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コンタクトプローブ及び各種検査治具製作で培った高度な加工技術をご提供
弊社では、各種電子部品の検査に使用されるコンタクトプローブ及び それを使用した検査治具を製作しているメーカです。 これらの分野で求められる技術は、“超高精度” “超微細”と言った非常に高いレベルなものです。 長年に亘りこの要求に応えるべく研鑽してきた弊社の技術は、 検査関係のみならず、幅広い用途で、様々な課題を解決してまいりました。 この技術を加工受託サービスとしてもご提供しております。 ※詳しくはPDFをダウンロード、もしくはお問合せください。
挟ピッチ対応P=0.2mmを実現！厳しい非磁性特性を求める現場で活躍。鉛フリーの電極に適した材料を使用しています。
コンクタクトプローブを非磁性化するには材料や表面を見直すことが 必須ですが、実際にはそれだけでは製品は成り立ちません。 非磁性デバイスを測定する上でも非磁性であるのは当然として 検査対象の電極の特性に合わせた性能も持っていなければなりません。 当社では、鉛フリーの電極に適した材料、コンタクトプローブの荷重 コントロール、さらには挟ピッチ対応P=0.2mmを実現した『非磁性プローブ』を ラインアップしております。 【特長】 ■鉛フリーの電極に適した材料 ■コンタクトプローブの荷重コントロール ■挟ピッチ対応P=0.2mmを実現 ※詳しくはPDF資料をご覧いただくか、お気軽にお問い合わせ下さい。
コンタクトプローブ先端を外側に寄せることで、ピンの太さを変えずに、2点間のギャップを抑えられます。ピンピッチ間0.4mm～
『ケルビンプローブ』は、先端がプローブの外形ギリギリのところにあります。 先端を外側に寄せることで、ピンの太さを変えずに、2点間のギャップを 抑えることが可能。そのため、安定した位置でのコンタクト、荷重を維持することができます。 使用するにあたっては、特殊なボード加工が必要となります。 当社ではお客様が使用する測定機器にあわせて取り付けられる治具の製作を承っております。 【特長】 ■先端はプローブの外形ギリギリのところにある ■ピンの太さを変えずに、2点間のギャップを抑えることができる ■安定した位置でのコンタクト ■荷重を維持することができる ※詳しくはPDF資料をご覧いただくか、お気軽にお問い合わせ下さい。
コンタクトプローブ特有の抵抗値のバラつきを極力抑えたいニーズにお応えします。
バイアス構造とボールを入れることによりパイプ内壁への接圧を稼ぐことが 出来ましたが、その分、パイプ内壁へのダメージも大きく繰り返し使って いるとプローブのガリ付きなどの不具合が生じました。 精研では、このようなデメリットを解決するためにボールではなく 精密加工技術を使った部品を組み合わせることにより、バイアスによって 得られる特性はそのままにパイプ内壁へのダメージを軽減させました。 さらに部品を小型化させることによりP=0.4mm対応のバイアス構造も製作可能。 低抵抗測定などコンタクトプローブ特有の抵抗値のバラつきを極力抑えたい ニーズにお応えします。 ※詳しくはPDF資料をご覧いただくか、お気軽にお問い合わせ下さい。
従来品のBeCuに比べて同等もしくはそれ以上なので摩耗性がネックになることも有りません
精研では、表面処理のアプローチ以外に材料そのものを見直しました。 従来の材料はBeCu（ベリリウム銅）を使っており、これには表面処理が 必須でしたが、素材自体が半田への接触性に優れた合金を加工して、 表面処理無しでそのまま使うようにしました。 仮にピン先をクリーニングした際にもメッキ厚は厚くても1～2um程度になりますが、 合金は無垢のままで使いますのでメッキ剥がれで地肌が見えて性能劣化と言うことがありません。 また硬度についても従来品のBeCuに比べて同等もしくはそれ以上なので 摩耗性がネックになることも有りません。 この材料は、当社ではP=80um用クラスのプローブでも加工が出来ます。 ※詳しくはPDF資料をご覧いただくか、お気軽にお問い合わせ下さい。
半導体検査で使用するプローブカードやICソケットでは新規製作をする場合が多いです。標準品プローブで採用できない問題を解決。
