評価装置のメーカーや取扱い企業、製品情報、参考価格、ランキングをまとめています。
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評価装置 - メーカー・企業106社の製品一覧とランキング | イプロスものづくり

更新日: 集計期間:2026年02月04日~2026年03月03日
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評価装置のメーカー・企業ランキング

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  1. 株式会社西山製作所 大阪府/その他
  2. マイクロトラック・ベル株式会社 大阪府/試験・分析・測定
  3. 東和電気株式会社 東京都/電子部品・半導体
  4. 4 システム技研株式会社 神奈川県/試験・分析・測定
  5. 5 地方独立行政法人東京都立産業技術研究センター 東京都/公益・特殊・独立行政法人

評価装置の製品ランキング

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  1. 科学・物理機器 燃料電池評価装置 株式会社西山製作所
  2. 貴社部品は「液浸冷却対応」ですか?卓上評価POC装置でチェック! 東和電気株式会社
  3. 都産技研 ヘルスケア産業支援室(SUSCARE(サスケア)) 地方独立行政法人東京都立産業技術研究センター
  4. 4 ハイスループットタンパク質安定性評価装置 Aunty DKSHマーケットエクスパンションサービスジャパン株式会社 テクノロジー事業部門
  5. 5 潤滑油寿命評価装置『RULER』 株式会社プラントサービス

評価装置の製品一覧

121~150 件を表示 / 全 226 件

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太陽光モジュール性能評価装置 IVCTシリーズ

ペロブスカイト太陽電池対応のIVカーブトレーサーです!

IVCTシリーズは、太陽光モジュールの開発・生産工程における動作検証から出荷検査まで幅広く活用できる測定装置です。非対称バイポーラ電源による広領域での高精度なI-Vカーブ測定を実現します。 【特長】 ・非対称バイポーラ電源による全領域のI-Vカーブ測定  高精度な制御が可能な非対称バイポーラ電源を搭載し、広範囲のI-V特性を安定して取得可能。 ・安定した計測を実現するディレイ機能  ディレイ時間により、モジュール特性が安定した段階で測定することで、信頼性の高いデータを取得可能。 ・用途に合わせて選べる4モデル(IVCT-150/200/300/500)  定格出力 150V/4A~500V/1.25Aのラインナップで、研究用途から量産ラインまで柔軟に対応。  (※定格出力はカスタマイズに対応) ・専用アプリケーションで詳細な計測が可能  I-Vカーブの測定結果をグラフ表示(3象限の測定結果)。  取得したVoc、Isc、Pmax、Vpm、Ipm、FF、温度(オプション)をCSV形式でログ出力。

  • その他電子計測器
  • 評価装置

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触媒評価装置 RCATシリーズ

お客様のニーズに合わせてカスタマイズ可能な触媒評価装置です。

燃料電池用改質や脱硫、燃焼排ガス浄化用、有機合成等、いろいろな分野、用途での触媒開発実験に適した評価装置です。試験ガス供給、液体材料の気化供給等、様々な触媒反応条件の設定、データ処理等、お客様のニーズに適した技術・製品を提供いたします。 反応前後のガス成分分析は、ガスクロマトグラフなどのガス分析計を用いて、多成分ガスを同時に間欠連続分析いたします。

  • 自動車触媒評価試験装置
  • 分析機器・装置
  • 評価装置

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LED総合評価装置 「ISD-300」

LEDの光学特性および電機特性を測定することが出来ます。

LED総合評価装置「ISD-300」は、分球とマルチチャンネル分光器を使用してLEDの光学特性および電機特性を 測定することが出来る装置です。3素子までのLEDを同時に点灯させて全光束、XY色度、相関色温度、演色評価数などが リアルタイムで表示が可能です。また、ペルチェ素子による温度制御を行って温度をパラメータに光学、電気特性データを 得ることが出来ます。詳しくはカタログをダウンロードしてください。

  • その他検査機器・装置
  • 評価装置

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ハイパワーLD I.V.L.λ.FFP自動計測装置/寿命評価装置

積分球とカロリーメーターを採用

寿命評価装置はハイパワーの長期通電を行い、耐久寿命を評価する装置です

  • その他計測・記録・測定器
  • 評価装置

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IVL特性評価装置

お客様の目的に併せ、自動計測系をカスタムで構築いたします

有機ELデバイスの電気発光特性(IVL特性)を自動計測する装置です

  • その他計測・記録・測定器
  • 評価装置

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L-T自動評価装置(寿命評価装置)

