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磁場分布をホール素子によって、走査自動計測します！
当社では、電磁石間や、超電導バルク体の磁束トラップ状態等を高速に スキャニング可能な『磁場分布測定装置』を取り扱っております。 磁場分布はコンピューターソフトで3次元にグラフィック化され 磁場分布状態が即座に確認出来ます。 磁場測定にはホール素子を使用し、極低温状態でもスキャニング可能です。 ご要望の際はお気軽にお問い合わせください。 【基本仕様】 ■移動範囲：X、Y軸 ±50mmまたは±100mm Z軸 ±50mm ■構造：5相ステッピングモーター付き 専用アクチュエーター ■操作分解能：0.1ｍｍ ■操作プローブ：FRP支持 ホール素子 ■ソフトウェアー：シグマ光機製 SGEMCSまたは当社オリジナルソフト PC及びPCI/GPIBカード付属 ※詳しくはPDFをダウンロードして頂くか、お問い合わせください。
混練・外添などきめ細やかな対応！粉度分布を高精度で測定できます！
株式会社荒木製作所では、粉度分布を高精度で測定できます。 「レーザー回折式粉度分布測定装置」を設置（2016年導入）し、お客様と 同様の測定方式にて共通の値をもって評価。 トナー原料の粉砕には欠かすことのできないベックマン・コールター社 製精密粉度分布測定装置「マルチサイザー」を設置し、高精度で 測定することが可能です。 原料粉砕後、各種添加剤などの混練・外添、粒径をそろえるための 篩（ふるい）等を経た後、指定の梱包形態にて納品いたします。 【保有設備】 ■レーザー回折式粉度分布測定装置 ■マルチサイザー3 ■ミキサー（200L） ■混練機「PCM43」 ※詳しくはPDF資料をご覧いただくか、お気軽にお問い合わせ下さい。
約１ミクロンまでの粒子, 液滴, スプレー, マイクロバブル 等の正確な粒度分布と速度分布の計測ができます。
画像解析式では初めて湿式・乾式・噴霧のいずれについても1μmから16mmの範囲で100m／sec以上の流速を伴う対象物の測定が可能です。 画像式の特徴である非球形粒子の測定にも最適な装置です。 また、特許技術のフォーカス・アペアランス・アルゴリズムにより、画像解析式でありながら、精度の低下を引き起こすテレセントリックレンズや測定条件が制限されるシースフローセルなどは不要です。 対象物の分散状態そのままを撮影しながらリアルタイムに自動測定するので、真値の粒度分布を正確かつ瞬時に得ることができます。その粒度分布値は、フォーカス・アペアランス・アルゴリズムを応用した３次元位置サイズ追跡・２画面PTVによって、多数ある粒子のそれぞれの粒子１個1個を瞬時に追跡して正確に測定を行うことによって得られます。 さらに、この方式によって、速度と粒度の対比分布測定も同時に行えます。このように本装置には、1μmからミリ単位までの大きな粒子や水滴の測定が可能、正確で安定した速度分布の測定、設置精度を要求しない簡単な取扱い、従来の測定装置では測定が困難な条件下でも安定して正確な測定可能です。
細孔分布解析が可能！吸着等温線から得られる情報についてご紹介している資料です
当資料は、吸着等温線から得られる情報についてグラフを用いて、 ご紹介しています。 吸着等温線は、一定温度における横軸=圧力（P）もしくは相対圧（p/p0）、 縦軸=吸着量（STP:標準状態:273.15 K.100kPa）で表します。 比表面積・細孔分布解析を行う場合、横軸は各測定点の圧力（=平衡圧）を 飽和蒸気圧で除した相対圧で表すため、その範囲は0から1となり、0では 前処理後の状態1では全細孔内（空隙内）に吸着分子が充填された状態 （飽和状態）となります。 ※詳しくはPDF資料をご覧いただくか、お気軽にお問い合わせ下さい。
【資料】HK法による活性炭AX21のマイクロ孔評価についてご紹介です！
当資料は、HK法による活性炭AX21のマイクロ孔評価について、図やグラフを 用いてご紹介しています。 HK(Horvath-Kawazoe)法ならびにSF(Saito-Foley)法は、マイクロ孔に特化 した細孔分布の評価方法です。 Horvath-Kawazoeは、カーボンスリット型細孔を仮定し、マイクロ孔内に存在 する吸着分子が受ける平均ポテンシャルをLennard-Jonesポテンシャルから 計算しています。 ※詳しくはPDF資料をご覧いただくか、お気軽にお問い合わせ下さい。
