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コンパクトで持ち運びが簡単！脱着式チャージ搭載によりメンテナス性が向上！
『PAMS』は脱着式チャージ搭載によりメンテナス性が向上したポータブル 粒度分布測定器です。 PC不要、バッテリー駆動のためコンパクトで持ち運びが簡単。 ワイドレンジと高分解能の2つのレンジで粒径分布を測定できます。 両極荷電方式による中和器の採用で、放射性物質が不要です。 【特長】 ■脱着式チャージ搭載 ■メンテナス性が向上 ■コンパクトで持ち運びが簡単 ■2つのレンジで粒径分布を測定可能 ※詳しくはPDF資料をご覧いただくか、お気軽にお問い合わせ下さい。
磁場分布をホール素子によって、走査自動計測します！
当社では、電磁石間や、超電導バルク体の磁束トラップ状態等を高速に スキャニング可能な『磁場分布測定装置』を取り扱っております。 磁場分布はコンピューターソフトで3次元にグラフィック化され 磁場分布状態が即座に確認出来ます。 磁場測定にはホール素子を使用し、極低温状態でもスキャニング可能です。 ご要望の際はお気軽にお問い合わせください。 【基本仕様】 ■移動範囲：X、Y軸 ±50mmまたは±100mm Z軸 ±50mm ■構造：5相ステッピングモーター付き 専用アクチュエーター ■操作分解能：0.1ｍｍ ■操作プローブ：FRP支持 ホール素子 ■ソフトウェアー：シグマ光機製 SGEMCSまたは当社オリジナルソフト PC及びPCI/GPIBカード付属 ※詳しくはPDFをダウンロードして頂くか、お問い合わせください。
混練・外添などきめ細やかな対応！粉度分布を高精度で測定できます！
株式会社荒木製作所では、粉度分布を高精度で測定できます。 「レーザー回折式粉度分布測定装置」を設置（2016年導入）し、お客様と 同様の測定方式にて共通の値をもって評価。 トナー原料の粉砕には欠かすことのできないベックマン・コールター社 製精密粉度分布測定装置「マルチサイザー」を設置し、高精度で 測定することが可能です。 原料粉砕後、各種添加剤などの混練・外添、粒径をそろえるための 篩（ふるい）等を経た後、指定の梱包形態にて納品いたします。 【保有設備】 ■レーザー回折式粉度分布測定装置 ■マルチサイザー3 ■ミキサー（200L） ■混練機「PCM43」 ※詳しくはPDF資料をご覧いただくか、お気軽にお問い合わせ下さい。
約１ミクロンまでの粒子, 液滴, スプレー, マイクロバブル 等の正確な粒度分布と速度分布の計測ができます。
画像解析式では初めて湿式・乾式・噴霧のいずれについても1μmから16mmの範囲で100m／sec以上の流速を伴う対象物の測定が可能です。 画像式の特徴である非球形粒子の測定にも最適な装置です。 また、特許技術のフォーカス・アペアランス・アルゴリズムにより、画像解析式でありながら、精度の低下を引き起こすテレセントリックレンズや測定条件が制限されるシースフローセルなどは不要です。 対象物の分散状態そのままを撮影しながらリアルタイムに自動測定するので、真値の粒度分布を正確かつ瞬時に得ることができます。その粒度分布値は、フォーカス・アペアランス・アルゴリズムを応用した３次元位置サイズ追跡・２画面PTVによって、多数ある粒子のそれぞれの粒子１個1個を瞬時に追跡して正確に測定を行うことによって得られます。 さらに、この方式によって、速度と粒度の対比分布測定も同時に行えます。このように本装置には、1μmからミリ単位までの大きな粒子や水滴の測定が可能、正確で安定した速度分布の測定、設置精度を要求しない簡単な取扱い、従来の測定装置では測定が困難な条件下でも安定して正確な測定可能です。
より高精度に細孔径を評価することが可能！AFSMによる細孔径の測定再現性のご紹介です
当資料では、AFSMによる細孔径の測定再現性について、グラフや方程式を 用いてご紹介しています。 AFSM=Advanced Free Space Measurement(US Patent:6.595.036)は、液体窒素 などの冷媒の液面を一定に保つ必要がなく、吸着測定中の室温変化や酸素溶解 による冷媒の温度変化を加味したフリースペース変化の実測が可能なため、 比表面積評価同様、より高精度に細孔径を評価することが可能です。 ※詳しくはPDF資料をご覧いただくか、お気軽にお問い合わせ下さい。