素子、材料評価の現場での高い評価のスタンダードモデル

有機EL素子の耐久寿命の自動計測を目的とした装置です

  • その他計測・記録・測定器
  • 評価装置

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ペロブスカイト太陽電池耐久性評価装置『PAS-100』

LED駆動回路は4ch制御が可能で!TEGに合わせてLED基板を設計します

『PAS-100』は、デバイス毎にペルチェ素子式温調機構を採用し、 個別温調が可能なペロブスカイト太陽電池耐久性評価装置です。 Voc,Isc,IV曲線,Jsc,Pmax,FF.Rs,Rshを計測および算出し グラフ化やCSVファイルを出力。 ペロブスカイト太陽電池の特性評価や耐久性評価を多チャンネルで行え 材料研究開発を加速させます。 【特長】 ■LED光源で1SUN相当の長時間連続評価が可能 ■デバイス毎の個別温調と温度ステップ機能 ■高い拡張性と引き出し式で省スペース ※詳しくはPDFをダウンロードしていただくか、お気軽にお問い合わせください。

  • その他計測・記録・測定器
  • 電池・バッテリー
  • 評価装置

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システム技研株式会社 Product Catalog 2024

活力ある先端電子デバイス業界でお客様のニーズにお応えする評価装置、技術の提供を目指しております!

当カタログは、当社の治具設計技術、ソフトウエアなどを掲載している Product Catalogです。 各デバイスを個別に高精度温調できる「EAS-10シリーズ デバイス別温調タイプ」や、 拡張性と省スペースが特長の「EAS-62シリーズ 温調無しカセットタイプ」をご紹介。 また、有機EL寿命評価装置や、EMC対策技術についても掲載しております。 是非、ご一読ください。 【掲載内容(一部)】 ■ワンストップサービス ■主な活動領域 ■ソフトウエア ■治具設計技術 ■環境温度の影響無く高精度に計測 ※詳しくはPDFをダウンロードしていただくか、お気軽にお問い合わせください。

  • その他計測・記録・測定器
  • 治具
  • 有機EL
  • 評価装置

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小型ディスプレイ評価装置

米国主要企業への納入実績多数!ディスプレイの評価から、携帯・スマホのLCD/OLEDディスプレイの表示特性を高速検査

・輝度 ・コントラスト ・色度 ・色域 ・ガンマ ・クロストーク ・ユニフォーミティ ・応答速度 ・ちらつき ・電圧・電流測定(オプション) ・透過率(オプション) ・反射率(オプション)

  • 有機EL
  • 液晶ディスプレイ
  • その他検査機器・装置
  • 評価装置

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高電圧絶縁信頼性評価装置 HVU-3000

最大50CHの独立電源を採用! 絶縁信頼性試験、評価試験装置

最大50チャンネルまでの、高電圧での絶縁信頼性試験ができる、評価試験装置です。 ◆特徴◆ ◇最大3000Vまでの高電圧出力  高電圧デバイスの評価が可能。 ◇独立電源を採用  1つのサンプルが短絡しても、他のサンプルが継続試験できます。 ◇多チャンネル 最大50個  1筐体で50個までのサンプル評価ができるため、  デバイス評価の効率が格段に向上します。 ◇過酷な環境に強い専用計測ケーブル  テフロン皮膜ケーブルの採用で、恒温恒湿槽内へ  直接ケーブルを挿入しての試験も行えます。 ※詳細は資料請求またはダウンロードからお問い合わせください。

  • 試験機器・装置
  • 受託測定
  • 電子負荷装置
  • 評価装置

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多CH導通信頼性評価装置『RTm-100シリーズ』

高精度なアナログ計測回路で試験サイクル初期からの微小変化の検出も可能!

『RTm-100シリーズ』は、回路パターン、はんだ接合部等の導通抵抗を 高速、高精度に計測する装置です。 当シリーズの高性能計測回路はミリΩ未満の導通抵抗の変化を正確に とらえ、ヒートショックチャンバーと組み合わせ、温度サイクルに 連動したデータ計測が可能です。 更に、半導体リレーによる高速スキャン機能により、サイクル時間の 短い試験にも十分に追従し、各サイクルに対して計測のタイミングが ずれる事もありません。 【特長】 ■最大50msec/CH の高速データ計測を実現 ■半導体リレー採用で計測精度を向上 ■専用計測回路、専用ケーブルによりノイズ低減 ■マルチ電流源によるAC/DC 印加計測 ■モジュール構造で容易な保守性を実現 ※詳しくはPDF資料をご覧いただくか、お気軽にお問い合わせ下さい。

