粒子径・ゼータ電位測定による無機粒子の分散性評価
コロイド分散系における無機粒子のpHタイトレーションによる等電点の評価
多くのコロイド分散系においては、pHを変化させることによって、様々な特性が現れます。pHタイトレーション測定は、単一測定条件下は得られなかった材料の物性情報が得られます。この方法は、再現性の高いプロセスコントロールの追及に不可欠で、無機粉体、セラミックス、汚水処理、洗浄、繊維、化学工業、バイオ、食品等の分野で幅広く利用されています。
- 企業:大塚電子株式会社
- 価格:応相談
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コロイド分散系における無機粒子のpHタイトレーションによる等電点の評価
多くのコロイド分散系においては、pHを変化させることによって、様々な特性が現れます。pHタイトレーション測定は、単一測定条件下は得られなかった材料の物性情報が得られます。この方法は、再現性の高いプロセスコントロールの追及に不可欠で、無機粉体、セラミックス、汚水処理、洗浄、繊維、化学工業、バイオ、食品等の分野で幅広く利用されています。
CMPスラリーの等電点測定から分散性を評価
CMPスラリーは、研磨対象の材料や研磨条件によって、研磨に用いる砥粒を選択する必要があります。CMPの加工特性では、CMPスラリーの粒子径やpH、砥粒の純度などが影響します。そこで、CMPスラリーの分散性やスラリーと研磨材料との相互作用を評価する上で、ゼータ電位の測定が重要です。 今回は、砥粒の異なるスラリーをpHタイトレータを用いてpHタイトレーションを行い、各砥粒の等電点測定を行いました。 砥粒の異なるCMPスラリーの等電点測定の詳細については、カタログダウンロードより技術資料をダウンロードをしてください。