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高温化による接合部の信頼性を、評価方法，対策，開発の面から考え提案！
近年、パワーエレクトロニクスの進展やLEDの多方面での利用に伴い、 半導体やモジュール内はもちろん、そのPKGや抵抗のはんだ付け部も 高温になってきています。 このため、接合部の高温耐久性や使用温度範囲拡大による疲労破壊などの 故障増加が懸念されています。 当資料では、はんだ付け部が高温になることで促進される破壊や高温で 発生する新たな信頼性問題とされる現象について概説しています。 ぜひ、ご一読ください。 【掲載内容】 ■はんだ付け部の信頼性 ■はんだクラック ■エレクトロマイグレーション ■エレクトロケミカルマイグレーション（イオンマイグレーション） ■金属間化合物層の成長によるはんだ接続性の低下 ※詳しくはPDF資料をご覧いただくか、お気軽にお問い合わせ下さい。
リフロー時のプリヒート時間を変更し、はんだ溶融性を確認！
当社で行った「はんだ溶融性不良」の再現実験をご紹介いたします。 予想された不良原因はリフロー条件の不適で、リフロー時の プリヒート時間を変更し、はんだ溶融性を確認。 その結果、プリヒート時間の短縮により溶融性を改善できますが、 BGAでのボイドが増加。ボイドも割合が少なくはんだ溶融性が良好な プリヒート時間3minを提案しました。 【概要】 ■予想された不良原因：リフロー条件の不適(不良) ■不良再現実験：リフロー時のプリヒート時間を変更し、はんだ溶融性確認 ■結果 ・プリヒート時間の短縮により溶融性改善できるが、BGAでのボイド増加 ・ボイドも割合少なくはんだ溶融性が良好なプリヒート時間3minを提案 ※詳しくはPDF資料をご覧いただくか、お気軽にお問い合わせ下さい。
高性能評価設備の拡充により、様々な半導体材料の評価や高度化するニーズに対応！
株式会社クオルテックは、2025年1月、大阪府堺市津久野町に 「パワエレテクノセンター」を新規に設立します。 開設に向けて現在準備しており、2024年5月より改装工事を着工。 現在3か所に分散しているパワー半導体評価拠点を当センターに集約し、 効率化を図ると同時に、パワー半導体評価の更なる需要拡大に対応するため、 現行の1.5倍となるよう評価設備の増設を段階的に行います。 【当センターの取り組み】 ■パワー半導体評価技術の研究開発 ■パワー半導体評価の受託試験の増加に対応すべく、試験設備の拡充 ■ユーティリティの冗長化による安全・安心の試験業務システムの構築 ■先進セキュリティシステムによる顧客情報の機密管理 ※詳しくはPDF資料をご覧いただくか、お気軽にお問い合わせ下さい。
多数の有機ELデバイスの寿命及びIVL特性経時変化を測定評価する装置です。
LIFE & IVL経時変化測定装置「型式 ELS-100LV」は、多数の有機ELデバイスの寿命及びIVL特性経時変化を測定評価する装置です。 寿命評価測定とIVL測定の駆動を自動的に切り替えて測定を行います。 【特長】 ○発光素子の点灯状態の画像取得が可能 ○寿命測定 駆動電源：定電流／定電圧／定電流パルス 詳しくはお問い合わせ、またはカタログをダウンロードしてください。
複数の有機ＥＬ素子の点灯画像観察とＩＶＬ特性評価の基本システムです
多チャンネルIVL特性評価システム「型式 ELS-100V」は、多数の有機EL素子のIVL特性を自動的に測定評価する装置です。 測定状況はモニタにリアルタイムにグラフ化して表示されます。 【特長】 ○発光素子の点灯状態の画像取得が可能 ○駆動方式 →KEITHLAY2400での高精度な電流／電圧印加によるステップアップスイープ →電流値：1nA～(1A) →電圧値：1μV～(200V) 詳しくはお問い合わせ、またはカタログをダウンロードしてください。
フレキシブルデバイスに曲げ負荷を与えた時の、電気的/光学特性評価をします。
ELS-100FMは、フレキシブルデバイスに曲げ負荷を与えた時の、電気的特性と光学特性の評価が可能な装置です。 曲げ負荷駆動はロボシリンダーと専用コントローラ(ストロークと速度調整可能)、曲げ負荷はロボシリンダーの上下運動によって行います。 IV測定器は、ケースレーインスツルメンツ ソースメーター 2400。 分光放射輝度計は、コニカミノルタ CS-2000です。 【特徴】 ○電気的特性と光学特性の評価が可能 →フレキシブルデバイスに曲げ負荷を与えた時 ○曲げ負荷はロボシリンダーの上下運動で行なう ○測定項目 →曲げ回数―電流(mA)―電圧(V)―輝度(cd/m?)―スペクトル ※詳しくはお問い合わせ、またはカタログをダウンロードしてください。
加熱ができてグローブボックスに入る小型モデル！有機薄膜デバイスの検証用途に
