更新日： 集計期間:2025年08月20日～2025年09月16日
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SEM・STEM・EDXによる触媒粒子の評価
燃料電池の電極は、カーボンに触媒であるPt粒子またはPt合金（PtRu等)粒子が担持されています。この触媒粒子は数nmと微細構造のため、形態観察、組成分析にはSEMやTEM分析が用いられています。 初期状態での評価の他に通電後の劣化として合金組成の変調、Ruの溶出、触媒粒子径の増大が報告されていますが、これらの評価に高空間分解能でのHAADF観察やEDX分析が非常に有効です。また、SEM観察では担体のカーボンの形状や触媒粒子の存在状態を確認することができます。
STEM・EDXによる触媒粒子の評価
燃料電池の電極は、カーボンに触媒であるPt粒子またはPt合金（PtRu等)粒子が担持されています。この触媒粒子は数nmと微細な構造のため形態観察、組成分析にはSEMやTEM分析が用いられています。初期状態での評価の他に通電後の劣化として合金組成の変調、Ruの溶出、触媒粒子径の増大が報告されていますが、これらの評価にHAADF観察や高分解能EDX分析が非常に有効です。また多視野の観察と分析により粒径および組成分布の評価が可能です。
FE電子銃でさらに美しく！フロアモデルに迫る高分解能を卓上SEMで実現
当社が取り扱う、卓上走査型電子顕微鏡『Phenom Pharos』を ご紹介いたします。 ナノ～サブミクロンレベルの解析を実現。 誰でも簡単、スピーディに高分解能観察ができます。 また、3Dや粒子、細孔などを測ることも可能です。 ご要望の際は、お気軽にお問い合わせください。 【特長】 ■FE電子銃搭載 ■誰でも簡単、スピーディに高分解能観察 ■観察＋α(3D、粒子、細孔、繊維) ※詳しくはPDF資料をご覧いただくか、お気軽にお問い合わせ下さい。
技術情報誌The TRC Newsは、研究開発、生産トラブルの解決、品質管理等のお役に立つ分析技術の最新情報です。
【要旨】 近年、医薬品の副作用の軽減や有効性の向上を目指し、ドラッグデリバリーシステム（DDS：Drug Delivery System）に着目した研究・開発が進められている。DDSに用いられるキャリアとして、リポソーム、高分子ミセル、無機ナノ粒子といったバイオマテリアルやDrug Conjugates（ADC等）が挙げられる。その中でも当社はリポソームの分析・評価技術の確立に注力しており、難易度が高いTEM（透過型電子顕微鏡）、AFM（原子間力顕微鏡）を中心にリポソームの分析事例を紹介する。 【目次】 １．はじめに ２．DDSによる基礎技術と各種キャリアの特徴 ３．リポソームの分析・評価事例 ４．おわりに
活物質の粒径・結晶方位評価、原子レベル観察が可能
リチウムイオン二次電池は充放電によるイオンの脱離・挿入などで電極活物質に成分や結晶構造の変 化が生じます。正極活物質として用いられるLi（NiCoMn)O2（NCM）の構造評価として、EBSDにより一次粒子の粒径や配向性を評価しました。更に、方位を確認した一次粒子について高分解能STEM観察を行 い、軽元素（Li、O）の原子位置をABF-STEM像で、遷移金属（Ni、Co、Mn）の原子位置をHAADF-STEM像で可視化した事例を紹介いたします。 測定法：SEM・EBSD・TEM 製品分野：二次電池 分析目的：形状評価、構造評価、製品調査 詳しくは資料をダウンロード、またはお問い合わせください。
深層学習×データ解析によりSEM像から活物質の粒径を求めました
深層学習により、画像から目的の対象物を抽出することが可能です。また、得られた対象ごとに領域を解析することで数値として情報を得ることができます。 今回、バッテリー正極材の断面SEM像に対して、深層学習を用いて活物質粒子の抽出、クラックの検出をしました。Slice&Viewデータのような3Dデータに対しても同様に抽出が可能です。3Dデータからクラック有、クラック無粒子を抽出し、それぞれの粒径を算出しました。 測定法：SEM、Slice&View、計算科学・AI・データ解析 製品分野：太陽電池、二次電池、燃料電池 分析目的：構造評価、形状評価、故障解析・不良解析 詳しくは資料をダウンロード、またはお問い合わせください。
乳化粒子や無機粉体の形状確認が可能！リキッドファンデーションの塗膜をマクロからミクロまで可視化
当財団が分析した、X線CT・クライオSEMによる化粧品の3D観察の事例を ご紹介します。 プラスチック基材に塗布したリキッドファンデーションをX線CTおよび クライオSEMで観察し、試料内部の分散状態を可視化。 X線CTでは非破壊かつ非接触で巨視的な形態を確認でき、クライオSEMでは さらに微視的な構造を観察することができます。 【特長】 ■リキッドファンデーション塗膜の内部構造を 巨視的な形態観察で評価可能 ■電子顕微鏡による詳細構造の観察では、 乳化粒子や無機粉体の形状確認が可能 ※詳しくはPDF資料をご覧いただくか、お気軽にお問い合わせ下さい。
