SUSS MicroTec 両面位置精度測定器 DSM8Gen2
ウェハ表面/裏面のパターンの位置ズレを高精度で測定
DSM8/200 Gen2は2~8インチウェハに対応した両面位置測定装置です。 TIS(装置起因誤差)を除去する機能を備えており、MEMS、パワーデバイス、光デバイスといった分野の両面パターニング基盤において、高精度な測定を実現しています。
- 企業:兼松PWS株式会社
- 価格:応相談
1~3 件を表示 / 全 3 件
ウェハ表面/裏面のパターンの位置ズレを高精度で測定
DSM8/200 Gen2は2~8インチウェハに対応した両面位置測定装置です。 TIS(装置起因誤差)を除去する機能を備えており、MEMS、パワーデバイス、光デバイスといった分野の両面パターニング基盤において、高精度な測定を実現しています。
数秒内に千個の穴の検査測定が可能!穴位置検査装置
『Hole AOI』は、基板またはフィルムの穴位置と穴径及び穴精度、 また収縮と膨張率を検査測定します。 このほか、高機能な画像取り込みシステムを配し、数秒内に千個の穴の検査 測定が可能。さらに5umの高精度に達し、穴数はパネル毎に100万穴の検査 測定が可能です。 また、「Hole AOI Express」も取扱っております。 【特長】 ■高機能な画像取り込みシステム ■数秒内に千個の穴の検査測定が可能 ■パネル毎に100万穴の検査測定が可能 ※詳しくはPDF資料をご覧いただくか、お気軽にお問い合わせください。
ガラスびん肉厚検査装置、積算温度計、回転精度測定装置のことならお任せください【総合カタログ進呈中】
生産・開発等の各工程における製品検査/機能・品質評価を効率よく実施するためまたは様々な現象を測定・計測をするために用途に適合したシステムをエレクトロニクス応用利用技術により提供しています。 【ラインナップ】 ◆積算温度計 設置場所の温度を一定周期で測定し、1時間毎に温度測定値と基準温度との差分を積算します。施設園芸・畜産・水産物加工業界等の市場で活躍します。 ※詳しくはカタログをダウンロード頂くかお気軽にお問い合わせください。