カーボン・セラミックス材料等の比表面積を独自技術により簡単・素早く・正確に！
当社が取り扱う、比表面積/細孔分布測定装置『BELSORP MINI X』を ご紹介します。 最大4検体、測定時間の大幅短縮、マルチリンクによるハイスループットの 新機能を導入。 新測定ソフトウェアにより、測定進捗の把握、メンテナンス時期の把握や 測定結果をメールにて送付するなど、ユーザーの労働生産性を向上させ、 さらに新解析ソフトウェア(BELMasterTM7)により、これまで以上に幅広い 材料の構造評価を可能としました。 【特長】 ■高精度・最大4検体同時測定 ■測定時間の大幅短縮を実現 ■ガス導入最適化機能GDOを搭載 ■最少条件設定により吸着等温線を自動測定 ■AFSM搭載により測定精度・再現性を向上 ※詳しくはPDF資料をご覧いただくか、お気軽にお問い合わせ下さい。
デモ/分析受付中 動的光散乱式！測定原理としてヘテロダイン法、周波数解析法など先端技術を採用しました
広がるナノの世界において、これまでお客様に定評のあった UPAシリーズをさらに進化させ生まれたのが「NANOTRAC WAVE II」です。 測定原理としてヘテロダイン法、周波数解析法など先端技術を採用。 広範囲な濃度測定、高精度・高分解能を実現し、長年の経験の中で培われた 技術力と品質でナノに秘められた可能性をお客様にお届けします。 【特長】 ■測定原理（動的光散乱法：DLS） ■低濃度から高濃度まで安定したデータ ■ヘテロダイン法の採用 ■バックグラウンド測定 ■独自の周波数解析アルゴリズムの採用 ※詳しくはPDF資料をご覧いただくか、お気軽にお問い合わせ下さい。
デモ/分析可 粒子径分布(ブロード/シャープ)、円形度、欠陥の原因となる粗大粒子の検出。動的画像解析式で大量粒子の乾式測定。
『CAMSIZER X2』は、新しいのカメラ技術とフレキシブルな試料分散 オプションを組み合わせた強力で汎用性の高い粒子特性解析装置です。 動的画像解析（ISO 13322-2）の原理に基づき、0.8μm～8mmの幅広い 測定範囲にて粉体、顆粒、懸濁液の正確な粒子径や粒子形状を求めます。 乾燥粉体、または懸濁液の状態で粒子の流れを生成し、高輝度ストロボ 光源と2台の高分解能デジタルカメラにより、毎秒300画像のフレーム レートで連続的に粒子画像を取得します。 【特長】 ■1～3分間の短い測定時間で、数十万～数百万個の粒子画像を撮像 ■試料の包括的で信頼性の高い特性評価を可能としている ■ISO 13322-2 動的画像解析に準拠 ■独自のデュアルカメラ技術を採用し、幅広い測定範囲に対応（0.8μm～8mm） ■シャープな粒子径分布（粒度分布）、複数山分布における高分解能測定 ※詳しくはPDF資料をご覧いただくか、お気軽にお問い合わせ下さい。
見方によって同じ粒子でも大きさは変わります。
真球の粒子径は一意的に決まります。しかし真球でないものは測り方によって 大きさが変わります。例えば粉砕物などは1粒ずつ形が違います。 従って、1粒ずつの粒子径測定から粉体全体の大きさを求めるためには、 たくさんの粒を同じ方法で測定し、統計的に粒の大きさを決める必要があります。 目視や画像解析では、ランダムに配向した粒子を一定軸方向の長さについて 測定する「定方向径」や、粒子の投影面積に等しい理想形状(通常は円)の粒子の 大きさを求める「相当径」が一般的です。 この他に粒子の長軸と短軸の比率を表すアスペクト比などがあります。 当社の粒子径分布測定装置は集合体としての粒子を計測しているため、 顕微鏡などによる測定と同列では議論できません。 マイクロトラックのうちレーザ回折法では、得られた光の散乱パターンと同等な 散乱パターンを示す球形粒子の集合体の粒子径分布を出力します。 動的光散乱法では拡散に基づく球相当径を出力します。 ※詳しくは関連リンクをご覧いただくか、お気軽にお問い合わせ下さい。
粉粒体を適切に評価するためには、平均粒子径だけではなく、粒子径分布が重要です。
