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デモ/分析受付中 動的光散乱式！測定原理としてヘテロダイン法、周波数解析法など先端技術を採用しました
広がるナノの世界において、これまでお客様に定評のあった UPAシリーズをさらに進化させ生まれたのが「NANOTRAC WAVE II」です。 測定原理としてヘテロダイン法、周波数解析法など先端技術を採用。 広範囲な濃度測定、高精度・高分解能を実現し、長年の経験の中で培われた 技術力と品質でナノに秘められた可能性をお客様にお届けします。 【特長】 ■測定原理（動的光散乱法：DLS） ■低濃度から高濃度まで安定したデータ ■ヘテロダイン法の採用 ■バックグラウンド測定 ■独自の周波数解析アルゴリズムの採用 ※詳しくはPDF資料をご覧いただくか、お気軽にお問い合わせ下さい。
多重散乱の効果を低減！サンプルのまま測定することが可能な粒子特性評価装置
日本カンタム・デザインの『LS Spectrometer』は、 洗練された、SLSやDLSに基づく粒子特性評価装置です。 データに与える多重散乱の寄与を省くために、革新的な 3Dクロスコリレーション技術を採用しており、サンプルを希釈する 必要はありません。 サンプル本来の状態のまま、粒径や形状・構造因子、分子量、回転 および並進拡散係数を測定することができます。 【特長】 ■SLSやDLSに基づく粒子特性評価装置 ■サンプルを希釈する必要がない ■サンプル本来の状態のまま測定することが可能 ■多重散乱の効果を低減するのに有効 ※詳しくはPDF資料をご覧いただくか、お気軽にお問い合わせ下さい。
50W〜10kWまでの太陽光発電システムのI-Vカーブ特性を測定する装置です。
太陽電池の性能を評価する上で重要な、電流-電圧特性(I-Vカーブ)を測定する装置で、100W以上の大型太陽電池モジュールから10kWまでの太陽光発電システムの性能評価に最適です。これまでのI-Vカーブトレーサーに比べて小型・軽量 (A4サイズ、2.8kg)で、しかも測定に際してはパソコンを必要とせず、本体に内蔵されたキーボードを操作するだけで、液晶ディスプレイにはI-VカーブやVoc、Isc、Pm等が表示されその場で性能評価することができるので、現場測定に極めて便利です。測定したデータは、内部メモリに70回分まで保存可能で、読出し／消去は自由なので、多くのデータを必要とされる場合も安心してご使用いただけます。太陽電池入力端子には四端子入力法を採用し、高い測定精度を確保つつ、人体に対する安全対策も十分に行っています。オプションのWindows98対応の計測・解析ソフトウェアを用いることで、テキスト保存や基準状態換算・自動連続測定にも対応できるようになります。
お客様のニーズに合わせてカスタマイズ可能な触媒評価装置です。
燃料電池用改質や脱硫、燃焼排ガス浄化用、有機合成等、いろいろな分野、用途での触媒開発実験に適した評価装置です。試験ガス供給、液体材料の気化供給等、様々な触媒反応条件の設定、データ処理等、お客様のニーズに適した技術・製品を提供いたします。 反応前後のガス成分分析は、ガスクロマトグラフなどのガス分析計を用いて、多成分ガスを同時に間欠連続分析いたします。
LEDの光学特性および電機特性を測定することが出来ます。
LED総合評価装置「ISD-300」は、分球とマルチチャンネル分光器を使用してLEDの光学特性および電機特性を 測定することが出来る装置です。３素子までのLEDを同時に点灯させて全光束、XY色度、相関色温度、演色評価数などが リアルタイムで表示が可能です。また、ペルチェ素子による温度制御を行って温度をパラメータに光学、電気特性データを 得ることが出来ます。詳しくはカタログをダウンロードしてください。
積分球とカロリーメーターを採用
寿命評価装置はハイパワーの長期通電を行い、耐久寿命を評価する装置です
米国主要企業への納入実績多数！ディスプレイの評価から、携帯・スマホのLCD/OLEDディスプレイの表示特性を高速検査
