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顕微鏡(表面分析) - メーカー・企業と製品の一覧

更新日： 集計期間:2025年08月20日～2025年09月16日
※当サイトの各ページの閲覧回数を元に算出したランキングです。

顕微鏡の製品一覧

16～30 件を表示 ／ 全 40 件

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電界イオン顕微鏡装置（FIM）

電界イオン顕微鏡装置（FIM）

電界イオン顕微鏡装置（FIM）

●特徴 電解イオン顧微鏡（FIM：Field Ion Microscope）は鋭く尖った金属針先端の表面原子像を容易に観察できる投影型の顕微鏡で1951年にペンシルバニア州立大学のErwin E. Mueller教授により発明されました。本装置は、超高真空の環境の中で、試料としてセットした金属tip（探針）の電圧を除々に大きくしていくことで、スクリ−ンにFIM像を出現させ、針状の試料表面原子の凹凸を100万倍程度に拡大した像を肉眼で観察できるイオン検出形表面分析装置です。 同時にtipに電圧が印加されることで先端部分の表面に付着している不純物を取り除くクリーニング効果が得られます。 さらにtipに印加する電圧を大きくすることで電界蒸発を行わせ、原子を個々にはぎ取り、先端原子の数を調整できるなど高度な実験が可能です。こうした本装置の優れた特性は、金属の原子レベルでの観察はもとより、先端の鋭い金属tipが不可欠な走査型トンネル顕微境のtip評価用として使われるなど幅広い用途に生かされ、多くの研究所、大学の研究室などで採用されています。

  • 分析機器・装置
  • マイクロスコープ
  • その他実験器具・容器

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微少領域形態観察　透過電子顕微鏡（HR-TEM）

微少領域形態観察　透過電子顕微鏡（HR-TEM）

物理分析を行う装置を揃え、立会い分析も可能な受託分析サービスを行っています

主な装置は「HR-TEM」「Ｑ-pole型SIMS」「μESCA」「RAMAN」など。ミクロ・ナノレベルの表面分析におけるノウハウの蓄積があり、信頼性の高いデータを短期間で提供することができます。また未知試料の分析についてもアドバイスします。 【微少領域形態観察　透過電子顕微鏡（HR-TEM）】 ○高速電子線を薄く加工された試料に照射し、透過および散乱する電子の結像により拡大像や結晶構造の情報を提供する手法。 ○薄膜の構造、結晶性の評価に適している。また高分解能観察により結晶構造の観察が可能。 ●詳しくはカタログをダウンロード、もしくはお問い合わせください。

  • 食品試験/分析/測定機器

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『空気非接触環境での受託分析サービス』※分析サンプル資料進呈

『空気非接触環境での受託分析サービス』※分析サンプル資料進呈

Na、Mg、Liなど。自動車・電子機器・機械部品分野における新素材・新製品の開発をサポート

当社では、『個々のニーズに応じた分析サービス』を提供。中でも、リチウム、ナトリウム、カリウム等、空気中の水分や酸素に触れると表面の状態が変化する物質を、活性な状態のままで分析を可能とする『空気非接触環境での分析サービス』でお役に立てます。 自動車・電子機器・化学・機械部品の研究・開発における 新素材・新製品の開発／隠れた性質の発見／基礎データの確認といったニーズにお応えしています。 ◎要望例 ・製造過程で溶け込んだ油分の熱分解の挙動が、水素、窒素など任意の雰囲気で違いが現れるかを知りたい ・合金等が、水素、窒素などの雰囲気ガスと反応するか、また、その反応する温度等を知りたい ・雰囲気を変えたらどうデータが変わるのかを知りたい ◎取扱品目 走査電子顕微鏡(SEM) 熱重量・示差熱・昇温脱離質量数分析(TG-DTA-MS) 粉末X線回折(XRD) 圧力－組成等温線(PCT)測定 高圧示差走査熱量分析(DSC) フーリエ変換赤外分光分析(FT-IR) ※空気非接触環境での分析サンプルはPDFダウンロードよりご覧いただけます。 　お問合せ・分析のご依頼もお気軽にどうぞ。

  • 受託解析
  • その他顕微鏡・マイクロスコープ

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走査型電子顕微鏡・エネルギー分散型X線分光器での分析サービス

走査型電子顕微鏡・エネルギー分散型X線分光器での分析サービス

樹脂包埋、切断、研摩などによる試料調整を行い、断面形状観察および元素分析が可能です

株式会社サンコー分析センターでは、走査型電子顕微鏡・エネルギー 分散型X線分光器を用いた分析を行っております。 走査型電子顕微鏡（SEM）では、試料に電子線を走査し、表面から発生 する二次電子や反射電子を像に変換することで試料の形状を観察。 （30倍～300,000倍） エネルギー分散型X線分光器（EDS）では、電子線を走査した際に試料から 放射される元素固有の特性X線を検出することにより元素定性分析を、 特性X線の強度を測定しファンダメンタルパラメータ法による元素の 判定量分析を行います。 また、ご指定の部位のSEM像を写真撮影してご報告。ご希望により 測長、3Dイメージ化が可能です。 ※詳しくはPDFをダウンロードして頂くか、お気軽にお問い合わせ下さい。

