測定センサのメーカーや取扱い企業、製品情報、参考価格、ランキングをまとめています。
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測定センサ(測定) - メーカー・企業と製品の一覧

更新日: 集計期間:2025年08月13日~2025年09月09日
※当サイトの各ページの閲覧回数を元に算出したランキングです。

測定センサの製品一覧

1~15 件を表示 / 全 44 件

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【調査資料】テスト・測定センサーの世界市場

テスト・測定センサーの世界市場:荷重測定センサー、圧力測定センサー、トルク測定センサー、変位測定センサー、その他、自動車 ...

本調査レポート(Global Test and Measurement Sensors Market)は、テスト・測定センサーのグローバル市場の現状と今後5年間の展望について調査・分析しました。世界のテスト・測定センサー市場概要、主要企業の動向(売上、販売価格、市場シェア)、セグメント別市場規模、主要地域別市場規模、流通チャネル分析などの情報を収録しています。 テスト・測定センサー市場の種類別(By Type)のセグメントは、荷重測定センサー、圧力測定センサー、トルク測定センサー、変位測定センサー、その他を対象にしており、用途別(By Application)のセグメントは、自動車、航空宇宙・防衛、IT・通信、半導体・電子、医療、その他を対象にしています。地域別セグメントは、北米、アメリカ、ヨーロッパ、アジア太平洋、日本、中国、インド、韓国、東南アジア、南米、中東、アフリカなどに区分して、テスト・測定センサーの市場規模を算出しました。 主要企業のテスト・測定センサー市場シェア、製品・事業概要、販売実績なども掲載しています。

  • その他の各種サービス

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厚さ測定センサ

【特注品(コンセプトモデル)】測定時間”1秒”圧倒的な速さを実現

開発の背景 ガラスの厚さを非接触で測定したい。簡単に測定する手法はないか?そんなお客様のご要望から開発いたしました。 当社では様々な非接触測定技術を応用し、製品開発を行っております。厚さ測定センサもその技術を使用した一つです。非接触で、測定時間1秒以内の製品を開発いたしました。 特長 ・高精度センサによる確実な非接触測定 ・セルフキャリブレーション機能(自動原点割り出し) ・お客様の製品とアプリケーションに合わせた自由な構築が可能  測定投光部、受光部のみを装置に組み込んで装置化、治具の一体化に対応可能  測定物サイズ、装置サイズともにお客様のご要望で製作可能 ・付属ソフトで簡単測定(for Windows)

  • 光学測定器

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定電圧測定センサー『SM-50』

Display画面で測定された定電圧値をリアルタイムで確認可能!

当社で取り扱う、定電圧測定センサー『SM-50』をご紹介します。 別のコントローラが不要なコントローラ一体型。非接触タイプで 定電圧測定はもちろん、対象物との距離および温・湿度測定が可能です。 近距離精密測定および遠距離(100~700mmから最大±20kVまで)測定が 可能でPCとの通信で定電圧を簡単に監視できます。 【特長】 ■対象物との距離および温・湿度測定可能 ■非接触型コンパクト構造 ■拡張モード時、距離自動補正または固定距離補正可能 ■設定した値以上の電圧測定時のAlarm出力 ■監視専用プログラム別途購入可能 ※詳しくはPDF資料をご覧いただくか、お気軽にお問い合わせ下さい。

  • 静電気除去装置

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CHRocodile 2 SX 光学式広範囲厚み測定センサ

光学式センサで、Si0.5~200umの広範囲の厚み測定。5kHzの高速サンプリング。加工中のモニタリング用途に最適。

非接触の光学厚み測定。高精度が求められる半導体ウエハの厚み測定でも適用可能。 新製品『CHRocodile 2 SX』は、ウエハやコーティングなど材料厚みを非接触測定できる装置です。最大5kHzと高速サンプリングが可能なため、インラインでも適用できます。Si等の半導体ウェハー厚み測定をはじめ、フイルム、樹脂、ガラス、太陽電池等の厚み測定も可能です。特に、ウエハグラインディング中に厚みモニタリングしたい場合には、Siウエハで200um~0.5umまで測定ができます。 【特長】  ■幅広い厚み測定範囲 、様々な材質に対応    豊富なプローブラインナップで、 厚みは、光学長で薄膜(数2um)~厚膜(1000um)        Siで0.5~200umまで対応。  ■高分解能(サブミクロン 最小3nm @ 光学長)  ■開発コスト低減、開発納期短縮に貢献できる、    装置組込み用のソフト開発キット(DLLなど)も用意  ■半導体業界で豊富な実績 ※詳しくは資料をご覧ください。

  • 膜厚計

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音香科学WB-121FとWB-125Fの測定事例

様々なにおいの測定事例です。

臭い測定器WB-121Fと燃焼臭気センサーWB-125Fを使って、様々なにおい(香り、匂い、ニオイ、臭気)を測定しました。2台の性能の違いをご覧ください。

  • 分析機器・装置

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透過波面測定センサー

シャクハルトマン波面センサー

各種光学系の波面収差測定が可能、広い測定範囲と高い精度を実現

  • 光学測定器

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真空環境内の圧力測定センサ【真空環境内の圧力分布を同時測定!】

