蛍光X線式測定器の自動化システム『XDV-μ SEMI』
お客様に合わせたカスタマイズが可能！クリーンルーム環境にも適用します！
『XDV-μ SEMI』は、微小部膜厚測定にすぐれたエネルギー分散型 蛍光X線測定装置です。 当製品の測定では、信頼性のある高精度な測定が可能なため、ナノスケールの UBMメッキ、C4はんだバンプ、鉛フリーはんだ銅柱、極小ランディングパッドや 2.5D/3Dパッケージソリューションなどの膜厚測定と組成分析ができます。 【特長】 ■自動化による安全性 ■お客様に合わせたカスタマイズが可能 ■きめ細やかなユーザビリティとメンテナンス性 ■別々の端末で構成されているため操作がしやすい ■クリーンルーム環境にも適用 ※詳しくはPDF資料をご覧いただくか、お気軽にお問い合わせ下さい。
- 企業：株式会社フィッシャー・インストルメンツ
- 価格：応相談