粉体、つまり集合体としての粒子の大きさは、多数個の測定結果を大きさ (粒子径)毎の存在比率の分布として表すのが一般的です。 存在比率の基準としては体積基準(体積分布)、個数基準(個数分布)等があります。 マイクロトラック(レーザー回折･散乱法)では原理上体積分布を測定しています。 (粒子の形状を球形と仮定し、ソフトウェアで個数基準などに換算することは 容易です。) 沈降法は質量基準の測定法ですが、測定の過程で試料の密度が必要なため 体積分布も得られます。 動的光散乱法では、信号の相対強度として存在比率が求められるのが 一般的ですが、ナノトラックに限り体積分布が出力可能です。 粒子径分布は頻度として表す場合と、累積分布として表す場合があります。 累積分布には、細かい粒子の側をゼロとして右上がりのカーブとなる オーバーサイズと、粗い側をゼロとして右下がりとなるアンダーサイズがあります。 ※詳しくは関連リンクをご覧いただくか、お気軽にお問い合わせ下さい。
レーザ光の波長よりも非常に小さな粒子からの散乱光に適応される理論
レイリーの散乱(Rayleigh scattering)は主には0.05μmなどの波長と比べて 非常に小さい粒子のときに議論されるもので、今回の原理説明集の中で この散乱領域まで測定している例としてはナノトラックがあります。 しかしながら共に根本原理の中に占めるこのレイリー散乱の役割は多少意味が 異なる事から、ここではこのレイリー散乱の簡単な説明にとどめておきます。 レイリー散乱のもっとも一般的な例としては、青い空です。 地球を由り巻く02、N2の分子により、このレイリー散乱が起こり、波長の短い 青い光だけが強められた形になり、空が青く見えるという事です。 ※詳しくは関連リンクをご覧いただくか、お気軽にお問い合わせ下さい。
レーザ回折・散乱式装置の拠り所
G.Mieは1908年に、均一媒質内に存在し、任意な直径を持ち、任意材質の 均一な球による平面単色波の回折を、電磁気学によって取り扱い、厳密な 解を得ることに成功しました。 この散乱現象が私たちに取っては非常に大事な散乱となります。 ミー散乱が重要なのは、私たちが取り扱っている粒子径分布測定装置の 測定範囲のかなりの部分がこれに入っているからです。 しかしこのミーの散乱を数学的に解くには非常に難しい要素があります。 既にこのミーの式をコンピュータで解くプログラムも開発されていますが、 難しい事には変わりなく、この問題をいかにクリヤーするかが 粒子径分布測定装置メーカーのノウハウになります。 ※詳しくは関連リンクをご覧いただくか、お気軽にお問い合わせ下さい。
ホイヘンスの原理
光の直進性と波としての性質から、光の挙動について説明した人にかの 有名なホイへンス先生がいます。ホイへンスは次のようなモデルを使用して、 光の直進性を説明しました。 回折現象は皆さまの間近でもよく見受けられます。 例えば、私はあまり早起きでないのでずいぶん見ていませんが、日の出の 太陽が完全に姿をあらわす前から、東の山の稜線が光に縁取られたように 強く光るのを目にすることができます。 これが光の回折です。 ※詳しくは関連リンクをご覧いただくか、お気軽にお問い合わせ下さい。
平行光を利用した光の干渉
もう一方のフラウンホーファが説明している回折理論、これが実は後述する レーザ回折法の粒子径分布測定装置の基礎理論になっているのです。 フレネルの回折と区別する意味で、非常に大まかな分類ですが、フレネルの 回折 光源と観測点が共に回折が起きる開口部から近い時の回折 フラウンホーファの回折 光源と観測点が共に回折を起こす開口部から無限に 遠い時の回折、ということができます。 このフラウンホーファの回折現象はフレネルの回折と比較して数学的には 簡単に表すことができます。 光学の有識者にとってはカミナリを落とされるような乱暴な展開ですが、 どうしても縞模様ができる理由を知りたい方々には、付録に示す光の参考書類を 読んでいただくことを強くお勧めいたします。 ※詳しくは関連リンクをご覧いただくか、お気軽にお問い合わせ下さい。
水面に石を投げ入れた時の波面のモデル
この特性はレーザ回折方式にはあまり大きく関係しません。 干渉はナノトラックの原理を理解する上で重要な現象となります。 干渉の例としては、水面に石を投げ入れた時の波面のモデルです。 もし水面にある距離を離して、石を二つ落とすと、2つの表面波が重なり合う 時に、一方の波の峰(山)ともう1つの波の谷が同時に出会う時は波が弱まり、 山と山が出会うと波が強まることが観察できます。これが干渉です。 最初に出てくるのは「フーリエの定理」と言う数学の定理です。 この定理によれば、ある種の条件さえ満たせば、任意関数は有限個もしくは 無限個の正弦関数の和で表すことができます。 平たく言えば、たいがいの波形は複数個のサインカーブに分解できるということです。 ※詳しくは関連リンクをご覧いただくか、お気軽にお問い合わせ下さい。
