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コンパクトな筐体で、多様な観察方法に対応した倒立顕微鏡のスタンダード機
株式会社ニコンソリューションズ 研究用倒立顕微鏡 ECLIPSE Ts2Rは、研究室の多岐にわたる用途に合わせ、幅広い観察方法に対応。研究室内の限られたスペースに配置できるコンパクトさと優れた操作性の両立を実現した、研究用倒立顕微鏡の新スタンダード機です。 〇特長 ・軽快なオペレーション ・ステージ周辺の操作性を向上 ・明るい部屋でも操作しやすい蛍光観察 ・多彩な観察に対応するLED照明 ・エンボスコントラスト観察 ※詳細はPDFをダウンロードしていただくか、お気軽にお問い合わせください。
確かな光学性能と高い精度でICSIをサポート
株式会社ニコンソリューションズ Microscope System for ICSI ECLIPSE Ti2-U IVFは、マニピュレーターを装着して高精度なICSI を行うことのできる、高い堅牢性を誇る倒立顕微鏡です。中間変倍機能（1.5倍）を使用すれば、対物レボルバーを回転することなく手元の操作のみで倍率の切り替えが可能です。 〇特長 ・ニコンアドバンストモジュレーションコントラスト（NAMC）観察 ・紡錘体観察 ・電動モデルも用意 ※詳細はPDFをダウンロードしていただくか、お気軽にお問い合わせください。
卓越した光学性能と柔軟な拡張性で、幅広いアプリケーションをサポート
株式会社ニコンソリューションズ 研究用正立顕微鏡 ECLIPSE Niシリーズは、優れた光学性能と高い拡張性を誇る、ニコンの正立顕微鏡のフラッグシップモデルです。高性能対物レンズと組み合わせることで、サンプルの微細構造を高解像度で忠実に可視化できます。 〇特長 ・多様なニーズに応える柔軟な拡張性 ・幅広い観察方法に対応 ・Ni-Eは顕微鏡操作のすべてを電動制御 ・優れた光学性能を追求 ・快適な操作性 ※詳細はPDFをダウンロードしていただくか、お気軽にお問い合わせください。
“もっと楽な姿勢で観察したい”、“ワンタッチで操作したい”、“調整作業はできるだけ少なくしたい”など、のご要望にお応えします
株式会社ニコンソリューションズ 検査用正立顕微鏡 ECLIPSE Ciシリーズは、毎日の検査・研究で顕微鏡をお使いの皆様から寄せられた、さまざまな“あったらいいな”に応えた生物顕微鏡です。位相差・簡易偏光・蛍光などのさまざまな観察方法に対応するアクセサリーを装着できます。明るく環境にやさしいLED照明搭載モデル*は、頻繁なランプ交換が不要です。 〇特長 ・快適な操作性 ・らくらく画像撮影 ・さまざまな観察方法に対応 ※詳細はPDFをダウンロードしていただくか、お気軽にお問い合わせください。
In vivo / in vitroにおける神経活動の観測・解析に、最適な空間と光学性能を提案
株式会社ニコンソリューションズ 研究用対物上下動式正立顕微鏡 ECLIPSE FN1は、光学性能から操作性、拡張性まで、すべてにおいて新設計された顕微鏡です。厚みのある試料での細部観察のクリアさ、マニピュレーションの容易さ、徹底したノイズ対策など、電気生理やハイレベルな生細胞観察での要求に満足のゆくソリューションをお届けいたします。 〇特長 ・低倍・高NA対物レンズを新開発！！ 一本だけで高倍から低倍までをカバーし、パッチクランプやLive Cellイメージングに最適 ・IR-DIC観察に適した対物レンズシリーズを新開発 ・電極のアクセス性を最優先した対物レンズ設計 ・対物レンズ切替え操作が安全、確実に ※詳細はPDFをダウンロードしていただくか、お気軽にお問い合わせください。
最高レベルの光学品質、操作性、安定性を兼ね揃えた偏光顕微鏡
株式会社ニコンソリューションズ 偏光顕微鏡 ECLIPSE LV100N POLは、50W光源でありながら、100W光源以上の明るさを実現する、高輝度ハロゲン光源を採用しています。対物レンズ50X 以上の高倍では、100W光源よりも明るさが約20％〜40％もアップしています。 〇特長 ・均一な光量の透過照明系 ・高精度回転ステージ ・心出し５孔レボルバー ・偏光用中間鏡筒 ※詳細はPDFをダウンロードしていただくか、お気軽にお問い合わせください。
分散染色のための顕微鏡は、アスベストの定性分析および同定を可能にする
