更新日： 集計期間:2025年10月15日～2025年11月11日
※当サイトの各ページの閲覧回数を元に算出したランキングです。
更新日： 集計期間:2025年10月15日～2025年11月11日
※当サイトの各ページの閲覧回数を元に算出したランキングです。
更新日： 集計期間:2025年10月15日～2025年11月11日
※当サイトの各ページの閲覧回数を元に算出したランキングです。
331～345 件を表示 ／ 全 655 件
何時間もかかる細胞カウントなどの分析が「約３秒」で完了！しかも低価格！
『Shape Analyzer ver2.0』は、画像を取り込むだけで、特定形状を自動検出。 今まで手作業で行っていたカウントなどの分析が、たった数秒で行えます。 従来型の自動分析装置のように、高価な顕微鏡を導入する必要なし！ 画像ファイルを分析するため、圧倒的な低価格で利用できます。 【特長】 ■高速で分析(３秒程度) ■分析結果に個人差が出ず、正確 ■複雑形状の分析もカンタン ■誰でも使える、直感的なインターフェイス ■統計や経過観察も、手軽に実現 ※詳しい仕様、分析画面などを掲載したカタログをご覧下さい
環境水・排水・下水中の硝酸・アンモニア・リン酸・シリカが測定できます。（連続流れ分析法を採用）
官公庁・大学・民間の水質調査機関でご使用頂いております。 最大で硝酸・亜硝酸・リン酸・アンモニア・シリカの5項目を 同時に120検体毎時に測定が可能です。 河川、汽水、湖沼、環境水まで幅広い測定が可能です。 【特長】 ■最大で硝酸・亜硝酸・リン酸・アンモニア・シリカの5項目を 同時に120検体毎時に測定 ■河川、汽水、湖沼、環境水まで幅広い測定が可能 ■優れた自動化技法 ■優れたコストパフォーマンス ■ＪＩＳ及び環境省告示法に収載 ※詳しくはPDF資料をご覧いただくか、お気軽にお問い合わせ下さい。
海水や排水の全窒素、全りん等測定におけるCFA法を用いた分析事例について掲載
三洋テクノマリン株式会社様のオートアナライザーを用いた窒素・リン分析は 連続流れ分析（CFA法）を採用しており、現在当社の「QuAAtro2-HR」を ご使用いただいております。 流れ分析法の導入にあたり、一般的には効率性の向上に着目しますが、 導入後はユーザー様ならではの機器管理の苦労や工夫があります。 当資料は、三洋テクノマリン株式会社様がユーザーとして得られた知見について 報告するものであります。 【掲載内容】 ■分析設備の概要 使用している装置の分析方法や装置の仕様 ■本機種と手分析との対比 手分析とCFA を「効果」「負担」の観点から比較 ■NH4-N 分析におけるコンタミネーション対策 防音箱等を使用したコンタミ防止対策等 ■全窒素分析におけるキャリーオーバーの対策 ■まとめ ※詳しくはPDF資料をご覧いただくか、お気軽にお問い合わせ下さい。
ハロゲン及びLED光源搭載可能！オートアナライザーシリーズの縦型の2チャンネルのシステム
当社は新たに、連続流れ分析装置「MiSSion」をリリースしました。 オートアナライザーシリーズの縦型の2チャンネルのシステムです。 測定原理は吸光光度法の流れ分析装置で、気泡分節型の「CFA」法。 オートアナライザーシリーズは、環境、農業、水産、化学分野などの 化学分析に対して1000を超える分析メソッドがあり、多くの分析機関 などで使われております。 【特長】 ■超低濃度測定に対応 ■ハロゲン及びLED光源搭載可能 ■優れたメンテナンス性 ■検出器の温調機能 ■新しいソフトウェア ※詳しくはPDF資料をご覧いただくか、お気軽にお問い合わせ下さい。
環境や食品の前処理から測定まで、自動化に役立つ分析装置を多数展示！科学・分析に関わる技術が集結する“JASIS 2025”に出展