独自の光学系設計、３本レーザ搭載、スリット状の検出器構造
マイクロトラックの検出器の形状は、散乱角度の中心から外に向かって スリット状になっています。 レーザー回折･散乱方式では、粒子へレーザー光を照射し、粒子径情報を 有する散乱光を、ある形状の検出器で検出し粒子径分布を求めますが、 検出器の形状により、その粒子径情報が2乗、3乗、または4乗に比例した 信号となります。 粒子径分布データは、粒子径の3乗に比例した体積ベースで表されますが、 通常みられる検出器では、体積ベースの粒子径分布データを表示するには、 いろいろな補正を加えることとなります。 マイクロトラックのスリット状の検出器では、求める粒子径の3乗に比例した 信号を直接取り出すことができます。 マイクロトラックだけが、サンプルの混合比を正確なデータとしてご提供 できる大きな理由はこの検出器の違いにあるのです。 ※詳しくは関連リンクをご覧いただくか、お気軽にお問い合わせ下さい。
吸着技術は古くから研究されており、ガス分離など工業プロセスにも応用されています！
今日、吸着技術は気体分離など工業プロセスにも応用されています。 吸着には図に示すような形態があり、不明瞭なのは、化学吸着と 物理吸着の違いです。 一般的にあるガス分子を材料に吸着させ、その吸着温度ないしは室温にて 排気できないような強い結合（水素結合・酸塩基結合）を持つものを 化学吸着と呼びます。 それに対し、物理吸着は吸着力が主にファンデルワールス力によるもので、 真空排気をすることにより脱着が可能です。 現在、物理吸着・化学吸着という表現をやめ可逆吸着・不可逆吸着と 呼ぶことも推奨されています。 ※詳しくは関連リンクをご覧いただくか、お気軽にお問い合わせ下さい。
同じ重さ・実体積を持つサンプルでも異なる表面積を持つ！比表面積と粒子径についてご紹介
粒子が小さくなれば比表面積が増え、当然粒子に細孔があれば 比表面積が増えます。 これはプロセスや反応において重要であり、同じ材料（重量当り、体積当り） でも表面のサイト量や吸着容量が変化することになります。 比表面積を測定することは材料（吸着剤・触媒など）の活性や吸着能力を 知る上で重要なパラメータとなります。 当社のホームページでは、粒子径と表面積の関係などを図でご紹介しています。 ぜひご覧ください。 ※詳しくは関連リンクをご覧いただくか、お気軽にお問い合わせ下さい。
単分子層吸着理論を多分子層吸着理論に拡張し得られた！BET比表面積の評価方法を基本からご紹介
比表面積は、通常ガス吸着等温線からBET理論（多分子層吸着理論） により解析されます。 BET理論は、固体表面の強い吸着サイトから吸着が始まり、圧力の 上昇に伴い、その次に強い吸着サイトに吸着していきます。 同時に2層目や3層目吸着が起こることをモデルとしています。 当社のホームページでは、図やグラフを用いてご紹介しています。 ぜひ、ご覧ください。 ※詳しくは関連リンクをご覧いただくか、お気軽にお問い合わせ下さい。
デモ/分析受付中 たった15分のBET評価！特に経験の浅いユーザーにとって非常に使いやすい装置です
『BELSORP MR1』は、試料の前処理と測定を同時に行うことができる 高効率、高精度なスタンドアローン型の迅速BET比表面積測定装置です。 材料の比表面積は、BET1点法を用いて測定。 熱伝導率検出器（TCD）、温度計、圧力計による高感度測定により、 キャリブレーション含め約15分で測定結果が得られます。 【特長】 ■高感度の熱伝導率検出器（オートゼロ機能有） ■温度と圧力測定による高精度な測定 ■測定結果やトレンドデータをUSBフラッシュメモリーに保存可能 ■外付けPC不要のコンパクト設計 ■Krによる低比表面積測定 ※詳しくはPDF資料をご覧いただくか、お気軽にお問い合わせ下さい。
【Youtube動画リンク付の資料を進呈】操作性向上！独自技術による世界最高レベルの再現性