  • 試験機器・装置
  • 受託測定
  • その他
  • 評価装置

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3Dプロフィロメーター技術資料 ポリマーコート・ガラスの摩耗試験

「ポリマーコート・ガラスのナノレベル摩耗試験」のpdf資料です。詳細はダウンロードして御覧ください。

技術の新たな進歩により、事実上すべての業界にわたってコンポーネントのサイズとその表面特性が繊細化する方向へ変化 し続けています。特に、生物医学およびマイクロエレクトロニクスのコンポーネントと、それらの表面相互作用を理解する ことにおいて顕著です。繊細な表面構造の精度を必要とする産業にとっては、材料表面の変化を理解し、意図した表面相互 作用を提供することが極めて重要です。繊細になったコンポーネントの表面やそのサイズにより、これまでのトライボロ ジー(摩擦学的)研究が困難になり、新しく適切な摩耗/摩擦結果の必要性が研究はもちろん、品質管理目的でも必要になり ました。したがって、より小さな負荷およびより小さな用途での摩耗/摩擦による表面の相互作用を確実に計測する必要性が 高まっています。

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3Dプロフィロメーター技術資料 CADモデルと加工品との照合検証

「CADモデルと加工品との照合検証」のpdf資料です。詳細はダウンロードして御覧ください。

複雑なジオメトリを有する形状部品を生み出す精密機械加工の要求はさまざまな業界で飛躍的に増加しています。例えば、 航空宇宙、医療、自動車からテクノロジー部品まで、さらに機械や楽器など、絶え間ない革新と精度への要求が新たな技術 を進化させています。その結果、加工された製品を厳密に検査し、設計どおりに仕上がっているかの高度な品質検査技術の 確立が必要不可欠になりました。

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3Dプロフィロメーター技術資料 マイクロサイズ「球体粒子」の実測

「マイクロサイズ「球体粒子」の実測」のpdf資料です。詳細はダウンロードして御覧ください。

マイクロスフィア(マイクロ球体)という用語は、材料科学や薬学など様々な分野で広く用いられており、直径がマイクロ メートル単位(1μm~1000μm(1mm))の様々な天然・合成材料からなる球状粒子を指します。マイクロスフィアは固体 および中空形態で製造され、プラスチックやガラスなど多様な材料で開発されています。中空マイクロスフィアは、材料の 密度を低下させる添加剤として使用されることが多い。固体マイクロスフィアは、構成材料やサイズに応じて数多くの用途 を持っています。マイクロスフィアは微粒子の一種です。

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表面検査技術資料 ポリカーボネイトレンズの諸特性

「ポリカーボネイトレンズの諸特性」のpdf資料です。詳細はダウンロードして御覧ください。

ポリカーボネートレンズは多くの光学用途で広く使用されています。その高い耐衝撃性、軽量性、大量生産時の低コストな どの利点により、様々な用途において従来のガラスよりも実用性が高くなっています。様々な用途の中には、安全性(例: 保護眼鏡)、複雑性(例:フレネルレンズ)、耐久性(例:交通信号レンズ)といった基準が求められるものがあり、プラ スチックを使用しなければ満たすのが困難な場合があります。十分な光学特性を維持しつつ、多くの要件を低コストで満た す能力が、プラスチックレンズをこの分野で際立たせています。しかし、ポリカーボネートレンズにも限界があります。消 費者の主な懸念は、傷が付きやすい点にあります。これを補うため、耐傷性コーティングを施す追加加工が行われます。ナ ノベアは、当社の3つの計測機器(プロフィロメーター、トライボメーター、インデンター)を活用し、ポリカーボネートレ ンズの重要な諸特性について検証します。

  • 探傷試験
  • 光学顕微鏡
  • その他検査機器・装置
  • 評価装置

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FRP材料評価・構造物AE診断

各工程のAE信号を解析することで、その破壊挙動を評価することができます!

