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常走査電子顕微鏡 (SEM) で用いるエネルギー分散型検出器 (EDS) よりも詳細な測定結果を得られます
日本電子株式会社 JXA-iSP100 電子プローブマイクロアナライザー (EPMA)、表面の組織及び形態の観察と局所微量元素分析が可能です。観察から分析までの操作をより効率的に行う、さらなる進化を遂げたインテグレーションEPMAです。 軟X線分光器をご提案できる世界唯一のメーカーです。 〇特長 ・オートローディングでホルダーを確実に装填！観察したい場所をすばやく発見！ ・面倒な設定もすべてお任せかんたんEPMAですぐに元素分析 ・18種類の校正試料内蔵で効率的にキャリブレーション ※詳細はPDFをダウンロードしていただくか、お気軽にお問い合わせください。
誰もが 簡単 迅速 に装置を使うことができます。
日本電子株式会社 電子プローブマイクロアナライザーは、観察から分析までの操作をより効率的に行う、さらなる進化を遂げたインテグレーションEPMAです。 * EPMAは、Electron Probe Microanalyzerの略称です。 〇特長 ・オートローディングでホルダーを確実に装填！観察したい場所をすばやく発見！ ・充実したAuto機能により誰でも得られるハイグレードなSEM像 ・面倒な設定もすべてお任せかんたんEPMAですぐに元素分析 ・18種類の校正試料内蔵で効率的にキャリブレーション ※詳細はPDFをダウンロードしていただくか、お気軽にお問い合わせください。
![[EPMA]電子プローブマイクロアナライザー](https://image.mono.ipros.com/public/product/image/42a/2001512017/IPROS4249942844201920438.jpg?w=280&h=280)
真空中で細く絞られた 電子線を固体試料表面に照射し発生する特性X線を分析することで、元素の同定や定量値に関する知見を得られます
特性X線を波長分散型検出器(WDX:Wavelength Dispersive X-ray Spectrometer)を用い分析することで、エネルギー分散型検出器(EDX:Energy Dispersive X-ray Spectrometer)よりも、感度の高い測定が可能です。軟X線発光分光法(SXES: Soft X-Ray Emission Spectroscopy)を用いることで、局所的な化学結合状態に関する情報も得られます。