当社では、標準品プローブとして、片側可動のプローブをカタログ品として 取り扱っておりますが、電気検査に使用される装置に合わせようとすると、 仕様を満たせないことがあります。 お客様が検査したい製品や装置条件に合わせて、既存のプローブを ご提案も致しますが、合うプローブがない場合には特注で製作。 既存のプローブをベースに部分的にパーツを新規製作することをはじめ、 すべてのパーツを新規で製作も可能です。 そのため、他社プローブメーカーで製作したブローブが生産中止になって しまったなどで代替品・互換性のあるプローブが必要な場合には ご協力できることがございます。 ※詳しくはPDF資料をご覧いただくか、お気軽にお問い合わせ下さい。
検査条件に合わせて柔軟に設計・製作。小ロットもOK。組立・配線・検査まで一貫対応
当社では、半導体の検査に使用する『コンタクトプローブ・ ICソケット・プローブカード』を設計・製作しています。 ☆コンタクトプローブ☆ 標準品はもちろん、検査条件に合わせた特殊仕様にも柔軟に対応。 ☆プローブカード・ICソケット☆ 樹脂の加工・組み立てなどに一貫対応できるため、 検査対象にあった検査治具を低コストでご提供可能です。 【対応例】 ◎狭ピッチ対応（MIN P=80μで製作） ◎大電流検査(IGBTデバイスの前工程検査用に製作) ◎非磁性検査（磁性を持たない材質でプローブ製作） ◎その他：高周波(10GHz)、高耐熱(300℃以下)など 【製品例】 ＜コンタクトプローブ＞ ・交換の手間を削減。耐久性に優れた「レアメタルプローブ」 ・内部構造を見直し。安定した抵抗値測定向け「新型バイアスプローブ」 ＜ICソケット＞ ・非磁性対応ソケット ・高耐熱対応ソケット ＜プローブカード＞ ・min80μピッチ対応プローブカード ・大電流負荷試験プローブカード ※詳しくは資料をご覧ください。お問い合わせもお気軽にどうぞ。
コンタクトプローブ専業メーカが解説！標準品プローブ・両端プローブの使い方や交換方法
当社が取り扱う、『コンタクトプローブ』の使用方法をご紹介します。 「標準品コンタクトプローブ（片端プローブ）」は、交換や配線の容易さから 基本的にソケットとペアで使います。 一般的なコンタクトプローブの使い方としては樹脂に穴をあけ、そこに ソケット（レセプタクル/リセプタクル）を埋めてリード線をつないで配線。 最後にソケットにコンタクトプローブを入れて完成となります。 また当社のホームページでは、“両端コンタクトプローブの使い方”や “両端プローブの交換”もご紹介しております。 【掲載内容】 ■標準品プローブの使用方法 ■両端プローブの使用方法 ■両端プローブの交換 ※詳しくはPDF資料をご覧いただくか、当社HPを是非ご覧ください。
コンタクトプローブ ピッチ 0.45mm～・長寿命・高品質 ミスミにて１本から購入可能
【製品カタログ】【使い方の説明資料】 コンタクトプローブ（ポゴピン、探針などとも言います。）は 電子部品の導通検査などに使われてきました。 弊社はプローブピンの専業メーカとして30年余りにわたる実績がございます。 構造はパイプの中にバネが入っており、先端（＝プランジャー）が ストロークすることにより検査対象の電極に適切な荷重で接触します。 製品カタログにはピッチ（プローブが並ぶ間隔）ごとに、15種類のラインナップをご用意しております。 各シリーズごとに複数の先端形状を誤用しております。 弊社のプローブピンは、部品の加工から組み立てまでを一貫して社内で行っております。 そのため、様々なご要求にお応えできる特殊仕様品の製作が可能です。 【樹脂ボード加工も承ります】 プローブのご提供はもちろんのこと、プローブを固定する樹脂の加工も承ります。また、ソケットをボードへの組み込み、コネクタへの配線までを取り付けた状態でのご提供が可能です。 樹脂加工のみのご依頼も承りますのでお気軽にお問い合わせください。 ※詳しくはPDFをダウンロード、もしくはお問合せください。
測定対象デバイスに合わせプローブ先端材質・表面処理・先端形状等、各種選定可能な半導体検査用プローブ！
半導体検査用プローブは測定環境に合わせて選定が可能です。 ・弊社独自の合金材料を用い、PBフリーへのコンタクト性を高めたプローブ ・熱の影響による荷重低下を避ける特殊バネを採用した耐熱プローブ ・磁気センサー部品の検査にも使用可能なハイレベルな非磁性材料プローブ ・信号伝送特性を最大限向上した短尺高周波プローブ ユーザ様の様々なご要望にお応えします。 【特長】 ■長年の実績に裏付けられた優れた品質 ■豊富なラインナップ ■測定対象デバイスに合わせプローブ先端材質・表面処理・先端形状等、各種選定可能 ■標準仕様以外にも全長・先端径・バネ圧の任意設定が可能な、特殊仕様品にも対応 ※詳細は資料請求して頂くかダウンロードからPDFデータをご覧ください
様々な電子部品の検査をサポート！TOTAL TEST SOLUTIONの精研！