『FRP材料評価・構造物AE診断』をご紹介します。 材料破壊現象における各工程のAE信号を解析(AE振幅値・持続時間) することで、その破壊挙動を評価することができます。 ご用命の際はお問い合わせください。 ※詳しくは関連リンクページをご覧いただくか、お気軽にお問い合わせ下さい。

  • 探傷試験
  • 試験機器・装置
  • その他検査機器・装置
  • 評価装置

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薄膜評価装置『分光エリプソメーター』

【デモ可能】化合物半導体材料の組成比の評価も可能!非接触・非破壊でエピ膜を含む薄膜の膜厚値を精度良く測定

『分光エリプソメーター』は、非接触・非破壊でエピ膜を含む薄膜の膜厚値、 屈折率、消衰係数を精度良く測定する薄膜評価装置です。 化合物半導体材料の組成比の評価も可能。 主な評価・測定項目は、“薄膜の膜厚値”、“エピ膜厚値”、“屈折率”、 “消衰係数”、“化合物半導体の組成比”、“ドーパント濃度”です。 【主な評価・測定項目】 ■薄膜の膜厚値 ■エピ膜厚値 ■屈折率、消衰係数 ■化合物半導体の組成比 ■ドーパント濃度 装置の仕様や価格については、お気軽にお問い合わせ下さい。 ※デモの実施も可能です。ご希望の方は、下記お問い合わせボタンより”デモ希望”と記載ください。

  • 分析機器・装置
  • 分光分析装置
  • 膜厚計
  • 評価装置

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8インチウェハ対応タイプ CVmap92 A/B

8インチウェハ対応タイプ

再現性、安全性に非常に優れた水銀プローブ方式を用いたCV/IV測定システムです。 Si、化合物、SOI、SiC、バルクウェハといった様々なタイプのウェハ特性を測定できます。 ユーザが最大49箇所の測定サイトを指定し、C-V、I-V特性、TDDB、Vbd、Qbdの酸化膜破壊評価、Dit、ドーピング濃度、酸化膜厚、Low-k、High-k等のマッピング測定が可能なトータルシステムです。

  • その他環境分析機器
  • 評価装置

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有機OED作製・評価装置

有機OED作製・評価装置

特徴 ・小スペース、コンパクト設計 ・蒸着セル最大5本取付可能 ・基盤サイズ1〜3インチと幅広く選択可能 ・コンタミを防ぐ2重シールド構造 ・基盤加熱ヒターコントロール機構標準装備 メンテナンス・クリーニングの簡単設計

  • 分析機器・装置
  • その他環境分析機器
  • その他実験器具・容器
  • 評価装置

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最大電力ポイント・変換効率の推移観測が可能な"太陽電池評価装置"

1クリックで指圧電圧での電流の推移を観測!最大電力追跡機能により次世代太陽電池開発の高効率化を。研究分野で積極採用【デモ機あり】

『PV Power Analyzer(VK‐PA- 300)』は、太陽光発電素子の電流電圧特性評価などの研究開発用機能を装置内に内蔵した太陽電池評価装置です。 モジュール化した太陽光発電素子対応(10V/3A)しているほか、最大電力追跡機能(MPPT)があるため、異なるポイント(電圧)・方向からの最大電力ポイントへの到達する様子を見ることができます。 【特長】 ■ 最大電力ポイントに到達後の、パワー/電流/電圧/変換効率の推移の表示 ■ ワンクリックで「解放電圧(Voc)」、「短絡電流(Isc)を測定 ■ 短時間での効果的な評価 ※デモ貸出をご希望の方はお問い合わせください。 ※製品詳細はPDFご覧ください。

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複合材界面特性評価装置『MODEL HM410』

界面せん断強度・接触角を測定!マイクロドロプレット法による複合材界面特性評価装置

『MODEL HM410』は、マイクロドロップレット法を用いた繊維と樹脂界面の せん断強度測定と接触角測定ができる複合材界面特性評価装置です。 任意の温度環境下で極細単遷移に液状樹脂を付着させ、 その形状を撮影し、画像から接触角を求めます。 同時に同一サンプルを使って引抜試験を行い、その時の引抜荷重から、 遷移と樹脂の界面せん断強度を測定します。 【特長】 ■マイクロドロプレット法を用いた評価装置 ■画像から接触角を測定 ■引抜荷重から遷移と樹脂の界面せん断強度を測定 ※詳しくはPDF資料をご覧いただくか、お気軽にお問い合わせ下さい。

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液晶パネルのTFT特性評価

性能確認のための良品特性測定、不良特性測定や信頼性評価をすることが出来ます!

当社では、液晶パネルにおいて特定のTFTに対し、性能確認のための 良品特性測定、不良特性測定や信頼性評価をすることが出来ます。 「TFTの各温度での電気特性測定」では、表示状態のモニターを解体し、 パネル内の画素TFTに対して、電気特性測定が可能。 「DCバイアスストレス試験」では、Gate,Drainに任意のDCバイアスを印加し TFTにストレスを与えたときのVthシフトを測定し、信頼性確認を行います。 【特長】 <TFTの各温度での電気特性測定> ■パネル内の画素TFTに対して電気特性測定が可能 ■アニール前後、光照射、加温や冷却下で測定できる ■測定結果からIon、Ioff、Vth、移動度の指標を算出 ■良品解析での実力値の確認や不良原因の解明を行う ※詳しくはPDF資料をご覧いただくか、お気軽にお問い合わせ下さい。

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イーエッチシーの新技術!評価セルのギャップ範囲拡大に成功!

