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最終更新日:2021年10月18日

株式会社精研 本社
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様々な電子部品の検査をサポート!TOTAL TEST SOLUTIONの精研!

電気検査に使用するコンタクトプローブ、 半導体ウエハ検査用プローブカード・ICソケットを取り扱う 株式会社精研の半導体検査機器のご紹介です。 標準品から特殊仕様品にも対応した「コンタクトプローブ」をはじめ、 用途に合わせたハウジング材料での構成が可能な「ICソケット」、 微細加工技術による狭ピッチをはじめ、様々な検査条件に対応した「プローブカード」をラインアップしています。 検査条件の例 ・狭ピッチに対応(MIN P=80μ) ・大電流検査(IGBTデバイスの前工程検査) ・非磁性検査(磁性を持たない材質で製作するプローブ) 長年培ってきた技術を活かし、より効率的な検査環境を提供すること、 より細かいご要望に応えられるよう、開発を続けております。 製品概要を資料にてご紹介をしております。 【掲載内容】 ■はじめに ■製品・技術のご紹介(コンタクトプローブ)  ・新製品技術のご紹介 ■技術紹介(ICソケット、プローブカード) ■その他各種製品・サービス(精密加工他) ※詳しくはPDF資料をご覧いただくか、お気軽にお問い合わせ下さい。

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半導体検査【コンタクトプローブ・ICソケット・プローブカード】

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基本情報

【掲載製品】 ■コンタクトプローブ 新技術のご紹介 ・プローブ1本あたりの許容電流を倍に。大電流検査に優れたCNT技術 ・交換の手間を削減。耐久性に優れたレアメタルプローブ ・内部構造を見直し。安定した抵抗値測定向け新型バイアスプローブ ■ICソケット ・非磁性対応ソケット ・高耐熱対応ソケット ■プローブカード ・min80μピッチ対応プローブカード ・大電流負荷試験プローブカード ※詳しくはPDF資料をご覧いただくか、お気軽にお問い合わせ下さい。

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用途/実績例

【コンタクトプローブ】 電気検査装置ヘッド部   コネクタ  基板ファンクション検査  液晶パネル点灯検査  電池充放電検査 【プローブカード】 半導体前工程検査 【ICソケット】 半導体後工程検査 ※詳しくはPDF資料をご覧いただくか、お気軽にお問い合わせ下さい。

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半導体検査機器【ICソケット・プローブカード】紹介カタログ

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 当社 は、その品質保証に不可欠な検査機器を開発/設計してきたメーカーです。 1984年の創業・創立以来、プローブピン、及びその応用製品である 各種検査冶具を専門メーカーとして製造・販売を開始。 その後、プローブカードやICソケットをはじめとする半導体部品検査冶具、 液晶パネル検査冶具等、様々な市場でユーザ様のご要望に応えて参りました。  業界のリーディングカンパニーとして長年“精錬”し、“研鑽”してきた精密加工・組立技術。 時代の変化に追従し、『TOTAL TEST SOLUTION』の精研として、 これからもユーザ様のよきパートナーとして様々な製品、サービスで 検査業務における課題の克服に取り組んで参ります。  また、近年は弊社製品を作る上で積み上げてきた技術やノウハウを EMS事業と言う形でもユーザ様へご提供しております。 独自のスキルはもちろんのこと、協力会社や関係会社とユーザ様とのマッチングにより モノづくりにおける様々なサポートもさせて頂いております。  精研は、常にチャレンジし、新たな価値を生み出し、日本のモノづくりの未来を拓きます。

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