株式会社ニコンソリューションズ 偏光/分散顕微鏡 ECLIPSE LV100ND POL/DSは、400倍の倍率で分散染色観察を可能にする付属品を備えた高性能の偏光顕微鏡です。屈折率、複屈折、遅延、消光角、多色性および伸びの徴候などのアスベストの特性を測定し、アスベストの同定を助けることができます。 〇特長 ・ハイライト ・複屈折 ・消弧角 ※詳細はPDFをダウンロードしていただくか、お気軽にお問い合わせください。
光学性能と使いやすさを両立させたコンパクトな偏光顕微鏡です。
株式会社ニコンソリューションズ 偏光顕微鏡 ECLIPSE Ci POLは、デスク上を占有せず広く使えるパーソナルタイプの偏光顕微鏡です。NAと長作動距離を同時に実現したCFI60 光学系を搭載しており、先進的な光学性能とユーザーフレンドリーな操作性を兼ね備えています。 〇特長 ・心出し５孔レボルバー ・偏光用中間鏡筒 ・透過・反射照明タイプ ・基本性能はもちろん、コストパフォーマンスにも優れています ・高さのあるサンプルも楽に観察ができます ※詳細はPDFをダウンロードしていただくか、お気軽にお問い合わせください。
進化し続ける実体顕微鏡のスタンダード
株式会社ニコンソリューションズ システム実体顕微鏡 SMZ1270/1270iは、クラス最高の12.7倍ズーム（倍率範囲0.63x-8x）を搭載しております。最先端の光学系が、視野全体にわたって明るくシャープな像を実現します。 〇特長 ・クラス最高のズーム比 ・優れた色収差補正 ・高性能対物レンズ ・対物レンズ簡単切替えと垂直視観察 ・透明サンプルに最適なOCC照明 ※詳細はPDFをご覧いただくか、お気軽にお問い合わせください。
基本性能と操作性がアップした、汎用性の高いコストパフォーマンスモデル
株式会社ニコンソリューションズ システム実体顕微鏡 SMZ800Nは、倍ズーム（倍率範囲1X-8X）を搭載し、総合倍率5X-480Xを実現。高倍率ズームにより、微細な構造も高精細に観察可能です。ズームボディ光学系の色収差補正を改善したことで、視野全体にわたってシャープな像が得られます。 〇特長 ・優れた基本性能 ・快適な姿勢で観察 ・多彩なアクセサリーによる高い拡張性 ※PDFをダウンロードしていただくか、お気軽にお問い合わせください。
アズサイエンスおすすめの電子顕微鏡、偏光顕微鏡、質量分析計のご紹介
おすすめの3製品をご紹介いたします。 ◆日本電子株式会社 JEM-ARM200F NEOARM 原子分解能分析電子顕微鏡 冷陰極電界放出形電子銃（Cold-FEG）と高次の収差まで補正可能な新型球面収差補正装置（ASCOR）を標準搭載し、200 kVの高加速電圧だけでなく30 kVの低加速電圧においても原子分解能での観察を実現しました。軽元素を含む材料の明瞭なコントラスト観察が容易になります。 ◆株式会社ニコンソリューションズ 偏光/分散顕微鏡 ECLIPSE LV100ND POL/DS 屈折率、複屈折、遅延、消光角、多色性および伸びの徴候などのアスベストの特性を測定し、アスベストの同定を助けることができます。400倍の倍率で分散染色観察を可能にします。 ◆日本電子株式会社 JMS-T100LP AccuTOF LC-Express 大気圧イオン化 飛行時間質量分析計 マルチイオン化・堅牢性・容易なメンテナンスを特長とした高い生産性を目指したハイスループット質量分析計です。低極性から高極性まで、幅広い試料を分析することが可能です。
高解像度エミッション顕微鏡
Dual PHEMOS-Xは、半導体のウェーハやダイの状態で、両面（表面及び裏面）からの故障解析が求められる先端3次元デバイスにおいて、各種解析が可能な高解像度エミッション顕微鏡です。
ズーム比12(0.83x～10x)！3種類の対物レンズをご用意しております
『TAZ10-IR』は、AZ10 ズームマイクロスコープに赤外線対応型の レンズを搭載した赤外線顕微鏡です。 化合物材料に被われた試料の内部やシリコン基板の内部、 ワイヤボンディング接着面など、可視光では観察することができない 試料の観察やアライメントに好適です。 【特長】 ■15倍・30倍・50倍の対物レンズを用意 ■手動(TAZ10-IRT)・電動(TAZ10-IRE)の2種類から選択可能 ■対応波長域 650nm～1200nm(赤外・一部可視)＝近赤外線用マイクロスコープ ※詳しくはPDFをダウンロードして頂くか、お問い合わせください。
