲げ負荷を与えた時の、電気的/光学特性評価をします。
ELS-100FMは、フレキシブルデバイスに曲げ負荷を与えた時の、電気的特性と光学特性の評価が可能な装置です。 曲げ負荷駆動はロボシリンダーと専用コントローラ(ストロークと速度調整可能)、曲げ負荷はロボシリンダーの上下運動によって行います。 IV測定器は、ケースレーインスツルメンツ ソースメーター 2400。 分光放射輝度計は、コニカミノルタ CS-2000です。 【特徴】 ○電気的特性と光学特性の評価が可能 →フレキシブルデバイスに曲げ負荷を与えた時 ○曲げ負荷はロボシリンダーの上下運動で行なう ○測定項目 →曲げ回数―電流(mA)―電圧(V)―輝度(cd/m?)―スペクトル ※詳しくはお問い合わせ、またはカタログをダウンロードしてください。
低Δnから高Δn及びVAを含めて広範囲にカスタマイズします。
近年、液晶を応用した製品が多様化してきました。 AI搭載のARグラスやスマートグラス、高精度な産業用3Dカメラ(マッピング用)などの 周辺機器・部品としてLCosが活用されています。 またスクリーンや調光ガラスに適用されるPDLC、PNLCも開発が進められています。 そこで当社は研究開発のための少量液晶を御希望スペックで迅速に提供します。
総合化・集約化の時代に、ニーズ創出型企業を目指します。
株式会社西山製作所では研究開発・品質検査・品質管理・環境管理と様々な分野で活躍し続ける科学・物理・環境・医療機器を提供し続けています。 取扱製品としては、SOFC評価装置やガス雰囲気炉などに加湿されたガスを送るための装置「加湿器(バブラー)ユニット」、二桂化モリブデンヒーターと高品質なアルミナボード断熱材を使用した電気炉「雰囲気調整型高温電気炉 PART5」、高温にてセラミック材料の高抵抗を測定する装置「超高温絶縁特性評価装置(ガス雰囲気用)」、集電部分の改良にともない、集電効率を高める事が可能となった「SOFC型ボタン型セル耐久試験装置」、その他さまざまな機器をラインナップしています。 詳しくはお問い合わせ、またはカタログをご覧ください。
荷重調節機能付とチューブセル用の発電評価装置をご紹介!
『SOFC発電評価装置』製品カタログは、主に科学分析機器、環境試験機、 医療関連機器、OEM開発、特注開発機器、自動化機器の製造・販売を行っている 株式会社西山製作所の製品カタログです。 『SOFC発電評価装置』の荷重調節機能付とチューブセル用の詳細な仕様を 掲載しています。 【掲載製品】 ■荷重調節機能付『SOFC発電評価装置』 ■チューブセル用『SOFC発電評価装置』 ※詳しくはカタログをご覧頂くか、お気軽にお問い合わせ下さい。
SiPh/PIC開発を加速させる評価ソリューション
本製品群は、シリコンフォトニクス(SiPh)やフォトニック集積回路(PIC)などの開発における特性評価と不具合解析を、高速かつ高精度に実現する測定ソリューションです。 光電融合デバイス開発において重要なのは、「測定結果をいかに迅速に開発へフィードバックできるか」ということです。 各種光学特性を正確に評価し、課題を素早く特定することで、開発効率の向上に貢献します。 WDL特性やPDL特性だけでなく、OFDR技術を利用することによりデバイス内部の反射位置を測定し、損失発生箇所を特定することも可能です。 ※詳しくはPDFダウンロードより資料をご確認ください。お問い合わせもお気軽にどうぞ。
SCMによる特定箇所の拡散層評価
市販LSI 内MOSFETのSCM分析事例を紹介します。まず、特定のトランジスタの断面を機械研磨で露出します。この時、Si面はnm オーダーまで平坦に研磨されています。SCM像では層の分布が二次元的に確認できます。定量的な議論はできませんが、濃度の大小関係を大まかに知ることもできます。また、拡散層のp/n極性も識別可能です。さらに、同一箇所のSEM観察を行い、SCM分析結果と画像合成を行うことで、拡散層と上部配線構造との位置関係を明確にできます。
ITO表面プラズマ処理後のUPS分析
半導体デバイスでは、構成される各種材料の仕事関数の組み合わせにより、その性能が大きく左右されます。このため、表面処理や表面修飾等によって仕事関数を制御しようとする試みがなされており、それらの効果を検証することは重要です。 本資料では、有機ELや太陽電池等の電極材料として用いられるITO(SnドープIn2O3)について、表面プラズマ処理前後での仕事関数変化をUPS分析により評価した例をご紹介します。
詳細な状態評価と併せ、膜厚計算が可能
XPSでは試料表面の化学結合状態を評価することができ、波形解析により更に詳細な評価をすることが可能です。加えて、波形解析結果に仮定パラメータを用いることで、表面酸化膜等の膜厚を算出することも可能です。 本資料では、SiC表面の組成・状態評価を行うとともに、取得したピーク強度から酸化膜厚を算出した事例をご紹介します。
球体形状試料の評価事例
AES分析ではSEM観察機能が付随していることから、試料表面の特定箇所を測定することが可能です。 またサブμmの微小領域での測定が可能なため、基板等の平坦試料だけではなく、球体形状や湾曲形状の試料でも、曲率の影響を受けにくく、平坦試料と同様に特定箇所を狙って測定することができます。 以下は表面形状が異なる半田ボール表面の酸化膜厚を評価した事例です。
デバイス内部の構造を複合的に評価します
MSTでは電子デバイス内部の構造評価に適した技術を取り揃えており、観察視野や目的に応じた分析手法をご提案します。 本資料では、X線CTとFIB-SEMを用いてデバイスの特異箇所を調査した事例を紹介します。まずX線CTを用いてサンプル全体の内部構造を観察し、特異箇所を探索しました。続いて、ビア上に確認された特異的な構造物について、FIB-SEMを用いて詳細な構造を確認しました。