  • 蛍光X線分析装置
  • 分光分析装置

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【事例】クリップボード金属部の変色原因調査

【事例】クリップボード金属部の変色原因調査

金属の腐食による変色を観察、分析！変色原因調査事例をご紹介

当社にて、日常によくみられる金属の腐食による変色を、観察、分析した 事例をご紹介いたします。 走査電子顕微鏡(SEM)にて観察したところ、腐食の痕跡を確認。 本件の変色は、ニッケルめっき下の鉄材が腐食し、その生成物である錆が 表面に析出してきたために生じたものと推定されます。 【事例概要】 ■変色部観察：変色部を拡大 ■拡大観察と元素分析：更に拡大観察、変色部を元素分析 ■構造解析：ラマン分光による構造解析 ■変色原因：変色は主に鉄の腐食"赤錆" ※詳しくはPDF資料をご覧いただくか、お気軽にお問い合わせ下さい。

  • その他の各種サービス

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電子顕微鏡での受託観察

電子顕微鏡での受託観察

走査型電子顕微鏡（ＦＥ-ＳＥＭ）による表面観察を受託いたします：分解能（感度等）：～２０万倍

■試料をお送り頂きますと、試料台作成～画像撮影～画像ファイル（jpeg）変換を行い、お送り致します。 ■格安料金を設定しておりますので、ぜひご利用下さい。

  • 受託測定

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【分析事例】有機薄膜太陽電池活性層の混合状態評価

【分析事例】有機薄膜太陽電池活性層の混合状態評価

低加速STEM観察とEELS測定による有機材料の分布状態評価

低加速STEM観察とSTEM-EELS面分析により、バルクへテロ接合型太陽電池の活性層の混合状態の評価を行いました。評価にはITO上に活性層のみを成膜した試料を用いました。 低加速STEM像（写真1）のコントラストはSTEM-EELS像のS、 Cの元素分布(写真2、 3)と対応しており、バルクヘテロ構造を反映していることが確認できました。また、Sの分布に偏りが認められ、表面側にP3HTが偏析していることも示唆されました。

  • 受託解析

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【分析事例】CIGS太陽電池へテロ接合界面の抵抗評価

【分析事例】CIGS太陽電池へテロ接合界面の抵抗評価

真空下での走査型広がり抵抗顕微鏡（SSRM）による局所抵抗分布評価

CIGS薄膜太陽電池のZnO/CdS/CIGSの多結晶へテロ接合界面をSSRM法で分析し、局所的な抵抗分布を計測しました。真空環境下で測定することで、測定表面の吸着水を除去し、高空間分解能を得ることができます。測定結果から、ナノメートルレベルの空間分解能で各層の抵抗値を計測できていることが分かります。各層の抵抗値が数桁異なり、これがキャリア濃度の違いを示しています。CIGS層はi-ZnO層よりも高抵抗であること、CdSはこれらの層よりもさらに高抵抗であることが分かりました。

  • 受託解析

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【分析事例】加熱・冷却過程における経時変化のAFM動画観察

【分析事例】加熱・冷却過程における経時変化のAFM動画観察

サンプル表面の形状変化をin situで評価

高分子には、温度や湿度・溶媒等の環境によって形状が変化する素材があり、評価する際の環境条件を変化させることで物性の知見を深めることができます。 今回は生分解性プラスチックで知られているポリカプロラクトン(PCL)を用いて加熱・冷却実験を行いました。ポリカプロラクトンは融点が約60℃であり、加熱により結晶状態からアモルファス状態へと変化する様子を、また冷却により再結晶化する様子を連続測定により動画観察いたしました。 測定法：AFM 製品分野：バイオテクノロジ・医薬品・日用品・食品 分析目的：形状評価 詳しくは資料をダウンロード、またはお問い合わせください。

  • C0585_2.png
  • 受託解析
  • 受託測定

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【資料DL可：AFM】走査型プローブ顕微鏡おける事例集

【資料DL可：AFM】走査型プローブ顕微鏡おける事例集

構造解析/弾性率測定/導電性測定などAFM走査型プローブ顕微鏡による分析事例を多数ご紹介します

当事例集では、『AFM：走査型プローブ顕微鏡』における分析事例をご紹介します。 【掲載内容】 ●「食品（そうめん）の構造解析および弾性率測定」手法、結果 ●「真空中AFM導電性測定」の特長や分析事例 ●「AFMによる材料表面の導電性評価」の特長や分析事例 ●「高分子材料のAFM観察（ミクロトームによる平滑化）」 弊社の強みの１つであるAFMを使って各種分析を行っています。 是非ご一読ください。 掲載されていない事例を他にも多数あります。 ※詳しくは当社の他PDF資料をご覧いただくか、お気軽にお問い合わせ下さい。