f＝200mm無限遠設計の同軸照明対応！超広視野な顕微鏡
当社では、Image Circle 33mmの『2500万画素超広視野顕微鏡』を 取り扱っております。 レーザーオートフォーカス・電動レボルバ組込みが可能。 また、f=200mm無限遠設計で、同軸照明対応です。 【特長】 ■専用対物レンズ 2.5X・5X取付可能 5X使用時 視野(FOV)4.6mm×4.6mm ■Camera Link I/F ※詳しくはPDFをダウンロードして頂くか、お問い合わせください。
微小部の分析や広範囲のマッピング分析に対応しています！
当社に設置している「X線分析顕微鏡」についてご紹介します。 内蔵カメラにより試料を観察し、任意の位置で元素(11Na～92U)の 定性・半定量分析を行うことが可能です。 10μmおよび100μmのX線プローブを搭載しており、マッピング分析と 同時にX線透過像の取得も可能です。 【分析に必要な試料】 ■微小な異物(数mm)から部品サイズ(数10cm)まで分析が可能 ※詳しくはPDFをダウンロードしていただくか、お気軽にお問い合わせください。
洗練されたツールで、測定・解析を迅速に
実験準備からレポート作成まで、トータルでサポートするツールへ進化 ・実験準備から分析・レポート作成までをこの1台で ・誰でも業界最高レベルの測定性能を ・設定不要で高精度な測定を
豊富なサポート機能により、適切なセッティングを実現します。
豊富なサポート機能により、初心者でも顕微鏡の適切なセッティングが簡単に行えます。 また、新開発のガイダンス機能により、前回と同じ観察条件に簡単に戻すこともできます。BX53Mなら、顕微鏡を使いこなすために必要だった専門的なトレーニングを受けなくても顕微鏡の機能を充分に活用でき、作業者ごとのバラつきも抑えることができます。 ◆ダイヤルを回すだけ：シンプルな観察法の切替 顕微鏡使用時に必要となる複雑な操作を極限まで排除します。投光管前面のダイヤルで観察方法を変更でき、明視野、暗視野、微分干渉など、使用頻度の高い観察方法を素早く切り替えられるため、様々な解析を手軽に行えます。さらに簡易偏光観察の場合でもアナライザーを回転させることで観察の幅が広がります。 ◆ガイダンスで適切な画像を取得：指標付絞り これまで適切な設定が分かりにくかった絞り位置を、表示に合わせるだけで適切に指定できます。開口絞り及び視野絞りを適切に設定すると、光学性能をフルに活用した高コントラストの画像が得られます。
目的に合わせてフィットする測定顕微鏡
測定サンプルが小さくても、大きくても。 測定内容がシンプルでも、複雑でも。 測定者が初めて使う人でも、使い慣れた人でも。 あなたの測定にフィットする測定顕微鏡。 それがSTM7シリーズです。
インキュベーター内使用可能・タイムラプス3色蛍光顕微鏡
etaluma社の『Lumascope 820/850』は、インキュベーター、 安全キャビネット、環境制御ワークステーションなどの限られた スペースの中で使用できる小型タイムラプス蛍光顕微鏡です LED光源、Semrock製フィルター、高度な光学設計、 CMOSセンサーにより、ほぼ回折限界の分解能が得られます。 また、専用のパソコンとUSBで接続するだけで、静止画、 タイムラプス、動画を簡単に保存でき、低コストで、高品質画像での 3色蛍光（青色・緑色・赤色）観察が可能です。 【特長】 ■先進のLEDの光学設計によりコストを低減し、操作性・メンテナンスを簡素化 ■PCとのUSB接続による電源供給と制御で、迅速なセットアップと使い易さを実現 ■高度な光学システムにより、一般の照明条件でも優れた解像度を提供 ■位相差ユニットにより、非染色サンプルの観察を強化 ■Evident社の対物レンズとの互換性により、高画質を提供、など ※詳しくはPDFをダウンロードしていただくか、お気軽にお問い合わせください。
熱物性を測定することで、薄膜の厚みが評価できます！
ベテル社製サーマルマイクロスコープTM3を使用することで、 「薄膜の厚み」が評価できます。
参加費無料！MicroEDを利用した絶対立体配置の決定について報告
