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パーク・システムズ・ジャパンの会社概要
パーク・システムズは、最先端の原子間力顕微鏡（AFM）技術で、ナノスケールの研究開発と産業の進化を支えるグローバル企業です。
パーク・システムズは、原子間力顕微鏡（AFM）の開発に携わった創業者によって設立され、ナノスケールの顕微鏡・計測技術を世界に提供しているグローバル企業です。 試料や探針へのダメージを抑え、高精度な測定を可能にする独自のTrue NonContactAFM技術をはじめ、高精度な3D計測技術や自動化システムの開発を進め、研究開発向け装置から半導体産業向けの計測ソリューションまで幅広く展開しています。
事業内容
当社は、原子間力顕微鏡（AFM）を中核としたナノスケール計測・分析ソリューションを提供しています。基礎研究や先端材料開発に対応する研究用AFMから、半導体・ディスプレイなどの製造工程や品質管理に対応する自動化AFMまで、幅広い製品を展開しています。 独自のTrue NonContactAFM技術や直交型スキャナーにより、試料や探針へのダメージを抑えながら、高精度かつ再現性の高い表面形状・物性評価を実現します。 また、白色光干渉計（WLI）、ナノ赤外分光装置（AFM-IR）、イメージング分光エリプソメーター（ISE）、デジタルホログラフィック顕微鏡（DHM）、アクティブ除振システムなども取り扱い、表面形状、粗さ、膜厚、機械特性、電気特性、磁気特性、化学特性など、多様な計測ニーズに対応しています。 半導体、電子部品、二次電池、太陽電池、先端材料、化学、ライフサイエンスなどの研究開発、製品開発、生産管理および品質管理を対象に、装置の提案、デモ測定、導入支援、トレーニング、保守・技術サポートまで一貫したサービスを提供しています。
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詳細情報
| 企業名 | パーク・システムズ・ジャパン株式会社 |
|---|---|
| 連絡先 | 〒105-0003 東京都港区西新橋1-11-4地図で見る TEL：03-3219-1001 FAX：03-3219-1002 |
| 業種 | 試験・分析・測定 |
パーク・システムズ・ジャパン株式会社 社屋画像 