  • その他顕微鏡・マイクロスコープ
  • 受託解析
  • 表面処理受託サービス

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【分析事例】ABF-STEM観察によるGaNの極性評価

【分析事例】ABF-STEM観察によるGaNの極性評価

Csコレクタ付STEMにより原子レベルでの観察が可能です

パワーデバイス・光デバイスとして実用化されているGaNは六方晶ウルツ鉱構造をとり、c軸方向に結晶学的な非対称性（Ga極性とN極性）が存在します。Ga極性とN極性ではエピタキシャル膜の成長プロセスが異なるほか、結晶の表面物性・化学反応性も異なります。 本資料では、GaNの極性を環状明視野(ABF)-STEM観察により評価しました。その結果、Gaサイト・Nサイトの位置を特定することができ、視覚的にGa極性、N極性の様子を明らかにすることができました。 測定法：TEM 製品分野：パワーデバイス・光デバイス 分析目的：形状評価・構造評価・膜厚評価 詳しくは資料をダウンロード、またはお問い合わせください。

  • 受託解析

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【技術資料】表面汚染のハイスループットスクリーニング

【技術資料】表面汚染のハイスループットスクリーニング

分析作業効率の飛躍的な向上はもちろん、新たなアプリケーションも期待されます！

赤外顕微鏡「HYPERION II」は、従来の顕微FT-IR測定に加え、QCLによる 赤外レーザーイメージングに対応します。 当資料では、「FT-IRを用いた精密機械のQA/QCについて」をはじめ、 「関心領域（ROI：Regions Of Interest）の迅速な検出」や「赤外レーザー イメージングを使用したROIの検出」などを掲載。 QCLとFT-IRとのコンビネーションは、ROIの速やかな検出と、それらの情報に 基づくより正確な定性分析を実現します。 【掲載内容】 ■FT-IRを用いた精密機械のQA/QCについて ■関心領域（ROI：Regions Of Interest）の迅速な検出 ■FT-IRとQCLのコンビネーションによるメリット ■赤外レーザーイメージングを使用したROIの検出 ■FT-IRによる分析の信頼性の向上 ■FT-IRとレーザーイメージング：強力なコンビネーション ※詳しくはPDF資料をご覧いただくか、お気軽にお問い合わせ下さい。

  • レーザー顕微鏡

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【分析事例】SEMによる極低加速電圧条件での微細構造観察

【分析事例】SEMによる極低加速電圧条件での微細構造観察

極低加速SEM観察によるセパレータ構造評価

リチウムイオン二次電池に使われているセパレータに代表されるように、材料の多孔性や形状といった微細構造は製品の特性や機能を左右します。材料が樹脂やポリプロピレン(PP)など軟化点が低い場合、観察時の電子線照射により試料が損傷を受け、本来の構造が変化してしまうことがあります。 加速電圧0.1kVという極低加速SEM観察により、変質を抑えて試料最表面の形状を詳細に評価した事例をご紹介します。

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【分析事例】AFM-MAによる食品(ロースハム)の機械特性評価

【分析事例】AFM-MAによる食品(ロースハム)の機械特性評価

食感を機械特性パラメータで定量化

食感を決める因子には、硬さ、凝着力など様々な要素があります。一般的に、食品の食感はテクスチャーアナライザー等による応力の評価で行いますが、微小領域の測定や薄い試料の測定は困難です。 AFM-MAは表面の凹凸の形状の評価に加え、機械特性の硬さを表すヤング率、質感のパラメータの凝着力、および、エネルギー散逸のデータを微小領域で計測することが可能です。このため、食感等に関係する物理特性を極微小な領域で評価するために有効です。

  • AFM像.png
  • ヤング率像.png
  • 凝着力像.png
  • エネルギー散逸像.png
  • 受託測定

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原子間力顕微鏡『LiteScope 2.0』

原子間力顕微鏡『LiteScope 2.0』

SEMとAFMを組み合わせた相関分析！材料表面の理解がより深化

『LiteScope 2.0』は、走査電子顕微鏡に容易に統合可能な 原子間力顕微鏡です。 SEMへの搭載は容易ですぐに使用可能、かつスタンドアロンAFM としても利用可能。 FIB、GIS、EDSやその他一般的なSEMアクセサリにも互換性が あります。 【特長】 ■SEMの機能拡張 ■非常に精密な相関イメージング ■迅速かつ容易な関心領域への位置合わせ ■サンプル汚染のリスクを排除 ■2DSEM像を3Dに拡張 ※詳しくはPDF資料をご覧いただくか、お気軽にお問い合わせ下さい。

  • 電子顕微鏡
  • その他顕微鏡・マイクロスコープ
  • その他検査機器・装置

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