更新日： 集計期間:2025年09月17日～2025年10月14日
※当サイトの各ページの閲覧回数を元に算出したランキングです。
更新日： 集計期間:2025年09月17日～2025年10月14日
※当サイトの各ページの閲覧回数を元に算出したランキングです。
更新日： 集計期間:2025年09月17日～2025年10月14日
※当サイトの各ページの閲覧回数を元に算出したランキングです。
1～8 件を表示 ／ 全 8 件
LIF、LIFH分光結晶を用いることで、22Tiと56Baのピーク分離が可能になります！
EPMAは、EDXと比較すると検出分解能が優れています。 EDXでは元素の検出位置が近く、ピーク分離が困難な場合であっても、 EPMAであればピーク分離が可能な場合があります。 当資料では、22Tiと56Baのピーク分離についてご紹介。 積層セラミックコンデンサの分析例や、チタン酸バリウム（BaTiO3）の X線スペクトルを掲載しています。 【掲載内容】 ■22Tiと56Baのピーク分離 ・分析例 積層セラミックコンデンサ ・チタン酸バリウム（BaTiO3）のX線スペクトル ※詳しくはPDF資料をご覧いただくか、お気軽にお問い合わせ下さい。
![[EPMA]電子プローブマイクロアナライザー](https://image.mono.ipros.com/public/product/image/42a/2001512017/IPROS4249942844201920438.jpg?w=280&h=280)
真空中で細く絞られた 電子線を固体試料表面に照射し発生する特性X線を分析することで、元素の同定や定量値に関する知見を得られます
特性X線を波長分散型検出器(WDX:Wavelength Dispersive X-ray Spectrometer)を用い分析することで、エネルギー分散型検出器(EDX:Energy Dispersive X-ray Spectrometer)よりも、感度の高い測定が可能です。軟X線発光分光法(SXES: Soft X-Ray Emission Spectroscopy)を用いることで、局所的な化学結合状態に関する情報も得られます。
常走査電子顕微鏡 (SEM) で用いるエネルギー分散型検出器 (EDS) よりも詳細な測定結果を得られます
日本電子株式会社 JXA-iSP100 電子プローブマイクロアナライザー (EPMA)、表面の組織及び形態の観察と局所微量元素分析が可能です。観察から分析までの操作をより効率的に行う、さらなる進化を遂げたインテグレーションEPMAです。 軟X線分光器をご提案できる世界唯一のメーカーです。 〇特長 ・オートローディングでホルダーを確実に装填！観察したい場所をすばやく発見！ ・面倒な設定もすべてお任せかんたんEPMAですぐに元素分析 ・18種類の校正試料内蔵で効率的にキャリブレーション ※詳細はPDFをダウンロードしていただくか、お気軽にお問い合わせください。
広範囲の分析が可能！EPMAのガイドネットマップ法を用いた分析例をご紹介
EPMAは特長の一つに、ガイドネットマップ法があります。 SEM-EDXでは測定範囲が狭く、湾曲試料では面分析が正しく測定できないことが ありますが、EPMAのガイドネットマップ法を用いることで、広範囲の分析が 可能になります。 隣り合わせの連続した領域を自動的に測定し、⼀括して表示するための手法で、 高低差が不均一な面に対して測定を行ったり、大きな面の測定を行うときに使用します。 【ガイドネットマップ法の特長】 ■隣り合わせの連続した領域を自動的に測定し、 ⼀括して表示するための手法 ■高低差が不均⼀な面に対して測定を行ったり、 大きな面の測定を行うときに使用 ※詳しくはPDF資料をご覧いただくか、お気軽にお問い合わせ下さい。
分析試料の表面状態をリアルタイムに映像化する走査型の電子顕微鏡
受託試験・分析業務 引張試験機のご紹介です。 材料試験設備や分析機器に関する事でお困りではありませんか？ 「製品の破壊強度が知りたいが、試験機がない！」 「製品を壊さずに製品内部の状況がみたい！」 「製品の耐食性能を把握したいが、試験機がない！」など、そんな時には日本カタンがお役に立ちます。 当社は各種の試験設備・分析機器を大型の横型引張荷重試験機や疲労強度試験機などの試験設備をはじめとし、金属元素の分析機器、国内最大規模の産業用X線CTスキャン装置、金属摩耗試験機など、多種多様な試験設備を取り揃えております。 様々な分野のお客様にご利用頂くために、受託試験・分析業務を承っております。 【広帯域振動試験機のご紹介】 一般構造物の振動特性試験に適した試験機です。 詳細はお気軽にお問い合わせ下さい。
特性X線を検出！腐食生成物の定性・半定量分析に最適なマイクロアナライザ分析
『電子線マイクロアナライザ（EPMA）分析』は、細く絞った電子線を試料に 照射し、その部位から発生する特性X線を検出して、照射箇所（試料表面）に どのような元素が、どのような分布状態であるかを明らかにできます。 金属材料全般や腐食生成物等の異物を対象とし40～30,000倍で表面を観察します。 【分析項目】 ■40～30,000 倍で表面の観察 ■微小領域の構成元素の同定（分析元素：Be～U の定性・半定量分析） ■線分析 ■面分析、カラーマップ分析 ※詳しくはカタログをご覧頂くか、お気軽にお問い合わせ下さい。
無機材料の微小異物を露出し、EPMAで分析した事例などをわかりやすくご紹介
当資料では、『-異物分析-無機材料に内包された異物の分析』について 掲載しています。 異物分析の中でも、材料内部に内包された異物の分析には高度な試料前処理 技術が必要です。 無機材料の微小異物を露出し、EPMA（電子線マイクロアナライザ）で 分析した事例を、試料・分析手法、写真などを交え紹介します。 【掲載内容】 ■概要 ■試料・分析手法 ■分析手法 ■分析結果 ※詳しくはPDF資料をご覧いただくか、お気軽にお問い合わせ下さい。
誰もが "簡単" "迅速" に装置を使うことができます。
日本電子株式会社 電子プローブマイクロアナライザーは、観察から分析までの操作をより効率的に行う、さらなる進化を遂げたインテグレーションEPMAです。 * EPMAは、Electron Probe Microanalyzerの略称です。 〇特長 ・オートローディングでホルダーを確実に装填！観察したい場所をすばやく発見！ ・充実したAuto機能により誰でも得られるハイグレードなSEM像 ・面倒な設定もすべてお任せかんたんEPMAですぐに元素分析 ・18種類の校正試料内蔵で効率的にキャリブレーション ※詳細はPDFをダウンロードしていただくか、お気軽にお問い合わせください。