『BELSORP MINI X』は最大４検体同時に高精度評価が可能な 比表面積・細孔分布測定装置です。 比表面積：0.01m 2/g以上(N2) 細孔分布：0.7～500nm(直径) ガス導入最適化機能GDOにより、測定時間の大幅短縮を実現。 また、最少条件設定により吸着等温線を自動測定することが可能です。 【特長】 ■最大4検体同時高密度測定 ■測定時間の大幅短縮を実現 ■ガス導入最適化（GDO)機能により、各吸着点を確実に短時間で評価 ■最少条件設定により吸着等温線を自動測定 ■AFSMおよびHeガス不要なAFSM2による再現性の高い評価 ※Youtube動画リンク付の資料をダウンロードいただけます。 ※詳しくはPDF資料をご覧いただくか、お気軽にお問い合わせ下さい。
無料ウェブセミナー動画あり！粒子径分布測定やゼータ電位測定などの評価方法の基礎を解説
当資料は、「コロイド・スラリーの分散性および分散安定性評価の基礎」 について解説するセミナー資料の概要編です。 分散性および分散安定性の定義から、レーザ回折・散乱法や動的光散乱法を 用いた分散性の評価、ゼータ電位測定や沈降試験による分散安定性の 評価方法について掲載しております。 分散・凝集挙動に関する基礎知識を学びたい方に好適な一冊です。 資料末尾には無料ウェビナー動画へのリンクもございますので、 ぜひご活用ください。 【掲載内容】 ■はじめに ・分散性および分散安定性とは ■評価方法 ・分散性の評価 ・分散安定性の評価 ※詳しくはPDFをダウンロードしていただくか、お気軽にお問い合わせください。
無料ウェブセミナー動画あり！4つの関連製品の特長や原理をわかりやすくご紹介します
当資料は、「コロイド・スラリーの分散性および分散安定性評価」に 関連する製品を紹介するセミナー資料です。 静的多重光散乱法を用いた分散安定性評価装置「TURBISCAN」を はじめ、流動電位測定装置、レーザ回折・散乱式および動的光散乱式の 粒子径分布測定装置を掲載。 各製品の原理や特長、ラインアップをまとめて確認でき、装置選定の参考資料として役立ちます。 また、無料ウェビナー動画へのリンクもご利用いただけます。 【掲載製品】 ■静的多重光散乱法(SMLS)分散安定性評価装置：TURBISCAN ■流動電位測定装置：STABINO ZETA ■レーザ回折・散乱＆動的画像解析式 粒子径分布測定装置：SYNC ■動的光散乱式 粒子径分布測定装置：NANOTRAC WAVEシリーズ ※詳しくはPDFをダウンロードしていただくか、お気軽にお問い合わせください。
トナー粒子の沈降挙動をTURBISCANで解析した事例をご紹介！
市販の塗料およびインクにおける分散安定性の低下は、ほとんどは懸濁粒子の 試料底部への沈降になります。すべてではないにしてもこれは避けられず、 再分散が必要になります。 主な懸念は、再分散(撹拌、振とうなど)において、懸濁液を初期の均質な状態に 戻すのに十分なエネルギーを得られない場合があることです。このような場合、 沈殿物は底に留まり、インクは本来の特性と品質を失います。 インクの堆積には数カ月を要するため、配合が安定しているという確信を持って 製品開発プロセスを完了するには、定量的な評価手法が必要であり、特に沈降挙動の 予測は極めて重要です。本稿ではトナー粒子の沈降挙動をTURBISCANで解析した 事例を紹介します。 【掲載内容】 ■はじめに ■原理 ■実験 ■結果 ■まとめ ※詳しくはPDFをダウンロードしていただくか、お気軽にお問い合わせください。
分散剤の分子量は安定性効率において重要な役割を果たします！
化学的機械研磨(CMP)は、ウエハやその他の基板を平坦化するために 半導体製造で用いられる技術です。このプロセスは材料を研磨し、不規則な 凹凸を均一にすることで、ウエハをオングストロームレベルで平滑化します。 セリウム(IV)酸化物(セリア)は、希土類金属であるセリウムの酸化物であり、 研磨剤としてよく利用されます。酸化膜に対して高い研磨効率を持つことが 知られていますが、反面粒子の沈降や凝集が早く、これが研磨プロセスに 大きな影響を及ぼし、不要な欠陥を生じさせるという好ましくない面もあります。 本稿では、分散剤の分子量がCMPスラリーの安定性に及ぼす影響をTURBISCANで 評価した事例を紹介します。 【掲載内容】 ■はじめに ■原理 ■実験 ■結果 ■まとめ ※詳しくはPDFをダウンロードしていただくか、お気軽にお問い合わせください。
