蛍光X線式膜厚計 「EX-731」
極微小部を最高の精度で測定!大きなサイズの基盤も測定できる膜厚計
蛍光X線式膜厚計 「EX-731」は、ニューメリックフィルタの他に、メカニカルフィルタ(ダブルフィルタ)の採用で、常に最高の精度が得られるように最適の条件で測定できます。 測定位置にマウスを合わせることにより敏速な位置合わせを実現。また、測定位置を登録しておけば、連続自動測定も可能。座標補正、チャンネルリンクにより各種パターンに対応。標準板較正も自動測定が可能です。 【特徴】 ○ダブルフィルタ採用で最高の精度、最適の条件で測定可能 ○測定位置にマウスを合わせることにより敏速な位置合わせを実現 ○マルチタスク機能で測定中でもレポート作成を含む他の処理が可能 ○コリメータの最小が0.05φmmで極微小部の測定が可能 詳しくはお問い合わせ、またはカタログをダウンロードしてください。
- 企業:株式会社電測
- 価格:応相談