【資料】SF法によるメソポーラスゼオライトのマイクロ孔評価のご紹介！
当資料は、SF法によるメソポーラスゼオライトのマイクロ孔評価について、 図やグラフなど用いてご紹介しています。 SF(Saito-Foley)法はシリンダー型マイクロ孔を仮定し、HK法を拡張した式1 により細孔径と相対圧の関係式が得られます。 NH4型ZSM-5(MFI型ゼオライト)を大気圧下で535℃、3hr加熱処理し調製したH+型 ZSM-5は、200nm前後の多面体層状粒子の凝集体で、粒子間はスリット型の細孔 からなることが確認できます。 ※詳しくはPDF資料をご覧いただくか、お気軽にお問い合わせ下さい。
カーボン・セラミックス材料等の比表面積を独自技術により簡単・素早く・正確に！
当社が取り扱う、比表面積/細孔分布測定装置『BELSORP MINI X』を ご紹介します。 最大4検体、測定時間の大幅短縮、マルチリンクによるハイスループットの 新機能を導入。 新測定ソフトウェアにより、測定進捗の把握、メンテナンス時期の把握や 測定結果をメールにて送付するなど、ユーザーの労働生産性を向上させ、 さらに新解析ソフトウェア(BELMasterTM7)により、これまで以上に幅広い 材料の構造評価を可能としました。 【特長】 ■高精度・最大4検体同時測定 ■測定時間の大幅短縮を実現 ■ガス導入最適化機能GDOを搭載 ■最少条件設定により吸着等温線を自動測定 ■AFSM搭載により測定精度・再現性を向上 ※詳しくはPDF資料をご覧いただくか、お気軽にお問い合わせ下さい。
デモ/分析可 粒子径分布(ブロード/シャープ)、円形度、欠陥の原因となる粗大粒子の検出。動的画像解析式で大量粒子の乾式測定。
『CAMSIZER X2』は、新しいのカメラ技術とフレキシブルな試料分散 オプションを組み合わせた強力で汎用性の高い粒子特性解析装置です。 動的画像解析（ISO 13322-2）の原理に基づき、0.8μm～8mmの幅広い 測定範囲にて粉体、顆粒、懸濁液の正確な粒子径や粒子形状を求めます。 乾燥粉体、または懸濁液の状態で粒子の流れを生成し、高輝度ストロボ 光源と2台の高分解能デジタルカメラにより、毎秒300画像のフレーム レートで連続的に粒子画像を取得します。 【特長】 ■1～3分間の短い測定時間で、数十万～数百万個の粒子画像を撮像 ■試料の包括的で信頼性の高い特性評価を可能としている ■ISO 13322-2 動的画像解析に準拠 ■独自のデュアルカメラ技術を採用し、幅広い測定範囲に対応（0.8μm～8mm） ■シャープな粒子径分布（粒度分布）、複数山分布における高分解能測定 ※詳しくはPDF資料をご覧いただくか、お気軽にお問い合わせ下さい。
見方によって同じ粒子でも大きさは変わります。
真球の粒子径は一意的に決まります。しかし真球でないものは測り方によって 大きさが変わります。例えば粉砕物などは1粒ずつ形が違います。 従って、1粒ずつの粒子径測定から粉体全体の大きさを求めるためには、 たくさんの粒を同じ方法で測定し、統計的に粒の大きさを決める必要があります。 目視や画像解析では、ランダムに配向した粒子を一定軸方向の長さについて 測定する「定方向径」や、粒子の投影面積に等しい理想形状(通常は円)の粒子の 大きさを求める「相当径」が一般的です。 この他に粒子の長軸と短軸の比率を表すアスペクト比などがあります。 当社の粒子径分布測定装置は集合体としての粒子を計測しているため、 顕微鏡などによる測定と同列では議論できません。 マイクロトラックのうちレーザ回折法では、得られた光の散乱パターンと同等な 散乱パターンを示す球形粒子の集合体の粒子径分布を出力します。 動的光散乱法では拡散に基づく球相当径を出力します。 ※詳しくは関連リンクをご覧いただくか、お気軽にお問い合わせ下さい。
粉粒体を適切に評価するためには、平均粒子径だけではなく、粒子径分布が重要です。
粉体、つまり集合体としての粒子の大きさは、多数個の測定結果を大きさ (粒子径)毎の存在比率の分布として表すのが一般的です。 存在比率の基準としては体積基準(体積分布)、個数基準(個数分布)等があります。 マイクロトラック(レーザー回折･散乱法)では原理上体積分布を測定しています。 (粒子の形状を球形と仮定し、ソフトウェアで個数基準などに換算することは 容易です。) 沈降法は質量基準の測定法ですが、測定の過程で試料の密度が必要なため 体積分布も得られます。 動的光散乱法では、信号の相対強度として存在比率が求められるのが 一般的ですが、ナノトラックに限り体積分布が出力可能です。 粒子径分布は頻度として表す場合と、累積分布として表す場合があります。 累積分布には、細かい粒子の側をゼロとして右上がりのカーブとなる オーバーサイズと、粗い側をゼロとして右下がりとなるアンダーサイズがあります。 ※詳しくは関連リンクをご覧いただくか、お気軽にお問い合わせ下さい。