粒子径分布測定した結果をもとに、微粒化材料の適切な粒子径評価手法を提案！
情報通信機器の小型化、高性能化に伴い、電子材料等の微細化が積極的に 進められています。 積層セラミックコンデンサに利用される代表的な電子粉体材料であるチタン酸 バリウムもそのうちの一つです。これより、粉体材料の研究開発や品質管理に おいて微粒領域における粒子径の管理が課題であり、とくに適切な測定手法の 選定が重要です。 そこで本トピックでは、微粒化したチタン酸バリウムを動的光散乱法 (Dynamic Light Scattering method;DLS)により粒子径分布測定した 結果をもとに、微粒化材料の適切な粒子径評価手法を提案します。 【掲載内容】 ■はじめに ■実験 ■結果と考察 ■まとめ ※詳しくはPDFをダウンロードしていただくか、お気軽にお問い合わせください。
2つの手法により粒子径分布測定した結果に基づき、微粒化材料の適切な粒子径評価手法を提案！
情報通信機器の小型化、高性能化に伴い、電子材料等の微細化が積極的に 進められています。 代表的な電子粉体材料の一つで、積層セラミックコンデンサに利用されている チタン酸バリウムも、サブミクロンからナノ領域まで微粒化が進められており、 粉体材料の研究開発や品質管理において、微粒領域における粒子径の管理が 課題であり,なかでも適切な測定手法の選定が重要です。 そこで本トピックでは、微粒化したチタン酸バリウムをレーザ回折・散乱法 (Laser Diffraction method; LD)ならびに、動的光散乱法(Dynamic Light Scattering method; DLS)の2つの手法により粒子径分布測定した結果に基づき、 微粒化材料の適切な粒子径評価手法を提案します。 【掲載内容】 ■概要 ■実験 ■結果 ■まとめ ■評価装置 ※詳しくはPDFをダウンロードしていただくか、お気軽にお問い合わせください。
比表面積、粒度分布、細孔分布ならびに空隙率による構造評価、及び等電点評価による表面特性評価を実施！
本資料では、粒度分布(レーザ回折・散乱)、細孔分布(水銀ポロシメータ)、 流動電位測定による水酸化ニオブ（NBO-4）、炭化ニオブ（NBO-5-C）の構造及び表面特性評価について ご紹介しております。 焼成温度の異なる3種のNBO-4ならびにNBO-5-Cは、粒子径分布・粒子形状測定装置 SYNCにより粒子径分布、水銀ポロシメータBELPOREにより細孔分布、流動電位 測定装置STABINO ZETAによりHClを滴定しながら流動電位を測定し等電点を評価しました。 その結果と考察について詳しく解説しております。 【掲載内容】 ■概要 ■測定試料及び評価装置 ■結果と考察 ■まとめ ■評価装置 ※詳しくはPDFをダウンロードしていただくか、お気軽にお問い合わせください。
粉砕初期と粉砕後期の粒子径分布の測定結果をグラフ形式でご紹介！
原薬結晶粒子の粒子径分布と粒子形状は、固形製剤の製造プロセスにおける 流動性などの粉砕挙動を制御するために重要です。 ここでは、原薬結晶体の粉砕粒子について物性評価を行ないます。 また、粉砕初期と粉砕後期のそれぞれの粒子画像についても 掲載しております。是非、ご活用ください。 【掲載内容(一部)】 ■概要 ■測定試料：粉砕初期、粉砕後期 ■測定結果 ・粉砕初期と粉砕後期の粒子径分布 ※詳しくはPDFをダウンロードしていただくか、お気軽にお問い合わせください。
測定結果：UFBあり/なしの粒子径分布画像についてご紹介！
晶析には冷却法、貧溶媒法、蒸発法などがありますが、ここでは、塩化による 結晶化を用いて水酸化カリウムを生成し、その結晶の特性を解析しました。 溶液にウルトラファインバブル(以下UFB、1μm未満のバブル)を 使用することで結晶の特性がどのように変化するのか実験しています。 【掲載内容(一部)】 ■概要 ■測定試料 ・水酸化カリウムの結晶生成 CaCl2＋2NaOH→Ca(OH)2↓＋2NaCl ■測定結果 ・UFBあり/なしの粒子径分布画像 ※詳しくはPDFをダウンロードしていただくか、お気軽にお問い合わせください。