真空チャンバー内などセンサ複数設置により広範囲が測定可能!今まで困難だった圧力分布が測定できます。

「マイクロハクマク圧力センサ」は超小型・堅牢な設計で、真空設備環境内へ設置でき、今まで測定できなかったところで壓力測定が可能になります。最適な設備環境への改善・監視に結びつき、製品の高品質化、歩留まりの向上を通して低炭素化(環境負荷の低減)が達成できます。 【測定できなかったところでの 測定が可能に!】 ■真空環境内へ設置でき、ピンポイントで圧力の状態・変化を測定可能。 ■センサを複数設置でき、圧力の分布が測定可能。 【見えなかったところが可視化できます!】 ■ガスの状態(流れ・量)が見える。 ■装置内の状態が連続的に見える。 ■シミュレーション結果が見える。 【高品質化、歩留まりの向上を通して低炭素化が達成できます!】 ■真空装置、生産設備を最適な状態に改善、最適状態を常時確認できる。 ※詳細は資料請求して頂くか、ダウンロードからPDFデータをご覧下さい。

  • 真空機器
  • 圧力計
  • 圧力制御

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ウエハーセンス サイバーオプティクス製 製造装置改善用測定センサ

ウエハーセンスは装置改善に好適な測定器です。客観的な測定を行い、改善効果のある数値パラメータを簡単に取得出来ます。

ウエハーセンス(WaferSense)(サイバーオプティクス(CyberOptic) 社)はプロセス装置の調整を効率良く行う便利な測定ツールです。客観的で信頼性の高いデータをベースに高精度な装置セットアップを行う事が可能です。ワイヤレスでウエハライク形状、真空中でも使えるので、誰でも簡単に再現性のある結果を提供します。ロボットティーチングを行うカメラウエハー、シャワーヘッド調整を行うギャップ測定ウエハー、さまざまな装置のレベル出しに使う水準測定ウエハー、振動用測定ウエハー、装置内部のパーティクルをモニタリングするパーティクル測定ウエハーの5種類があります。付属のソフトウェアを使って、センサーとの交信をワイヤレスに行う事が可能となり、リアルタイムなLOGデータの取得とフィードバックが出来ます。ウエハセンスを使う事で装置パラメータの標準化や比較、解析にも役立ちます。

  • その他検査機器・装置
  • 記録計・レコーダ
  • 距離関連測定器

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【3Dセンサー】X,Y,Zの測定が簡単!時短・ミス防止に

計算がいらないX,Y,Z軸の位置決め装置。平行出し、距離測定にも使える! 振り回しをつくる必要もありません。※カタログ有り

HAIMER 3Dセンサーはフライス盤、放電加工機等(絶縁プローブ)のための大変精密で多彩な測定装置です。 ツールホルダー・機械の主軸に取り付けられ、機械主軸が加工物側面上に位置決めすることができます。 ダイヤルゲージの針を「0」に設定し、寸法を迅速且つ簡単に測定できます。 XYZ軸のどの方向にも測定できます。 ダイヤルゲージの針が「0」を指した状態は、機械主軸が加工物側面上に位置していることを意味します。 【活用メリット】 ・X,Y,Zの測定時に付け替え不要のため、位置決め時間を削減 ・測定手順の削減によるミスの防止 ・ノギスでは測れない長尺物の測定にも使用可能 説明動画 https://www.youtube.com/watch?v=dfkuPNfbTwY ※詳しくはPDF資料をご覧いただくか、お気軽にお問い合わせ下さい。

  • 距離関連測定器

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高精度かつ高速な形状測定を実現するセンサ

インライン検査に。70,000ポイント/秒のスキャンに対応。膜厚も測定可能。半導体ウエハ検査用途に。

当社では、最大直径80mmの3D形状測定が高速で行える 超高速光学スキャナー『Flying Spot Scanner(FSS)』と、 専用センサを組み合わせたシステムを提供しています。 平坦度、厚み、形状、縦と横の層と部品配置などを 高精度かつスピーディーに測定可能。 センサも幅広く取り揃えており、 要求される測定範囲や精度に合わせて選択できます。 【FSSの特長】 ■高精度:Z方向分解能最小5nm ■高速スキャン:70,000ポイント/秒 ■インライン測定に好適 ■測定範囲内なら自由に部分測定可能 ※詳しくは資料をご覧ください。お問い合わせもお気軽にどうぞ。

  • センサ
  • その他検査機器・装置

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【ELTSENSOR】エチレン・プロパン・ブタンガス測定センサー