電気検査に使用するコンタクトプローブ、 半導体ウエハ検査用プローブカード・ICソケットを取り扱う 株式会社精研の半導体検査機器のご紹介です。 標準品から特殊仕様品にも対応した「コンタクトプローブ」をはじめ、 用途に合わせたハウジング材料での構成が可能な「ICソケット」、 微細加工技術による狭ピッチをはじめ、様々な検査条件に対応した「プローブカード」をラインアップしています。 検査条件の例 ・狭ピッチに対応（MIN P=80μ） ・大電流検査(IGBTデバイスの前工程検査) ・非磁性検査（磁性を持たない材質で製作するプローブ） 長年培ってきた技術を活かし、より効率的な検査環境を提供すること、 より細かいご要望に応えられるよう、開発を続けております。 製品概要を資料にてご紹介をしております。 【掲載内容】 ■はじめに ■製品・技術のご紹介（コンタクトプローブ） ・新製品技術のご紹介 ■技術紹介（ICソケット、プローブカード） ■その他各種製品・サービス（精密加工他） ※詳しくはPDF資料をご覧いただくか、お気軽にお問い合わせ下さい。
片側のプランジャーを中継基板の電極や中継ピンに接触させてコンタクトを取る！L=20mm～1.5mm、φ1mm～φ0.1mmまで
当社が取り扱う『コンタクトプローブ(両端ピン)』のご紹介です。 両側のプランジャーが可動する物と片側のみ可動する物の2つをご用意。 サイズは全長20mm、太さφ1.0mmくらいの長くて太いものから、 全長L=1.5mmや太さφ0.1mmなど短くて細いものなど多岐に渡ります。 先端形状は標準品コンタクトプロ―ブ同様に選定可能です。 【特長】 ■両側のプランジャーが可動する物と片側のみ可動する物の2つがある ■先端形状は標準品コンタクトプロ―ブ同様に選定可能 ■片側のプランジャーを中継基板の電極に接触させてコンタクトを取る ■金属の端子にエナメル線を取り付けたもので配線することも可能 ■使用する場合、2～3枚のボードを使用 ※詳しくはPDF資料をご覧いただくか、お気軽にお問い合わせ下さい。
大電流測定においても大幅にプローブの性能を改善することが出来ました！ハウジングを含めて許容電流値を大きくすることもできます。
昨今では鉛フリー半田、アルミ電極へのコンタクト、大電流測定など 検査対象側の条件が厳しくなっており従来の処理では性能的に力不足の ケースも出てきました。 CNTは電流や熱に強くアルミへの接触性の改善などの特長があり、 それをプローブのAuメッキに含有させることによりAuメッキの電気的性能に さらに性能上げることに成功。 これによりコンタクトプローブの接触対象がAl電極であっても安定した 接触を長く続けることが出来たり、従来ではピンが電流に負けて物理的に 破損したりしてしまう大電流測定においても大幅にプローブの性能を改善することが出来ました。 ※詳しくはPDF資料をご覧いただくか、お気軽にお問い合わせ下さい。
レアメタルを複雑な加工を要するプローブの部品に組み込むことが出来ました！硬い端子の接触にご検討ください。
ニードル形状のプローブ自体は切削性の良い金属で加工をしてその頂点部分に イリジウムやロジウムなどのレアメタルを接合することに成功しました。 この技術により研磨等で単純な形状しか出来なかったレアメタルを 複雑な加工を要するプローブの部品に組み込むことが出来ました。 一般的なプローブの材質であるBeCu（ベリリウム銅）の硬度はHV400程度 ですが、イリジウムやロジウムはHV1000を超える硬度を持っております。 そして硬度に加えてこれらの材料は電気的特性にも優れております。 したがって、様々な材質の電極に安定したコンタクトを長い期間続ける ことが出来、メンテナンスサイクルを延ばすことが可能です。 ※詳しくはPDF資料をご覧いただくか、お気軽にお問い合わせ下さい。
前工程は後工程よりも挟ピッチ化、安定した電気的性能が求められます。プローブカードまでの製作も承ります！
精研では、P=150um対応の垂直型プローブをラインアップしています。 先端はハンダへの接触性で定評ある合金でクラウンカットにも 対応しているため、バンプに対しても安定したコンタクトが出来ます。 特殊形状のバネを用いて一定の荷重を確保していることで、同じピッチの 一般的なバネを使ったプローブよりバンプへの接触性が良好です。 【特長】 ■P=150um対応の垂直型プローブをラインアップ ■合金でクラウンカットにも対応 ■バンプに対しても安定したコンタクトが出来る ■特殊形状のバネを用いて一定の荷重を確保 ■バンプへの接触性が良好 ※詳しくはPDF資料をご覧いただくか、お気軽にお問い合わせ下さい。