30nmから5μmの切片作製が可能！材料系解析事例を複数ご紹介した資料です！
当資料は、株式会社花市電子顕微鏡技術研究所が行った材料系解析を まとめた事例集です。 「ウルトラミクロトーム」では、生物組織、金属メッキ層や無機蒸着 層を含む複合材料、ナノ粒子など幅広い分野における高品質な超薄切片 および断面作製に適応可能です。 当社では、受託分析を始めました。協力機関とタイアップして材料分析を 実施致します。 【掲載事例】 ■リポソームの構造解析 ■HIPSの構造解析 ■レンズ断面の構造解析 ■菓子袋の断面観察 ■分散法による金属粒子の形態観察（金属微粒子/金属担持カーボン） ※詳しくはPDF資料をご覧いただくか、お気軽にお問い合わせ下さい。
ナノオーダーの形態観察・元素分析が可能
透過型電子顕微鏡（TEM）はμm～nmオーダーの形態観察・元素分析が可能です。 アイシャドウは固体粒子の集まりなので、そのままTEMによる分析を行いました。 TEM観察後、視野内の特定箇所についてEDX分析を行い、構成元素から材料を推定しました。 さらに、EELS分析により結晶型を区別することが可能です。
InGaZnO4粒子の超高分解能STEM観察
Csコレクタ（球面収差補正機能）付きSTEM装置により、超高分解能観察（分解能0.10nm）が可能となりました。原子量に敏感なHAADF※-STEM像は多元系結晶構造を直接理解できる有効なツールです。今回、酸化物半導体中微粒子の評価を行いましたので紹介します。異種材料界面・化合物界面の原子配列、粒界偏析評価などに応用できます。 ※High-Angle Annular Dark-Field： 原子量（Z)に比例したコントラストが得られます。
雰囲気制御＋冷却下での原子レベル観察
MSTでは、雰囲気制御（＋冷却）下で原子レベルのTEM分析が可能です。 本資料では、リチウムイオン二次電池から大気非暴露で解体して取り出した正極材料のLiCoO2粒子を、雰囲気制御＋冷却下でFIB加工・TEM分析した事例をご紹介します。-174℃に冷却しながらSTEM観察とEDX分析を行い、視覚的に原子配列を確認しました。 熱的安定性の低い材料や、大気下で変質する結晶材料の高分解能分析に適用できます。
ナノ粒子の観察、スクリーニング用TEMとして世界中で使用されています
『LVEM25』は、従来の方法で用意された試料から、高コントラストな画像を 提供する低電圧電子顕微鏡です。 コンパクトな1台の機器で3つのパワフルなイメージングモードが使用可能。 モードの切り替えはソフトウェアを介して簡単に操作ができ、 同じ関心領域をTEM, STEM, EDモードで迅速に画像化できます。 【主な技術的特長】 ■コンパクトデザイン ■特別な施設不要：さまざまな場所に設置可能 ■永久磁石レンズ：冷却不要 ■電解放出電子銃：高コントラスト ■制御装置とソフトウェア：完全な撮像制御 など ※詳しくはPDFをダウンロードしていただくか、お気軽にお問い合わせください。
圧倒的な美しさを大画面で！試料ホルダはスライド式で簡単に装置にセット可能
当社が取り扱う、卓上走査型電子顕微鏡『Phenom ProX』を ご紹介いたします。 高輝度・長寿命のCeB6電子銃を搭載。試料導入から僅か30秒で SEM像表示し、そのままバリアフリーで分析できます。 また、振動に強く、どこでも分解能6nmです。 ご要望の際は、お気軽にお問い合わせください。 【特長】 ■高輝度・長寿命のCeB6電子銃搭載 ■圧倒的な美しさを大画面で ■振動に強くどこでも分解能6nm ■革新的なユーザーインターフェース ■30秒でSEM像表示、3分で分析終了 ※詳しくはPDF資料をご覧いただくか、お気軽にお問い合わせ下さい。
短時間に、簡単操作で、高コントラスト・高分解能の画像を取得
日本電子株式会社 CRYO ARM300 II は、タンパク質に代表される電子線照射に弱い試料の観察に特化した、クライオ電子顕微鏡です。単粒子構造解析やトモグラフィー、電子線結晶構造解析などの各手法に対応しています。 〇特長 ・顕微鏡の安定性とスループットの更なる向上 ・操作性もよりシンプルに ・サンプルのスクリーニングから画像データ取得までを一体化 ・ユーザーに合わせた運用を可能にする高い自由度 ・簡単な操作で質の高い顕微鏡写真が取得 ※詳細はPDFをダウンロードしていただくか、お気軽にお問い合わせください。
省エネルギー化とCO2削減をコンセプトとして開発された電界放出形透過電子顕微鏡
日本電子株式会社 JEM-F200は、空間分解能と分析性能を向上させるとともに、多目的な使い方における操作性を考慮した新しい操作システムを搭載し、電子顕微鏡の初心者から熟練者まで思わず使いたくなるようなスマートな外観を備え、省エネルギー化とCO2削減をコンセプトとして開発された電界放出形透過電子顕微鏡です。 〇特長 ・スマートデザイン ・Quad-Lens condenser system ・Advanced Scan system ・Pico stage drive ・自動ホルダー挿入・取り出し装置 ・ECO モードを標準搭載 ※詳細はPDFをダウンロードしていただくか、お気軽にお問い合わせください。