レーザ光の波長よりも非常に小さな粒子からの散乱光に適応される理論
レイリーの散乱(Rayleigh scattering)は主には0.05μmなどの波長と比べて 非常に小さい粒子のときに議論されるもので、今回の原理説明集の中で この散乱領域まで測定している例としてはナノトラックがあります。 しかしながら共に根本原理の中に占めるこのレイリー散乱の役割は多少意味が 異なる事から、ここではこのレイリー散乱の簡単な説明にとどめておきます。 レイリー散乱のもっとも一般的な例としては、青い空です。 地球を由り巻く02、N2の分子により、このレイリー散乱が起こり、波長の短い 青い光だけが強められた形になり、空が青く見えるという事です。 ※詳しくは関連リンクをご覧いただくか、お気軽にお問い合わせ下さい。
レーザ回折・散乱式装置の拠り所
G.Mieは1908年に、均一媒質内に存在し、任意な直径を持ち、任意材質の 均一な球による平面単色波の回折を、電磁気学によって取り扱い、厳密な 解を得ることに成功しました。 この散乱現象が私たちに取っては非常に大事な散乱となります。 ミー散乱が重要なのは、私たちが取り扱っている粒子径分布測定装置の 測定範囲のかなりの部分がこれに入っているからです。 しかしこのミーの散乱を数学的に解くには非常に難しい要素があります。 既にこのミーの式をコンピュータで解くプログラムも開発されていますが、 難しい事には変わりなく、この問題をいかにクリヤーするかが 粒子径分布測定装置メーカーのノウハウになります。 ※詳しくは関連リンクをご覧いただくか、お気軽にお問い合わせ下さい。
ホイヘンスの原理
光の直進性と波としての性質から、光の挙動について説明した人にかの 有名なホイへンス先生がいます。ホイへンスは次のようなモデルを使用して、 光の直進性を説明しました。 回折現象は皆さまの間近でもよく見受けられます。 例えば、私はあまり早起きでないのでずいぶん見ていませんが、日の出の 太陽が完全に姿をあらわす前から、東の山の稜線が光に縁取られたように 強く光るのを目にすることができます。 これが光の回折です。 ※詳しくは関連リンクをご覧いただくか、お気軽にお問い合わせ下さい。
平行光を利用した光の干渉
もう一方のフラウンホーファが説明している回折理論、これが実は後述する レーザ回折法の粒子径分布測定装置の基礎理論になっているのです。 フレネルの回折と区別する意味で、非常に大まかな分類ですが、フレネルの 回折 光源と観測点が共に回折が起きる開口部から近い時の回折 フラウンホーファの回折 光源と観測点が共に回折を起こす開口部から無限に 遠い時の回折、ということができます。 このフラウンホーファの回折現象はフレネルの回折と比較して数学的には 簡単に表すことができます。 光学の有識者にとってはカミナリを落とされるような乱暴な展開ですが、 どうしても縞模様ができる理由を知りたい方々には、付録に示す光の参考書類を 読んでいただくことを強くお勧めいたします。 ※詳しくは関連リンクをご覧いただくか、お気軽にお問い合わせ下さい。
水面に石を投げ入れた時の波面のモデル
この特性はレーザ回折方式にはあまり大きく関係しません。 干渉はナノトラックの原理を理解する上で重要な現象となります。 干渉の例としては、水面に石を投げ入れた時の波面のモデルです。 もし水面にある距離を離して、石を二つ落とすと、2つの表面波が重なり合う 時に、一方の波の峰(山)ともう1つの波の谷が同時に出会う時は波が弱まり、 山と山が出会うと波が強まることが観察できます。これが干渉です。 最初に出てくるのは「フーリエの定理」と言う数学の定理です。 この定理によれば、ある種の条件さえ満たせば、任意関数は有限個もしくは 無限個の正弦関数の和で表すことができます。 平たく言えば、たいがいの波形は複数個のサインカーブに分解できるということです。 ※詳しくは関連リンクをご覧いただくか、お気軽にお問い合わせ下さい。