『JASIS 2025』は、人々の暮らしに役立つ科学の進歩を支える 数多くの分析機器、科学機器メーカーが集まる、科学・分析システム＆ソリューション展です。 数多くの新技術の説明会やセミナーが行われます。 環境、農業、水産、化学分野などの化学分析に対して1000を超える分析メソッドがあり、 多くの分析機関などで使われている連続流れ分析装置（CFA）「MiSSion」や 分析機器により環境・食品分析の自動化、効率・品質アップに貢献する 「重金属分析前処理装置」「近赤外分析装置」などの多数の製品を展示！ 【出展製品】 ■連続流れ分析装置『MiSSion』 ■重金属全自動酸分解前処理装置『AATM』 ■全自動酸分解前処理装置『DEENA2』 ■近赤外分析装置『SpectraStar XT』 ■損傷澱粉測定装置『SDmatic 2』 ※出展製品の詳細は＜PDFダウンロード＞よりご覧いただけます。 各種製品の詳細は、お問い合わせください。
モータ、ポンプ、ファン等の常時振動監視や設備診断に！一目でわかるデジタルメーター表示です。加速度・速度・変位全てのモードに対応。
■□■特徴■□■ ■見やすいディジタルメータ表示を採用 信号レベルが一目でわかる仕様 ■警報はディジタルで簡単設定 ディジタル設定スイッチで、任意の値を1％刻みで簡単に設定可能 ■レベル信号および警報出力機能搭載 レベル信号（DC4〜20mA）および警報出力（リレー出力）を搭載 ■ポータブル診断器と接続すれば精密診断が可能 MK-210HEII型振動データ管理システムに接続すれば、 精密診断や周波数解析、報告書出力などが可能 ■電源はワールドボルテージ対応 AC85〜264Vの電源が使用でき、ワールドワイドで使用できる ■その他機能や詳細はカタログをダウンロードしてご覧ください。 または、詳細仕様書をお渡しします！ お問い合わせください。
FIB加工をリアルタイムで観察しながら断面観察が可能です。
半導体デバイス、MEMS、TFTなどナノスケールの精度で製造される エレクトロニクス製品の構造解析を行うための新たな手法： クロスビームFIBにより断面観察をご提案いたします。
複数の測定モードで熱膨張、熱収縮、ガラス転移温度の情報が得られます！
『TMA（熱機械測定）』は、試料に一定の荷重をかけた状態で試料温度を 変化させ、試料の寸法変化を測定する手法です。 材料の熱膨張、熱収縮、ガラス転移温度などの情報が得られます。 また、温度範囲は－150～1000℃、サイズ最大はΦ10×25mm（圧縮モード、 針入れモード）、サイズ最大は0.7mm×5mm×20mm（引張モード）が 測定可能条件です。 本資料では半導体封止材のTMA分析事例を掲載しています。 【特長】 ■熱機械測定 ■試料に一定の荷重をかけ試料温度を変化させる ■試料の寸法変化を測定 ■熱膨張、熱収縮、ガラス転移温度などの情報が得られる ■複数の測定モード ※詳しくはPDF資料をご覧いただくか、お気軽にお問い合わせ下さい。
屈曲部の配線に歪みが蓄積している個所などが分かる、EBSD解析をご紹介します！
フレキシブル基板（FPC）のEBSD解析をご紹介します。 可動部や折り曲げ機構がある製品に使用されるフレキシブル基板について、 屈曲部と固定部でCu配線に違いがあるかEBSDによる確認を実施。 その結果、光学像では屈曲部と固定部の配線に顕著な異常や差異は 確認できないが、EBSD解析では、屈曲部の配線に歪みが蓄積している個所や、 小傾角粒界が集中している個所が存在していることが分かりました。 【解析内容】 ■フレキシブル基板外観とCu配線光学像 ・フレキシブル基板外観 ・屈曲部の配線 ・固定部の配線 ■EBSDによる屈曲部と固定部のCu配線比較 ・屈曲部の配線 ・固定部の配線 ※詳しくはPDF資料をご覧いただくか、お気軽にお問い合わせ下さい。
標準スペクトルと比較することで結合状態を推定！EPMAによる状態分析をご紹介
EPMAによる状態分析では、酸化物やケイ酸塩の化学結合状態（イオン価、 結晶構造、配位数）の異なりから、特性X線ピーク波長に変化（シフトや波形）が 生じることを利用し、標準スペクトルと比較することで結合状態を推定します。 2種類の銅酸化物の識別において、黒色CuOと赤色Cu2Oの色彩による識別が 困難な場合、特に電子顕微鏡が必要なミクロな対象物に対して、EPMAによる 酸化状態の把握が可能です。 また、Al表面の薄い酸化層の測定には最表面分析手法のXPSが有効ですが、 異物等の微小物や塊状物、バルク、複合材等に対して、EPMAによる酸化状態の 把握ができます。 【装置仕様】 ■日本電子（株）製 Jeol-8200 ■分析方式：波長分散型X線分析（WDX） ■分析可能元素：B～U ■エネルギー分解能：20eV（EDXは約130eV） ■検出限界：0.01％～ ■最大試料寸法：100x100mm ※詳しくはPDF資料をご覧いただくか、お気軽にお問い合わせ下さい。