豊富なラインアップ!世界最小級のデュアルチャンネルガスセンサーモジュール

当社では、NDIR(非分散赤外線方式)を使った『デュアルチャンネル ガスセンサーモジュール』を取り扱っています。 エチレンガス測定用の「C2H4-D3(LG)」をはじめ、プロパンガス測定用の 「C3H8-D3(LG)」やブタンガス測定用の「C4H10-D3(LG)」などをラインアップ。 優れた温度補正及び長時間使用の安定性、簡単な維持管理で引火性、 爆発性ガスなどを取り扱う産業分野で使われます。 【ラインアップ】 ■エチレンガス測定用「C2H4-D3(LG)」 ■プロパンガス測定用「C3H8-D3(LG)」 ■ブタンガス測定用「C4H10-D3(LG)」 ■メタンガス測定用「CH4-D3(LG)」 ※詳しくはPDF資料をご覧いただくか、お気軽にお問い合わせ下さい。

  • スクリーンショット 2024-01-22 144128.png
  • センサ

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【ペイントチェッカー】industrial

重さ100gの小型軽量センサー!目に安全な光学測定装置のため技術的な保護対策は必要なし

『PaintCheker industrial』は、製造工程において光熱方式で膜厚を 非接触・非破壊で自動測定する装置です。 製造ラインに標準治具を使って取り付けることも、ロボットに簡単に取り 付けることも可能です。 また、より広い測定距離で測定が可能な「PaintCheker industrial HP」等も、 ご用意しております。 【特長】 ■ウェット/パウダー/ドライコーティングの自動検査に好適 ■重さが100gの小型軽量センサー ■製造ラインに標準治具を使って取り付け可能 ■ロボットに簡単に取り付けることができる ■不良の流出や材料の歩留まりを向上 ※詳しくはPDF資料をご覧いただくか、お気軽にお問い合わせ下さい。

  • その他計測・記録・測定器
  • その他

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小型光学式厚み/距離測定用センサ『CHRocodile C』

コスト重視におすすめな安価なタイプ。厚み測定、距離測定用センサ。ウエハ検査用途にも。

『CHRocodile C』は、安価な光学式シングルポイントセンサです。高速・高精度は他のラインナップと変わらず、nm分解能の距離測定 最大4表面、3層厚みを同時測定できる厚みセンサとして使用できます。また、プローブと本体が一体の手のひらサイズとコンパクトで、組込み時に省スペースを実現し、インラインでの使用もお勧めです。粗面、鏡面、色付き材料など全ての表面に対応し、測定レンジの範囲も広いセンサーです。また、グラファイトコーティングの厚み測定にも使用が可能です。  【特長】  ■幅広い厚み測定範囲 、様々な材質に対応    豊富なプローブラインナップで、厚みは(数um)~厚膜(10mm)までカバー。  ■高分解能(サブミクロン Zは最小8nm~)  ■開発コスト低減、開発納期短縮に貢献できる、    装置組込み用のソフト開発キット(DLLなど)も用意  ■多業界で豊富な実績    半導体業界、コンシューマー家電、ガラス製造、メディカル分野 ※詳しくは資料をご覧ください。お問い合わせもお気軽にどうぞ。

  • その他検査機器・装置
  • その他計測・記録・測定器
  • センサ

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押圧力検出・測定センサ「フォースセンサ」【微小な力を検知可能】

μN~mNレベルの微小な力を検知できる微小力センサ!&100N以上の荷重が測定できる「高剛性センサ」をご用意!

「フォースセンサ」は、μN レベルの微小力や、100Nクラスの高い押圧力を検出・測定できるセンサです。「微小力タイプ」と「高剛性タイプ」をラインナップしています。静電容量センサを利用したフォースセンサです。使用環境や要求仕様に合わせたカスタムにも対応します。 「微小力タイプ」応用例 ■プローブの接触検知 ■微小摩擦力、推力モニタ ■微小部品の接触管理 ■微小試験片の引っ張り、圧縮力 「高剛性タイプ」応用例 ■精密加工時の切削、研削力測定 ■バイト刃先とワークの接触検知 ■押圧、引っ張り計測 ■強度試験 ※詳細は資料請求して頂くかダウンロードからPDFデータをご覧下さい

  • その他計測・記録・測定器
  • センサ

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CHRocodile 2DPS+CHRocodile 2IT

半導体向けインプロセス中におけるウェハー厚み測定センサーのご紹介!

当資料は、ウェハー厚み測定センサーについて掲載しています。 接触ゲージとの置換に好適な「CHRocodile 2シリーズ」をはじめ、 半導体インプロセス向け光学測定ヘッドのデザインなどをご紹介。 ぜひ、ご一読ください。 【掲載内容】 ■CHRocodile 2シリーズ ■半導体インプロセス向け光学測定ヘッドのデザイン ■利点:色収差共焦点原理による使用 ■利点:分光干渉原理による使用 ■ウェハーインプロセス中のSi厚み測定データ ※詳しくはPDF資料をご覧いただくか、お気軽にお問い合わせ下さい。

  • 光学測定器
  • センサ

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