赤外線顕微鏡 「IR−1300」
傷や異物の寸法計測も可能!シリコンチップの内部観察に適しています!
高解像度赤外線CMOSカメラとエンハンサソフトウェアにより各種 シリコンデバイスの界面検査を鮮明な画像で表示する赤外線透過顕微鏡システムです!! ~特徴~ ●反射/透過照明での不鮮明画像をエンハンサソフトで鮮明な画像を入手。 ●デバイス界面のボイド・傷・異物の欠陥画像観察、保存が可能。 ●画面上での寸法計測、面積計測が可能。 ※詳細はカタログをダウンロードして下さい。
- 企業:ディスク・テック株式会社 本社
- 価格:応相談