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テストソケット(基板) - メーカー・企業と製品の一覧

更新日: 集計期間:2025年07月30日~2025年08月26日
※当サイトの各ページの閲覧回数を元に算出したランキングです。

テストソケットの製品一覧

1~8 件を表示 / 全 8 件

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テストソケット『直押しソケット』

ソケットの蓋は2タイプをご用意!高速ICデバイスの評価に適したテストソケット

『直押しソケット』は、基板へ直接デバイスリードを押し当てるコンタクト方式を 採用し、高速伝送信号の測定を可能にしたテストソケットです。 一般的なICソケットは、基板とデバイスの間に端子を介しているため、接点が増えて 信号の劣化または減衰が発生しますが、当製品はハンダ付けに近い状態を作り信号の 劣化を抑えられるため、高速ICデバイスの評価に適しております。 ソケットの蓋は、ワンタッチで蓋の着脱が可能な「ラッチロックタイプ」と4か所を ネジ固定すれば取り付けが完了する「ネジ止めタイプ」のご用意がございます。 【特長】 ■コンタクト方式を採用 ■高速伝送信号の測定が可能 ■信号の劣化を抑えられる ■高速ICデバイスの評価に好適 ■ソケットの蓋は2タイプをご用意 ※詳しくはPDF資料をご覧いただくか、お気軽にお問い合わせ下さい。

  • ソケット

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ファインピッチBGA/LGAバーンインソケット/892シリーズ

0.4mm/0.5mmピッチBGA/LGAデバイスに対応するクラムシェルタイプのソケットシリーズです。

○端子ピッチ0.4mm及び0.5mmのBGA/LGAデバイスに対応しております。 ○多ピンデバイスに必要な高荷重でも操作しやすいラッチレバー付きのクラムシェルタイプです。 ○基板から取り外し易い、押し当て式表面実装方式を採用しています。 ○ヒートシンク、温度センサー、ヒーター等取り付け可能で、デバイス温度制御システムへの接続も可能です。 ○HASTやTHB等の環境試験でも使用可能です。 ○安価な打抜きコンタクトを使用しつつ、高い接触性能を実現しています。

  • その他検査機器・装置

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ファインピッチBGA/LGAバーンインソケット/77Xシリーズ

ファインピッチBGA/LGAデバイスの各ピッチに対応する豊富なラインアップを有するオープントップタイプのソケットシリーズです。

○端子ピッチ0.4mm、0.5mm, 0.65mm, 0.8mmのBGA/LGAデバイスの様々なバリエーションに対応できる豊富なラインアップを取り揃えております。 ○デバイス自動挿抜にもマニュアル挿抜にも適したオープントップタイプです。 ○基板から取り外し易い、押し当て式表面実装方式を採用しています。 ○高温でのデバイスの反りを防止する、全面押さえラッチ方式を採用している品種もあります。 ○HASTやTHB等の環境試験でも使用可能です。 ○安価な打抜きコンタクトを使用しつつ、高い接触性能を実現しています。

  • その他検査機器・装置

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LED用テストソケット

LEDチップ単体の検査でワイヤボンディングを行う必要が無い為、作業効率が格段に向上

【特長】 ・LEDチップ単体(パッケージ前)の着脱が容易 ・フリップチップの対応が可能 ・エージング後にチップを取り出す事無く、積分球にそのまま取り付けてチップの測定も可能 ・エージング用基板への脱着も容易 ・LEDチップの発熱を考慮した耐熱材料を使用し放熱対策済み ※詳細はお気軽にお問い合わせください

  • 光学測定器

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『チェンジキット』

全てのエプソン社製ハンドラに適したチェンジキットをご提供!

『チェンジキット』は、全てのエプソン社製ハンドラに適した製品です。 品質、性能、機能等は、エプソンブランド時の優れたままに、 ミクナスブランドとして丸文株式会社より販売いたします。 互換品ではなく、設計から製作までエプソン標準の純正品と同じ 商品のご提供となります。 テストソケット、テストプロープ、テスト基板までワンストップでご提案いたします。 その他、様々なご要望にお応えいたしますので、お気軽にご相談下さい。 【特長】 ■仕様のご指定等は従前同様 ■自在なカスタマイズ及びオプション対応 ■多彩な表面処理可能 (樹脂コーティング可能) ■オープントップソケット対応 ■両面コンタクト対応可能 ※詳しくはPDF資料をご覧いただくか、お気軽にお問い合わせ下さい。

  • 基板設計・製造
  • 製造受託
  • 機械設計

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バーンインソケット/ファインピッチBGA、LGA用77Xシリーズ

ファインピッチBGA/LGAデバイスの各ピッチに対応する豊富なラインアップを有するオープントップタイプのソケットシリーズです。

○端子ピッチ0.4mm、0.5mm, 0.65mm, 0.8mmのBGA/LGAデバイスの様々なバリエーションに対応できる豊富なラインアップを取り揃えております。 ○デバイス自動挿抜にもマニュアル挿抜にも適したオープントップタイプです。 ○基板から取り外し易い、押し当て式表面実装方式を採用しています。 ○高温でのデバイスの反りを防止する、全面押さえラッチ方式を採用している品種もあります。 ○HASTやTHB等の環境試験でも使用可能です。 ○安価な打抜きコンタクトを使用しつつ、高い接触性能を実現しています。

  • その他検査機器・装置

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ICテストソケット

簡易構造で装着可能なシートタイプコンタクターを用いたテストソケットで微細Pitch~大型PackageまでICテストが可能です。

シートタイプコンタクター(PCR)を用いた高性能テストソケットです。 微細pitchの小型ICから大判サイズとなるアドバンストパッケージまで様々な用途でのご提案が可能です。 PCRを用いる事で簡易な構造となりメンテナンスも容易となります。 ソケットの加圧構造は、クラムシェル型・両側ラッチ・ネジ固定式までお客様のご要求に合わせカスタムで対応可能です。 1台からのご要求にも対応し、短納期(ご依頼後約3週間程度)でご提供致します。 詳細仕様については、案件毎に個別設計を行いますので、弊社窓口にお気軽にお問い合わせください。

  • その他電子計測器

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高周波測定テストソケット

5G・5G-Advanced・6Gと通信世代が進む中で高速化需要における高周波測定の課題をPCRソケットが解消します。

様々な機器がインターネットにつながり高速通信が必要となってきています。 また、先進運転支援システム(ADSA)も一般化する時代も近づいており、まずます半導体は高速化の要求が強まっています。 このハイスペックな半導体のテストは課題も多くより確実なテスト方法が求められます。 PCRソケットは電極径を自由に設計できる事と短距離接続の利点を生かし、この課題を解消して安定した測定を実現します。 またミリ波の測定要求についても問題なくご提案可能です。 詳細仕様については、案件毎に個別設計を行いますので、弊社窓口にお気軽にお問い合わせください。

  • その他電子計測器

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