当社では、「MicroED結晶構造解析の基礎と応用 パート2～MicroEDを 利用した絶対立体配置の決定について～」ウェビナーを開催いたします。 今回は“パート2"と称しまして電子線の多重散乱効果を十分に考慮した “絶対立体配置の決定"に関してご紹介。 本手法は、軽元素のみで構成される分子における絶対立体配置の決定に 関しても驚異的な威力を発揮する優れた手法となります。 解析事例として本ウェビナーでは、複雑な天然物、合成医薬品原薬に対する MicroEDによる絶対立体配置の決定について報告いたします。 【開催概要】 ■開催日時：2024年10月15日(火)14：00～14：45 ■参加：無料 ■会場：Microsoft Teamsによるウェビナー開催 ※詳しくは関連リンクをご覧いただくか、お気軽にお問い合わせください。
最高レベルのナノスケール解像度で信頼あるデータを提供する原子間力顕微鏡
『Park NX10』は、サンプルのセッティングからイメージング、測定、 解析に至るまですべての段階において簡単に操作することができる 原子間力顕微鏡(AFM)です。 本製品なら、ユーザーはより多くの時間と、より優れたデータを基盤に 革新的な研究に集中することができます。 【特長】 ■クロストーク除去によるボーイングの無い正確なXYスキャン ■低ノイズZ検出器を使った正確なAFMトポグラフィー ■真のノンコンタクト(TM)モードによる最高クラスのチップ寿命、分解能 およびサンプルの保護 ■半導体/ポリマー/電池材料や炭素系材料などさまざまな材料の表面解析を ナノオーダーで解析(※イメージギャラリー参照) ※詳しくはPDF資料をご覧いただくか、お気軽にお問い合わせ下さい。
故障解析と大型試料における研究開発のためのナノ形状計測ツール
『Park NX20』は、パワー、汎用性、操作の容易性を芸術的に組み合わせた 大型試料用の原子間力顕微鏡(AFM)です。 本製品には、デバイス障害の背後にある原因を明らかにし、より創造的な ソリューションを開発するための独自の機能が装備されています。 また、真のノンコンタクト(TM)モードのスキャンによって、チップがより鋭く、 かつ長く保たれるため、無駄な時間と費用の発生を防ぐこともできます。 【研究およびFAラボにおける大型試料用AFMを使ったソリューション】 ■メディア、基盤用の表面ラフネス計測 ■欠陥検査イメージングと解析 ■高解分解能電気特性測定モード ■3D構造解析における側壁計測 ■低ノイズZ検出器を備えた正確なAFM形状イメージング ※詳しくはPDFをダウンロードしていただくか、お気軽にお問い合わせください。
故障解析アプリケーションに適した真空環境スキャニング
『Park NX-Hivac』は、故障解析および環境の影響を受けやすい材料向けの 高真空原子間力顕微鏡(AFM)です。 高濃度ドープの半導体の正確な故障解析が可能。 また、当社のすでに認められた技術を用いることによって、高分解能で 高い再現性と操作性による低ノイズ計測を可能にした製品です。 【故障解析の為の高真空計測】 ■高速スキャンのための進化したStepScan自動機構とレーザーアライメント機構 ■マルチサンプルチャック ■Park独自の容易なチップ交換機能 ■大型真空チャンバー(300mm×420mm×320mm) ■超長距離観察を実現した直上光学顕微鏡 ■感度が向上された高真空SSRMモード ※詳しくはPDFをダウンロードしていただくか、お気軽にお問い合わせください。
強力なライフサイエンス用走査型プローブ顕微鏡
『Park NX12-Bio』は、1台の革新的プラットフォームに3種類の 高性能ナノスケール顕微鏡を搭載した原子間力顕微鏡(AFM)です。 革新的な液中イメージングが可能な走査型イオンコンダクタンス 顕微鏡(SICM)と高い評価をいただいている原子間力顕微鏡(AFM)技術の 両機能を可能にしています。 【ナノスケール生物学研究のための総合的なソリューション】 ■フレクチャー式の完全独立Z軸スキャナ/XYスキャナを搭載、 完全非接触技術(TM)を備えた高精度Park NX AFM ■倒立型光学顕微鏡技術による超高分解光学イメージング ■スキャニング イオンコンダクタンス顕微鏡搭載により進化した 生体細胞イメージング ※詳しくはPDFをダウンロードしていただくか、お気軽にお問い合わせください。
NXテクノロジーを導入した完全自動化産業用AFM