破断部の断面観察や、破断部の元素マップなど掲載しています！
当資料は、太陽電池モジュールの断面観察についてご紹介しています。 冷熱衝撃試験を行なった太陽電池モジュールを検査し、異常が特定された 箇所の断面観察を行なったところ、インタコネクタ半田付け部が破断している ことが確認されました。 【掲載内容】 ■破断部の断面観察 ■破断部の元素マップ ※詳しくはPDF資料をご覧いただくか、お気軽にお問い合わせ下さい。
素材分子構造変化をIR分析にて検証した事例をご紹介！多種多様なサンプルの設置も工夫してご対応
製品を構成する素材の、熱、湿気負荷による信頼性試験は必須ですが、 試験後の分析評価もまた、欠かすことのできないプロセスです。 恒温恒湿試験は、製品、素材などに温度と湿度の負荷をかけ、物性、特性、 外観などの変化有無、および寿命を確認する装置で、当社では、多種多様な サンプルの設置も工夫してご対応。 当資料では、恒温恒湿試験前後の素材分子構造変化をIR分析にて検証した 事例をご紹介します。ぜひ、ご一読ください。 【掲載内容】 ■信頼性試験装置例（恒温恒湿試験装置） ■サンプル設置の工夫 ■化学分析による試験前後の比較評価 ※詳しくはPDF資料をご覧いただくか、お気軽にお問い合わせ下さい。
感度よく検出することが可能！TOF-SIMSとSEM-EDXでLiの分析を比較した事例をご紹介
TOF-SIMSとSEM-EDXでLiの分析を比較した事例をご紹介します。 汚染や異物の分析には、SEM-EDXが利用されていますが、 windowless EDXを除く一般的なEDXではLiの検出は困難です。 一方、TOF-SIMSはLiを感度よく検出することができます。 ご用命の際はお気軽にお問い合わせください。 【概要】 ■銅板の染みの分析 ■SEM-EDX分析→Li検出困難 ■TOF-SIMS分析→Li検出可能 ※詳しくはPDF資料をご覧いただくか、お気軽にお問い合わせ下さい。
パネルサイズにより、ICP-AES/MS装置を使い分けて分析する事が可能です！
信頼性試験前後のパネルを用いてICP測定を行い、定量化を行った事例を ご紹介します。 LCDの液晶分子はパネル内で配向しており、電圧により液晶の配向状態が 変わる事で表示が制御されます。金属元素のようなイオン性物質がパネル 内部に存在すると液晶が正しく駆動せず表示不良が発生。 イオン性物質は、製造時の混入や長期使用で増加することが知られており、 定量化して把握する事がパネル品質として重要です。 金属イオンは、ICP分析を用いることで定量分析を行うことが可能であり、 前処理方法や検出感度の違いにより、ICP-AES/MSを使い分けて行います。 【解析内容】 ■ICP-AES分析による金属元素含有量の比較 ■ICP-MS分析による金属元素含有量の比較 ※詳しくはPDF資料をご覧いただくか、お気軽にお問い合わせ下さい。
一長一短な特長があるためサンプル形態や観察範囲、目的などに応じて選択する必要があります！
当社にて、A社製のVRゴーグルに付随のCMOSイメージセンサ部品について、 部品状態のまま機械研磨にて断面を作製し、CMOSセンサ部品の構造観察を 行いました。 センサ部品構造及びセンサ表面観察では、ガラスフィルタを取り除き CMOSセンサ表面を観察すると、カラーフィルタの配置がベイヤーフィルタと 言われる配置であることが観察されました。 断面作製方法には機械研磨の他、FIBやCPなどイオンビームで加工する方法や ミクロトーム法などがあります。相談は無料ですので、断面作製方法に 迷ったらお気軽にご連絡ください。 【概要】 ■センサ部品構造及びセンサ表面観察 ■機械研磨による断面作製 ■センサチップ表層のSEM観察 ※詳しくはPDFをダウンロードしていただくか、お気軽にお問い合わせください。