・輝度 ・コントラスト ・色度 ・色域 ・ガンマ ・クロストーク ・ユニフォーミティ ・応答速度 ・ちらつき ・電圧・電流測定(オプション) ・透過率(オプション) ・反射率（オプション）
正確に！迅速に！自動に！
赤外線の基準光源である黒体炉に、チョッパ、オシロスコープ、FFTアナライザなどの計測機器を組合わせることにより、赤外線センサの性能評価を行えます。豊富な知識と経験に基づいた、最適なシステム選定・構築を行います。また、ソフトウェアを使用した測定の自動化が可能。自社開発（VC++、LabView）で、細かなところまでカスタマイズに対応。ぜひご相談ください。
最大５０ＣＨの独立電源を採用！ 絶縁信頼性試験、評価試験装置
最大５０チャンネルまでの、高電圧での絶縁信頼性試験ができる、評価試験装置です。 ◆特徴◆ ◇最大３０００Ｖまでの高電圧出力 高電圧デバイスの評価が可能。 ◇独立電源を採用 １つのサンプルが短絡しても、他のサンプルが継続試験できます。 ◇多チャンネル 最大５０個 １筐体で５０個までのサンプル評価ができるため、 デバイス評価の効率が格段に向上します。 ◇過酷な環境に強い専用計測ケーブル テフロン皮膜ケーブルの採用で、恒温恒湿槽内へ 直接ケーブルを挿入しての試験も行えます。 ※詳細は資料請求またはダウンロードからお問い合わせください。
高精度なアナログ計測回路で試験サイクル初期からの微小変化の検出も可能！
『RTm-100シリーズ』は、回路パターン、はんだ接合部等の導通抵抗を 高速、高精度に計測する装置です。 当シリーズの高性能計測回路はミリΩ未満の導通抵抗の変化を正確に とらえ、ヒートショックチャンバーと組み合わせ、温度サイクルに 連動したデータ計測が可能です。 更に、半導体リレーによる高速スキャン機能により、サイクル時間の 短い試験にも十分に追従し、各サイクルに対して計測のタイミングが ずれる事もありません。 【特長】 ■最大50msec/CH の高速データ計測を実現 ■半導体リレー採用で計測精度を向上 ■専用計測回路、専用ケーブルによりノイズ低減 ■マルチ電流源によるAC/DC 印加計測 ■モジュール構造で容易な保守性を実現 ※詳しくはPDF資料をご覧いただくか、お気軽にお問い合わせ下さい。
【デモ可能】化合物半導体材料の組成比の評価も可能！非接触・非破壊でエピ膜を含む薄膜の膜厚値を精度良く測定
『分光エリプソメーター』は、非接触・非破壊でエピ膜を含む薄膜の膜厚値、 屈折率、消衰係数を精度良く測定する薄膜評価装置です。 化合物半導体材料の組成比の評価も可能。 主な評価・測定項目は、“薄膜の膜厚値”、“エピ膜厚値”、“屈折率”、 “消衰係数”、“化合物半導体の組成比”、“ドーパント濃度”です。 【主な評価・測定項目】 ■薄膜の膜厚値 ■エピ膜厚値 ■屈折率、消衰係数 ■化合物半導体の組成比 ■ドーパント濃度 装置の仕様や価格については、お気軽にお問い合わせ下さい。 ※デモの実施も可能です。ご希望の方は、下記お問い合わせボタンより”デモ希望”と記載ください。
有機OED作製・評価装置
特徴 ・小スペース、コンパクト設計 ・蒸着セル最大5本取付可能 ・基盤サイズ1〜3インチと幅広く選択可能 ・コンタミを防ぐ2重シールド構造 ・基盤加熱ヒターコントロール機構標準装備 メンテナンス・クリーニングの簡単設計
界面せん断強度・接触角を測定！マイクロドロプレット法による複合材界面特性評価装置
『MODEL HM410』は、マイクロドロップレット法を用いた繊維と樹脂界面の せん断強度測定と接触角測定ができる複合材界面特性評価装置です。 任意の温度環境下で極細単遷移に液状樹脂を付着させ、 その形状を撮影し、画像から接触角を求めます。 同時に同一サンプルを使って引抜試験を行い、その時の引抜荷重から、 遷移と樹脂の界面せん断強度を測定します。 【特長】 ■マイクロドロプレット法を用いた評価装置 ■画像から接触角を測定 ■引抜荷重から遷移と樹脂の界面せん断強度を測定 ※詳しくはPDF資料をご覧いただくか、お気軽にお問い合わせ下さい。