『Park NX-3DM』は、オーバーハングプロファイル、高解像度側壁 イメージング、および臨界角測定用に設計された完全自動AFMシステムの 原子間力顕微鏡(AFM)です。 傾斜Zスキャナを備えた特許取得済みの分離型XYおよびZスキャン システムにより、正確な側壁分析における通常およびフレアチップ法の 課題を克服します。 【ウエハファブ用で必須なツール】 ■高度で正確なPark NX技術を用いた完全自動産業用AFM ■アンダーカットやオーバーハング構造のためのチルトヘッドデザイン ■サンプル前処理不要で正確な側壁粗さ計測 ■完全非接触モード(TM)により、装置とサンプルにダメージを与えずに 高品質のイメージが得られる ※詳しくはPDFをダウンロードしていただくか、お気軽にお問い合わせください。
欠陥の特定、走査および解析の自動欠陥検査を10倍迅速化する原子間力顕微鏡システム
『Park NX-HDM』は、メディア及び基盤用の自動欠陥検査及びサブオング ストローム表面粗さ測定が可能な原子間力顕微鏡です。 広範な光学検査装置と直接リンクし、自動欠陥検査のスループットを 大幅に向上させます。 また、繰り返し測定においてもサブオングストロームの正確な 表面粗さ測定を提供します。 【特長】 ■メディアおよび基板用の自動欠陥検査 ■正確なサブオングストロームの表面粗さ測定 ■真の非接触モードによるコスト削減 ■低ノイズZ検出器による正確なAFMトポグラフィー ※詳しくはPDF資料をご覧いただくか、お気軽にお問い合わせ下さい。
【日本版カタログ進呈中】低コスト・高機能・短納期が可能な新製品！当社が取り扱う原子間力顕微鏡をご紹介！
『Park NX7』は、Park Systemsが持つ新技術がすべて搭載されており、 かつお手頃な価格でお求め頂けます。 当製品は細部に至るまで上位モデル同様に設計されており、 研究を促進することが可能。 また、ボーイングのないフラットな直交XYスキャンができます。 ご用命の際は、お気軽にお問い合わせください。 【特長】 ■拡張性の高いAFMソリューション ■ボーイングのないフラットな直交XYスキャン ■低ノイズZ検出器 ■True Non Contactモードによるチップの寿命、 サンプルの保存、繰り返し精度の向上 ※英語版カタログをダウンロードいただけます。 ※詳しくはPDF資料をご覧いただくか、お気軽にお問い合わせ下さい。
XY電動ステージとオートフォーカス機能を搭載！ソフトウェアなどのカスタマイズも対応
『TOMOS-60XY』は、ワークの複数箇所を自動測定できる6インチ電動 XYステージ 両面顕微鏡システムです。 あらかじめ指定したワークの測定箇所に自動で移動し、水晶振動子、 MEMS、半導体ウェハ、電子部品の表裏パターンやアライメントマークの ずれを自動測定することが可能。 また、XYステージとワークの装着位置のずれ補正アライメント機能を 搭載し、正確に移動制御し測定エラーを防ぎます。 【特長】 ■円、四角、十字等のアライメントマークのエッジを 自動検出し、中心座標同士のずれを測定 ■XYZステージ制御条件、測定条件、マップ作成、 レシピ登録し、ワークの複数個所を自動測定 ※詳しくはPDFをダウンロードしていただくか、お気軽にお問い合わせください。
±0.3μm以下の繰り返し精度で表裏の位置ずれを測定します！
『TOMOS-50/60/80/XY』は、表裏両面を同時撮影、寸法計測、 位置ずれ計測が可能な両面顕微鏡位置ずれ計測システムです。 電動制御及び自動計測となっており、両面露光パターンズレや 半導体ウエハー、4インチ、6インチ、8インチウエハー、MEMS、 水晶振動子などの表裏位置ずれ計測、観察に利用可能。 表裏光軸補正はマイクロステージ＋ソフトウェアで高精度に補正します。 また、装置組込用両面顕微鏡モジュールとしての販売も可能です。 【特長】 ■表裏両面を同時撮影、寸法計測、位置ずれ計測が可能 ■表裏光軸補正はマイクロステージ＋ソフトウェアで高精度に補正 ■±0.3μm以下の繰り返し精度で表裏の位置ずれを測定 ■表裏2chオートフォーカスユニット組み合わせ可能(オプション) ■電動XYステージ制御システム開発中 ■装置組込用両面顕微鏡モジュールとしての販売も可能 ※詳しくはカタログをダウンロードいただくか、お気軽にお問合せ下さい。