『MHL-50』は、250mm四方に収まる小型サイズで 120℃までの加熱に対応したヒートロール型ラミネーター。 グローブボックスなどの特殊環境機器内でも使用でき、 有機薄膜デバイスの研究開発・プロトタイプ製造などに活用できます。 ただいま、基本性能の検証など、有機ELの評価・関連装置を掲載した 総合カタログを進呈中です！下記「ダウンロード」よりご覧いただけます。 【特長】 ■50～120℃の温度調整が可能 ■250(W)×250(D)×180(H)mmの小型卓上サイズ ■100V電源で使用可能 ■20□mm～40□mmの任意のサイズ1種類の試料台を付属 ※詳しくはカタログをご覧下さい。お問い合わせもお気軽にどうぞ。
総合化・集約化の時代に、ニーズ創出型企業を目指します。
株式会社西山製作所では研究開発・品質検査・品質管理・環境管理と様々な分野で活躍し続ける科学・物理・環境・医療機器を提供し続けています。 取扱製品としては、SOFC評価装置やガス雰囲気炉などに加湿されたガスを送るための装置「加湿器（バブラー）ユニット」、二桂化モリブデンヒーターと高品質なアルミナボード断熱材を使用した電気炉「雰囲気調整型高温電気炉 PART5」、高温にてセラミック材料の高抵抗を測定する装置「超高温絶縁特性評価装置（ガス雰囲気用）」、集電部分の改良にともない、集電効率を高める事が可能となった「SOFC型ボタン型セル耐久試験装置」、その他さまざまな機器をラインナップしています。 詳しくはお問い合わせ、またはカタログをご覧ください。
荷重調節機能付とチューブセル用の発電評価装置をご紹介！
『SOFC発電評価装置』製品カタログは、主に科学分析機器、環境試験機、 医療関連機器、OEM開発、特注開発機器、自動化機器の製造・販売を行っている 株式会社西山製作所の製品カタログです。 『SOFC発電評価装置』の荷重調節機能付とチューブセル用の詳細な仕様を 掲載しています。 【掲載製品】 ■荷重調節機能付『SOFC発電評価装置』 ■チューブセル用『SOFC発電評価装置』 ※詳しくはカタログをご覧頂くか、お気軽にお問い合わせ下さい。
同一箇所における抵抗分布と結晶粒・結晶粒界評価
SSRMでは局所抵抗に関する知見を、EBSDでは結晶粒・粒界に関する知見を得ることができます。 EBSD測定と同一箇所でSSRM 測定を行うことで、結晶粒界部を含んだ領域の局所抵抗を測定しましたので紹介いたします。
サンプルを冷却しセパレータの形状をより正確に評価
電池の主要構成材料であるセパレータは、この材料の多孔性・形状等が電池の特性・安全性を左右します。現在主流のポリエチレン(PE)、ポリプロピレン(PP)、あるいはその複合材料等高分子系材料は軟化点が低くPEでは125℃程度、PPでは155℃程度となります。軟化点の低いPP製のセパレータ構造観察において、試料の冷却を行って変質を抑えて評価した事例をご紹介します。
球体形状試料の評価事例
AES分析ではSEM観察機能が付随していることから、試料表面の特定箇所を測定することが可能です。 またサブμｍの微小領域での測定が可能なため、基板等の平坦試料だけではなく、球体形状や湾曲形状の試料でも、曲率の影響を受けにくく、平坦試料と同様に特定箇所を狙って測定することができます。 以下は表面形状が異なる半田ボール表面の酸化膜厚を評価した事例です。
高分解能測定と波形解析を利用してc-Siとa-Siの状態別定量が可能
半導体の製造工程において表面改質を目的としたイオン照射を行うことがあります。その中で、単結晶 Si表面に不活性元素のイオンを照射することで構造の損傷が生じ、アモルファス層が形成されることが 知られています。 高分解能なXPSスペクトルではc(単結晶)-Siとa(アモルファス)-Siが異なったピーク形状で検出されること を利用して、この損傷由来のa-Siをc-Siと分離して定量評価した事例をご紹介します。
![[AFM-MA・DMA]機械特性評価(弾性率・動的粘弾性率)](https://image.mono.ipros.com/public/product/image/0ec/2001512502/IPROS15276089049362651398.jpg?w=280&h=280)
AFM-MA、AFM-DMAは硬さに関して知見を得ることが可能な分析です。
AFMの計測技術であるフォースカーブに対して各計算モデルからフィッティングを行い、弾性および粘弾性データを取得します。 ? DMA試験機およびナノインデンターと整合性のあるデータを微小領域で測定可能 ? 10KPa から100Gpa と様々な硬さの材料に適用可能 ? 弾性体モデル（DMT、Hertz、JKR）および粘弾性体モデルによるフィッティングが可能 ? 上記モデルによる弾性率、粘弾性率マッピングが可能 ? 各分析点における周波数依存性(0.1～20kHz) を評価可能 ? 温度変化（室温～250℃）による測定が可能