研究者の方必見!評価セルのギャップ範囲が0.7~100μmに拡大しました!【1万種類以上】

液晶材料その他先端材料の研究用ツールに最適です。 当社の技術向上により、評価セルのギャップ範囲の拡大に成功しました! 今まで、2~50μmの範囲での測定しかできませんでしたが、 業界では難しいとされていた、0.7~2μm、50~100μmの測定が可能になりました。 また、±0.2μmでの指定も可能になり、細かなニーズにお答えできます。 商品分類は1万種類以上に及び、ニーズに合わせてカスタマイズいたします。 【掲載内容】 ○表示例と表示記号の説明 ○タイプ別配向組図 ○価格表 ○ガラス基板 ●詳しくはお問い合わせ、またはカタログをダウンロードしてください。

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OLED恒温恒湿環境評価装置 ELS-100A

有機ELディスプレイデバイスを恒温恒湿環境下で発光させて、輝度及び発光画面画像の加速試験を行いCSV出力ができる評価装置です。

ELS-100Aは有機ELデバイスの耐環境試験評価を効率的に行う装置です。恒温恒湿装置内部にOLEDデバイスの発光ユニットを設置して、環境制御部天面の高透過ガラスを通して自動測定します。標準仕様は4CHでボトムエミッション/トップエミッション兼用治具にOLEDデバイスを装着します。多数の納入実績と確かな評価のある定電流制御システムと信頼性のある輝度計により温度と湿度の加速試験及び発光状態の記録を行いCSVファイル出力を行います。

  • その他半導体製造装置
  • 評価装置

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評価装置 SOFC型燃料電池評価装置

固体酸化物燃料電池を測定!

西山製作所より「SOFC型燃料電池評価装置」のご案内です。

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SOFC発電評価装置 荷重調節機能付/チューブセル用

電極荷重機構にて集電が容易/チューブセルサイズを任意に変更可能

荷重調節機能付SOFC発電評価装置は、電極荷重機構にて集電が容易になりました。テーパーガイドリンク付でセンターあわせが簡単です。下部のハンドルを回すことで荷重を調節できます。調節範囲は50Nまでです。 チューブセル用SOFC発電評価装置は、セル保持管の内側に燃料を流しセルの外側の空気と反応をさせる装置です。変換アダプターでチューブセルサイズを任意に変更できます。 詳しくはお問い合わせ、またはカタログをご覧ください。

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【分析事例】有機EL素子の層構造評価

雰囲気制御下で前処理を行うことで酸化劣化を防いだ分析が可能です

雰囲気制御下で有機EL素子の切削加工を行い、各層の定性スペクトルを抽出した結果を示します。 有機EL素子を雰囲気制御下において切削加工を行うことで、より真の状態に近い各層のスペクトルを取得することができました。

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【分析事例】結晶Si太陽電池の拡散層評価

ドーパントの定量評価およびキャリアの分布評価

裏面電極型結晶Si太陽電池(バックコンタクト型Si太陽電池)において、電極直下のドーパントの濃度分布を定量的に評価した事例をご紹介します。また、キャリアの分布評価を行うことで、p/nの極性判定や空乏層を断面方向から可視化することが可能です。

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【分析事例】結晶Si太陽電池のキャリア分布評価

表面凹凸のあるサンプルでのキャリア拡散層の均一性評価

BSF型結晶Si太陽電池について、表面側テクスチャ部および裏面側BSF部のキャリア拡散層分布をSCMにて評価した事例を紹介いたします。テクスチャ部では表面凹凸に沿ってpn接合が形成されているのに対し、BSF部ではキャリア分布に途切れがあり不均一であることが確認できます。

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【分析事例】パワーデバイスのキャリア濃度分布評価

ドーパントの活性化率に関する評価が可能

SRA(Spreading Resistance Analysis)はサンプルを斜め研磨し、その研磨面に2探針を接触させ、広がり抵抗を測定する手法です(図1)。 キャリア濃度分布を評価することで、ドーパントの活性化状況についての知見を得ることが可能です。 一例として、パッケージ開封後のダイオードチップ表面中央部と外周部(図2)についてSRAを行った事例をご紹介します。

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