傷や異物の寸法計測も可能！シリコンチップの内部観察に適しています！
高解像度赤外線ＣＭＯＳカメラとエンハンサソフトウェアにより各種 シリコンデバイスの界面検査を鮮明な画像で表示する赤外線透過顕微鏡システムです！！ ～特徴～ ●反射/透過照明での不鮮明画像をエンハンサソフトで鮮明な画像を入手。 ●デバイス界面のボイド・傷・異物の欠陥画像観察、保存が可能。 ●画面上での寸法計測、面積計測が可能。 ※詳細はカタログをダウンロードして下さい。
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基本情報
MEMSに於いて赤外線でウェーハ裏面の観察を行う際に鮮明な画像が得られないケースは多々ありますが、その画像をエンハンサソフトで鮮明にする事が可能です。傷や異物の寸法計測も可能です。
価格情報
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納期
※内容によって納期が変動しますので、お気軽にお問い合わせください。
用途／実績例
～用途～ ●フリップ実装におけるコンタクト界面の観察、外観検査。 ●貼り合わせシリコンウェーハの界面の観察、欠陥検査。 ●ＭＥＭＳ、ＷＬＣＳＰ、ＳＩＰ、ＣＯＮ等の各種デバイスの内部観察。
カタログ（2）
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企業情報
ディスクテックの画像処理は社内光学系技術者、レーザー技術者、ハードウェア、ソフトウェア、精密機械技術者がトータルソリューションを提供します。赤外線を応用した検査装置、三次元検査装置など手がけています。自社製品の赤外線顕微鏡は10年以上の実績があります。